ICS33.180.20L50中華人民共和國國家標準GB/T18311.4-2003/IEC61300-3-4:2001纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-4部分：檢查和測量衰減Eibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures-Part3-4：Examinationsandmeasurements-Attenuation(IEC61300-3-4:2001,IDT)2003-11-24發(fā)布2004-08-01實施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T18311.4一2003/IEC61300-3-4:2001本部分為GB/T18311的第4部分.并隸屬于GB/T18309.1-2001《纖維光學互連器件和無源器基本試驗和測量程序第1部分：總則和導則》本部分等同采用IEC61300-3-4:2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序3-4部分：檢查和測量衰減》英文版）。為便于使用.對于IEC61300-3-4:2001還作了下列編輯性修改：a刪除IEC61300-3-4:2001的前言；b）IEC61300-3-4:2001中5.5.3中列項5所引用的5.5.3.2不存在.本部分改為引用列項2.《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序》是系列國家標準,下面列出了這些國家標淮的預計結構及其對應的IEC標準：“a）GB/T18309.1—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第1部分：總則和導則》(idtIEC61300-1:1995）。6）（B/T18310《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2部分:試驗》GGB/T18310.1—2002《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序家第2-1部分：試驗振動(正弦)》IEC61300-2-1:1995,IDT)GB/T18310.2-2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-2部分：試驗配接耐久性》idtIEC61300-2-2:1995）GGB/T18310.3—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-3部分:試驗靜態(tài)剪切力》idtIEC61300-2-3:1995）GB/T18310.4—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-4部分:試驗光纖/光纜保持力》idtIEC61300-2-4:1995)GB/T18311《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3部分：檢查和測量》C）GB/T18311.1—2003《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-1部分：檢查和測量外觀檢查》IEC61300-3-1:1995.IDT）GB/T18311.2—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-2部分：檢查和測量單模纖維光學器件偏振依賴性》idtIEC61300-3-2:1995）GB/T18311.3—2001《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-3部分：檢查和測量監(jiān)測衰減和回波損耗變化(多路)》(idtIEC61300-3-3:1997)GB/T18311.4—-2003《纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-4部分：檢查和測量減》IEC61300-3-4:2001.IDT)本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所(CESI)歸口。本部分起草單位：上海傳輸線研究所。本部分起草人：程萬茂、湯鈞、樊鶴峰、馬磊、懷向芳、王銳臻

GB/T18311.4-2003/IEC61300-3-4:2001纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-4部分：檢查和測量衰減范圍本部分規(guī)定了測量光學器件衰減的各種方法本部分不適用于密集波分復用(DWDM)器件規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T18311的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T18309.1-2001纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第1部分：總則和導則（idtIEC61300-1:1995）GB/T18311.1-2003纖維光學互連器件和無源器件、基本試驗和測量程序第3-1部分：檢查和測量外觀檢查(IEC61300-3-1:1995,IDT)IEC60793-1(所有部分）光纖第1部分：總規(guī)范概述衰減是用于表示由于被試器件（DUT)接人到一段光纜后導致的有用功率的減少，以dB表示。術語插入損耗有時用來替代衰減DUT可能不止有兩個光學端口。但是.衰減只能跨接兩個端口測量.所以本部分中的DUT都認為具有兩個端口。共有七種不同結構的DUT,這些結構之間的差異主要在于光學端口的尾端。尾端可以由光纖、連接器插頭或插座構成。測量衰減的基準方法為光功率計法。替代方法是光時域反射儀法（OTDR)測量作為。采用功率計進行衰減測量有三種組合形式。各DUT結構的衰減測量的基準方法和替代方法見表5.住1：不同的測試配置和方法會導致所測的衰減具有不同的準確度。若有爭議，應使用基準方法住2：在多模測量中，由光纖擾動引起的測量系統(tǒng)的模式分布變化會影響衰減的測量。3.1注意事項應滿足以下測量要求3.1.1注人光纖中的光功率應不足以產(chǎn)生韭線性散射效應3.1.2側量P。