成像測(cè)井方法簡(jiǎn)介成像測(cè)井方法簡(jiǎn)介

所謂成像測(cè)井技術(shù),就是井下采用傳感器陣列掃描或旋轉(zhuǎn)掃描測(cè)量,沿井眼縱向、周向或徑向大量采集地層信息，傳輸?shù)骄弦院笸ㄟ^(guò)圖象處理技術(shù)得到井壁的二維圖象或井眼周圍某一探測(cè)深度以內(nèi)的三維圖象。這比以往的曲線表示方法更精確、更直觀、更方便。成像測(cè)井儀器有別于數(shù)控測(cè)井儀器的特點(diǎn)，就在于成像測(cè)井儀器的設(shè)計(jì)都在某種程度上考慮了地層的復(fù)雜性和非均質(zhì)性。所謂成像測(cè)井技術(shù),就是井下采用傳感器陣列提綱:成像測(cè)井系統(tǒng)微電阻率掃描成像測(cè)井FMI陣列感應(yīng)成像測(cè)井AIT方位側(cè)向成象測(cè)井ARI聲波成象測(cè)井技術(shù)DSI,USI,XMAC核磁共振成像MRI,NPIT隨鉆電阻率成象提綱:成像測(cè)井系統(tǒng)第一節(jié)成象測(cè)井系統(tǒng)一、成像測(cè)井技術(shù)發(fā)展背景

1、模擬數(shù)字?jǐn)?shù)控成像

2、油氣藏在規(guī)模上趨于小型化在儲(chǔ)層物性及構(gòu)造形態(tài)上趨于復(fù)雜化第一節(jié)成象測(cè)井系統(tǒng)一、成像測(cè)井技術(shù)發(fā)展背景二、組成及技術(shù)特點(diǎn)成像測(cè)井地面儀器電纜遙傳系列井下儀器測(cè)井解釋工作站二、組成及技術(shù)特點(diǎn)成像測(cè)井地面儀器成像測(cè)井系列方法ppt課件

三、成象測(cè)井技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)成象測(cè)井技術(shù)處于迅速發(fā)展和不斷完善階段，發(fā)展趨勢(shì)集中于四個(gè)方面

(1)不斷發(fā)展復(fù)雜儲(chǔ)層解釋技術(shù)．提高定量解釋精度；

(2)根據(jù)油田勘探、開(kāi)發(fā)需要．不斷改進(jìn)完善現(xiàn)存成象測(cè)井技術(shù)，研制法和新儀器；

(3)利用成象測(cè)井信息對(duì)油藏構(gòu)造、儲(chǔ)層結(jié)構(gòu)和流體分布進(jìn)行三彩kq質(zhì)描述：

(4)適應(yīng)大斜度井、水平井測(cè)井需求，繼續(xù)研究、開(kāi)發(fā)隨鉆測(cè)井成象技術(shù)。三、成象測(cè)井技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)第二節(jié)微電阻率掃描成象測(cè)井第二節(jié)微電阻率掃描成象測(cè)井一、井壁微電阻率掃描成象測(cè)井的測(cè)量原理和測(cè)量響應(yīng)定性一、井壁微電阻率掃描成象測(cè)井的測(cè)量原理和測(cè)量響應(yīng)定性1、電扣幾何形狀、分辨率、采樣率之間關(guān)系分辨率：基于陣列電扣電極的井壁微電阻率掃描成象測(cè)井儀器的分辨率是指將儀器測(cè)量的微電導(dǎo)率映射地層特征的能力。比儀器分辨率大的地層特征可用幾個(gè)分辨率單位像素來(lái)表示，而比儀器分辨率小的地層特征只能表示成一個(gè)分辨率單位。采樣率：儀器的數(shù)據(jù)采樣率是儀器所要求的分辨率的函數(shù)1、電扣幾何形狀、分辨率、采樣率之間關(guān)系分辨率：基于陣列電扣結(jié)論一：(1)電扣越小，分辨率愈高，井壁微電阻率掃描圖象越清晰；(2)電扣越小，要求儀器靈敏皮越高；(3)電扣越小，電扣井壁之間泥餅厚度對(duì)分辨率影響愈大，電扣厚度應(yīng)和測(cè)并中多數(shù)泥餅厚度相匹配以保持較好的分辨宰，又不致受泥餅及極板和井壁微小貼合不緊密影響太大；(4)電扣周邊絕緣環(huán)帶寬度對(duì)儀器測(cè)量信噪比有影響。絕緣環(huán)帶愈寬，噪音愈低，信噪比愈大；(5)實(shí)驗(yàn)表明，分辨率是由電扣電極有效直徑?jīng)Q定的。所謂有效直徑是指從金屬電扣中心延伸到兩電扣電極之間絕緣環(huán)帶中點(diǎn)的兩倍。FMI、EMI、WDS三種井壁微電阻率掃描成象測(cè)井儀的儀器分辨率周向?yàn)?.2inch、垂向0.2inch(約5mm)結(jié)論一：(1)電扣越小，分辨率愈高，井壁微電阻率掃描圖象越清結(jié)論二：(1)第二排電扣在第—排電扣下，如圖1—2b所示。兩排電極中心距離是1．5倍電扣有效直徑

