精品文檔精心整理精品文檔可編輯的精品文檔目錄1 引言 62 適用范圍 63 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試概述 63.1 信號(hào)完整性 63.2 信號(hào)質(zhì)量 74 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試條件 124.1 單板/系統(tǒng)工作條件： 124.2 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試人員要求： 124.3 示波器選擇與使用要求： 124.4 探頭選擇與使用要求 134.5 測(cè)試點(diǎn)的選擇 145 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn) 145.1 信號(hào)電平簡(jiǎn)述： 145.2 合格標(biāo)準(zhǔn) 165.3 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試結(jié)果分析注意事項(xiàng) 176 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法 196.1 電源信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 196.1.1 簡(jiǎn)述 196.1.2 測(cè)試項(xiàng)目 196.1.3 測(cè)試方法 196.2 時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 266.2.1 簡(jiǎn)述 266.2.2 測(cè)試方法 266.2.3 測(cè)試指標(biāo)與合格標(biāo)準(zhǔn) 266.2.4 注意事項(xiàng) 286.3 復(fù)位信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 296.3.1 簡(jiǎn)述 296.3.2 測(cè)試方法 296.3.3 測(cè)試項(xiàng)目與合格標(biāo)準(zhǔn) 296.3.4 注意事項(xiàng) 316.3.5 測(cè)試示例 316.4 數(shù)據(jù)、地址信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 336.4.1 簡(jiǎn)述 336.4.2 測(cè)試方法 336.4.3 測(cè)試項(xiàng)目 346.4.4 測(cè)試示例： 356.5 差分信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 366.5.1 簡(jiǎn)述 366.5.2 測(cè)試項(xiàng)目 366.5.3 測(cè)試方法 366.5.4 合格標(biāo)準(zhǔn) 386.5.5 注意事項(xiàng) 426.5.6 測(cè)試示例 426.6 串行信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 436.6.1 概述 436.6.2 測(cè)試項(xiàng)目 446.6.3 測(cè)試方法 456.6.4 合格標(biāo)準(zhǔn) 467 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試Checklist 498 測(cè)試系統(tǒng)接地說(shuō)明 519 引用標(biāo)準(zhǔn)和參考資料 54

信號(hào)質(zhì)量測(cè)試規(guī)范關(guān)鍵詞：信號(hào)完整性、測(cè)試摘要：本規(guī)范詳細(xì)說(shuō)明了單板信號(hào)質(zhì)量測(cè)試的方法。其中包括各類信號(hào)波形參數(shù)的定義，進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量測(cè)試的條件，覆蓋范圍，合格標(biāo)準(zhǔn)，信號(hào)分類，各類信號(hào)波形參數(shù)的指標(biāo)，測(cè)試點(diǎn)的選擇以及測(cè)試結(jié)果分析重點(diǎn)。縮略語(yǔ)清單： SISignalIntegrity信號(hào)完整性TTLTransistor-TransistorLogic晶體管-晶體管邏輯CMOSComplementaryMetalOxideSemicondutor互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體LVTTLLowVoltageTTL低電壓ＴＴＬLVCMOSLowVoltageCMOS低電壓ＣＭＯＳECLEmitterCoupledLogic 發(fā)射極耦合邏輯PECLPseudo/PositiveEmitterCoupledLogic偽發(fā)射極耦合邏輯LVDSLowVoltageDifferentialSignaling低電壓差分信號(hào)GTLGunningTransceiverLogic射電收發(fā)邏輯HSTLHigh-SpeedTransceiverLogic高速收發(fā)器邏輯eHSTLEnhancedHigh-SpeedTransceiverLogic增強(qiáng)高速收發(fā)器邏輯dHSTLDifferentialHSTL差分HSTLSSTLStubSeries-terminatedLogic線腳系列終端邏輯SPISerialPeripheralInterface串行外圍接口I2InterIntegratedCircuitBus內(nèi)部集成電路總線USBUniversalSerialBus通用串行總線

引言《信號(hào)質(zhì)量測(cè)試規(guī)范》是為了規(guī)范和指導(dǎo)硬件調(diào)試、硬件測(cè)試以及生產(chǎn)測(cè)試時(shí)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法及手段，在總結(jié)長(zhǎng)期實(shí)際工作經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上制定的。由于某些原因的限制，本規(guī)范難免會(huì)存在著一些紕漏。我們實(shí)際使用、遵循規(guī)范的過(guò)程，也是一個(gè)檢驗(yàn)和完善規(guī)范的過(guò)程。希望大家能積極的提出寶貴意見及見解，以保持該規(guī)范的的可操作性，推動(dòng)我司規(guī)范性文檔的建設(shè)進(jìn)程。適用范圍本規(guī)范作為研發(fā)、中試進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量測(cè)試的共同標(biāo)準(zhǔn)。本規(guī)范適用所有數(shù)字信號(hào)的調(diào)試、測(cè)試過(guò)程。測(cè)試時(shí)應(yīng)覆蓋各個(gè)功能模塊，包括電源、時(shí)鐘、復(fù)位電路、CPU最小系統(tǒng)、外部接口（E1、網(wǎng)口、串口等等）、邏輯芯片(CPLD/FPGA)、專用電路等等。模擬電路由于其信號(hào)的連續(xù)變化性，不能直接應(yīng)用本規(guī)范，可擇情參考。本文檔不包括的內(nèi)容：非信號(hào)質(zhì)量測(cè)試內(nèi)容。例如不適用于部分硬件接口指標(biāo)測(cè)試，系統(tǒng)硬件規(guī)格測(cè)試、環(huán)境測(cè)試、EMC測(cè)試、安規(guī)測(cè)試、防護(hù)測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試等。信號(hào)質(zhì)量測(cè)試概述信號(hào)完整性現(xiàn)在的高速數(shù)字系統(tǒng)的時(shí)鐘頻率可能高達(dá)數(shù)百兆Hz，其快斜率瞬變和極高的工作頻率，以及很大的電路密集度，必將使得系統(tǒng)表現(xiàn)出與低速設(shè)計(jì)截然不同的行為，出現(xiàn)了信號(hào)完整性問(wèn)題。破壞了信號(hào)完整性將直接導(dǎo)致信號(hào)失真、定時(shí)錯(cuò)誤，以及產(chǎn)生不正確數(shù)據(jù)、地址和控制信號(hào)，從而造成系統(tǒng)誤工作甚至導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰。因此，信號(hào)完整性問(wèn)題已經(jīng)越來(lái)越引起高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)人員的關(guān)注。如果電路中信號(hào)能夠以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá)IC，則該電路具有較好的信號(hào)完整性。反之，當(dāng)信號(hào)不能正常響應(yīng)時(shí)，就出現(xiàn)了信號(hào)完整性問(wèn)題。SI（SignalIntegrity）解決的是信號(hào)傳輸過(guò)程中的質(zhì)量問(wèn)題，尤其是在高速領(lǐng)域，數(shù)字信號(hào)的傳輸不能只考慮邏輯上的實(shí)現(xiàn)，物理實(shí)現(xiàn)中數(shù)字器件開關(guān)行為的模擬效果往往成為設(shè)計(jì)成敗的關(guān)鍵。信號(hào)質(zhì)量常見的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題表現(xiàn)在下面幾個(gè)方面：過(guò)沖類型正過(guò)沖負(fù)過(guò)沖圖例危害閂鎖損傷器件（>VCC/VDD），對(duì)器件沖擊造成器件損壞；2、形成干擾源，對(duì)其它器件造成串?dāng)_。閂鎖損傷器件（<VEE/GND），對(duì)器件沖擊造成器件損壞；管腳上的負(fù)電壓可能使器件PN襯底（寄生二極管）前向偏置，流過(guò)的大電流大于1安時(shí)，熔斷鍵絲產(chǎn)生開路。產(chǎn)生原因其它相鄰信號(hào)串?dāng)_；器件驅(qū)動(dòng)能力太強(qiáng)；沒(méi)有匹配或者匹配不當(dāng)。解決建議PCB布線避開干擾源和耦合路徑；增加電阻匹配，參考做法是始端串電阻或者末端并阻抗（電阻），減少過(guò)沖。備注閂鎖：關(guān)于閂鎖的概念可以參考《數(shù)字電路》這一類教材。現(xiàn)在由于廠家工藝改進(jìn)，閂鎖問(wèn)題基本上可以得到規(guī)避。但是長(zhǎng)時(shí)間的信號(hào)過(guò)沖會(huì)使得器件失效率增加（尤其是負(fù)過(guò)沖）。毛刺（噪聲）類型正向毛刺負(fù)向毛刺圖例危害容易造成控制信號(hào)控制錯(cuò)誤或時(shí)鐘信號(hào)相位發(fā)生錯(cuò)誤：1）數(shù)據(jù)線上的毛刺如果被采樣到，可能造成判斷結(jié)果錯(cuò)誤；2）邊沿觸發(fā)的器件中，時(shí)鐘線上的毛刺可能會(huì)使得采樣到多余的數(shù)據(jù)（相當(dāng)于多了一拍時(shí)鐘）。產(chǎn)生原因1）PCB走線串?dāng)_（例如數(shù)據(jù)線和時(shí)鐘線并行走線較長(zhǎng)，信號(hào)線放置在晶振等干擾源附近）；2）外界干擾，如地線噪聲等；3）邏輯出現(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)、冒險(xiǎn)；解決建議1）控制器件布局和PCB走線，信號(hào)遠(yuǎn)離干擾源；2）添加去耦電容或輸出濾波等。濾波器件盡量靠近信號(hào)管腳；3）邏輯設(shè)計(jì)中添加冗余項(xiàng)，或者采用同步邏輯設(shè)計(jì)，避免競(jìng)爭(zhēng)冒險(xiǎn)；備注1）毛刺脈沖帶來(lái)的問(wèn)題多發(fā)生在器件替代后出現(xiàn)問(wèn)題；2）如果負(fù)向毛刺時(shí)始終落在高電平判決門限以上，那么沒(méi)有什么影響（因?yàn)槭冀K會(huì)被判斷為高電平）；如果正向毛刺始終落在低電平判決門限以下，那么沒(méi)有什么影響（因?yàn)槭冀K會(huì)被判斷為低電平）。3）回勾（臺(tái)階）類型上升沿回勾下降沿回勾圖例危害主要是時(shí)鐘類信號(hào)上的回勾有危害，可能會(huì)使得采樣到多余的數(shù)據(jù)（相當(dāng)于多了一拍時(shí)鐘），影響了時(shí)鐘信號(hào)上升沿和下降沿的單調(diào)性；對(duì)于電源信號(hào)，上電邊沿的回勾可能導(dǎo)致系統(tǒng)死機(jī)，需要結(jié)合復(fù)位信號(hào)判斷是否可以接受；數(shù)據(jù)信號(hào)由于一般是在數(shù)據(jù)的中間采樣，回勾的影響不是很大（除非速率很高，建立保持時(shí)間1～2ns，這時(shí)需要考慮回勾對(duì)數(shù)據(jù)的影響）。