第一章：緒論焊接檢驗(yàn)方法分類：1、按焊接的數(shù)量分類a〕b〕2、按是否要將被檢件破壞可分為：a〕b〕非破壞性檢驗(yàn)〔無(wú)損檢測(cè)〕渦流探傷射線探傷超聲探傷目視探傷外觀檢驗(yàn)滲透探傷焊接檢驗(yàn)的依據(jù)：1、施工圖樣和訂貨合同〔焊接檢驗(yàn)的依據(jù)：1、施工圖樣和訂貨合同〔12點(diǎn)〕2、相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)過(guò)程的5個(gè)根本環(huán)節(jié)：按焊接產(chǎn)品質(zhì)量的形成過(guò)程與焊接質(zhì)量治理的挨次可分為 1,2,3,4,5,產(chǎn)品服役質(zhì)量檢查其次章：缺陷按〔如電弧擦傷、飛濺、外表撕裂、磨痕等〕。1、按焊接缺陷的形態(tài)可分為：a平面缺陷，如裂紋、未熔合b體積缺陷如氣孔、夾渣2a外表缺陷〔用外觀或外表無(wú)損檢測(cè)方式檢測(cè)〕b內(nèi)部缺陷〔用解剖、金相、內(nèi)部無(wú)損檢測(cè)方法檢測(cè)〕第三章：射線探傷1, 射線探傷原理；利用射線能穿透物質(zhì)且其強(qiáng)度會(huì)被物質(zhì)所衰減的特性檢測(cè)物質(zhì)內(nèi)部損傷的方法稱為射線檢測(cè)。射線探傷的實(shí)質(zhì)是依據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同而引起射線透過(guò)工件后的強(qiáng)度差異，使缺陷能在射線底片或X光電視屏幕上顯示出來(lái)。2, X射線的種類、按其波長(zhǎng)分為：a〕X射線波長(zhǎng)在肯定范圍內(nèi)連續(xù)變化的XX射線〔X射線〕。其強(qiáng)度與管電壓和管電流有關(guān)。b〕XX射線稱X射線〔X射線〕。該波長(zhǎng)與元素種類有關(guān)。、按能量大小分：a〕Xb〕X射線：指電子中產(chǎn)生的能量在一白萬(wàn)X射線。特點(diǎn)：能量大，穿透力量強(qiáng)，散射線少，透照幅度寬。3, 射線的衰減方式：電子對(duì)的產(chǎn)生和光電效應(yīng)4, 射線探傷系統(tǒng)組成1〕射線源：〔X射線機(jī)、T

射線機(jī)或〕2〕射線膠片3〕增感屏作用：1、增感效應(yīng)；2、濾波作用 總之：提高膠片的感光速度和底片的成相質(zhì)量。膠片和增感屏的接觸：在透照過(guò)程中始終相互緊貼4〕相質(zhì)計(jì)象質(zhì)計(jì)是用來(lái)檢查透照技術(shù)和膠片處理質(zhì)量的，衡量該質(zhì)量的數(shù)值是相質(zhì)指數(shù)乙相質(zhì)指數(shù)確實(shí)定：象質(zhì)指數(shù)等于底片上能識(shí)別出的最細(xì)鋼絲線的編號(hào)相質(zhì)計(jì)的放置：線型象質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線源一側(cè)的工件外表上被檢焊縫一段〔被檢區(qū)長(zhǎng)度1/4部位〕鋼絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直。細(xì)鋼絲至于外側(cè)。當(dāng)射線源側(cè)無(wú)法放置象質(zhì)計(jì)時(shí)，可將其放在膠片側(cè)的工件外表上〔要求同上〕同時(shí)必需在最粗鋼絲的右下角〔左型〕或左下角〔右型〕放置一個(gè)鉛字母“ F”，表小為膠片側(cè)放置。5〕鉛罩、鉛光闌一一限制射線照耀區(qū)域大小和得到適宜的照耀量。 6〕鉛遮板一一屏蔽前方散射7〕底部鉛板〔乂稱背部防護(hù)鉛板〕——防止背部散射 8〕濾板——吸收掉射線中波長(zhǎng)較大的譜線，削減散射。 9〕暗盒〔cassette〕——保護(hù)膠片。放置：在透照過(guò)程中始終與工件緊貼。 10〕標(biāo)記帶。