(2)儀器采樣數(shù)據(jù)是時(shí)間系列的。采樣是和遙測(cè)總線頻率同步的，每個(gè)電扣電極按62．5k的頻率采樣。儀器運(yùn)動(dòng)的速度用于將采樣數(shù)據(jù)從時(shí)間維轉(zhuǎn)換到深度維。速度越低，采樣密度越高。結(jié)論二：(1)第二排電扣在第—排電扣下，如圖1—2b所示。兩二、井壁微電阻率掃描成象測(cè)量的數(shù)據(jù)處理和成象兩個(gè)過(guò)程：第一個(gè)過(guò)程是將測(cè)量信息映射為井壁微電阻率圖象的成象過(guò)程；第二個(gè)過(guò)程是從新得到的井壁微電阻牢圖象中提取地層地質(zhì)特征。二、井壁微電阻率掃描成象測(cè)量的數(shù)據(jù)處理和成象兩個(gè)過(guò)程：第一過(guò)程：(1)自動(dòng)增益和最大電流校正(2)失效電扣檢測(cè)及補(bǔ)償(3)速度校正和電扣方位定位(4)均衡處理(5)電扣電流像素色彩或灰度等級(jí)刻度(6)圖象顯示第一過(guò)程：(1)自動(dòng)增益和最大電流校正第二過(guò)程

井壁微電阻率圖象代表沿井壁的地層電阻率非均質(zhì)特征變化，電阻率的變化可能是因?yàn)閹r性、孔隙結(jié)構(gòu)和泥質(zhì)含量變化所引起，沖洗帶的流體性質(zhì)、井壁不規(guī)則也存在某些影響。如果不知道巖石類型，就難于從井壁微電阻率圖象中提取有意義的信息。因此在開(kāi)始進(jìn)行有意義的地質(zhì)特征提取之前，應(yīng)對(duì)比巖心，充分掌握地下地層已知信息，綜合分析其它測(cè)并資料，實(shí)現(xiàn)對(duì)并壁微電阻率圖象的地質(zhì)刻度，確定巖性、孔隙皮和泥質(zhì)含量變化對(duì)電導(dǎo)率的影響。井壁微電阻率掃描圖象的地質(zhì)應(yīng)用正在繼續(xù)開(kāi)發(fā)，目前主要的應(yīng)用有：

(1)裂縫識(shí)別和評(píng)價(jià)；(2)進(jìn)行高分辨率薄層評(píng)價(jià)；窿)地層沉積環(huán)境分析；(4)地層層內(nèi)結(jié)構(gòu)分析和地質(zhì)構(gòu)造解釋；(5)幫助巖心定位和描述。第二過(guò)程井壁微電阻率圖象代表沿井壁的地層電阻第三節(jié)陣列感應(yīng)成象測(cè)井

第三節(jié)陣列感應(yīng)成象測(cè)井

一、感應(yīng)測(cè)井和陣列感應(yīng)測(cè)井測(cè)量原理

感應(yīng)測(cè)井是利用電磁感應(yīng)原理測(cè)量地層電導(dǎo)率，基本測(cè)量單元是雙線圈系，—個(gè)發(fā)射線圈和一個(gè)接收圈‘常規(guī)感應(yīng)測(cè)井采用復(fù)合線圈系結(jié)構(gòu)，根據(jù)電磁場(chǎng)的疊加原理，采用多個(gè)基本測(cè)量單元進(jìn)行組合，即多個(gè)發(fā)射線因和多個(gè)接收線圈進(jìn)行串聯(lián)，產(chǎn)生具有直藕信號(hào)近似為零的多個(gè)測(cè)量信號(hào)矢量疊加，實(shí)現(xiàn)硬件聚焦的效果，從而測(cè)量具有一種或兩種探側(cè)深度的地層電導(dǎo)率。一、感應(yīng)測(cè)井和陣列感應(yīng)測(cè)井測(cè)量原理