產(chǎn)生原因匹配不當(dāng)，信號(hào)放射回來(lái)形成回勾解決建議增加合適的匹配。一般來(lái)講，對(duì)于單端信號(hào)，單板內(nèi)信號(hào)可以加33歐電阻始端匹配，板間信號(hào)加200歐電阻匹配較合適。備注如上面毛刺項(xiàng)的說(shuō)明，如果回勾始終落在高電平判決門限以上（或者始終落在低電平判決門限以下），那么沒(méi)有什么影響，因?yàn)闀?huì)被判斷為高電平（或低電平）信號(hào)邊沿緩慢類型上升沿緩慢下降沿緩慢圖例危害上升、下降沿緩慢發(fā)生在數(shù)據(jù)信號(hào)線上（串口信號(hào)線，HW信號(hào)線等）時(shí)，會(huì)造成數(shù)據(jù)采樣錯(cuò)誤。產(chǎn)生原因驅(qū)動(dòng)能力不夠，或者負(fù)載過(guò)大（例如鏈路阻抗太大）解決建議1）提高驅(qū)動(dòng)能力；2）減小負(fù)載。備注由于驅(qū)動(dòng)不足或者負(fù)載過(guò)大，信號(hào)邊沿緩慢常常伴隨著信號(hào)幅度較低現(xiàn)象4）振蕩（回沖/振鈴）類型回沖振鈴圖例表現(xiàn)：多次跨越電平臨界值。又稱為回沖。處于VH附近的回沖稱為正向回沖，處于VL附近的回沖稱為負(fù)向回沖表現(xiàn)：經(jīng)過(guò)多次反復(fù)才回歸正常電平。又稱為振鈴。缺點(diǎn)（危害）類似于多次過(guò)沖。且跨越電平臨界值后，在高低電平之間是一種不確定的狀態(tài)。在高低電平之間是一種不確定的狀態(tài)（有可能被判斷為0，也可能被判斷為1）。產(chǎn)生原因匹配不當(dāng)（例如匹配阻抗過(guò)大、過(guò)?。?。解決建議更改為合適的匹配電阻/阻抗。備注5）建立、保持時(shí)間（Setuptime&Holdtime）建立保持時(shí)間是一個(gè)時(shí)序的概念。通常把單板的數(shù)字信號(hào)分為控制信號(hào)、時(shí)鐘信號(hào)、地址信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)等，時(shí)序關(guān)系就是這些信號(hào)間的相互關(guān)系。判斷時(shí)序關(guān)系主要有兩個(gè)指標(biāo)：建立時(shí)間和保持時(shí)間。如下圖，建立時(shí)間就是指在觸發(fā)器的采樣信號(hào)（這個(gè)采樣信號(hào)通常是指時(shí)鐘）有效之前，數(shù)據(jù)已經(jīng)穩(wěn)定不變的時(shí)間；而保持時(shí)間是指采樣信號(hào)有效之后數(shù)據(jù)保持穩(wěn)定不變的時(shí)間。類型建立時(shí)間保持時(shí)間圖例缺點(diǎn)（危害）建立時(shí)間不夠，讀到的數(shù)據(jù)會(huì)是一個(gè)不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)，可能會(huì)采樣錯(cuò)誤保持時(shí)間不夠，讀寫數(shù)據(jù)處理過(guò)程中同樣可能讀寫到錯(cuò)誤數(shù)據(jù)產(chǎn)生原因設(shè)計(jì)時(shí)沒(méi)有考慮清楚，設(shè)計(jì)出錯(cuò)。或者沒(méi)有考慮到設(shè)計(jì)容限范圍，在某些異常情況下（例如溫度變化使得器件參數(shù)漂移）建立、保持時(shí)間不夠。解決建議設(shè)計(jì)時(shí)把時(shí)鐘從FPGA/CPLD中引出，在設(shè)計(jì)裕度不夠時(shí)可以調(diào)節(jié)；對(duì)于時(shí)鐘邊沿采樣信號(hào)，盡量使得采樣時(shí)鐘邊沿在數(shù)據(jù)的中間，這樣盡管器件參數(shù)漂移，設(shè)計(jì)上還是有較大的裕度。備注在某些特殊情況下，建立時(shí)間和保持時(shí)間的值可以為零；有時(shí)芯片資料給出的參數(shù)不對(duì)，按照手冊(cè)要求設(shè)計(jì)反而出錯(cuò)（這在自己開發(fā)ASIC的情況下可能會(huì)發(fā)生。商用芯片一般不存在此類問(wèn)題）。產(chǎn)生信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題的其它原因：串?dāng)_串?dāng)_表現(xiàn)為在一根信號(hào)線上有信號(hào)通過(guò)時(shí)，在PCB板上與之相鄰的信號(hào)線上就會(huì)感應(yīng)出相關(guān)的信號(hào)，我們稱之為串?dāng)_。竄擾的表現(xiàn)形式通常是毛刺。信號(hào)線距離地線越近，線間距越大，產(chǎn)生的串?dāng)_信號(hào)越小。異步信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)更容易產(chǎn)生串?dāng)_。因此解串?dāng)_的方法是移開發(fā)生串?dāng)_的信號(hào)或屏蔽被嚴(yán)重干擾的信號(hào)。電磁輻射 EMI(Electro-MagneticInterference)即電磁干擾，產(chǎn)生的問(wèn)題包含過(guò)量的電磁輻射及對(duì)電磁輻射的敏感性兩方面。EMI表現(xiàn)為當(dāng)數(shù)字系統(tǒng)加電運(yùn)行時(shí)，會(huì)對(duì)周圍環(huán)境輻射電磁波，從而干擾周圍環(huán)境中電子設(shè)備的正常工作。它產(chǎn)生的主要原因是電路工作頻率太高以及布局布線不合理。目前已有進(jìn)行EMI仿真的軟件工具，但EMI仿真器都很昂貴，仿真參數(shù)和邊界條件設(shè)置又很困難，這將直接影響仿真結(jié)果的準(zhǔn)確性和實(shí)用性。最通常的做法是將控制EMI的各項(xiàng)設(shè)計(jì)規(guī)則應(yīng)用在設(shè)計(jì)的每一環(huán)節(jié)，實(shí)現(xiàn)在設(shè)計(jì)各環(huán)節(jié)上的規(guī)則驅(qū)動(dòng)和控制。

信號(hào)質(zhì)量測(cè)試條件測(cè)量時(shí)請(qǐng)盡量滿足下面的測(cè)試條件，否則測(cè)試結(jié)果可能會(huì)不正確，且測(cè)試結(jié)果會(huì)因人而異，不利于對(duì)測(cè)試對(duì)象的評(píng)估！單板/系統(tǒng)工作條件：?jiǎn)伟逍盘?hào)質(zhì)量測(cè)試須滿足以下條件：?jiǎn)伟?系統(tǒng)工作在室溫條件；單板/系統(tǒng)可靠接地。接地內(nèi)容參考第8節(jié)“測(cè)試系統(tǒng)接地說(shuō)明”；單板/系統(tǒng)上電正常工作1小時(shí)后測(cè)試；單板/系統(tǒng)盡量工作在滿負(fù)荷條件下。如果測(cè)試項(xiàng)目有輕載、滿載限制要求，則輕載、滿載條件下都要測(cè)試；單板電源穩(wěn)定在額定電壓±5%的范圍內(nèi)。信號(hào)質(zhì)量測(cè)試人員要求：熟悉邏輯電平的基本知識(shí)，熟練掌握示波器的使用方法；對(duì)被測(cè)單板的原理電路有深刻認(rèn)識(shí)，對(duì)信號(hào)分類有清楚認(rèn)識(shí)，了解板上器件的工作速度和工作電平。示波器選擇與使用要求：測(cè)量前保證測(cè)試儀器（儀表）和被測(cè)單板或系統(tǒng)共地。如果不共地，地線浮空，可能會(huì)得到錯(cuò)誤的測(cè)試結(jié)果。接地內(nèi)容參考第8節(jié)“測(cè)試系統(tǒng)接地說(shuō)明”；測(cè)量前需要校準(zhǔn)儀器；為確保測(cè)試數(shù)據(jù)的精度，應(yīng)盡量采用高輸入阻抗、小電容值、高帶寬的有源探頭和高帶寬的示波器；示波器的帶寬：描述了示波器固有的上升時(shí)間（即時(shí)延）。探頭和示波器的帶寬要超過(guò)信號(hào)帶寬的3~5倍以上；示波器的采樣速率：表示為樣點(diǎn)數(shù)每秒（S/s），指數(shù)字示波器對(duì)信號(hào)采樣的頻率。為了準(zhǔn)確再現(xiàn)信號(hào)，根據(jù)香農(nóng)（Shannon）定律，示波器的采樣速率至少需為信號(hào)最高頻率成分的2倍；量程應(yīng)盡量小，波形盡量展開，以方便觀察波形變化的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確測(cè)量其幅值；測(cè)量信號(hào)邊沿時(shí)，應(yīng)選用合適的邊沿觸發(fā)；高檔示波器都具有毛刺捕捉模式，可以用于捕捉毛刺；Tek示波器提供了InstaVu功能，用于發(fā)現(xiàn)信號(hào)異常，數(shù)據(jù)信號(hào)眼圖異常及高電平低電平毛刺，測(cè)量眼圖，毛刺、紋波等瞬間變化的波形；探頭選擇與使用要求不允許在探頭還連接著被測(cè)試電路時(shí)插拔探頭；有源探頭和差分探頭、電流探頭等是很昂貴的設(shè)備，注意保護(hù)。插拔探頭時(shí)必須先關(guān)示波器。無(wú)源探頭一般沒(méi)有硬性規(guī)定，但是出于可靠考慮，建議所有探頭都不能熱拔插，拔插任何探頭時(shí)都必須先關(guān)閉示波器；探頭地線只能接電路板上的地線，不可以搭接在電路板的正、負(fù)電源端。否則，可能會(huì)造成電路板器件損壞，甚至?xí)龎奶筋^的小夾子和探頭本身；探頭電容越小，它對(duì)電路的負(fù)載就越小，測(cè)試結(jié)果就更精確。選用時(shí)請(qǐng)根據(jù)情況仔細(xì)考慮；探頭是有測(cè)量幅度的，不要用于測(cè)大信號(hào)，以免造成探頭損壞。例如：信號(hào)幅度超過(guò)±40V時(shí)，用有源探頭P6245和P6243測(cè)量會(huì)造成探頭的損壞；差分探頭能夠測(cè)量的差分電壓范圍是有限的。例如，差分探頭P6247，其上的開關(guān)打在÷10檔位時(shí)，能測(cè)的差分電壓范圍是±8.5V，打在÷1檔位時(shí)只有±850mV。差分信號(hào)峰峰值超過(guò)850mV時(shí)（比如測(cè)公司常用的平衡線傳輸信號(hào)±5V），要注意選用÷10檔，否則會(huì)因輸入過(guò)大而使顯示的波形發(fā)生錯(cuò)誤；使用電流探頭需先校準(zhǔn)。每測(cè)試一個(gè)信號(hào)都需要校準(zhǔn)一次；使用時(shí)，探針盡量垂直于測(cè)試表面。但不可用力按壓，以免探針受損；測(cè)試點(diǎn)的選擇一般只測(cè)試單板接收到的信號(hào)，不測(cè)試發(fā)送的信號(hào)；信號(hào)質(zhì)量測(cè)試點(diǎn)要求在信號(hào)在末端測(cè)量（根據(jù)當(dāng)前信號(hào)流向決定測(cè)試點(diǎn)）。盡量在芯片的輸入管腳上測(cè)量，或者盡量靠近輸入管腳；很多信號(hào)在單板上會(huì)經(jīng)過(guò)多級(jí)匹配、驅(qū)動(dòng)，對(duì)此類輸入信號(hào)的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)選在匹配之后，芯片輸入端。建議各級(jí)驅(qū)動(dòng)芯片的輸入端都測(cè)量；對(duì)于同一個(gè)信號(hào)在不同的拓樸點(diǎn)上的情況（例如星形拓?fù)洌?，其信?hào)質(zhì)量差異很大，故一般要求所有輸入點(diǎn)的信號(hào)質(zhì)量必須進(jìn)行測(cè)試；測(cè)試信號(hào)應(yīng)就近接地，越近越好，以減少接地環(huán)路面積；[注]選擇測(cè)試點(diǎn)，還有一些非通用原則，參考第6節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法里詳細(xì)說(shuō)明。信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)本規(guī)范針對(duì)絕大多數(shù)情況擬定，不做大而全的考慮，因此可能并沒(méi)有包括某些特殊信號(hào)。另外有些指標(biāo)需要在研發(fā)實(shí)踐中進(jìn)一步修定！信號(hào)電平簡(jiǎn)述：信號(hào)質(zhì)量涉及到的幾個(gè)概念：波形周期對(duì)于重復(fù)性的波形，相鄰兩個(gè)重復(fù)波形間的間隔時(shí)間，定義為波形周期，其倒數(shù)為波形頻率。波形寬度波形電壓上升到波形幅度的50%起到波形電壓下降到波形幅度的50%止的時(shí)間。上升時(shí)間波形電壓從波形幅度的10%上升到90%所需要的時(shí)間。下降時(shí)間波形電壓從波形幅度的90%下降到10%所需要的時(shí)間。占空比指波形寬度占周期的比例，例如方波的占空比為50%。高電平為一個(gè)閥值，當(dāng)信號(hào)電平超過(guò)此值時(shí)，會(huì)被認(rèn)為為高，也就是‘1’，在應(yīng)用中，有輸入輸出之分。