標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 18271.3-2000 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),專注于過程測量和控制裝置的性能評估。該標(biāo)準(zhǔn)的第三部分詳細(xì)闡述了對這類裝置進(jìn)行影響量影響試驗的方法與程序。以下是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的具體闡釋:
該標(biāo)準(zhǔn)適用于評估過程測量和控制裝置在受到各種外部因素(稱為影響量)作用時的性能穩(wěn)定性與可靠性。這些影響量可能包括環(huán)境條件(如溫度、濕度)、電磁干擾、機(jī)械振動、供電電壓波動等,它們可能會影響裝置的測量精度、響應(yīng)時間及長期穩(wěn)定性。
標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)與內(nèi)容
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范圍:明確標(biāo)準(zhǔn)適用的對象為過程測量和控制裝置,規(guī)定了進(jìn)行影響量試驗的基本原則和要求。
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規(guī)范性引用文件:列出執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)時需要參考的其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)文獻(xiàn),確保試驗方法的一致性和可比性。
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術(shù)語和定義:定義了在標(biāo)準(zhǔn)文本中使用的關(guān)鍵術(shù)語,幫助讀者準(zhǔn)確理解各部分內(nèi)容。
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一般原則:概述了進(jìn)行影響量試驗的基本考慮因素,包括選擇合適的試驗條件、確定評價指標(biāo)和制定試驗計劃。
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試驗條件與方法:詳細(xì)描述了針對不同影響量的具體試驗條件、設(shè)置步驟和測試流程。例如,如何模擬極端溫度條件來測試裝置的性能變化,或者如何在特定的電磁環(huán)境下驗證裝置的抗干擾能力。
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數(shù)據(jù)處理與分析:規(guī)定了試驗數(shù)據(jù)的記錄、統(tǒng)計分析方法以及如何根據(jù)試驗結(jié)果評估裝置性能的變動范圍和穩(wěn)定性。
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試驗報告:要求試驗結(jié)束后需編制詳細(xì)的試驗報告,包括試驗?zāi)康摹l件、方法、結(jié)果及結(jié)論,以便于后續(xù)的審查與比較。
重要性
該標(biāo)準(zhǔn)旨在為制造商、檢測機(jī)構(gòu)及用戶等提供一套統(tǒng)一的評估框架,以確保過程測量和控制裝置在實(shí)際應(yīng)用中能夠準(zhǔn)確、可靠地工作,即便是在復(fù)雜多變的工業(yè)環(huán)境中。通過遵循該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的影響量試驗,可以有效識別和量化外部因素對裝置性能的潛在影響,進(jìn)而指導(dǎo)產(chǎn)品的設(shè)計改進(jìn)、質(zhì)量控制及正確選型應(yīng)用,提升整個過程控制系統(tǒng)的穩(wěn)定性和效率。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 18271.3-2017
- 2000-12-11 頒布
- 2001-08-01 實(shí)施
文檔簡介
TCS25.040.40N10中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18271.3—2000idtIEc61298-3:1998過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序第3部分:影響量影響的試驗Processmeasurementandcontroldevices-GeneralmethodsandproceduresforevaluatingperformancePart3:Testsfortheeeffectsofiinfluencequantities2000-12-11發(fā)布2001-08-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T18271.3-2000前言IEC前言IEC引言上范圍引用標(biāo)準(zhǔn)3定義4概述4.1淮則4.2通用程序5環(huán)境溫度影響5.1準(zhǔn)則5.2試驗程序·…6環(huán)境相對濕度影響振動7.1概述7.2尋找初始諧振7.3通過掃頻進(jìn)行耐久性適應(yīng)7.4尋找最終諧振7.5最最終測量…8;沖擊、跌落和傾倒………9安裝位置……………過范圍………11輸出負(fù)載影響11.1電動輸出…………….……………11.2氣動輸出…12供源影響………………12.1電源電壓和頻率變化12.2電電源電壓瞬變影響…….12.3電源電壓低降……12.4電源電壓短時中斷…·12.5電快速瞬變脈沖群抗擾度·12.6沖擊(浪涌)抗擾度…12.7電源電壓反向保護(hù)(直流裝置)12.8氣源壓力變化……………12.9氣源壓力中斷·.
