ICS3524015

L64..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T34996—2017

800/900MHz射頻識(shí)別讀/寫設(shè)備規(guī)范

Specificationofthe800/900MHzradiofrequencyidentification

reader/writerequipment

2017-11-01發(fā)布2018-05-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T34996—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………2

技術(shù)要求

4…………………2

試驗(yàn)方法

5…………………6

質(zhì)量評(píng)定程序

6……………12

標(biāo)志包裝運(yùn)輸貯存

7、、、…………………13

附錄規(guī)范性附錄檢查程序規(guī)定

A()……………………15

附錄規(guī)范性附錄故障分類和判據(jù)

B()…………………16

Ⅰ

GB/T34996—2017

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC28)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院中國(guó)自動(dòng)識(shí)別技術(shù)協(xié)會(huì)睿芯聯(lián)科北京電子科技

:、、()

有限公司深圳市標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院國(guó)家無(wú)線電監(jiān)測(cè)中心檢測(cè)中心北京中科佐迪克電子科技發(fā)展有限

、、、

公司上海一芯智能科技有限公司中興通訊股份有限公司

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人馮敬高林袁理劉文莉金倩管超謝穎王立宋起柱黎志文王大慶

:、、、、、、、、、、、

肖文康王文儉張芃蘇愛民王峻峰

、、、、。

Ⅲ

GB/T34996—2017

800/900MHz射頻識(shí)別讀/寫設(shè)備規(guī)范

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了射頻識(shí)別讀寫設(shè)備的技術(shù)要求試驗(yàn)方

840MHz~845MHz、920MHz~925MHz/、

法和質(zhì)量評(píng)定程序以及標(biāo)志包裝貯存和運(yùn)輸?shù)囊?/p>

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于射頻識(shí)別讀寫設(shè)備的設(shè)計(jì)生產(chǎn)測(cè)試

840MHz~845MHz、920MHz~925MHz/、、

和驗(yàn)收

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志

GB/T191

信息技術(shù)信息交換用七位編碼字符集

GB/T1988

信息交換用漢字編碼字符集基本集

GB/T2312

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南

GB/T2421.1

環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法編寫導(dǎo)則術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T2422

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫

GB/T2423.1—20082:A:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫

GB/T2423.2—20082:B:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T2423.3—20062:Cab:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)和導(dǎo)則沖擊

GB/T2423.5—19952:Ea:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)和導(dǎo)則碰撞

GB/T2423.6—19952:Eb:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)自由跌落

GB/T2423.8—19952:Ed:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)振動(dòng)正弦

GB/T2423.10—20082:Fc:()

計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢查抽樣計(jì)劃

GB/T2828.11:(AQL)

外殼防護(hù)等級(jí)代碼

GB/T4208—2008(IP)

包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第部分溫濕度調(diào)節(jié)處理

GB/T4857.2—20052:

信息技術(shù)設(shè)備安全第部分通用要求

GB4943.1—20111:

信息技術(shù)漢字編碼字符集基本集點(diǎn)陣字型

GB/T5007.1()24

信息技術(shù)漢字編碼字符集輔助集點(diǎn)陣字型宋體

GB/T5007.2()24

設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案

GB/T5080.7

信息技術(shù)漢字編碼字符集基本集點(diǎn)陣字型

GB/T5199()15×16