低電平為一個(gè)閥值，當(dāng)信號(hào)電平低過(guò)此值時(shí)，會(huì)被認(rèn)為為低，也就是‘0’，在應(yīng)用中也有輸入輸出之分。輸入高電平（VIH）保證邏輯門的輸入為高電平時(shí)所允許的最小輸入高電平，當(dāng)輸入電平高于VIH時(shí)，則認(rèn)為輸入電平為高電平。輸入低電平（VIL）保證邏輯門的輸入為低電平時(shí)所允許的最大輸入低電平，當(dāng)輸入電平低于VIL時(shí)，則認(rèn)為輸入電平為低電平。輸出高電平（VOH）保證邏輯門的輸出為高電平時(shí)的輸出電平的最小值，邏輯門的輸出為高電平時(shí)的電平值都必須大于此VOH。輸出低電平（VOL）保證邏輯門的輸出為低電平時(shí)的輸出電平的最大值，邏輯門的輸出為低電平時(shí)的電平值都必須小于此VOL。閥值電平（VT）數(shù)字電路芯片都存在一個(gè)閾值電平，就是電路剛剛勉強(qiáng)能翻轉(zhuǎn)作時(shí)的電平。它是一個(gè)界于VIL、VIH之間的電壓值。對(duì)于CMOS電路的閾值電平，基本上是二分之一的電源電壓值。但要保證穩(wěn)定的輸出，則必須要求輸入高電平>VIH，輸入低電平<VIL，而如果輸入電平在閾值上下，也就是VIL～VIH這個(gè)區(qū)域，電路的輸出會(huì)處于不穩(wěn)定狀態(tài)。[注]對(duì)于一般的邏輯電平，以上參數(shù)的關(guān)系如下： VOH>VIH>VT>VIL>VOL。合格標(biāo)準(zhǔn)電平信號(hào)高低電平合格標(biāo)準(zhǔn)（單位V）信號(hào)類型VCCVOHVIHVTVILVOLTTL、ABT52.4LVTTL、LVT、LVC、ALVC、LV3.32.4CMOS0.50.5LVCMOS3.3/2.52.4/2.02.0/1.71.5/1.20.8/0.70.2/0.2LVDS1.4725CML1.5/1.81.5/1.31.0/1.3ECL/LVECL0-0.88-1.24-1.3-1.36-1.72PECL3.523.05LVPECL3.32.422.062.001.941.58GTL——0.750.4GTL+——50.4ETL1.40.4BTL（低電平為1V）——51.471.1HSTL-I、II[1[1]在HSTL標(biāo)準(zhǔn)中，根據(jù)輸出緩沖特性的不同，HSTL被分為四種類型。其中第1、3、4類為并行終端負(fù)載，第2類為串行終端負(fù)載。另外根據(jù)EIA/JESD8-6的規(guī)定，HSTL-II、HSTL-III和HSTL-IV的VT是可選的，VT的變化會(huì)影響VIH和VIL；50.750.650.4HSTL-III、IV1.51.3SSTL2-I、II[2][2]SSTL標(biāo)準(zhǔn)專門針對(duì)高速內(nèi)存（特別是SDRAM）接口。目前存在兩種SSTL的標(biāo)準(zhǔn)。SSTL_3是3.3V標(biāo)準(zhǔn)，SSTL_2是2.5V標(biāo)準(zhǔn)。針對(duì)這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，JEDEC（JointElectronDeviceEngineeringCouncil，電子元件工業(yè)聯(lián)合會(huì)。是由生產(chǎn)廠商們制定的國(guó)際性協(xié)議，主要為計(jì)算機(jī)內(nèi)存制定標(biāo)準(zhǔn)）根據(jù)輸出緩沖器的特點(diǎn)定義出多個(gè)不同的等級(jí)，常見的有I級(jí)和II級(jí)。31.251.070.2SSTL3-I、II過(guò)沖毛刺合格標(biāo)準(zhǔn)（單位V）信號(hào)類型正向過(guò)沖負(fù)向過(guò)沖正向回沖負(fù)向回沖正向毛刺負(fù)向毛刺實(shí)測(cè)VIH要求實(shí)測(cè)VIL要求PECL<0.2<0.2>3.87<3.52<3.52>3.87>3.87<3.52TTL<1<1>2.4<0.8<0.8>2.4>3<0.6LVTTL(3V)<1<0.6>2.4<0.8<0.8>2.4>2.8<0.6CMOS<1<1>3.5<1.5<1.5<3.5>3.5<1GTL+<0.4<0.4>1.2<0.3<0.3>1.2>1.4<0.4GTL<0.3<0.3>0.95<0.25<0.25>0.95>1.15<0.3[小結(jié)]從上表中可以看出：正向回沖和毛刺應(yīng)大于VOH，負(fù)向回沖和毛刺應(yīng)小于VIL。也就是保證過(guò)沖和毛刺不被誤判斷為有效信號(hào)；正向過(guò)沖和負(fù)向過(guò)沖在器件absolutemaximumrating基礎(chǔ)上略有放寬。過(guò)沖與AbsoluteMaximumRating我們注意到芯片資料中常規(guī)定absolutemaximumrating的要求，例如LVTH16245的器件資料規(guī)定其VI（直流輸入電壓）的范圍-0.5～+7.0V。當(dāng)管腳電壓范圍長(zhǎng)期超過(guò)器件的absolutemaximumrating時(shí)，器件很容易失效（器件資料里常提到：AbsoluteMaximumcontinuousratingsarethosevaluesbeyondwhichdamagetothedevicemayoccur.）。對(duì)于我們調(diào)試、測(cè)試過(guò)程中常遇到的時(shí)鐘信號(hào)過(guò)沖，一般是處在時(shí)鐘信號(hào)上升、下降沿上的，不是一直處于超過(guò)absolutemaximumrating的狀態(tài)。所以考慮實(shí)際情況，我們以上表為依據(jù)來(lái)評(píng)估測(cè)試過(guò)沖，條件略有放寬。如果管腳上電壓長(zhǎng)期為過(guò)壓、負(fù)壓，則不應(yīng)超過(guò)absolutemaximumrating。信號(hào)質(zhì)量測(cè)試結(jié)果分析注意事項(xiàng)1）對(duì)設(shè)計(jì)缺陷的窄脈沖（如邏輯設(shè)計(jì)缺陷）等，不屬于信號(hào)質(zhì)量要求范圍，而屬于設(shè)計(jì)錯(cuò)誤，必須進(jìn)行更正；2）參照信號(hào)的用途，分析信號(hào)質(zhì)量對(duì)單板的影響。一些情況下差的信號(hào)質(zhì)量不一定會(huì)對(duì)系統(tǒng)造成影響的，不能單純參照指標(biāo)。比如數(shù)據(jù)、地址線是電平有效信號(hào)，并且通常在讀寫控制信號(hào)的上升/下降采樣，邊沿處信號(hào)質(zhì)量對(duì)系統(tǒng)影響不大。因此在選擇我們關(guān)注的測(cè)試指標(biāo)時(shí)要按需求選擇。但是也應(yīng)當(dāng)指出，邊沿處的過(guò)沖雖然對(duì)系統(tǒng)的功能實(shí)現(xiàn)可能沒(méi)有影響，可是會(huì)對(duì)器件的壽命造成不良影響。3） 酌情考慮輸入信號(hào)的過(guò)沖對(duì)器件的影響，視器件本身的設(shè)計(jì)，工藝而定?，F(xiàn)在的CMOS工藝的輸入電平可達(dá)0～7V，所以高電平過(guò)沖對(duì)器件的影響較小，主要應(yīng)該關(guān)注低電平過(guò)沖。器件功能出現(xiàn)異?？赡懿粌H與低電平過(guò)沖的幅度有關(guān)，還與低電平過(guò)沖的時(shí)間寬度有關(guān)。對(duì)CMOS器件尤其要注意其低電平過(guò)沖的影響，可能造成閂鎖現(xiàn)象。對(duì)于不同的器件，對(duì)低電平要求應(yīng)符合廠家規(guī)定的absolutemaximumrating的要求。4） 信號(hào)波形不標(biāo)準(zhǔn)時(shí)可能是該信號(hào)處于三態(tài)，或單板在此時(shí)并不使用該信號(hào)，對(duì)此類信號(hào)要注意分析此信號(hào)是否為有效期間，如果在無(wú)效期間可視其為正常信號(hào)。信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法電源信號(hào)質(zhì)量測(cè)試簡(jiǎn)述 電源本身有各類參數(shù)，在和產(chǎn)品配合使用時(shí)必須關(guān)注電源在實(shí)際工作過(guò)程的每一個(gè)輸出參數(shù)是否符合要求。單獨(dú)的電源參數(shù)，以及電源在與產(chǎn)品配合工作時(shí)參數(shù)是經(jīng)常不一樣的，我們必須在實(shí)際應(yīng)用中對(duì)電源的每一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)測(cè)試，從而保證產(chǎn)品（系統(tǒng)）的正常工作。 這里討論的是和電源工作時(shí)輸出信號(hào)參數(shù)的測(cè)試方法和要求。本小節(jié)“電源信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”不僅僅指電源芯片DC/DC、LDO等，還涉及芯片的電源管腳。測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試電壓值（精度）測(cè)試電源噪聲/紋波測(cè)試電壓上下電波形測(cè)量緩啟動(dòng)電路參數(shù)測(cè)試電源電流和沖擊電流測(cè)試電源告警信號(hào)測(cè)試冗余電源的均流參數(shù)測(cè)試方法1）測(cè)試電壓值（精度）測(cè)試儀器萬(wàn)用表（或示波器+無(wú)源探頭）測(cè)試方法 以測(cè)試芯片前端的輸入電壓為例（直流），測(cè)試工具：萬(wàn)用表（或示波器）。用萬(wàn)用表的黑表筆（或示波器探頭的接地線）連接被測(cè)試電源的地，紅表筆（或示波器探頭的探針）連接被測(cè)試電壓。電壓精度需要在單板空載、滿載的時(shí)候分別進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試點(diǎn)1）電源（DC/DC、LDO等）的電壓輸出管腳；2）芯片的電源管腳；合格標(biāo)準(zhǔn)一般在標(biāo)稱電壓值±5%范圍內(nèi)。根據(jù)芯片的電壓要求來(lái)確定。注意事項(xiàng)1）確保數(shù)字萬(wàn)用表電池電量充足，否則測(cè)量結(jié)果有較大誤差；2）不推薦使用示波器測(cè)量電壓精度，因?yàn)闀?huì)存在偏差。萬(wàn)一要使用示波器測(cè)量電壓精度，需要設(shè)置為直流并且取均方根值；2）測(cè)試電源噪聲/紋波定義紋波：是出現(xiàn)在輸出端子間的一種與輸入頻率和開關(guān)頻率同步的成分，用有效值表示，一般在輸出電壓的0.5%以下；噪聲：是出現(xiàn)在輸出端子間的紋波以外的一種高頻成分，也用峰-峰（peaktopeak）值表示，一般在輸出電壓的1%以下；紋波噪聲：是上述“紋波”、“噪聲”二者的合成，用峰-峰（peaktopeak）值表示，要求一般在輸出電壓的2%以下。測(cè)試儀器 測(cè)試儀器示波器。推薦用模擬示波器。如果沒(méi)有模擬示波器，也盡量使用無(wú)源探頭。測(cè)試方法 1.采用地線環(huán)靠接測(cè)量法，即所謂靠接測(cè)量。示波器設(shè)置帶寬（bandwidth）為20MHz，直流偏置電壓（offset）為上面電壓精度測(cè)量值。使用帶有地線環(huán)的探頭，將探針直接接觸電源管腳，地線環(huán)直接接觸負(fù)輸出的管腳。這樣從示波器中讀出的峰峰值為輸出線上的紋波；2.把示波器帶寬設(shè)置成全帶寬（Full），測(cè)試結(jié)果即為紋波噪聲值；3.紋波和噪聲應(yīng)該是在單板滿載、空載時(shí)都進(jìn)行測(cè)試。電源紋波噪聲的2種測(cè)試方法示意圖測(cè)試點(diǎn)電源、芯片的電源管腳。合格標(biāo)準(zhǔn)具體合格標(biāo)準(zhǔn)參芯片的要求。中試部給出的合格標(biāo)準(zhǔn)（考慮到我們的測(cè)試情況，相對(duì)定義略有放寬）：1）一般要求紋波<輸出電壓的1%（在20MHz帶寬下測(cè)試，結(jié)果可視為單純的紋波）；2）一般要求紋波噪聲<輸出電壓的2%（在全帶寬下測(cè)試，結(jié)果可視為紋波+噪聲）。注意事項(xiàng)1）測(cè)量時(shí)探頭盡量選用無(wú)源探頭；2）就近原則，探頭地線接離測(cè)試電源最近的地。且地環(huán)線盡量短；3）紋波請(qǐng)盡量展開成如下圖形，最好紀(jì)錄其頻率，便于分析。XX芯片3.3V電源紋波測(cè)試結(jié)果（滿載）測(cè)試電壓上下電波形 測(cè)試儀器示波器測(cè)試方法 將示波器探頭連接到被測(cè)電壓，示波器設(shè)為上升沿或者下降沿觸發(fā)，然后開關(guān)電源，通過(guò)示波器觀察電源上下電波形。測(cè)試時(shí)的原則就是選取適當(dāng)?shù)臅r(shí)間寬度能夠在示波器上顯示一個(gè)完整的上電波形，又要能夠?qū)⒉ㄐ螁?wèn)題顯示出來(lái)。