ICS.31.020L90中華人民共和國國家標準GB/T16822-—1997介電品體介電性能的試驗方法Testmethodfordielectricpropertiesofdielectriccrystal1997-05-28發(fā)布1998-02-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準介電品體介電性能的試驗方法GB/T16822-1997中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471997年10月第一版2005年1月電子版制作書號：155066·1-14147版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（010）68533533

GB/T16822-1997本標準根據(jù)GB/T1.1一1993《標準化工作導(dǎo)則第1單元;標準的起草與表述規(guī)則第1部分：標淮編寫的基本規(guī)定》表達了介電品體介電性能的試驗方法。本標準參考了GB11297.11-89《熱釋電材料介電常數(shù)的測試方法》GB11297.9-89《熱釋電材料介質(zhì)損耗角正切tan8的測試方法》及GB11294—89《紅外探測材料半導(dǎo)體光電材料和熱釋電材料常用名詞術(shù)語》三個標準。本標準的特點是針對介電品體的介電性能與其結(jié)品學(xué)對稱性有關(guān)，采用介電系數(shù)張量來描述其介電性能。本標準討論了各種晶系品體的介電系數(shù)張量的獨立分量數(shù)目及其介電主軸的取法，同時給出了低頻下其介電系數(shù)及介電損耗的測量方法本標準由中國科學(xué)院物理研究所提出、本標準由中國科學(xué)院歸口。本標準起草單位：中國科學(xué)院物理研究所。本標準主要起草人：張道范、朱鋪

中華人民共和國國家標準介電晶體介電性能的試驗方法GB/T16822-1997Testmethodfordielectricpropertiesofdielectriccrystal本標準規(guī)定了介電品體的低頻(10MHz以下)介電系數(shù)及介電損耗的試驗方法本標準適用于介電品體的介電性能的測定。2試驗方法2.1介電系數(shù)2.1.1定義介電系數(shù)dielectriccoefficient將原來不帶電的介電品體置于電場中,在其內(nèi)部和表面上會感生出一定的電荷即產(chǎn)生電極化現(xiàn)象用電極化強度矢量P描述。當(dāng)電場強度E不太強時,介質(zhì)中的電極化強度P和電場強度E成線性關(guān)系在一般情況下，晶體中的電極化強皮失量P與電場強度矢量E有不同的方向，使得品體內(nèi)的電位移失量D和E有不同的方向，在直角坐標系中，晶體內(nèi)這三者的關(guān)系可用式(1)表示：D=eoE，+P，=eoe%E，：·········（1>（i=1,2,3）152i········（2式中：s—真空介電系數(shù),1,2,3分別代表直角坐標軸X,Y,Z；晶體的介電系數(shù)張量，該張量為二階對稱極張量，即,=ea。描述二階張量可選用三個相互垂直的主軸為坐標軸(稱主軸坐標系)在主軸坐標系中可將二階介電系數(shù)張址簡化為只含對角項，稱主介電系數(shù)。晶體的介電系數(shù)張量的獨立分量數(shù)目與其對稱性有關(guān)：對于立方品系只有一個獨立的介電系數(shù)m一m=m.對于三方，四方,六方晶系有兩個獨立的介電系數(shù)=·ea。取晶體的高次對稱軸(e軸)為一介電主軸，另兩個介電主軸在垂直。軸的平面內(nèi)，取結(jié)晶軸“軸為另一介電主軸。對于正交品系有三個獨立的介電系數(shù)..ez.s。取品體的結(jié)晶軸(a、、軸)為三個介電主軸對于單斜品系有四個獨立的介電系數(shù).z.ea.a。取晶體的二次對稱軸(軸)為一介電主軸。另兩個介電主軸在垂直6軸的平面內(nèi)，通過實驗測量位于這平面內(nèi)的三個獨立的介電系數(shù)，可以確定這兩個介電主軸的方向和大小。對于三斜晶系有六個獨立的介電系數(shù),a:eas,ei：6z·a?？扇我膺x一直角坐標系，通過實驗測量六個獨立的介電系數(shù)，經(jīng)過數(shù)學(xué)運算可以確定三個介電主軸的方向和大小。2.