標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17550.1-1998 識(shí)別卡 光記憶卡 線性記錄方法 第1部分：物理特性》這一標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光記憶卡的物理特性要求，包括卡片尺寸、厚度、材料、表面質(zhì)量和彎曲度等，旨在為光記憶卡的制造和應(yīng)用提供統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)。然而，您提供的對(duì)比信息不完整，沒(méi)有明確指出要與哪個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此，直接列出相對(duì)于某一特定標(biāo)準(zhǔn)的變更內(nèi)容無(wú)法完成。

如果需要了解該標(biāo)準(zhǔn)相比于其前一版或其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的具體變更，通常會(huì)涉及對(duì)兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)文檔的詳細(xì)比對(duì)，包括但不限于以下幾個(gè)方面：

  1. 尺寸和形狀要求：查看是否有對(duì)卡片尺寸、形狀的調(diào)整或新增要求。
  2. 材料與構(gòu)造：是否引入了新的推薦材料，或是對(duì)原有材料的性能指標(biāo)進(jìn)行了修訂。
  3. 物理耐用性：包括抗彎折性、耐磨性等方面的標(biāo)準(zhǔn)是否有所提高或細(xì)化。
  4. 表面處理與質(zhì)量：對(duì)于卡片表面的平滑度、光澤度及印刷區(qū)域的要求是否有更新。
  5. 環(huán)境適應(yīng)性：如溫度、濕度等環(huán)境條件下的性能要求是否有所變化。

為了準(zhǔn)確獲取這些變更信息，通常需要直接查閱兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)文檔的具體條款，并進(jìn)行細(xì)致的條文對(duì)比分析。如果您有具體的對(duì)比對(duì)象或者需要了解該標(biāo)準(zhǔn)在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)后的更新概況，請(qǐng)?zhí)峁└敿?xì)的信息或明確對(duì)比的另一標(biāo)準(zhǔn)，以便進(jìn)一步分析。


如需獲取更多詳盡信息，請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 1998-11-05 頒布
  • 1999-06-01 實(shí)施
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GB/T 17550.1-1998識(shí)別卡光記憶卡線性記錄方法第1部分：物理特性_第1頁(yè)
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CS35.240.15L64中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17550.1-1998idtISO/IEC11694-1:1994識(shí)別卡光記憶卡線性記錄方法第1部分:物理特性Identificationcards-OpticalmemorycardsLinearrecordingmethod--Part1:Physicalcharacteristics1998-11-05發(fā)布1999-06-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17550.1-1998次前言ISO/IEC前言范圍引用標(biāo)準(zhǔn)定義4特性1000000000

CB/T17550.1—1998前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC11694-1:1994《識(shí)別卡線性記錄方法光記憶卡第1部分：物理特性》。GB/T17550在總標(biāo)題《識(shí)別卡光記憶卡線性記錄方法》下包括下述部分：-第1部分：物理特性;-第2部分：可訪問(wèn)光區(qū)域的尺寸和位置；-第3部分：光屬性和特性；-第4部分：邏輯數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：蔡懷中、馮惠、李韻琴、馮敬、陳云峰

CB/T17550.1-1998ISO/IEC前言ISO(國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織)和IEC(國(guó)際電工委員會(huì))建立了世界范圍標(biāo)準(zhǔn)化的專門(mén)系統(tǒng)。ISO或IEC的國(guó)家成員團(tuán)體通過(guò)國(guó)際組織建立的各個(gè)技術(shù)委員會(huì)參與制定針對(duì)特定技術(shù)領(lǐng)域的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。ISO和IEC技術(shù)委員會(huì)在共同感興趣的領(lǐng)域合作。其他與ISO和IC有聯(lián)系的官方和非官方的各國(guó)際組織也參與此項(xiàng)工作。在信息技術(shù)領(lǐng)域.ISO和IEC建立了一個(gè)聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)，即ISO/IECJTCl。由聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)提出的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)草案須分發(fā)給各成員團(tuán)體進(jìn)行表決。作為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布至少需要75%的成員團(tuán)體投票贊成。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC11694-1:1994由聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)ISO/IECJTCI(信息技術(shù))的分委員會(huì)SC17(識(shí)別卡及相關(guān)設(shè)備)制定。JSO/IEC11694在總標(biāo)題《識(shí)別卡光記憶卡線性記錄方法》下包括下述部分：-第1部分;物理特性；第2部分：可訪問(wèn)光區(qū)域的尺寸和位置；-第3部分：光屬性和特性；-第4部分：邏輯數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。

GB/T17550.1-1998本標(biāo)準(zhǔn)是描述光記憶卡的參數(shù)以及如何使用這種卡存儲(chǔ)和交換數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的系列標(biāo)準(zhǔn)之一這些標(biāo)準(zhǔn)承認(rèn)用于記錄和讀取光記憶卡上的信息的各種不同方法的存在。光記憶卡的這些特性特定了所使用的記錄方法。一一般而言，這些不同的記錄方法不能相互兼容。因此，以一種一致的方式制定這些標(biāo)準(zhǔn)來(lái)包容現(xiàn)有的和將來(lái)的記錄方法。本標(biāo)準(zhǔn)專用于使用線性記錄方法的光記憶卡。適用于其他特定記錄方法的特性將出現(xiàn)在一些獨(dú)立的標(biāo)準(zhǔn)文件中。本標(biāo)準(zhǔn)定義了光記憶卡的物理特性以及符合、加入或/和不符合此相關(guān)的基本文件GB/T17551的范圍。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)識(shí)別卡光記憶卡線性記錄方法GB/T17550.1-.1998第1部分：物理特性ldtisonEc11694-1：195Identificationcards--OpticalmemorycardsLinearrecordingmethod-Part1:Physicalcharacteristies1范圍本標(biāo)準(zhǔn)定義了使用線性記錄方法的光記憶卡的物理特性2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T17550.3一-1998識(shí)別卡光記憶卡線性記錄方法第3部分:光屬性和特性（idtISO/IEC11694-3:1995)GB/T17551一1998識(shí)別卡光記憶卡一般特性(idtISO/IEC11693:1994）3定義GB/T17551中的定義及下列定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)3T線性記錄方法linearrecordingmethod在光記憶卡上用一種線性的X一Y格式進(jìn)行數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的寫(xiě)入和/或預(yù)格式化。特性4.1結(jié)構(gòu)在GB/T17551中定義的結(jié)構(gòu)特性適用于本標(biāo)準(zhǔn)4.2尺寸在GB/T17551中定義的尺寸適用于本標(biāo)準(zhǔn)。4.3物理特性在GB/T17551中定義的物理特性適用于本標(biāo)準(zhǔn)，4.3.1透明層透明層的厚度可以隨著所選材料的特定光特性而變化。有鑒于此.所使用的材料應(yīng)符合GB/T17550.3中所規(guī)定的光通路長(zhǎng)度要求。4.3.2光層光層的厚度可以隨著所使用的記錄材料和所采用的制造工藝而變化。有

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