測(cè)試點(diǎn)通常需要測(cè)試下面兩種上下電波形：1）測(cè)量芯片的電源管腳上下電波形：芯片的電源管腳；2）測(cè)量單板/系統(tǒng)上下電對(duì)其它單板/系統(tǒng)的影響：系統(tǒng)電源。合格標(biāo)準(zhǔn)1）在電源輸出端測(cè)試，電壓上下電過(guò)沖一般要求不超過(guò)被測(cè)電壓的10％。在芯片前端測(cè)試時(shí)，可參考電平通用標(biāo)準(zhǔn)；2）電源上電時(shí)電壓不得有很大的跌落，下電時(shí)不能有很大的反沖和回勾。（跌落和反沖不能跨越芯片啟動(dòng)工作電壓），如出現(xiàn)臺(tái)階現(xiàn)象，需注意分析其影響；3）注意如果有負(fù)電壓就需要根據(jù)芯片要求進(jìn)行討論；4）很多芯片都由多路電源供電（例如外部I/O電壓3.3V，內(nèi)核電壓1.8V），這些電壓之間可能有上下電順序要求，參考器件手冊(cè)評(píng)估測(cè)試結(jié)果是否合格。注意事項(xiàng)遍歷如下情況：1）系統(tǒng)上下電；2）單板拔插；3）電源板拔插；測(cè)量緩啟動(dòng)電路參數(shù) 測(cè)試儀器示波器測(cè)試方法 常用-48V緩啟動(dòng)電路如下圖所示。測(cè)試時(shí)用多蹤示波器，一路測(cè)試點(diǎn)在緩啟動(dòng)電路前，另一路測(cè)試點(diǎn)在緩啟動(dòng)電路之后，然后上電，從示波器觀察兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)的上電時(shí)間差。其它如3.3V緩啟動(dòng)電路測(cè)試類似。常用-48V緩啟動(dòng)電路測(cè)試示意圖測(cè)試點(diǎn)如上圖。注意探頭的探針和地線不可接反，否則可能測(cè)量結(jié)果錯(cuò)誤，或者造成設(shè)備或探頭損壞。合格標(biāo)準(zhǔn)1）延遲時(shí)間：Tdelay，一般要求其范圍20～200ms；2）上升時(shí)間：對(duì)于Trise，一般為ms級(jí)。要求其范圍越小越好，但同時(shí)要求沖擊電流滿足合格標(biāo)準(zhǔn)；3）沒(méi)有多次上、下電（振蕩上下電）現(xiàn)象；----------------附錄：緩啟動(dòng)電路測(cè)試參數(shù)說(shuō)明---------下圖是某3.3V緩啟動(dòng)電路的測(cè)試結(jié)果。Ch1（黃色）是從背板輸入的3.3V電源信號(hào)，Ch2（藍(lán)色）是經(jīng)過(guò)緩啟動(dòng)電路后的3.3V信號(hào)。緩啟動(dòng)電路測(cè)試參數(shù)示意圖_上電上圖中，可以看到整個(gè)緩啟動(dòng)時(shí)間分為幾個(gè)部分：1.延遲時(shí)間，即圖中的Tdelay。它是背板輸入電源有效到緩啟動(dòng)電路有輸出的時(shí)間差，相當(dāng)于背板電源輸入的延遲；2.緩啟動(dòng)電路有輸出到輸出電壓升高到10%幅值的時(shí)間；3.上升時(shí)間，即圖中的Trise。它是緩啟動(dòng)電路輸出電壓從10%上升到90%的時(shí)間；4.輸出電壓從90%升高到100%的時(shí)間；其中第2、4項(xiàng)的參數(shù)可忽略，我們一般只關(guān)注Tdelay和Trise。注意事項(xiàng)遍歷如下情況：1）系統(tǒng)上下電；2）單板拔插；3）電源板拔插；測(cè)試電源電流和沖擊電流測(cè)試儀器示波器測(cè)試方法 電源電流：方法一：用電流探頭。將電流探頭卡在被測(cè)試電流通路上，通過(guò)示波器觀察電源上電電流波形和上電后電流的平穩(wěn)波形。測(cè)試時(shí)注意電流探頭的方向；方法二：用鉗流計(jì)卡在被測(cè)試電流通路上進(jìn)行測(cè)試。沖擊電流：用電流探頭，將電流探頭卡在被測(cè)試電流通路上，通過(guò)示波器觀察電源上電和下電時(shí)的電流波形。注意電流探頭的方向，測(cè)試上電沖擊電流最好在冷機(jī)時(shí)測(cè)試，沖擊電流最大。測(cè)試下電沖擊電流最好在單板滿載時(shí)進(jìn)行。測(cè)試點(diǎn)取下單板（從背板）引入電源鏈路上串接的保險(xiǎn)管，用粗短導(dǎo)線代替，電流探頭或者鉗流計(jì)測(cè)量此導(dǎo)線上的電流。合格標(biāo)準(zhǔn)1） 電源電流穩(wěn)定值不能超過(guò)90％最大額定輸出電流；2） 沖擊電流值不能超過(guò)額定輸出電流的5倍。3倍以上應(yīng)引起注意；3） 單板任何業(yè)務(wù)情況下的電流一定要大于電源的最小負(fù)載，且須滿足最大容性負(fù)載要求；4） 保險(xiǎn)管規(guī)格的選擇和沖擊電流的關(guān)系。如果沖擊電流為保險(xiǎn)絲的額定電流的5－10倍，則就要觀察沖擊電流的時(shí)間寬度，保險(xiǎn)絲為快速熔斷型，那么沖擊電流的寬度不能超過(guò)幾十毫秒；若為慢速熔斷型，那么那么沖擊電流的寬度不能超過(guò)幾百毫秒。注意事項(xiàng)1.沖擊電流的測(cè)試應(yīng)遍歷如下情況：1）系統(tǒng)上下電；2）單板拔插；3）電源板拔插；2.沖擊電流測(cè)試中，如果鏈路上有感性器件（電感等），則不可貪圖方便，取下感性器件后用粗短導(dǎo)線代替，再用電流探頭或者鉗流計(jì)測(cè)量此導(dǎo)線上的電流。因?yàn)楦行云骷旧砭哂幸种茮_擊電流的作用，此方法只適合測(cè)量靜態(tài)電流。測(cè)試沖擊電流時(shí)，可以撬起感性器件后端，再連接到粗短導(dǎo)線測(cè)量。如下所示。測(cè)量沖擊電流時(shí)，鏈路上有感性器件的測(cè)試方法電源告警信號(hào)測(cè)試方法： 用示波器或者數(shù)字萬(wàn)用表鏈接告警信號(hào)點(diǎn)，使系統(tǒng)產(chǎn)生告警條件，測(cè)試告警信號(hào)的電平大??；測(cè)試點(diǎn)： 告警信號(hào)的接收末端；合格標(biāo)準(zhǔn)： 滿足本文檔第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)中的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。如告警信號(hào)類型不在此節(jié)包含之列，則應(yīng)符合電源規(guī)格上告警信號(hào)電平的要求。測(cè)試冗余電源的均流參數(shù) 測(cè)試方法： 用測(cè)試電源輸出電流的方法測(cè)試冗余電源的每路電流的輸出值，比較每路輸出電流的大小； 測(cè)試點(diǎn)： 冗余電源的每路電流輸出鏈路；合格標(biāo)準(zhǔn)： 系統(tǒng)電源，其冗余電源（均流）的各路電流輸出值不相差＋10％為合格。

時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量測(cè)試注意事項(xiàng)1、建議時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量測(cè)試與時(shí)序測(cè)試一起進(jìn)行；2、測(cè)試時(shí)鐘時(shí)應(yīng)選擇高輸入阻抗、小電容值、高帶寬的有源探頭。無(wú)源探頭容抗較大，測(cè)出波形的邊沿會(huì)失真。簡(jiǎn)述 時(shí)鐘在通信設(shè)備中起著特別重要的作用，而時(shí)鐘信號(hào)的質(zhì)量往往直接影響著產(chǎn)品的性能指標(biāo)，甚至影響到產(chǎn)品的基本功能能否實(shí)現(xiàn)。在硬件測(cè)試中，要特別注意時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，這對(duì)產(chǎn)品的硬件設(shè)計(jì)質(zhì)量提高有著很大的意義。 產(chǎn)品硬件設(shè)計(jì)中，最常用的是石英晶體振蕩器，也就是晶振。本文檔涉及的時(shí)鐘信號(hào)僅指晶振輸出的時(shí)鐘信號(hào)，以及這些時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)驅(qū)動(dòng)、倍頻、分頻等處理后得到的時(shí)鐘信號(hào)。測(cè)試方法時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試工具主要是示波器，根據(jù)所測(cè)試的時(shí)鐘的頻率選擇適當(dāng)?shù)氖静ㄆ鬟M(jìn)行測(cè)試；時(shí)鐘頻率精度的測(cè)試主要采用高精度的頻率計(jì)進(jìn)行測(cè)試，并記錄好數(shù)據(jù)；時(shí)鐘頻率的穩(wěn)定度測(cè)試主要是利用專門的穩(wěn)定性極高的頻率計(jì)進(jìn)行的，主要適用于基準(zhǔn)時(shí)鐘。測(cè)試指標(biāo)與合格標(biāo)準(zhǔn)邊沿單調(diào)性和上升/下降時(shí)間；通用時(shí)鐘信號(hào)規(guī)范（滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)的前提下）通用時(shí)鐘信號(hào)規(guī)范信號(hào)類型占空比上升單調(diào)性下降單調(diào)性抖動(dòng)特性PECL如無(wú)特殊要求（例如因?yàn)闀r(shí)序配合關(guān)系需要調(diào)節(jié)占空比），建議：40%~60%；必須單調(diào)必須單調(diào)對(duì)于存在指標(biāo)規(guī)定的信號(hào)，應(yīng)滿足指標(biāo)；沒(méi)有指標(biāo)規(guī)定或者無(wú)法明確界定的情況下，應(yīng)滿足可靠性要求TTL必須單調(diào)必須單調(diào)LVTTL（3V）必須單調(diào)必須單調(diào)CMOS必須單調(diào)必須單調(diào)GTL+必須單調(diào)必須單調(diào)CML必須單調(diào)必須單調(diào)77M時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量（滿足表3的前提下）77M時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量信號(hào)類型上升時(shí)間下降時(shí)間TTL<2.5ns<2.5nsLVTTL(3V)<2.5ns<2.5nsCMOS<2.5ns<2.5nsGTL+<2.5ns<2.5ns38M時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量（滿足表3的前提下）38M時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量信號(hào)類型上升時(shí)間下降時(shí)間TTL<4ns<4nsLVTTL(3V)<4ns<4nsCMOS<4ns<4nsGTL+<4ns<4ns19M時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量（滿足表3的前提下）19M時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量信號(hào)類型上升時(shí)間下降時(shí)間TTL<4ns<4nsLVTTL(3V)<4ns<4nsCMOS<4ns<4ns高電平過(guò)沖和低電平過(guò)沖； 合格標(biāo)準(zhǔn)： 滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表2所列要求；最低高電平和最高低電平； 合格標(biāo)準(zhǔn)： 滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表1所列要求；毛刺； 合格標(biāo)準(zhǔn)： 滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表2所列要求；時(shí)鐘頻率精度。 定義： 在規(guī)定的時(shí)間間隔內(nèi)相對(duì)頻偏的最大幅度。頻率精度包括初始頻率失調(diào)和任何老化和環(huán)境下的影響。 合格標(biāo)準(zhǔn)： 根據(jù)需求規(guī)格要求來(lái)確定。一般要求±50ppm。注意事項(xiàng) 時(shí)鐘信號(hào)的邊沿單調(diào)性要求非常嚴(yán)格，一般情況下高速時(shí)鐘多為點(diǎn)到點(diǎn)驅(qū)動(dòng)，少數(shù)也有1：N驅(qū)動(dòng)的情況。 時(shí)鐘是單向信號(hào)，測(cè)試點(diǎn)必須選擇在終端。對(duì)于1：N的情況必須對(duì)每一個(gè)終端負(fù)載進(jìn)行測(cè)試，觀察是否有反射和回勾產(chǎn)生。原則上要保證時(shí)鐘信號(hào)上升沿和下降沿的單調(diào)性，如果出現(xiàn)回勾現(xiàn)象，一定要在滿負(fù)載和最高最低輸入電壓等極限情況下做更詳盡的測(cè)試，保證回勾不能落在電平不穩(wěn)定區(qū)域。 