041YB中華人民共和國黑色治金行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)YB/T172一2000硅磚定量相分析X射線衍射法Phasequantitativeanalysisofsilicabricks-X-raydiffractionmethod2000-07-26發(fā)布2000-12-01實施國家治金工業(yè)局發(fā)布

YB/T172-2000前本標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)容上部分參考了我國JG/T629-19894國家計量檢定規(guī)程！多品義射線衍射儀》、在非金屬材料特別是硅磚中殘存石英含量的測定目前尚無標(biāo)準(zhǔn)，而硅磚中殘余石英的含量是衡量硅磚質(zhì)量的重要指標(biāo)，對硅磚的生產(chǎn)控制及產(chǎn)品質(zhì)量檢驗起到促進(jìn)作用。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國耐火材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：洛陽耐火材料研究院、北京焦化廠山西孟縣西小坪耐火材料有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：任剛偉、張熊榮、高宜欽、趙孟喜

中華人民共和國黑色治金行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)硅磚定量相分析X射線衍射法YB/T172—2000PhasequantitativeanalysisofsilicabricksX-raydiffractionmethod本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅磚X射線定量相分析的定義、原理、儀器設(shè)備、標(biāo)樣、試樣制備、定城分析、試驗報告本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅磚中石英、方石英及殘余石英的定量分析引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。JJG/T629-1989國家計量檢定規(guī)程，多晶X射線衍射儀3定義本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義，3.1X射線強度X-rayintensityX射線衍射分析中的強度系指扣除背景后衍射峰的積分強度，也可用衍射峰的面積來表示3.2分析線analysislines需要對其強度進(jìn)行測量并據(jù)此判定被分析物相含量的特征譜線，3.3同素異形體polymorph組成相同而結(jié)構(gòu)不同的礦物，如鱗石英、方石英、。-石英的組成均為Si.，但結(jié)構(gòu)各不相同。3.4擇優(yōu)取向preferredorientation非金屬材料由于試樣粒度粗或壓制試樣時用力過大等使某一衍射面的衍射強度反常而增大。原理及計算公式對多相混合試樣進(jìn)行X射線衍射測量時，待測相的X射線衍射強度與該相在試樣中的含量成正比，與多相混合試樣的質(zhì)量吸收系數(shù)成反比。硅磚中鱗石英、方石英及殘余石英均為二氧化硅的同素異形體，采用外標(biāo)法商便易行，可用微機(jī)直接進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。如果沒有計算軟件可按下列公式計算：Tx·（Ki）100式中：Wx-試樣中待測相的重量百分?jǐn)?shù)，%；試樣中待