GB/T182713-200013:電干擾·13.1;共模干擾…13.2串模干擾·13.3接地譜波失真影響15磁場影響····16福射電磁干擾16.1概述16.2程序17靜電放電17.1概述17.2程序·18輸入開路和短路影響19榆出開路和短路影響20過程介質(zhì)條件影響20.1過程流體的溫度20.2過程流體流經(jīng)裝置的流量20.3管線靜壓影響21大氣壓力影響22清洗氣體流經(jīng)裝置的流量23加速工作壽命試驗24!長期工作漂移試驗
GB/T18271.3-2000本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國際電工委員會IEC61298-3:1998《過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程第3部分:影響量影響的試驗》制定的,在技術(shù)內(nèi)容和編排方式上與該國際標(biāo)準(zhǔn)等同。為符合GB/T1《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則》系列標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的編寫格式和使用方便,本標(biāo)準(zhǔn)在引用標(biāo)準(zhǔn)中列出了所涉及的國際標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)之間的關(guān)系。在引用標(biāo)準(zhǔn)一章中采用了指定的引導(dǎo)語本標(biāo)準(zhǔn)第16章和第17章原文的引用標(biāo)準(zhǔn)分別為IEC61000-4-3和IEC61000-4-2.但其閘述的內(nèi)容卻誤引自IEC60801-3和IEC60801-2,考慮到兩者之間存在著技術(shù)差異,不能相互替代.因此本標(biāo)準(zhǔn)在編制時按原文規(guī)定的引用標(biāo)準(zhǔn).對其內(nèi)容作了相應(yīng)的更正本標(biāo)準(zhǔn)由國家機(jī)械工業(yè)局提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國工業(yè)過程測量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由上海工業(yè)自動化儀表研究所負(fù)責(zé)起草。參加起草單位:重慶工業(yè)自動化儀表研究所、西安工業(yè)自動化儀表研究所、北京機(jī)械工業(yè)自動化研究所、上海工業(yè)自動化儀表股份有限公司、重慶川儀股份有限公司、西儀集團(tuán)有限責(zé)任公司、上海遠(yuǎn)東儀表廠。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陳詩恩、邵志勇。參加起草人:周雪蓮、羅娟、楊昌燒、梁永和、李毓模、于美梅、陳才龍。本標(biāo)準(zhǔn)委托上海工業(yè)自動化儀表研究所負(fù)責(zé)解釋
GB/T18271.3-2000IEC前言1)IEC(國際電工委員會)是一個由各個國家電工委員會(IEC國家委員會)組成的世界性標(biāo)準(zhǔn)化組織。IEC的目標(biāo)是促進(jìn)國際上對電工電子領(lǐng)域的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化問題進(jìn)行合作。IEC為了達(dá)到此目的,也為了其他各種活動而出版國際標(biāo)準(zhǔn)。國際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作是委托技術(shù)委員會進(jìn)行的,對所制定標(biāo)準(zhǔn)感興趣的任何一個IEC國家委員會都可以參與國際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。與IEC有聯(lián)系的國際組織、政府機(jī)構(gòu)和非官方組織也可以參與標(biāo)準(zhǔn)制定工作。IEC與國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)按照雙方達(dá)成的協(xié)議緊密合作。2)IEC有關(guān)技術(shù)問題的正式?jīng)Q議或協(xié)議,是由各技術(shù)委員會代表了對這些間題特別關(guān)切的所有國家委員會提出的。這些決議和協(xié)議盡可能地表達(dá)了對所涉及的問題在國際上的一致意見。3)這些決議或協(xié)議以標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報告或?qū)t的形式出版,并以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國際上使用,并在此意義上為各國家委員會所承認(rèn)。4)為了促進(jìn)國際上的統(tǒng)一.IEC各國家委員會承諾在其國家或區(qū)域標(biāo)準(zhǔn)中最大限度地采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)的國家或區(qū)域標(biāo)準(zhǔn)之間,如有不一致之處.應(yīng)在國家標(biāo)準(zhǔn)或區(qū)域標(biāo)準(zhǔn)中明確指出。5)IEC并不提供表示其認(rèn)可的標(biāo)志程序,對任何裝置聲稱符合其某標(biāo)準(zhǔn)不負(fù)任何責(zé)任。