時(shí)鐘的串?dāng)_主要是測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)受外界電壓干擾，或不同頻率信號(hào)疊加在時(shí)鐘信號(hào)上，造成數(shù)據(jù)采樣錯(cuò)誤或單板功能不能正常實(shí)現(xiàn)。測(cè)試的時(shí)候應(yīng)該在幀同步信號(hào)的觸發(fā)下，測(cè)試整個(gè)周期內(nèi)的波形。復(fù)位信號(hào)質(zhì)量測(cè)試簡(jiǎn)述單板復(fù)位電路設(shè)計(jì)是嵌入式控制系統(tǒng)中普遍采用的抗干擾措施，用于保證系統(tǒng)或電路在受到干擾的情況下，能夠自動(dòng)進(jìn)行復(fù)位，從軟、硬件錯(cuò)誤中恢復(fù)正常的運(yùn)行。目前實(shí)現(xiàn)WDT復(fù)位電路的形式有很多，如某些CPU或其它器件內(nèi)部也有自帶的WDT復(fù)位電路，另外，還有純軟件的WDT，使用專用復(fù)位芯片的WDT。因復(fù)位電路是保證系統(tǒng)從崩潰中恢復(fù)的最后手段。故對(duì)復(fù)位信號(hào)的質(zhì)量測(cè)試顯得格外重要。對(duì)復(fù)位的觸發(fā)信號(hào)，計(jì)數(shù)器的溢出信號(hào)以及復(fù)位信號(hào)均需進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試方法測(cè)試單板復(fù)位信號(hào)的復(fù)位脈寬時(shí)，對(duì)低電平復(fù)位有效的信號(hào)，取下降沿觸發(fā)，示波器時(shí)間刻度取100ms左右；對(duì)于上電復(fù)位信號(hào)，取最后上電的電源信號(hào)作參考，與復(fù)位信號(hào)一起測(cè)試；測(cè)試“/MR”信號(hào)時(shí)，分兩種情況：在按鍵復(fù)位時(shí)，須觀察“/MR”信號(hào)是否出現(xiàn)較長(zhǎng)時(shí)間的負(fù)脈沖，這時(shí)取時(shí)間刻度為100ns，下降沿觸發(fā)；在計(jì)數(shù)器溢出時(shí)，須觀察“/MR”信號(hào)是否滿足輸入低電平及低電平脈寬的要求，這時(shí)取時(shí)間刻度為4us左右，下降沿觸發(fā)。垂直刻度一般取1V。測(cè)試WDI信號(hào)時(shí)，取時(shí)間刻度為1s，注意觀察“WDI”的脈寬是否滿足計(jì)數(shù)器清零要求。測(cè)試“/WDO”信號(hào)時(shí)，測(cè)試時(shí)可通過(guò)使計(jì)數(shù)器溢出或3.3V拉偏進(jìn)行測(cè)試，時(shí)間寬度也相應(yīng)取窄一些。測(cè)試項(xiàng)目與合格標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試單板上所有芯片的復(fù)位信號(hào)質(zhì)量，包括信號(hào)脈寬、電壓幅度、過(guò)沖、毛刺等；測(cè)試方法：后臺(tái)復(fù)位（下復(fù)位命令）測(cè)試 合格標(biāo)準(zhǔn)：1）復(fù)位信號(hào)脈寬。復(fù)位信號(hào)的復(fù)位脈寬應(yīng)滿足芯片要求，一般要求復(fù)位脈寬應(yīng)>200ms；2）復(fù)位信號(hào)電壓幅度、過(guò)沖、毛刺等。滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表1、表2要求。測(cè)量復(fù)位芯片輸入電壓（使用復(fù)位芯片實(shí)現(xiàn)的復(fù)位電路）；測(cè)試點(diǎn)： 芯片的復(fù)位輸入管腳。測(cè)試方法： 紀(jì)錄2個(gè)值：1）復(fù)位信號(hào)的脈沖寬度和電平幅度。示波器的時(shí)間刻度設(shè)為ms級(jí)。2）測(cè)量復(fù)位信號(hào)上升沿（指低電平有效的復(fù)位信號(hào)）的質(zhì)量。示波器的時(shí)間刻度設(shè)為ns級(jí)。在某些情況下復(fù)位信號(hào)的上升沿可能產(chǎn)出回溝、振鈴、毛刺，不是ns級(jí)不一定看得出來(lái)。合格標(biāo)準(zhǔn)： 復(fù)位芯片輸入電壓須滿足復(fù)位芯片電壓要求，以免出現(xiàn)復(fù)位芯片的低電壓自動(dòng)復(fù)位，應(yīng)無(wú)毛刺，幅值須達(dá)到3.3V±5%要求；測(cè)量“/MR”信號(hào)（使用復(fù)位芯片實(shí)現(xiàn)的復(fù)位電路）；測(cè)試方法： 1）手動(dòng)按鍵復(fù)位； 2）模擬WDT計(jì)數(shù)器溢出；合格標(biāo)準(zhǔn)： 1）“/MR”信號(hào)寬度：低電平脈寬>500ns；2）“/MR”信號(hào)質(zhì)量：低電平<0.6V，其它滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表1、表2要求。測(cè)量WDI及/WDO信號(hào)質(zhì)量（使用復(fù)位芯片實(shí)現(xiàn)的復(fù)位電路）；合格標(biāo)準(zhǔn)：1）“WDI”信號(hào)：信號(hào)寬度：輸入脈寬>100ns（這個(gè)管腳上的脈沖上升沿或者下降沿都會(huì)使內(nèi)部的看門狗定時(shí)器計(jì)數(shù)清零）；信號(hào)質(zhì)量：低電平<0.6V，高電平>2.31V。其它滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表1、表2要求；周期<1s（WDT的溢出周期典型值1.6s，最小值1s）。2）“WDO”信號(hào)：滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表1、表2要求；注意事項(xiàng)手動(dòng)復(fù)位時(shí)的復(fù)位脈寬因人為因素較為明顯，可以不測(cè)，主要關(guān)注其復(fù)位電平是否滿足復(fù)位邏輯電平要求。測(cè)試復(fù)位信號(hào)質(zhì)量，對(duì)手動(dòng)復(fù)位、后臺(tái)復(fù)位、熱插拔及上電各種情況均應(yīng)用示波器觀察復(fù)位信號(hào)質(zhì)量。某些單板其WDI信號(hào)脈寬很窄，當(dāng)選用時(shí)間刻度在1s時(shí)，可能看不到喂狗信號(hào)，注意調(diào)整時(shí)間刻度。測(cè)試示例針對(duì)以下電路，測(cè)試復(fù)位電路的重要信號(hào)。常見復(fù)位電路測(cè)試項(xiàng)目復(fù)位信號(hào)質(zhì)量測(cè)試測(cè)試目的測(cè)試單板所有復(fù)位信號(hào)以及與復(fù)位電路相關(guān)的信號(hào)，重點(diǎn)檢查復(fù)位信號(hào)電平值是否足夠，復(fù)位脈沖寬度是否有足夠裕度，復(fù)位電路相關(guān)信號(hào)是否滿足其電平及脈寬要求。測(cè)試條件單板上電正常運(yùn)行測(cè)試儀器示波器，電壓探頭測(cè)試過(guò)程ADM706R的輸入輸出信號(hào)質(zhì)量測(cè)試：看門狗復(fù)位時(shí)ADM706的“/MR”引腳信號(hào)質(zhì)量；按鍵復(fù)位時(shí)“/MR”引腳信號(hào)質(zhì)量；計(jì)數(shù)器溢出時(shí)復(fù)位信號(hào)質(zhì)量；“WDI”信號(hào)質(zhì)量；計(jì)數(shù)器溢出“/WDO”信號(hào)與“/MR”信號(hào)質(zhì)量；上電復(fù)位信號(hào)質(zhì)量測(cè)試；ADM706R輸出的/RST的信號(hào)質(zhì)量,復(fù)位信號(hào)經(jīng)邏輯驅(qū)動(dòng)處理后分別送給本板的其他芯片，可同時(shí)在芯片側(cè)進(jìn)行測(cè)試；應(yīng)達(dá)到的要求、指標(biāo)和預(yù)期結(jié)果復(fù)位信號(hào)電平必須滿足芯片復(fù)位信號(hào)的電平值要求；復(fù)位脈沖寬度必須遠(yuǎn)大于芯片手冊(cè)對(duì)復(fù)位脈沖寬度的要求；/MR信號(hào)質(zhì)量應(yīng)滿足手冊(cè)要求。相關(guān)測(cè)試用例、其它說(shuō)明和注意事項(xiàng)看門狗溢出可以用短接CPU數(shù)據(jù)、地址總線的方式模擬。實(shí)測(cè)結(jié)果記錄如下波形并分析是否合格：上電復(fù)位：/MR與復(fù)位信號(hào)按鍵復(fù)位時(shí)：/MR與復(fù)位信號(hào)計(jì)數(shù)器溢出：/MR與復(fù)位信號(hào)后臺(tái)復(fù)位：/MR與復(fù)位信號(hào)正常情況：WDI與WDO信號(hào)計(jì)數(shù)器溢出：WDI與WDO信號(hào)按鍵復(fù)位：XX芯片的復(fù)位信號(hào)后臺(tái)復(fù)位：XX芯片的復(fù)位信號(hào)

數(shù)據(jù)、地址信號(hào)質(zhì)量測(cè)試簡(jiǎn)述數(shù)據(jù)、地址總線是單板上最常見的總線。它們一般位于芯片的CPU接口。CPU通過(guò)地址總線進(jìn)行尋址，通過(guò)數(shù)據(jù)總線與其它芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。另外，還有一些芯片有專門用于業(yè)務(wù)處理的數(shù)據(jù)總線。數(shù)據(jù)總線的總線寬度決定了芯片之間一次數(shù)據(jù)傳輸?shù)男畔⒘?。我們單板上芯片的初始化配置、運(yùn)行情況監(jiān)控都會(huì)用到芯片的CPU接口，相應(yīng)的業(yè)務(wù)處理會(huì)用到芯片的業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)總線。因此地址、數(shù)據(jù)等總線一旦出錯(cuò)就會(huì)導(dǎo)致配置信息或者監(jiān)控信息錯(cuò)誤，或者導(dǎo)致業(yè)務(wù)中斷、誤碼，所以對(duì)數(shù)據(jù)地址信號(hào)的質(zhì)量測(cè)試是比較重要的。對(duì)數(shù)據(jù)、地址信號(hào)的測(cè)量，需要滿足一般的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試規(guī)范要求，此外讀寫時(shí)序也需要測(cè)試。測(cè)試讀寫信號(hào)時(shí)序還需要考慮各建立、保持時(shí)間的容限是否足夠。當(dāng)數(shù)據(jù)、地址總線出錯(cuò)導(dǎo)致程序跑飛時(shí)，可能會(huì)啟動(dòng)相應(yīng)的復(fù)位處理。測(cè)試方法信號(hào)質(zhì)量和時(shí)序測(cè)試直接使用示波器測(cè)量。示波器通道數(shù)≧2，盡量選用有FastAcq（快速捕捉）或者長(zhǎng)余輝顯示功能的示波器；使用方法： 測(cè)試數(shù)據(jù)的建立時(shí)間和保持時(shí)間的時(shí)侯，以時(shí)鐘源為觸發(fā)，開啟FastAcq或者長(zhǎng)余輝顯示功能，記錄波形。一般會(huì)如圖所示。圖中Ch1（黃色）為時(shí)鐘信號(hào)，Ch2（藍(lán)色）為數(shù)據(jù)信號(hào)。這里是利用時(shí)鐘的下降沿采樣數(shù)據(jù)，與常用的時(shí)鐘的上升沿采樣相反。[注] 上面測(cè)試方法適合時(shí)鐘是周期性波形的情況，如果時(shí)鐘是非周期的，那么不能使用FastAcq（快速捕捉）或者長(zhǎng)余輝顯示功能。時(shí)序的容限對(duì)照芯片手冊(cè)確認(rèn)。部分時(shí)序關(guān)系也可以直接在原理圖設(shè)計(jì)階段審查確認(rèn)；測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試單板所有芯片的數(shù)據(jù)、地址總線的信號(hào)質(zhì)量；合格標(biāo)準(zhǔn)： 數(shù)據(jù)、地址信號(hào)質(zhì)量滿足第5節(jié)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)表1、表2要求。沒(méi)有很大的毛刺、過(guò)沖、振鈴，信號(hào)邊沿沒(méi)有很緩慢；測(cè)試單板芯片的讀寫信號(hào)時(shí)序；合格標(biāo)準(zhǔn)： 時(shí)序關(guān)系滿足芯片手冊(cè)要求，并且留有較大的裕度。一般來(lái)講，時(shí)鐘沿處在數(shù)據(jù)中間位置是比較合適的；測(cè)試單板芯片的業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)信號(hào)時(shí)序關(guān)系，包括數(shù)據(jù)的建立保持時(shí)間；合格標(biāo)準(zhǔn)： 同上。