包括：1、定位標(biāo)記：包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記f即有效區(qū)段標(biāo)記.作用：指明透照區(qū)段的界限。1〕定位標(biāo)記應(yīng)放置在被照工件上，不得放在鉛字牌上。2〕中心標(biāo)記離焊縫邊緣5mnft,縱箭頭指向焊縫且位于被檢區(qū)的中心，橫箭頭指向下一個(gè)透照位置。 2、識(shí)別標(biāo)記：〔包括工件編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)、返修標(biāo)記〕3、B標(biāo)記作用：檢查背部散射 放置：把B標(biāo)記貼在暗盒背部〔暗盒和防護(hù)鉛板之間〕的適當(dāng)位置，不得與其它標(biāo)志重合。 B標(biāo)記在底片上的顯示有三：1〕無(wú)顯示一一底片質(zhì)量合格 2〕B標(biāo)記黑度比四周背景黑度高一底片質(zhì)量合格 3〕B標(biāo)記黑度比四周背景黑度低一一底片質(zhì)量不合格5, 探傷條件的選擇：底片質(zhì)量、射線源、透照幾何參數(shù)的選擇、曝光標(biāo)準(zhǔn)、透照方式的選擇、膠片的暗室處理。 其中底片質(zhì)量中象質(zhì)等級(jí)A〔適用鍋爐〕、ABB級(jí)，B級(jí)需磨平加強(qiáng)高。黑度D=lg〔L0/L〕強(qiáng)度為L(zhǎng)0的可見(jiàn)光通過(guò)底片后，光強(qiáng)度減為L(zhǎng)6, 射線能量選擇1〕射線能量〔p43〕——指射線源的KUMeV值或丫源的種類。 在滿足透照工件厚度條件下，應(yīng)依據(jù)材質(zhì)和成像質(zhì)量要求，盡可能選擇較低的射線能量。 2〕射線強(qiáng)度：強(qiáng)度越高，透照時(shí)間越短3〕焦點(diǎn)尺寸：盡可能選擇焦點(diǎn)小的射線源4〕輻射角：指射線所構(gòu)成的角度。x射線的輻射角分定向和周向， Y射線的輻射角分定向、周4兀立體角，分別適用于分段曝光、周向曝光和全景曝光。7, 幾何不活晰度ug: 當(dāng)焦點(diǎn)為非點(diǎn)狀時(shí)底片上凹凸黑度交界部位會(huì)消滅一個(gè)黑度漸變的過(guò)渡區(qū)，該區(qū)寬度Ug稱為“半影”，乂稱“幾何不活晰度”。Ug的因素：1〕焦點(diǎn)：焦點(diǎn)越大，ug2〕焦距：指焦點(diǎn)至膠片的距離L〔乂稱透照距離〕。焦距越大ug越小。3〕缺陷至膠片距離越近，ug越小當(dāng)缺陷位于工件外表時(shí)，Ug最大。為了減小影象的幾何不活晰度Ug,d,L,并盡量把底片貼緊工件。8,射線入射方向的選擇：裂紋、未熔合等面積型缺陷，只有射線入射向與其深度方向全都時(shí)，射線底片上缺陷影象才最活晰A=a”/a。a”a中心射線束A的限制，實(shí)際表達(dá)為對(duì)每次檢驗(yàn)長(zhǎng)度的控制9, 焊縫射線底片的評(píng)定〔一〕GB332O87的有關(guān)規(guī)定：〔1〕有效檢驗(yàn)區(qū)內(nèi)無(wú)有偽缺陷?！?〕其它阻礙底片評(píng)定的缺陷。質(zhì)量不符合要求的底片必需重拍照〔二〕1、在射線探傷中所提到的缺陷有：〔1〕裂紋〔2〕未熔合〔3〕未焊透 〔4〕條狀?yuàn)A渣長(zhǎng)寬比大于3的夾渣稱為條狀?yuàn)A渣。當(dāng)氣孔的長(zhǎng)寬比大于3時(shí)其評(píng)級(jí)方法也按條狀?yuàn)A渣對(duì)待。底片上夾渣黑度比氣孔小?！?〕3的氣孔、夾渣及夾鴇定義為圓形缺陷。2、焊縫評(píng)級(jí)GB332“87標(biāo)準(zhǔn)中，依據(jù)缺陷的性質(zhì)、缺陷的尺寸及數(shù)量將焊縫質(zhì)量分為 I、II、III、IV共四級(jí)?！?〕I級(jí)焊縫內(nèi)不允許有裂紋、未熔合、未焊透、以及條狀?yuàn)A渣等四種缺陷存在。允許有肯定數(shù)量和肯定尺寸的圓形缺陷存在。 〔2〕II級(jí)焊縫內(nèi)不允許有裂紋、未熔合、未焊透等三種缺陷存在。