ICS35.180L63中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17540-·1998臺(tái)式激光打印機(jī)通用規(guī)范Generalspecificationfordesktoplaserprinter1998-11-05發(fā)布1999-06-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17540-1998前言范圍2引用標(biāo)準(zhǔn)要求3.1主要設(shè)計(jì)要求3.2環(huán)境條件3.3外觀及結(jié)構(gòu)要求3.4安全………3.5電磁兼容性3.6主要技術(shù)性能3.73.8可靠性及壽命3.9打印控制命令3.10電源適應(yīng)性……4試驗(yàn)方法·……4.1試驗(yàn)環(huán)境條件4.2外觀和結(jié)構(gòu)檢查4.3主要技術(shù)性能檢查4.4安全試驗(yàn)4.5電源適應(yīng)能力試驗(yàn)4.6操聲試驗(yàn)4.7電磁兼容性試驗(yàn)4.8環(huán)境試驗(yàn)………·4.9可靠性及壽命試驗(yàn)5檢驗(yàn)規(guī)則·.·.··.··.·5.1一般規(guī)定5.2檢驗(yàn)分類5.3；定型檢驗(yàn)5.4交收檢驗(yàn)5.5例行檢驗(yàn)6標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、存附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)激光打印機(jī)控制命令表附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)故障分類及判據(jù)

GB/T17540-1998前本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了激光打印機(jī)的通用規(guī)范，主要內(nèi)容包括：技術(shù)娶求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則等。本標(biāo)準(zhǔn)的適用對(duì)象為臺(tái)式激光打印機(jī)，其他類型的激光打印機(jī)可以參照本標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所、中國(guó)惠普公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：郭越、王立建、馮敬、靳捷。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)式激光打印機(jī)通用規(guī)范GB/T17540-1998Generalspecificationfordesktoplaserprinter1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了臺(tái)式激光打印機(jī)通用要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、財(cái)存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于臺(tái)式激光打印機(jī)(以下簡(jiǎn)稱產(chǎn)品）本標(biāo)準(zhǔn)是制定臺(tái)式激光打印機(jī)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的依據(jù)，其他類型的激光打印機(jī)可參照本標(biāo)準(zhǔn)。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí).所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性.GB191—1990包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB/T1988-1989信息處理信息交換用七位編碼字符集(eqvISO646:1983)GB2312—1980信息交換用漢字編碼字符集基本集GB/T2421一1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則(eqvIEC68-1:1982)GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(eqvIEC68-5-2:1990)GB/T2423.1一1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法(eqvIEC68-2-1:1974）電電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB/T2423.2-1989試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法(eqvIEC68-2-2:1974）GB/T2423.3—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法（eqvIEC668-2-3:1984）GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法、試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊（idtIEC68-2-27:1987）GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦)idtIEC68-2-6:1982)GB/T4857.2一1992包裝運(yùn)輸包裝件溫濕度調(diào)節(jié)處理(eqvISO2233:1986)GB/T4857.5一1992包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法GB4943—1995信息技術(shù)設(shè)備(包括電氣事務(wù)設(shè)備)的安全(idtIEC950:1991)GB/T5080.7一1986設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)（idtIEC605-7:1978）GB/T5271.14一1985數(shù)據(jù)處理詞匯14部分：可靠性、維護(hù)性和可用性(eqvISO2382-14:1974）GB/T6107-1985使用串行二進(jìn)制數(shù)據(jù)交換的數(shù)據(jù)終端設(shè)備和數(shù)據(jù)電路終接設(shè)備之間的接口(eq