參考芯片手冊(cè)要求。測(cè)試示例：測(cè)試目的測(cè)量XX芯片時(shí)序是否正確測(cè)試條件單板工作正常，室溫測(cè)試儀器示波器測(cè)試方法使用示波器測(cè)量，直接讀取數(shù)據(jù)測(cè)試過(guò)程單板上U49的pin1、pin2信號(hào)用飛線引出，接到示波器探頭上，記錄波形。它們分別是I2C總線的數(shù)據(jù)和時(shí)鐘信號(hào)。檢查點(diǎn)、應(yīng)達(dá)到的要求、指標(biāo)和預(yù)期結(jié)果讀寫時(shí)序滿足芯片手冊(cè)要求相關(guān)測(cè)試用例、其它說(shuō)明和注意事項(xiàng)：溫度芯片（U49）、實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片（U48）等掛在同一個(gè)I2C總線上。實(shí)測(cè)結(jié)果：（是否OK？）。XX芯片時(shí)序波形（手冊(cè)）實(shí)測(cè)圖1：t1參數(shù)實(shí)測(cè)圖2：t2參數(shù)分析：參數(shù)手冊(cè)要求測(cè)試值結(jié)論t1>2.5us3.2usOKt2>100ns960nsOKt3>0ns900nsOKt4>100ns2usOKt5>100ns900nsOK結(jié)論：OK差分信號(hào)質(zhì)量測(cè)試簡(jiǎn)述所謂差分信號(hào)，就是驅(qū)動(dòng)端發(fā)送兩個(gè)等值、反相的信號(hào)，接收端通過(guò)比較這兩個(gè)電壓的差值來(lái)判斷邏輯狀態(tài)“0”還是“1”。而承載差分信號(hào)的那一對(duì)走線就稱為差分走線。差分信號(hào)和普通的單端信號(hào)走線相比，最明顯的優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在以下三個(gè)方面：抗干擾能力強(qiáng)，因?yàn)閮筛罘肿呔€之間的耦合很好，當(dāng)外界存在噪聲干擾時(shí)，幾乎是同時(shí)被耦合到兩條線上，而接收端關(guān)心的只是兩信號(hào)的差值，所以外界的共模噪聲可以被完全抵消；能有效抑制EMI，同樣的道理，由于兩根信號(hào)的極性相反，他們對(duì)外輻射的電磁場(chǎng)可以相互抵消，耦合的越緊密，泄放到外界的電磁能量越少；時(shí)序定位精確，由于差分信號(hào)的開關(guān)變化是位于兩個(gè)信號(hào)的交點(diǎn)，而不像普通單端信號(hào)依靠高低兩個(gè)閾值電壓判斷，因而受工藝，溫度的影響小，能降低時(shí)序上的誤差，同時(shí)也更適合于低幅度信號(hào)的電路。目前流行的LVDS就是指這種小振幅差分信號(hào)技術(shù)，其它電平比如ECL/PECL/LVPECL和RS-422/485也都是差分輸入輸出。測(cè)試項(xiàng)目發(fā)射器電參數(shù)。測(cè)試電發(fā)射器的各項(xiàng)特性，包括差分幅度、上升和下降時(shí)間、波形過(guò)沖、輸出/輸入偏置電壓（LVDS）；接收器電參數(shù)。測(cè)試最大輸入電壓和靈敏度；眼圖測(cè)試：上升、下降時(shí)間、周期、脈沖過(guò)沖及振蕩。測(cè)試方法差分信號(hào)的模擬帶寬取決于信號(hào)的邊沿時(shí)間，不等于信號(hào)的比特速率，一般都比信號(hào)的比特速率高的多，比如622Mbps的信號(hào)的帶寬可能高達(dá)1GHz。所以選擇示波器時(shí)需要注意信號(hào)的帶寬要求。在進(jìn)行眼圖測(cè)試的時(shí)候，要求示波器有相應(yīng)的眼圖模板；應(yīng)該盡量采用差分探頭，如TEK公司的P6247等。如果沒(méi)有差分探頭，可以考慮使用兩個(gè)單端探頭，如TEK公司的P6245等；對(duì)于差分信號(hào)，可以采用眼圖測(cè)試的方式來(lái)觀察信號(hào)的質(zhì)量，眼圖張開的寬度決定了接收波形可以不受串?dāng)_影響而抽樣再生的時(shí)間間隔。顯然，最佳抽樣時(shí)刻應(yīng)選在眼睛張開最大的時(shí)刻。眼圖斜邊的斜率，表示系統(tǒng)對(duì)定時(shí)抖動(dòng)（或誤差）的靈敏度，斜邊越陡，系統(tǒng)對(duì)定時(shí)抖動(dòng)越敏感。眼圖左（右）角陰影部分的水平寬度表示信號(hào)零點(diǎn)的變化范圍，稱為零點(diǎn)失真量，在許多接收設(shè)備中，定時(shí)信息是由信號(hào)零點(diǎn)位置來(lái)提取的，對(duì)于這種設(shè)備零點(diǎn)失真量很重要。在抽樣時(shí)刻，陰影區(qū)的垂直寬度表示最大信號(hào)失真量。在抽樣時(shí)刻上、下兩陰影區(qū)間隔的一半是最小噪聲容限，噪聲瞬時(shí)值超過(guò)它就有可能發(fā)生錯(cuò)誤判決；圖中水平方向上虛線位置對(duì)應(yīng)的電壓為判決門限電平。以太網(wǎng)的測(cè)試電路如下：LVDS測(cè)試電路如下：合格標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試差分信號(hào)首先要確定該差分信號(hào)的電平是哪一種，根據(jù)實(shí)際測(cè)試結(jié)果判斷輸入輸出差分電壓、輸出上升時(shí)間、偏置電壓等是否滿足信號(hào)特性。LVDS信號(hào)輸入輸出特性參數(shù)意義最小值最大值單位VOD差分輸出電壓247454mVVOS輸出偏置電壓1.1251.375V△VODVOD變化量絕對(duì)值50mV△VOSVOS變化量絕對(duì)值50mVISA,ISB短路電流24mAtr/tr輸出上升時(shí)間/下降時(shí)間(≥2000Mbps)輸出上升時(shí)間/下降時(shí)間(≤2000Mbps)0.260.261.5脈沖寬度的30%nsIin輸入電流20μAVTH閾值電壓±100mVVIN輸入電壓范圍02.4VVIS輸入偏置電壓0.052.35V參數(shù)意義要求的Min/Max差模輸出電壓+VoutUTP：+950mVto+1050mVSTP：+1165mVto+1285mV差模輸出電壓-VoutUTP：-950mVto-1050mVSTP：-1165mVto-1285mV波形正過(guò)沖WaveformovershootPositive(Max)Max=5%of+Vout波形負(fù)過(guò)沖WaveformovershootNegative(Max)Max=5%of-Vout信號(hào)幅度對(duì)稱度（Signalamplitudesymmetry）Ratio=0.98to1.02上升時(shí)間Risetime3.0nsto5.0ns下降時(shí)間Falltime3.0nsto5.0ns發(fā)送抖動(dòng)TransmitJitterMax=1.4ns用示波器+差分探頭來(lái)觀察眼圖，測(cè)試眼圖上“0”穿越點(diǎn)（ZeroCrossings）的寬度為抖動(dòng)峰峰值。對(duì)于抖動(dòng)測(cè)試的結(jié)果，要符合相應(yīng)的電平或接口的抖動(dòng)指標(biāo)要求（比如LVDS和以太網(wǎng)的抖動(dòng)要求是不同的）。眼圖測(cè)試：采樣波形數(shù)為2000個(gè)，沒(méi)有一個(gè)點(diǎn)掉進(jìn)眼圖模板中。注意事項(xiàng)對(duì)于在線測(cè)試，要求示波器的探頭為高阻輸入。由于LVDS信號(hào)的速率一般比較高，應(yīng)當(dāng)選擇寄生電容比較低的示波器探頭的型號(hào)。測(cè)試示例以下為部分接口信號(hào)質(zhì)量測(cè)試波形示例：1310-2.5G-21310-2.5G-15

串行信號(hào)質(zhì)量測(cè)試概述串行信號(hào)是指數(shù)據(jù)以串行的方式進(jìn)行發(fā)送及接收。主要的串行信號(hào)有：HW、串口、I2C、USB、SPI等。HW串口所謂串口，即收發(fā)數(shù)據(jù)都是串行的數(shù)字接口，異步串口無(wú)同步時(shí)鐘信號(hào)，電路相對(duì)簡(jiǎn)單；同步串口含有同步時(shí)鐘信號(hào)，能工作在較高波特率。串口主要有：RS232，RS422，RS485，業(yè)務(wù)接口V.24，V.35，以及用于板間互連的TTL串口等。主要有以下幾種：a.用于調(diào)試或監(jiān)控的232串口；b. 用于板間連接的非標(biāo)準(zhǔn)TTL及232串口；c.用于框間的RS422，RS485串口；d.作為業(yè)務(wù)接口的RS232(V.24,V.28),RS422(V.11),V.35接口。I2USBUSB：UniversalSerialBus，即通用串行總線，目前有1.1和2.0兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，其主要區(qū)別表現(xiàn)在傳送速率上，目前我們?cè)O(shè)備上有用到的，常見的是1.1標(biāo)準(zhǔn)，下面介紹1.1標(biāo)準(zhǔn)：USB傳送信號(hào)和電源是通過(guò)一種四線的電纜，存在兩種數(shù)據(jù)傳輸率：USB的高速信號(hào)的比特率定為12Mbps；低速信號(hào)傳送的模式定為1.5Mbps；USB接口USB接口電纜中包括VBUS、GND二條線，向設(shè)備提供電源。VBUS使用+5V電源。USB對(duì)電纜長(zhǎng)度的要求很寬，最長(zhǎng)可為幾米。每個(gè)USB單元通過(guò)電纜只能提供有限的能源。主機(jī)對(duì)直接相連的USB設(shè)備提供電源供其使用,同時(shí)每個(gè)USB設(shè)備也可以有自己的電源。依靠電纜提供能源的設(shè)備稱作“總線供能”設(shè)備。相反，可選擇能源來(lái)源的設(shè)備稱作“自供電”設(shè)備。其中信號(hào)的傳送采用一對(duì)查分線，其邏輯電平如下表。總線狀態(tài)信號(hào)電平開始端源連接器終端目標(biāo)連接器差分“1”D+>Voh(min)D-<Vol(max)(D+)-(D-)>200mv(D+)>Vih(min)差分“0”D->Voh(min)D+<Vol(max)(D+)-(D+)>200mvD->Vih(min)SPI測(cè)試項(xiàng)目HW信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，包含邏輯電平、上升時(shí)間、下降時(shí)間、過(guò)沖等；對(duì)于E1接口的HDB3碼信號(hào)測(cè)試信號(hào)是否符合G.703模板；對(duì)于板間或框間傳輸?shù)腖VDS差分信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)同7.5.2。對(duì)于高速率的信號(hào)需要用眼圖，或用長(zhǎng)余輝進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間觀察波形抖動(dòng)范圍。SPI信號(hào)質(zhì)量測(cè)試串口信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，包含邏輯電平、上升時(shí)間、下降時(shí)間、過(guò)沖等；眼圖測(cè)試；對(duì)于可設(shè)置不同波特率的情況下需要重復(fù)以上操作。I2信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，包含邏輯電平、上升時(shí)間、下降時(shí)間、過(guò)沖等；USB信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，包含邏輯電平、上升時(shí)間、下降時(shí)間、過(guò)沖等；眼圖測(cè)試方法對(duì)各串行信號(hào)在板內(nèi)的信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法請(qǐng)參考第6章；對(duì)于板間及框間的差分信號(hào)的的測(cè)試方法請(qǐng)參考“6.5差分信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”；對(duì)于E1信號(hào)，可以用E20表測(cè)試波形是否符合G.703模板。E20的使用方法請(qǐng)參看文檔《E20使用手冊(cè)》。正確連接E20表和被測(cè)單板的E1口后，選擇相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目，在出現(xiàn)如下圖所示的畫面時(shí)，請(qǐng)選擇F1，此時(shí)可以測(cè)試系統(tǒng)中的E1信號(hào)是否滿足ITUG.703脈沖模板，看信號(hào)波形是否在模板內(nèi)。正常時(shí)E20表會(huì)打出“pass”字樣。