允許有肯定數(shù)量和肯定尺寸的條狀?yuàn)A渣和圓形缺陷存在?！?〕III級(jí)焊縫內(nèi)不允許有裂紋、未熔合以及雙面焊和加墊板的單面焊中的未焊透存在。允許有肯定數(shù)量和肯定尺寸的條狀?yuàn)A渣和圓形缺陷及未焊透 〔指非氯弧焊封底的不加墊板的單面焊〕存在。 〔4〕IV級(jí)焊縫指焊縫缺陷超過(guò)III級(jí)者。3、圓形缺陷評(píng)級(jí)、圓形缺陷在規(guī)定的評(píng)定區(qū)內(nèi)進(jìn)展評(píng)定，評(píng)定區(qū)應(yīng)選擇在缺陷最嚴(yán)峻的部位。、評(píng)定圓形缺陷應(yīng)將缺陷換算成缺陷點(diǎn)數(shù)。a〕1/2TIV級(jí)，小于1/2T板厚〕b〕應(yīng)把它劃為該評(píng)定區(qū)內(nèi)計(jì)算點(diǎn)數(shù)。、參考圓形缺陷的分級(jí)表、對(duì)不計(jì)點(diǎn)數(shù)缺陷的限制〔1〕I級(jí)焊縫內(nèi)不計(jì)點(diǎn)數(shù)的圓形缺陷，在評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多丁1010II級(jí)?！?〕TV5mnflII10III級(jí)。101、距離防護(hù)實(shí)際中安全距離應(yīng)通過(guò)劑量?jī)x測(cè)量而確定。217.4mremi3法同時(shí)使用。在工地或車間探傷時(shí)還應(yīng)留意必需設(shè)置危急區(qū)標(biāo)記。第四章超聲波探傷1,a良好的指向性：b空中傳播c界面的透射、反射、折射和波型轉(zhuǎn)換波型：a縱波，用丁鋼板、鍛件、焊縫探傷；b橫波，用丁焊縫鋼管探傷。c外表波〔瑞利波R〕用丁鋼板、鋼管、鍛件、簡(jiǎn)單工件外表探傷。d板波〔蘭姆波〕P在極薄的板狀介質(zhì)中傳播。用丁檢測(cè)薄板及其構(gòu)件內(nèi)部缺陷。半集中角0=arcsin1.22入/D 入——波長(zhǎng)〔mm〕,D——壓電晶片直徑〔mm0越小，波束指向性越好，超聲波能量集中，探傷靈敏度高，區(qū)分力高和定位準(zhǔn)確。近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度NqD2/〔4入〕〔mm〕4垂直入射異質(zhì)界面時(shí)的透射、反射和繞射反射系數(shù)K=W反/W入當(dāng)缺陷尺寸小丁入/2時(shí)，聲波將繞過(guò)其邊界連續(xù)前進(jìn)，產(chǎn)生繞射，使反射波減弱。因此， 超聲波能探測(cè)到的最小缺陷尺寸為df=入/25傾斜入射異質(zhì)界面時(shí)的反射、折射、波型轉(zhuǎn)換第一臨界角a1m=arcsin[〔CL1/CL2sin丫L]其次臨界角a2m=arcsin[〔CL1/CS2sin丫Sa=a1m^a2m而用外表波弁質(zhì)i 探傷時(shí)入射角a>a2miIVII的聲凱抗

6超sinasinhsin^ssinYsinYg波衰的方1〕散射哀減頻率越局、晶粒尺寸大，散射引起的衰減越大。金屆材料以散射衰減為主。2〕吸取衰減金屆介質(zhì)一吸取衰減可無(wú)視不計(jì)，液體介質(zhì)一吸取衰減是主要的。3〕集中衰減脈沖反射法超聲波探傷根本原理A型顯示超聲波探傷原理一將肯定頻率問(wèn)斷放射的超聲波〔脈沖波〕通過(guò)肯定介質(zhì)〔耦合劑〕的耦合傳入工件，當(dāng)遇到異質(zhì)界面〔缺陷或工件上下外表〕時(shí)，超聲波將產(chǎn)生反射,回波〔即反射波〕為儀器接收并以電脈沖信號(hào)在示波屏上顯示出來(lái)，由此推斷缺陷有無(wú)，以及進(jìn)展定位、定量和評(píng)定。 反射波的位置反映聲波傳播的距離，故可以對(duì)缺陷定位;反射波幅度的凹凸可間接反映出缺陷的大小，故可對(duì)缺陷定量和評(píng)價(jià)。*B型顯示是脈沖回波超聲波平面成象的一種。