ICS77.040.30H24中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6394一2002金屬平均晶粒度測定方法2002-12-31發(fā)布2003-06-01實施中華人、民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T6394-2002本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ASTME112—1996《測定平均晶粒度試驗方法》。本標(biāo)準(zhǔn)自實施之日起.YB/T5148—1993《金屬平均品粒度測定方法》作廢本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ASTME112—1996重新起草。為了方便比較，在資料性附錄D中列出了本國家標(biāo)準(zhǔn)條款和ASTME112—1996標(biāo)準(zhǔn)條款的對照一覽表。由于我國法律要求和工業(yè)的特殊需要，本標(biāo)準(zhǔn)在采用ASTME112—1996標(biāo)準(zhǔn)時進(jìn)行了修改。這些技術(shù)性差異用垂直單線標(biāo)識在它們所涉及的條款的頁邊空白處。在附錄D中給出了技術(shù)差異及其原因一覽表以供參考。本標(biāo)準(zhǔn)與YB/T5148—1993相比主要變化如下：修改各系列評級圖適用范圍的說明；將晶粒顯示方法作為附錄編寫，增加模擬滲碳法和網(wǎng)狀鐵素體法，刪去珠光體法.并分奧氏體品粒形成及顯示兩部分?jǐn)⑹?；刪去截點(diǎn)法中表4a、表4b和圖3；增加了“6非等軸品試樣的品粒度”；增增加了·7含兩相或多相及組元試樣的晶粒度”本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C為規(guī)范性附錄，附錄D為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由原國家治金工業(yè)局提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：撫順特殊鋼(集團(tuán))有限責(zé)任公司、治金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：曾文濤、索燕、谷強(qiáng)、劉忠平

GB/T6394-2002本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬材料平均品粒度的基本測量方法。由于純粹以晶粒幾何圖形為基礎(chǔ)，與金屬或合金本身無關(guān)。因此·這些基本方法也可用來測量非金屬材料中品粒、品體和品胞的平均尺寸。如果材料的組織形貌接近于某一個標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖，可使用比較法。測定平均品粒度常用比較法·也可用截點(diǎn)法和面積法。但是.比較法不能用來測量單個品粒

GB/T6394-2002金屬平均晶粒度測定方法范圍1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬組織的平均品粒度表示及評定方法。這些方法也適用于品粒形狀與本標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖相似的非金屬材料。這些方法主要適用于單相品粒組織，但經(jīng)具體規(guī)定后也適用于多相或多組元的試樣中特定類型的品粒平均尺寸的測量。1.2本標(biāo)準(zhǔn)使用品粒面積、晶粒直徑、截線長度的單峰分布來測定試樣的平均晶粒度。：。這些分布近似正態(tài)分布。本標(biāo)準(zhǔn)的測定方法不適用于雙峰分布的品粒度。1.3本標(biāo)準(zhǔn)的測量方法僅適用平面品粒度的測量,也就是試樣截面顯示出的二維品粒，不適用于試樣三維品粒，即立體品粒尺寸的測量。1.4本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗方法，它不能確定受檢材料是否接收或適合使用的范圍2術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)21晶粒g晶界所包圍的整個區(qū)域,即是二維平面原始界面內(nèi)的區(qū)域或是三維物體內(nèi)的原始界面內(nèi)所包括的體積。對于有李生界面的材料.李生界面忽略不計。22晶粒度gainsize品粒大小的量度。通常使用長度、面積、體積或品粒度級別數(shù)來表示不同方法評定或測定的品粒大小，而使用品粒度級別數(shù)表示的品粒度與測量方法和計量單位無關(guān)23晶粒度級別數(shù)grain-sizenumber2.3.1顯微晶粒度級別數(shù)Gmicro-grainsizenumberG在100倍下645.16mm2面積內(nèi)包含的晶粒個數(shù)N與G有如下關(guān)系：N-20-2.3.2宏宏觀晶粒度級別數(shù)Gmacro-gr