G.703定義的E1信號(hào)測(cè)試模板另外，也可以使用通信信號(hào)分析儀測(cè)量E1信號(hào)是否符合G.703模板。同樣的，對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)電接口E1/T1、E3/T3、STM-1e，光接口STM-1、STM4，以太網(wǎng)口等的信號(hào)，都建議使用通信信號(hào)分析儀內(nèi)的信號(hào)模板來(lái)測(cè)量。測(cè)試時(shí)需要注意探頭和信號(hào)之間的阻抗匹配問(wèn)題。例如示波器有源探頭的阻抗一般是50Ω，無(wú)源探頭的阻抗一般是10MΩ，而同軸E1接口的阻抗是75Ω（雙絞線接口是120Ω）。所以在測(cè)試E1接口時(shí)要用75Ω/50Ω的轉(zhuǎn)換器，才能保證測(cè)試結(jié)果的正確信。注意事項(xiàng)合格標(biāo)準(zhǔn)串口電氣特性：規(guī)定RS232RS422R485工作方式單端差分差分節(jié)點(diǎn)數(shù)1收、1發(fā)1發(fā)10收1發(fā)32收最大傳輸電纜長(zhǎng)度50英尺400英尺400英尺最大傳輸速率20Kb/S10Mb/s10Mb/s最大驅(qū)動(dòng)輸出電壓+/-25V-0.25V～+6V-7V～+12V驅(qū)動(dòng)器輸出信號(hào)電平(負(fù)載最小值)負(fù)載+/-5V～+/-15V+/-2.0V+/-1.5V驅(qū)動(dòng)器輸出信號(hào)電平(空載最大值)空載+/-25V+/-6V+/-6V驅(qū)動(dòng)器負(fù)載阻抗(Ω)3K～7K10054擺率(最大值)30V/μsN/AN/A接收器輸入電壓范圍+/-15V-10V～+10V-7V～+12V接收器輸入門限+/-3V+/-200mV+/-200mV接收器輸入電阻(Ω)3K～7K4K(最小)≥12K驅(qū)動(dòng)器共模電壓-3V～+3V-1V～+3V接收器共模電壓-7V～+7V-7V～+12VV24(RS232)參照EIA/TIARS-232建議；對(duì)于不平衡雙流接口，信號(hào)源開路電壓25V，負(fù)載阻抗3000～7000。負(fù)載電容2500pF。對(duì)數(shù)據(jù)電路，接口點(diǎn)的電壓低于－3V時(shí)確定為二進(jìn)制數(shù)據(jù)“1”，高于＋3V時(shí)為數(shù)據(jù)“0”。對(duì)于控制和定時(shí)接口電路，接口點(diǎn)的電壓高于＋3V時(shí)確定為“ON”，低于－3V時(shí)確定為“OFF”狀態(tài)。＋3V和－3V之間規(guī)定為躍變區(qū)。信號(hào)通過(guò)躍變區(qū)的時(shí)間不應(yīng)超過(guò)1ms，或不超過(guò)比特碼元周期的3％，取二者中較短的時(shí)間為限。對(duì)于RS422、R485差分信號(hào)的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)參看7.5。E1信號(hào)2M輸出口一般要求：E1口的信號(hào)應(yīng)符合G.703標(biāo)準(zhǔn)。其它板內(nèi)信號(hào)板內(nèi)串行信號(hào)的信號(hào)質(zhì)量及電平要求，請(qǐng)參照本文檔5.2章節(jié)。其它板間差分信號(hào)：板間及框間的HW、串口信號(hào)采用差分方式進(jìn)行傳遞的，請(qǐng)參考本文檔6.5章節(jié)。

信號(hào)質(zhì)量測(cè)試Checklist分類項(xiàng)目結(jié)果測(cè)試條件單板/系統(tǒng)上電正常工作1小時(shí)后測(cè)試；Y□N□NA□單板/系統(tǒng)可靠接地；Y□N□NA□單板/系統(tǒng)盡量工作在滿負(fù)荷條件下。如果測(cè)試項(xiàng)目有輕載、滿載限制要求，則輕載、滿載條件下都要測(cè)試；Y□N□NA□測(cè)試儀器（儀表）和被測(cè)單板或系統(tǒng)共地；Y□N□NA□測(cè)量前校準(zhǔn)了儀器；Y□N□NA□探頭和示波器的帶寬。超過(guò)信號(hào)帶寬的3~5倍以上；Y□N□NA□示波器的采樣速率。超過(guò)信號(hào)最高頻率成分的2倍；Y□N□NA□測(cè)試操作測(cè)試信號(hào)應(yīng)就近接地；Y□N□NA□測(cè)試點(diǎn)選在接收端管腳上測(cè)量；Y□N□NA□沒(méi)有在探頭還連接著被測(cè)試電路時(shí)插拔探頭；Y□N□NA□拔插任何探頭時(shí)都先關(guān)閉示波器；Y□N□NA□測(cè)量信號(hào)沒(méi)有超過(guò)探頭測(cè)量幅度范圍；Y□N□NA□測(cè)試時(shí)探針盡量垂直于測(cè)試表面；Y□N□NA□探頭地線只接電路板上的地線，不搭接在電路板的正、負(fù)電源端Y□N□NA□信號(hào)經(jīng)過(guò)多級(jí)匹配、驅(qū)動(dòng)的，各級(jí)驅(qū)動(dòng)芯片的輸入端都測(cè)量；Y□N□NA□信號(hào)在不同的拓樸點(diǎn)上的情況（例如星形拓?fù)洌湫盘?hào)質(zhì)量差異很大，所有輸入點(diǎn)的信號(hào)質(zhì)量都測(cè)試；Y□N□NA□電源測(cè)試測(cè)量電壓精度選擇用萬(wàn)用表；Y□N□NA□測(cè)量電源紋波用無(wú)源探頭，示波器帶寬設(shè)置20MHz，偏置為電壓精度值。采用靠接測(cè)量法；Y□N□NA□電源紋波測(cè)量結(jié)果展開成波紋狀；Y□N□NA□上下電測(cè)試遍歷3種情況：1）系統(tǒng)上下電；2）單板拔插；3）電源板拔插；Y□N□NA□緩啟動(dòng)電路測(cè)試記錄Tdelay和Trise；Y□N□NA□-48V緩啟動(dòng)電路測(cè)試時(shí)探頭地線都接到BGND上；Y□N□NA□電流測(cè)試使用電流探頭或者鉗流計(jì)；Y□N□NA□使用電流探頭需先校準(zhǔn)，每測(cè)試一個(gè)信號(hào)都需要校準(zhǔn)一次；Y□N□NA□沖擊電流測(cè)試，如果鏈路上有感性器件（如電感），測(cè)試時(shí)應(yīng)保留此類器件；Y□N□NA□已測(cè)試電源告警信號(hào)；Y□N□NA□多電源供電產(chǎn)品，測(cè)試均流參數(shù)；Y□N□NA□時(shí)鐘測(cè)試測(cè)量時(shí)鐘信號(hào)，選用有源探頭；Y□N□NA□對(duì)重要時(shí)鐘信號(hào)，選用頻率計(jì)測(cè)量器頻率準(zhǔn)確度；Y□N□NA□復(fù)位測(cè)試遍歷測(cè)試各芯片的復(fù)位信號(hào)；Y□N□NA□復(fù)位芯片實(shí)現(xiàn)的復(fù)位電路，測(cè)試/MR、WDI、WDO等信號(hào)；Y□N□NA□復(fù)位芯片實(shí)現(xiàn)的復(fù)位電路，測(cè)試復(fù)位芯片的電源管腳信號(hào)；Y□N□NA□遍歷上電復(fù)位、后臺(tái)復(fù)位（命令復(fù)位）、按鍵復(fù)位等情況；Y□N□NA□總線測(cè)試遍歷測(cè)試數(shù)據(jù)、地址總線讀寫時(shí)序；Y□N□NA□遍歷測(cè)試業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)總線時(shí)序；Y□N□NA□差分信號(hào)測(cè)試差分信號(hào)盡量用差分探頭測(cè)試；Y□N□NA□部分標(biāo)準(zhǔn)接口差分信號(hào)盡量選擇通信分析儀，套用模板測(cè)試（眼圖）；Y□N□NA□串行總線測(cè)試遍歷測(cè)試單板上的串行總線Y□N□NA□E1信號(hào)測(cè)試套用G.703模板Y□N□NA□標(biāo)準(zhǔn)電接口E1/T1、E3/T3、STM-1e，光接口STM-1、STM4，以太網(wǎng)口等的信號(hào)都建議使用通信信號(hào)分析儀內(nèi)的信號(hào)模板來(lái)測(cè)量Y□N□NA□測(cè)試系統(tǒng)接地說(shuō)明本節(jié)只討論影響測(cè)試時(shí)單板/系統(tǒng)的接地問(wèn)題，不涉及單板/系統(tǒng)接地設(shè)計(jì)問(wèn)題。測(cè)試時(shí)需要特別注意單板/系統(tǒng)與測(cè)試設(shè)備儀器的接地問(wèn)題。如果接地不良，或者接地不正確，就可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果錯(cuò)誤，甚至損壞測(cè)試產(chǎn)品或設(shè)備儀表。一般來(lái)說(shuō)，單板/系統(tǒng)與測(cè)試設(shè)備儀器常涉及如下地信號(hào)：GND：一般單板上最常見的地平面，是+3.3V、+1.8V等各電源信號(hào)的回流地信號(hào)（這里不區(qū)分單板上的模擬地AGND和數(shù)字地DGND）。也常用來(lái)表征大地；BGND： 直流－48V（+24V）電源（電池）回流地信號(hào)；PGND： 保護(hù)地信號(hào)。機(jī)殼即是PGND平面，常連到大地。引入PGND是考慮防雷和保護(hù)人身安全的一種有效手段，例如當(dāng)某種原因引起的相線（如電線絕緣不良，線路老化等）和設(shè)備外殼碰觸時(shí)，設(shè)備的外殼就會(huì)有危險(xiǎn)電壓產(chǎn)生，由此生成的故障電流就會(huì)流經(jīng)PGND線到大地，從而起到保護(hù)作用。上述3種地信號(hào)在產(chǎn)品中常連接到一起，參考下圖。測(cè)量信號(hào)時(shí)對(duì)應(yīng)的各電源平面分布（直流-48V供電系統(tǒng)）測(cè)量信號(hào)時(shí)對(duì)應(yīng)的各電源平面分布（交流220V供電系統(tǒng)）其它供電系統(tǒng)可以參考圖9、圖10。對(duì)照上圖，可以得出關(guān)于測(cè)試時(shí)單板/系統(tǒng)接地需要注意的事項(xiàng)：測(cè)試單板/系統(tǒng)、示波器共地（這一點(diǎn)常被忽略，需要注意）；測(cè)量時(shí)探頭地線只接信號(hào)地。即對(duì)于-48V電源信號(hào)，探頭地線連接到BGND上；對(duì)于低電壓的+3.3V等信號(hào)，探頭地線連接到GND上。這種情況下可以混測(cè)，例如用某個(gè)探頭測(cè)量-48V信號(hào)，而其它探頭測(cè)量+3.3V信號(hào)；測(cè)量交流系統(tǒng)時(shí)，建議只使用1個(gè)探頭測(cè)試，且探頭地線接N端。測(cè)試時(shí)接地注意以上幾點(diǎn)，可以避免由接地不對(duì)帶來(lái)的測(cè)試問(wèn)題。[說(shuō)明]1、安規(guī)電容。單板GND通常通過(guò)安規(guī)電容（高壓電容，一般為2KV/1000pF）接到PGND上（拉手條）。安規(guī)電容主要起瀉放作用，把前一級(jí)防護(hù)電路不能及時(shí)瀉放的能量耦合到PGND上進(jìn)行繼續(xù)瀉放，但是要配合仔細(xì)選擇GND螺釘?shù)奈恢?，否則適得其反。另外安規(guī)電容還常用作Y電容，（和共模電感配合）用于濾除開關(guān)電源初級(jí)產(chǎn)生的共模干擾；安規(guī)電容用作Y電容使用時(shí)濾掉共模干擾2、BGND和PGND。在遠(yuǎn)端BGND和PGND短接（遠(yuǎn)端是相對(duì)設(shè)備/系統(tǒng)而言，一般指局方電源）。在設(shè)備/系統(tǒng)端，如果是非窄帶系統(tǒng)，一般可以在配電框中把BGND和PGND進(jìn)行短接；對(duì)于窄帶系統(tǒng)，由于產(chǎn)品內(nèi)部要用到-48V電源，所以其BGND和PGND沒(méi)有任何連接；3、交流系統(tǒng)的地線（G/E）和零線（N）在設(shè)備/系統(tǒng)端沒(méi)有任何連接；3、模擬地AGND和數(shù)字地DGND。模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)都要回流到地，因?yàn)閿?shù)字信號(hào)變化速度快，從而在數(shù)字地上引起的噪聲就會(huì)很大，而模擬信號(hào)是需要一個(gè)干凈的地參考工作的。如果模擬地和數(shù)字地混在一起，噪聲就會(huì)影響到模擬信號(hào)。一般來(lái)說(shuō)，模擬地和數(shù)字地要分開處理，然后通過(guò)細(xì)的走線連在一起，或者單點(diǎn)接在一起?？偟乃枷胧潜M量阻隔數(shù)字地上的噪聲竄到模擬地上。當(dāng)然這也不是非常嚴(yán)格的要求模擬地和數(shù)字地必須分開，如果模擬部分附近的數(shù)字地還是很干凈的話可以合在一起。例如目前很多產(chǎn)品不再區(qū)分模擬地AGND和數(shù)字地DGND，統(tǒng)一只使用GND。考慮到目前通信產(chǎn)品大都是多層PCB設(shè)計(jì)（一般>8層），有幾個(gè)專門的GND平面，所以不區(qū)分模擬地AGND和數(shù)字地DGND，統(tǒng)一只使用GND，實(shí)際使用結(jié)果還沒(méi)有發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。精品文檔精心整理精品文檔可編輯的精品文檔中國(guó)電信LTE網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量評(píng)估測(cè)試規(guī)范(試行稿)中國(guó)電信集團(tuán)公司2015年4月