它以亮點(diǎn)顯示接收信號(hào)，以示波屏面代表被探傷對(duì)象由探頭移動(dòng)線和聲束打算的截面，它可以顯示出缺陷在橫截面上的二維特征。*C型顯示也是脈沖回波超聲波平面成象的一種。它以亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示接收信號(hào)。示波屏面所顯示的是被探傷對(duì)象某一深度上與聲束相垂直的一個(gè)平面投影象。*3DEkC顯示相結(jié)合產(chǎn)生一個(gè)準(zhǔn)三維的投影圖像，同時(shí)能表示出缺陷在空間的特征。探頭的分類1〕直探頭〔2〕斜探頭〔3〕水浸聚焦探頭〔4〕其它探頭探頭的主要性能〔1〕Y〔2〕前沿長(zhǎng)度〔3〕聲軸偏斜角探傷儀主要性能〔1〕水平線性〔2〕垂直線性〔3〕動(dòng)態(tài)范圍〔4〕衰減器精度〔5〕靈敏度余量〔6〕區(qū)分力一有近場(chǎng)區(qū)分力〔如盲區(qū)就是一種近場(chǎng)區(qū)分力〕、遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)分力〔7〕盲區(qū)91、垂直入射法〔垂直法〕2、斜角探傷法〔乂稱斜射法、橫波法〕1〕跨距點(diǎn)P0.5=atgTP1=2atg丫2〕直射法和一次反射法 直射法：乂稱正射波法〔超聲波不經(jīng)底面反射而直接對(duì)準(zhǔn)缺陷的探傷方法〕 直射法聲程S0.5=a/cosY=P0.5/sinY 一次反射法：乂稱一次反射波法〔超聲波只在底面反射一次而對(duì)準(zhǔn)缺陷的探傷方法〕S1=2a/cosY=P1/sin丫探傷條件的選擇 1、選擇原則 〔1〕檢驗(yàn)等級(jí)A、B、C三級(jí)〔C級(jí)的完善程度最高〕〔2〕探傷靈敏度的選擇〔3〕距離波幅曲線將不同距離處的波高連成一條光滑的曲線，即DAW準(zhǔn)線。然后按檢驗(yàn)級(jí)別依據(jù)DACS準(zhǔn)線下降肯定分貝，得到評(píng)定線、定量線、判廢線，統(tǒng)稱DAC曲線。2、探頭的選擇 〔1〕探頭形式〔2〕晶片尺寸D大厚度工件或粗晶材料探傷——用大晶片探頭 較薄工件或外表曲率較大的工件——宜選用小晶片探頭?！?〕頻率：粗晶材料、厚大工件一一用較低頻率 細(xì)晶材料、薄壁工件一一宜用較2~5MHz2-2.5MHZ〔4〕kk值探頭；大厚度件：小k值的探頭；要求嚴(yán)格的工件：多K值、多探頭掃查3、耦合劑的選用4、探傷面的選擇與預(yù)備 〔1〕依據(jù)檢驗(yàn)等級(jí)和板厚選擇探傷面?！?〕對(duì)探頭需要接觸的外表進(jìn)展活理。56、補(bǔ)償缺陷位置和大小的測(cè)定1、垂直入射法時(shí)缺陷定位 缺陷深度Zf=n-rf其中if=S屏傷一一缺陷波前沿所對(duì)水平刻度 n——調(diào)整比例系數(shù)2、斜角探傷時(shí)缺陷定位有聲程、水平、深度三種調(diào)整方法?！?〕聲程定位法直射法：缺陷深度h=Scos丫缺陷水平距離l=htgY=Kh 一次反射法：h=2a-Scosyh=2a-丫〔2〕深度1:1調(diào)整定位法〔3〕1:1調(diào)整法定位1、當(dāng)量法一一當(dāng)缺陷大小小于聲束截面時(shí)，承受當(dāng)量法確定缺陷大小。2探頭移動(dòng)法〔測(cè)長(zhǎng)法〕一當(dāng)缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)一般承受探頭移動(dòng)法測(cè)缺陷指示長(zhǎng)度。常用相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法和確定靈敏度測(cè)長(zhǎng)法來(lái)測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度 △l缺陷質(zhì)量評(píng)定1〕最大反射波幅超過(guò)定量線的缺陷應(yīng)測(cè)定其指示長(zhǎng)度，其值少于10mnW,5mn#02〕8mnW,兩缺陷指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度。