6)請注意,本國際標(biāo)準(zhǔn)的某些內(nèi)容可能與某項專利權(quán)的主題有關(guān)。IEC對任何此類專利權(quán)的確認(rèn)不負(fù)任何責(zé)任。國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61298-3由IECTC65:工業(yè)過程測量和控制”所屬65B分委員會:“裝置”制定本標(biāo)準(zhǔn)的文本以下列文件為依據(jù):國際標(biāo)準(zhǔn)草案表決報告65B/320/DIS65B/331/RVD有關(guān)表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)情況可參見上表指明的表決報告IEC61298的總標(biāo)題為《過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序》由以下四部分組成:第1部分:總則;第2部分:參比條件下的試驗;第3部分:影響量影響的試驗;第4部分:評定報告的內(nèi)容正C引言制定本標(biāo)準(zhǔn)的本意并不是用本標(biāo)準(zhǔn)來替代現(xiàn)有的各種性能評定標(biāo)準(zhǔn),而是打算供IEC各技術(shù)委員會或其他標(biāo)準(zhǔn)化組織今后制定過程裝置評定標(biāo)準(zhǔn)時作為一個參考文件使用?,F(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)在制修定時都要考點(diǎn)本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。今后在制定新的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)時應(yīng)以本通用標(biāo)準(zhǔn)作為依據(jù),如下所述:凡本標(biāo)準(zhǔn)已涉及的試驗方法和試驗程序,新標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)以引用本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)條文的方式加以規(guī)定或說明·凡本標(biāo)準(zhǔn)未涉及的特定試驗方法或試驗程序,應(yīng)盡可能按本標(biāo)準(zhǔn)所述準(zhǔn)則加以制定和規(guī)定如果新制定標(biāo)準(zhǔn)在概念上或意義上引入與本標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容有不一致之處·應(yīng)注明并說明理由。
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序GB/T-2000第3部分:影響量影響的試驗Processmeasurementandcontroldevices-GeneralmethodsandproceduresforevaluatingperformancePart3:Testsfortheeffectsofinfluenceguantities范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對過程測量和控制裝置進(jìn)行功能和性能特性試驗以及編寫試驗報告的通用方法和程序。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗適用于任何具有特定的輸人輸出變量,且輸人輸出變量之間具有特定關(guān)系(傳遞函數(shù))的過程測量和控制裝暨.包括模擬裝置和數(shù)字裝置。對于需要做特殊試驗項目的裝置,應(yīng)按照本標(biāo)淮并結(jié)合對此類特殊試驗項目有專門規(guī)定的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗。本標(biāo)準(zhǔn)第3部分論述了測試影響量影響的試驗,引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文,本標(biāo)準(zhǔn)出版時,所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性GB/T2423.3—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法(eqvIEC60068-2-3:1984)GB/T2423.7-19955電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)idtIEC60068-2-31:1982)GB2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Fe和導(dǎo)則:振動(正弦)(idtIEC60068-2-6:1982GB/T17212—1998工業(yè)過程測量和控制術(shù)語和定義(idtIEC60902:1987)GB/T17214.1—1998工業(yè)過程測量和控制裝置工作條件第1部分:氣候條件(idtIEC60654-1:1993)GB/T17626.2—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(idtIEC61000-4-2:1995)GB/T17626.3-1998電磁兼容試驗和
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