目錄1. 總則 51.1 概述 51.2 術(shù)語(yǔ)定義 51.3 測(cè)試儀表 52. 城區(qū)DT測(cè)試方法 52.1 測(cè)試儀表 52.2 城區(qū)DT長(zhǎng)呼測(cè)試 62.2.1 測(cè)試目的 62.2.2 測(cè)試時(shí)間 62.2.3 測(cè)試范圍 62.2.4 測(cè)試速度 72.2.5 測(cè)試步驟 全采樣方式 抽樣測(cè)試方式 82.3 城區(qū)DT短呼測(cè)試 92.3.1 測(cè)試目的 92.3.2 測(cè)試時(shí)間 92.3.3 測(cè)試范圍 102.3.4 測(cè)試速度 102.3.5 測(cè)試步驟 102.4 鎖定測(cè)試 112.4.1 鎖定制式測(cè)試 112.4.2 鎖定頻點(diǎn)測(cè)試 112.4.3 鎖定模式測(cè)試 112.4.4 鎖定小區(qū)測(cè)試 112.5 FTP服務(wù)器設(shè)置 122.5.1 FTP服務(wù)器功能要求 122.5.2 FTP服務(wù)器部署要求 123. 城區(qū)CQT測(cè)試方法 123.1 測(cè)試儀表 123.2 城區(qū)CQT測(cè)試場(chǎng)所選取 133.3 測(cè)試位置的選取 143.4 測(cè)試步驟 153.4.1 CQTFTP業(yè)務(wù)測(cè)試 153.4.2 CQTPing業(yè)務(wù)測(cè)試 154. 網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量評(píng)估重點(diǎn) 154.1 覆蓋評(píng)估 164.1.1 關(guān)鍵參數(shù) RSRP SINR RSRQ PUSCH-TxPower PUCCH-TxPower 184.1.2 關(guān)鍵指標(biāo) 覆蓋率 里程覆蓋率 4G/3G占用時(shí)長(zhǎng) 194.2 接入性能評(píng)估 194.2.1 數(shù)據(jù)維度 194.2.2 關(guān)鍵信令/事件 Attach流程 Service流程 224.2.3 關(guān)鍵指標(biāo) RRC連接建立成功率 E-RAB建立成功率 無(wú)線接通率 ATTACH成功率 Service成功率 254.3 業(yè)務(wù)保持能力評(píng)估 254.3.1 數(shù)據(jù)維度 254.3.2 關(guān)鍵信令/事件 FTPdownload/uploadfailed RRCrelease RRCconnectionreestablishmentrequest 254.3.3 關(guān)鍵指標(biāo) 2 業(yè)務(wù)掉線率 2 無(wú)線掉線率 264.4 業(yè)務(wù)性能評(píng)估 274.4.1 數(shù)據(jù)維度 274.4.2 關(guān)鍵參數(shù) 2 RB 2 MCS 2 CQI 2 RI 304.4.3 關(guān)鍵指標(biāo) 30 PDCP層速率 30 Ping時(shí)延 30 PRB調(diào)度 30 MCS 3 CQI 3 BLER 3 單雙流調(diào)度比例 3 MIMO 334.5 移動(dòng)性能評(píng)估 344.5.1 數(shù)據(jù)維度 344.5.2 關(guān)鍵信令/事件 3 MeasurementReport 3 RRCconnectionreconfiguration 344.5.3 關(guān)鍵指標(biāo) 3 切換成功率 3 切換控制面時(shí)延 3 切換用戶面時(shí)延 3 LTE->CDMA2000系統(tǒng)間小區(qū)切換出成功率 3 LTE->CDMA2000系統(tǒng)間小區(qū)切換出時(shí)延 365. 附錄：其他關(guān)鍵指標(biāo) 37

總則概述無(wú)線網(wǎng)絡(luò)只有通過(guò)實(shí)際網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量的檢查測(cè)試才能獲得真正意義上的網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行質(zhì)量信息，才能了解用戶對(duì)網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量的真實(shí)感受。通過(guò)DT測(cè)試和CQT測(cè)試在現(xiàn)場(chǎng)模擬用戶行為，結(jié)合專業(yè)測(cè)試工具進(jìn)行分析，是獲取無(wú)線網(wǎng)絡(luò)性能、發(fā)現(xiàn)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)問(wèn)題的主要方法。通過(guò)與競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試綜合對(duì)比，還可以了解中國(guó)電信LTE網(wǎng)絡(luò)與競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手網(wǎng)絡(luò)在網(wǎng)絡(luò)性能上的差距。術(shù)語(yǔ)定義DT（DrivingTest）測(cè)試是使用測(cè)試設(shè)備沿指定的路線移動(dòng)，進(jìn)行不同類型的呼叫，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試指標(biāo)。CQT（CallQualityTest）測(cè)試是在特定的地點(diǎn)使用測(cè)試設(shè)備進(jìn)行一定規(guī)模的撥測(cè)，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試指標(biāo)。測(cè)試儀表網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量評(píng)估通常采用路測(cè)儀表進(jìn)行，其形態(tài)包括傳統(tǒng)儀表、便攜式儀表等；建網(wǎng)初期評(píng)估網(wǎng)絡(luò)基本覆蓋時(shí)，同時(shí)也需要采用掃頻儀輔助測(cè)試。測(cè)試時(shí)所使用的軟硬件設(shè)備，必須滿足中國(guó)電信集團(tuán)相關(guān)的儀器儀表規(guī)范。城區(qū)DT測(cè)試方法本章主要介紹的是以評(píng)估網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量為目的的常規(guī)測(cè)試方法，評(píng)估網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量應(yīng)根據(jù)測(cè)試和優(yōu)化的目的，選取對(duì)應(yīng)的方法進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試儀表傳統(tǒng)路測(cè)儀表：場(chǎng)景終端要求電腦要求儀表要求長(zhǎng)呼建議三星N7509V操作系統(tǒng)：win732位CPU：IntelCorei5內(nèi)存：4G硬盤大?。?00G支持4/3G互操作控制，CAT4短呼——支持4/3G互操作控制鎖定測(cè)試建議海思芯片終端；或三星N7509V（鎖制式/頻點(diǎn)）——支持鎖定制式/頻點(diǎn)/小區(qū)；支持4/3G互操作控制，CAT4自動(dòng)路測(cè)儀表：分類要求測(cè)試模塊要求使用CAT4的FDD/TDD模塊，如需測(cè)試4/3G互操作，模塊需同時(shí)支持eHRPD網(wǎng)絡(luò)；管理平臺(tái)要求完成設(shè)備管理及指標(biāo)分析；支持設(shè)備的在線監(jiān)控；支持問(wèn)題區(qū)域的分析及閉環(huán)管理；便攜儀表：要求操作系統(tǒng)為安卓或IOS；支持4/3G互操作，CAT4終端；專業(yè)版需支持無(wú)線參數(shù)及信令采集。城區(qū)DT長(zhǎng)呼測(cè)試測(cè)試目的通過(guò)長(zhǎng)呼測(cè)試，對(duì)網(wǎng)絡(luò)覆蓋質(zhì)量、保持性能、切換性能、吞吐率進(jìn)行評(píng)估。測(cè)試時(shí)間建網(wǎng)初期可任意時(shí)間測(cè)試，在LTE正式商用并且用戶數(shù)量具備一定規(guī)模后，建議測(cè)試安排在工作日（周一至周五）9:00-19:00進(jìn)行。新疆和西藏的測(cè)試時(shí)間由于時(shí)差延后1個(gè)小時(shí)。測(cè)試范圍測(cè)試范圍主要包括：城區(qū)主干道、商業(yè)密集區(qū)道路（商業(yè)街）、住宅密集區(qū)道路、學(xué)院密集區(qū)道路、機(jī)場(chǎng)路、環(huán)城路、沿江兩岸、城區(qū)內(nèi)主要橋梁、隧道、城內(nèi)風(fēng)景點(diǎn)周邊道路等。要求測(cè)試路線盡量均勻覆蓋整個(gè)城區(qū)主要干道和次級(jí)街道，并且盡量不重復(fù)，在主/次干道已測(cè)完的情況下，在工作負(fù)荷允許的情況下，建議對(duì)重點(diǎn)業(yè)務(wù)區(qū)域所有道路進(jìn)行遍歷測(cè)試。測(cè)試速度在城區(qū)應(yīng)盡量保持正常行駛速度（30~60公里/小時(shí)）；在城郊快速路車速應(yīng)盡量保持在60~80公里/小時(shí)，高速公路盡量保持在80公里/小時(shí)以上，不限制最高車速。測(cè)試步驟全采樣方式全采用方式適宜在無(wú)流量成本壓力，并且網(wǎng)絡(luò)對(duì)大流量測(cè)試不敏感時(shí)使用。測(cè)試內(nèi)容：FTP上傳/下載測(cè)試，通過(guò)上傳/下載超大文件，長(zhǎng)時(shí)間保持FTP業(yè)務(wù)測(cè)試。測(cè)試條件要求：測(cè)試時(shí)，保持車窗關(guān)閉，將LTE終端、支持LTE測(cè)試的路測(cè)設(shè)備放置在第二排座位中間，連接好GPS；根據(jù)測(cè)試的要求，儀表設(shè)置為“Hybrid”模式。測(cè)試步驟：確認(rèn)測(cè)試終端已經(jīng)成功附著網(wǎng)絡(luò)，并能連接網(wǎng)絡(luò)發(fā)起業(yè)務(wù)；利用測(cè)試軟件中的內(nèi)置FTP測(cè)試功能，從FTPserver上下載一個(gè)足夠大的文件（5GB以上），設(shè)置5線程下載，每個(gè)線程獨(dú)立下載完整文件（不使用斷點(diǎn)續(xù)傳），下載次數(shù)設(shè)置無(wú)限次（或設(shè)置大于測(cè)試時(shí)間的次數(shù)），保證行駛期間測(cè)試不中斷，業(yè)務(wù)可循環(huán)進(jìn)行；利用測(cè)試軟件中的內(nèi)置FTP測(cè)試功能，向FTPserver上傳足夠大的文件（2GB以上），設(shè)置為多文件上傳（并發(fā)數(shù)量設(shè)置為5），上傳次數(shù)設(shè)置無(wú)限次（或設(shè)置大于測(cè)試時(shí)間的次數(shù)），保證行駛期間測(cè)試不中斷，業(yè)務(wù)可循環(huán)進(jìn)行；當(dāng)終端離開LTE網(wǎng)絡(luò)回落/切換到EHRPD網(wǎng)絡(luò)時(shí)，測(cè)試軟件自動(dòng)停止FTP業(yè)務(wù)，終端回到休眠態(tài)。當(dāng)終端在休眠態(tài)重選到LTE網(wǎng)絡(luò)后，自動(dòng)發(fā)起FTP測(cè)試。上傳、下載分別在兩部終端同時(shí)進(jìn)行測(cè)試；當(dāng)發(fā)生撥號(hào)連接異常中斷后，應(yīng)間隔10秒后重新發(fā)起連接：如果屬于因人為誤操作終端未到周期就主動(dòng)釋放造成撥號(hào)連接中斷，則不計(jì)為掉話，但撥號(hào)異常中斷前的傳輸過(guò)程FTP速率采樣點(diǎn)和時(shí)間納入統(tǒng)計(jì)。測(cè)試過(guò)程中若連續(xù)10秒FTP層沒(méi)有任何數(shù)據(jù)傳輸，開始自動(dòng)嘗試PING服務(wù)器，包大小為32字節(jié)，間隔時(shí)間1秒鐘，超時(shí)時(shí)間2秒鐘，直到FTP傳輸恢復(fù)或FTP測(cè)試失敗后停止；測(cè)試過(guò)程中若超過(guò)30秒FTP層沒(méi)有任何數(shù)據(jù)傳