數(shù)字電子技術(shù)

項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試

數(shù)字電子技術(shù)

項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試

項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試任務(wù)1-1門電路邏輯功能測試1.1.1與、或、非基本門電路邏輯功能測試(2課時)1.1.2復(fù)合門電路邏輯功能仿真測試(4課時)1.1.3TTL和CMOS特殊門電路邏輯功能測試

（4課時）任務(wù)1-2兩位加法器電路的設(shè)計與測試1-2-1門電路構(gòu)成的組合邏輯電路功能測試

（6課時）1-2-2門電路構(gòu)成的組合邏輯電路的設(shè)計與測試

（6課時）1-2-3兩位加法器電路的設(shè)計與測試

（2課時）項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試

在二值邏輯函數(shù)中，最基本的邏輯運算有與（AND）、或（OR）、非（NOT）三種邏輯運算。1、與運算

與運算也叫邏輯乘或邏輯與，即當(dāng)所有的條件都滿足時，事件才會發(fā)生，即“缺一不可”。

如圖1.4所示電路，兩個串聯(lián)的開關(guān)控制一盞燈就是與邏輯事例，只有開關(guān)A、B同時閉合時燈才會亮。任務(wù)1-1門電路邏輯功能測試1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【知識掃描】邏輯代數(shù)中的基本運算項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試在二值邏輯函數(shù)中，最基本的邏輯運算有與（AND

設(shè)開關(guān)閉合用“1”表示，斷開用“0”表示；燈亮用“1”表示，燈滅用“0”表示（邏輯賦值），則可得到表1-1所示的輸入輸出的邏輯關(guān)系，稱為真值表。

從表中可知，其邏輯規(guī)律服從“有0出0，全1才出1”這種與邏輯可以寫成下面的表達(dá)式：

稱為與邏輯式，這種運算稱為與運算。項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【知識掃描】邏輯代數(shù)中的基本運算設(shè)開關(guān)閉合用“1”表示，斷開用“0”表示；燈也可以用圖1.2表示與邏輯，稱為邏輯門或邏輯符號，實現(xiàn)與邏輯運算的門電路稱為與門。2、或運算或運算也叫邏輯加或邏輯或，即當(dāng)其中一個條件滿足時，事件就會發(fā)生，即“有一即可”。若有n個邏輯變量做與運算，其邏輯式可表示為項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【知識掃描】邏輯代數(shù)中的基本運算也可以用圖1.2表示與邏輯，稱為邏輯門或邏輯符號，實現(xiàn)與邏輯

用與前面相同的邏輯賦值同樣也可得到其真值表如表2.2.2所示，其邏輯規(guī)律服從“有1出1，全0才出0”。

其邏輯式為上式說明：當(dāng)邏輯變量A、B有一個為1時，邏輯函數(shù)輸出Y就為1。只有A、B全為0，Y才為0。如圖1.3所示電路，兩個并聯(lián)的開關(guān)控制一盞燈就是或邏輯實例，只要開關(guān)A、B有一個閉合時燈就會亮。1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【知識掃描】邏輯代數(shù)中的基本運算項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試用與前面相同的邏輯賦值同樣也可得到其真值表如表其邏輯門符號如圖1.4所示，實現(xiàn)或邏輯運算的門電路稱為或門.若有n個邏輯變量做或運算，其邏輯式可表示為：條件具備時，事件不發(fā)生；條件不具備時，事件發(fā)生，這種因果關(guān)系叫做邏輯非，也稱邏輯求反。3.非邏輯運算1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【知識掃描】邏輯代數(shù)中的基本運算項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試如圖1.5所示電路，一個開關(guān)控制一盞燈就是非邏輯事例，當(dāng)開關(guān)A閉合時燈就不亮。其邏輯門符號如圖1.4所示，實現(xiàn)或邏輯運算的門電路稱為或門.非邏輯運算也叫邏輯非或非運算、反相運算，即輸出變量是輸入變量的相反狀態(tài)。其邏輯式為用與前面相同的邏輯賦值同樣也可得到其真值表如表1.3所示1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【知識掃描】邏輯代數(shù)中的基本運算項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試其邏輯門符號如圖1.6所示，實現(xiàn)非邏輯運算的門電路稱為非門。非邏輯運算也叫邏輯非或非運算、反相運算，即輸出變量是輸入變量1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【器件認(rèn)知】基本門電路的邏輯符號和集成電路管腳排列項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試數(shù)字集成電路的分類方式有很多種：1.按電路邏輯功能的不同，可以分為組合邏輯電路和時序邏輯電路。2.按集成電路的大小規(guī)模不同又分為小規(guī)模集成電路（SSI）、中規(guī)模集成電路（MSI）、大規(guī)模集成電路（LSI）和超大規(guī)模集成電路（VLSI）。具體分類見表1-4。1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【器件認(rèn)知】基1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【器件認(rèn)知】基本門電路的邏輯符號和集成電路管腳排列項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試3.按電路所用器件的不同，又可分為單極性電路和雙極性電路。最常用的單極性電路是CMOS（ComplementarySymmetryMetalOxideSemiconductor）電路，最常用的雙極性電路是TTL（Transistor-Transistor-Logic）電路。集成電路封裝形式有很多種，小規(guī)模和中規(guī)模集成電路主要有雙列直插和貼片式。如圖1-10。1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【器件認(rèn)知】基1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【器件認(rèn)知】基本門電路的邏輯符號和集成電路管腳排列項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【器件認(rèn)知】基1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【工作任務(wù)1-1-1】基本門電路邏輯功能測試項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試【實驗認(rèn)知】數(shù)字電路實驗裝置簡介（一）輸入電路，如圖1-13所示，共有8路輸入，S1～S8為8路輸入開關(guān)，當(dāng)按下時則H1～H8輸出為高電平；若沒有按下時，H1～H8輸出為低電平；用該部分電路產(chǎn)生高、低電平，提供測試時數(shù)字電路所需的輸入電平。1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【工作任務(wù)1-1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【工作任務(wù)1-1-1】基本門電路邏輯功能測試項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試【實驗認(rèn)知】數(shù)字電路實驗裝置簡介（一）指示電路，如圖1-14所示，圖中共有8路指示電路，電平從HQ1～HQ8分別輸入，若輸入高電平時，發(fā)光二極管LED1～LED8亮，否則發(fā)光二極管不亮。用該電路作為數(shù)字電路的指示電路，測量數(shù)字電路中的電平高或低。（燈亮為高電平、燈滅為低電平）。1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【工作任務(wù)1-1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【工作任務(wù)1-1-1】基本門電路邏輯功能測試項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試【實驗認(rèn)知】數(shù)字電路實驗裝置簡介（一）集成電路測試工作區(qū)，如圖1-15所示，電路中共有2個集成電路插座，其中D1為14腳集成電路插座，D2為16腳集成電路插座。1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試【工作任務(wù)1-1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試【工作任務(wù)1-1-1】基本門電路邏輯功能測試1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試項目1簡單1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試【工作任務(wù)1-1-1】基本門電路邏輯功能測試1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試項目1簡單1-1-1與、或、非基本門電路邏輯功能測試項目1簡單加法器電路設(shè)計與測試【工作任務(wù)1-1-1】基本門電路邏輯功能測試74LS08邏輯功能測試、74LS32邏輯功能測試按照教材P10~P11步驟