I級(jí)。5〕、最大反射波幅超過(guò)評(píng)定線的缺陷，檢驗(yàn)IV級(jí)。6〕、反射波幅位于III區(qū)的缺陷，無(wú)論其指示長(zhǎng)度如何均評(píng)為IV級(jí)。7〕、I區(qū)的非裂紋性缺陷均評(píng)為I級(jí)。液浸法超聲波探傷通常液浸法是用水作耦合介質(zhì)。使探頭放射的聲波經(jīng)過(guò)一段水后1、優(yōu)點(diǎn)〔1〕超聲波的放射與承受比較穩(wěn)定，受外表粗糙度影響較小?！?〕探頭角度可任意變更，可獲幾乎是任意折射角的橫波〔3〕盲區(qū)小，可探波長(zhǎng)數(shù)量級(jí)的薄壁工件。〔4〕晶片損壞小，可采用高頻薄晶片，靈敏度和分辯率高。2、缺點(diǎn)需要一些關(guān)心設(shè)備、聲能損失較大第五章-磁力探傷與渦流探傷定義：磁力探傷是通過(guò)對(duì)鐵磁材料進(jìn)展磁化所產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)來(lái)覺(jué)察外表或近外表缺陷的無(wú)損檢驗(yàn)方法。磁力探傷分類：據(jù)檢測(cè)漏磁通的方法不同：1、磁粉法〔十式磁粉、濕式磁粉〕23、錄磁法磁力探傷根本原理：鐵磁材料的工件磁化后其內(nèi)部就有磁力線通過(guò)。當(dāng)工件內(nèi)部存在夾渣、裂紋、氣孔等缺陷時(shí)，由于這些缺陷內(nèi)部物質(zhì)是非磁性的，磁阻很大，磁力線則繞過(guò)缺陷通過(guò)而發(fā)生彎曲。假設(shè)缺陷位于工件外表或近外表，磁力線還會(huì)穿過(guò)工件外表形成漏磁。利用磁粉顯示漏磁則可確定缺陷所在。漏磁場(chǎng)：由于介質(zhì)導(dǎo)磁率的變化而使磁通泄漏到缺陷四周的空氣中所形成的磁場(chǎng)，稱為漏磁場(chǎng)。影響漏磁的因素〔1〕外加磁場(chǎng)的影響一一缺陷漏磁通密度隨著工件磁感應(yīng)強(qiáng)度的增加工件材料及狀態(tài)的影響〔3〕，漏磁場(chǎng)最強(qiáng)；假設(shè)與磁力線平行則幾乎不產(chǎn)生漏磁通。一、磁粉探傷技術(shù)1、磁化與退磁〔1〕化。磁化方法有：1〕2〕3〕復(fù)合磁化4〕旋轉(zhuǎn)磁化磁化磁場(chǎng)的方向：通常在被探工件上至少使用兩個(gè)近似相互垂直方向的磁化〔包括使用旋轉(zhuǎn)磁化〕。退磁：使工件剩磁回零的過(guò)程叫退磁。退磁的方法：1〕將工件從溝通磁化線圈中移2〕減小溝通電?把工件放入磁場(chǎng)中。其位置不變，漸漸減小溝通電，把磁場(chǎng)降低到規(guī)定值。3〕直流換向衰減退磁。由于直流磁化比溝通磁化穿透得深，所以直流退磁比溝通退磁效果要好。4〕振5〕加熱〔將工件加熱到居里點(diǎn)以上也可到達(dá)退磁的目的。鐵769C,鉆1131C,銳358C,包約20C〕磁粉探傷器材和設(shè)備：磁粉、磁懸液、靈敏度試塊及附件、磁粉探傷設(shè)備濕法比十法具有更高的檢驗(yàn)靈敏度，特別適合于探測(cè)外表微小缺陷，常用于大批量工件探傷渦流探傷：渦流探傷是利用電磁感應(yīng)原理，使金屆材料在交變磁場(chǎng)作用下產(chǎn)生渦流，根據(jù)渦流大小和分布來(lái)探測(cè)磁性和非磁性材料外表和近外表缺陷的無(wú)損檢驗(yàn)法?！补膭?lì)線圈〕導(dǎo)電率、磁導(dǎo)率、金屆塊與線圈的距離、金屆塊表層的缺陷等因素。集膚效應(yīng)：溝通電通過(guò)導(dǎo)體時(shí)，外表的電流密度最大，越到圓柱中心就越小，這種現(xiàn)象稱為集膚效應(yīng)。渦流探傷根本原理：渦流的大小影響到鼓勵(lì)線圈的電流使其發(fā)生變化。假設(shè)施加的溝通〔工件〕缺陷時(shí)，渦流的流淌發(fā)生了畸變，通過(guò)儀器檢測(cè)出這種畸變的信息，就能判定試