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XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀.doc 免費下載

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文檔簡介

XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀諧振腔法是一種重要的材料測量方法，具有廣泛的應(yīng)用前景。隨著科技的不斷發(fā)展，諧振腔法將會在材料科學(xué)、電子工程、通信技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀是為中低損耗材料、均質(zhì)材料、小樣品測試等需求而開發(fā)的一款高精度高性價比的材料測試平臺。融合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和試夾具于一體，可進行30MHz到110GHz頻率范圍內(nèi)的微波復(fù)介電常數(shù)測試。該系列產(chǎn)品精度高、接口豐富，在科研實驗中能發(fā)揮十分重要的作用。主要特點：測試精度高，速度快頻率范圍:0.1~110.0GHz系統(tǒng)配置簡單，易操作，測量軟件簡單易用，自動化程度高主要技術(shù)參數(shù)：1、頻率范圍:0.1~110.0GHz2、測試溫度:-50~1750℃3、電磁參數(shù)測試范圍:er'=1.0~100，tanoc=1.0×10-4~5×10-2ur'=0.1~10.0，tanou=1.0×103~1.0一、諧振腔微擾法測試設(shè)備頻率范圍:0.1~40.0GHz測試溫度:室溫～1750℃復(fù)介電常數(shù)測試范圍:cr'=1.0~30.0tan&e=2.0×10-~5×102ur'=0.5~10tanou=0.001~1.0常溫測試誤差:|Asr'/er'\≤1.5%當(dāng)sr'=2.0~30.0Acr'|≤2.0%×cr'+0.02當(dāng)r'=1.05~2Atanoe≤15.0%tano8+2.0x10-4Aur'/ur'\≤5.0%Atanou|≤15%tanou+5.0x10-4樣品尺寸:圓棒或方棒狀小樣品材料，直徑:1.0~6.Omm，高度不低于30mm;(實際尺寸視具體情況而定)2、高Q腔法測試設(shè)備頻率范圍:2.0~7.0GHz、7.0~18.0GHz測試溫度:室溫~1600℃復(fù)介電常數(shù)測試范圍:cr'=l~10tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常溫測試誤差:|Acr'/cr'\≤2.0%當(dāng)sr'=2~10Acr'|≤1.8%xEr'+0.02當(dāng)sr'=1.05~2Atanoe|≤15%tanoe+1.0×10-4樣品尺寸:2.0~7.0GHz圓片材料直徑:150.0mm，厚度

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