二、陣列感應(yīng)測(cè)井測(cè)量原理

斯侖貝謝公司的AIT陣列感府洲井儀器線圈系采用二線圈系結(jié)構(gòu)(一個(gè)發(fā)射，兩個(gè)接收基本單元)。它運(yùn)用了兩個(gè)雙線圈系電磁場(chǎng)疊加原理，實(shí)現(xiàn)消除直藕信號(hào)影響的目的，線圈系由八組基本接收單元組成，共用一個(gè)發(fā)射線圈，使用三種頻率同時(shí)工作，井下儀器測(cè)量多達(dá)28個(gè)原始實(shí)分量和虛分量信號(hào)，傳輸?shù)降孛娼?jīng)計(jì)算機(jī)處理，實(shí)現(xiàn)數(shù)字聚焦，得到三種縱向分辯率、五種探測(cè)深度的測(cè)井曲線(圖1—4)。為了消除井眼環(huán)境影響，也開(kāi)發(fā)出了相應(yīng)軟件，在數(shù)字聚焦處理前進(jìn)行井眼環(huán)境校正。阿特拉斯公司的多道全數(shù)字頻譜感應(yīng)測(cè)井儀器由七個(gè)接收降列組成，同樣使用二線圈系為基本測(cè)量單元，采用八種頻率工作，共測(cè)量l12個(gè)原始實(shí)分量和虛分量信號(hào)。類似地，采用軟件進(jìn)行數(shù)字聚焦和環(huán)境校正，可獲得三種縱向分辨率、六種探測(cè)深度的測(cè)井曲線。二、陣列感應(yīng)測(cè)井測(cè)量原理斯侖貝謝公司的AIT陣三、陣列感應(yīng)測(cè)井解釋1．原狀地層電阻率Rt陣列感應(yīng)測(cè)井曲線是通過(guò)對(duì)陣列測(cè)量原始信息進(jìn)行井眼環(huán)境影響校正，然后進(jìn)行優(yōu)化合成，縱向分辨匹配、徑向探測(cè)深度逐漸增大的5條計(jì)算曲線。1)縱向分辨率2)探測(cè)深度探測(cè)深度定義為徑向積分響應(yīng)函數(shù)值為50％的位置3)徑向反演三、陣列感應(yīng)測(cè)井解釋1．原狀地層電阻率Rt2．侵入描述

1)直觀解釋對(duì)同一種縱向分辨率的一組測(cè)井曲線進(jìn)行直觀解釋．在非滲透層，不同探測(cè)深度的曲線應(yīng)重合。由于這幾組不同探測(cè)深度的測(cè)井曲線都是使用相同的感應(yīng)測(cè)量原理，這就明顯優(yōu)于常規(guī)感應(yīng)與微球組合測(cè)量的效果。感應(yīng)和微球測(cè)井曲線對(duì)比時(shí)，地層的各向異性和儀器響應(yīng)引起的差異會(huì)影響解釋結(jié)果。2．侵入描述

1)直觀解釋2)徑向電阻率變化用徑向響應(yīng)函數(shù)對(duì)一織縱向分辨率匹配的陣列感應(yīng)測(cè)井曲線進(jìn)行反褶積：3)徑向侵入及徑向飽和度

4)濾液體積分析2)徑向電阻率變化在進(jìn)行上述定量分析時(shí)．必須考慮以下幾點(diǎn)限制條件：1、當(dāng)侵人帶電阻率與原狀電阻率間的反差小時(shí)，電阻率測(cè)并不能很好地反映侵人情況；2、儀器響應(yīng)是在井眼周圍各個(gè)方位上的平均值，通常實(shí)際的井眼不是圓的，地層的侵入面在井眼的各個(gè)方位上很少均勻、這些都將產(chǎn)生不對(duì)稱的侵入面；3、井眼直徑突變以及Rt、Rxo反差很大時(shí)，會(huì)使地層界面處的解釋參數(shù)產(chǎn)生假象。在進(jìn)行上述定量分析時(shí)．必須考慮以下幾點(diǎn)限第四節(jié)方位側(cè)向成象測(cè)井

第四節(jié)方位側(cè)向成象測(cè)井

一、高分辨率方位側(cè)向測(cè)井電極系HALS一、高分辨率方位側(cè)向測(cè)井電極系HALS2．高分辨率測(cè)量利用軟件聚焦法的靈活性，通過(guò)改變監(jiān)督條件，可以計(jì)算深、淺探測(cè)深度的高分辨率電阻率2．高分辨率測(cè)量3．方位電阻率4．輔助測(cè)量3．方位電阻率二、方位側(cè)向測(cè)井的應(yīng)用

方位側(cè)向測(cè)井可用于裂縫評(píng)價(jià)、薄層分析、地層非均質(zhì)性評(píng)價(jià)價(jià)等。二、方位側(cè)向測(cè)井的應(yīng)用

方位側(cè)向第五節(jié)聲波成象測(cè)井技術(shù)聲波測(cè)井按測(cè)量方式可分為兩類：折射法與反射法。傳統(tǒng)的聲速和長(zhǎng)源距聲波測(cè)并即為折射法測(cè)量，井下越聲電視測(cè)并則為反射法測(cè)量。第五節(jié)聲波成象測(cè)井技術(shù)聲波測(cè)井按測(cè)量方式可分一、超聲電視成象測(cè)井一、超聲電視成象測(cè)井成像測(cè)井系列方法ppt課件

2．測(cè)量原理超聲成象測(cè)井的聲源是圓片狀壓電陶瓷?？梢詫⒙曉吹穆晥?chǎng)看成是圓片上無(wú)限多個(gè)點(diǎn)聲源產(chǎn)生小聲場(chǎng)疊加的結(jié)果。通常定義聲壓幅度值衰減為聲軸方向聲壓幅度70％的方向的角度。這一角度對(duì)應(yīng)的波場(chǎng)寬度又稱為三分貝射束寬度，這一參數(shù)反映丁超聲成象的空間分辨率。換能器設(shè)計(jì)的原則盡可能使更多的能量匯集在—軟較小的面積內(nèi)。發(fā)射信號(hào)的性質(zhì)主要取決于換能器的直