1環(huán)境空氣氣態(tài)污染物（氨、硫化氫）連續(xù)自動監(jiān)測系統(tǒng)技術要求及檢測方法1適用范圍本標準規(guī)定了環(huán)境空氣氣態(tài)污染物（氨、硫化氫）連續(xù)自動監(jiān)測系統(tǒng)的原理與組成、技術要求、性能指標和檢測方法。本標準適用于環(huán)境空氣氣態(tài)污染物（氨、硫化氫）連續(xù)自動監(jiān)測系統(tǒng)的設計、生產和檢測。2規(guī)范性引用文件本標準引用了下列文件或其中的條款。凡是注明日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本標準。凡是未注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本標準。HJ654環(huán)境空氣氣態(tài)污染物（SO2、NO2、O3、CO）連續(xù)自動監(jiān)測系統(tǒng)技術要求及檢測方法3術語和定義下列術語和定義適用于本標準。3.1點式監(jiān)測系統(tǒng)pointmonitoringsystem在固定點上通過樣品采集單元采集環(huán)境空氣并測定空氣污染物濃度的監(jiān)測系統(tǒng)。3.2開放光程監(jiān)測系統(tǒng)openpathmonitoringsystem采用從發(fā)射端發(fā)射光束經開放環(huán)境到接收端的方法測定該光束光程上平均空氣污染物濃度的監(jiān)測系統(tǒng)。3.3參比狀態(tài)referencestate溫度為298.15K，壓力為101.325kPa時的狀態(tài)。3.4標準狀態(tài)standardstate溫度為273.15K，壓力為101.325kPa時的狀態(tài)。3.5零光程zeroopticalpath開放光程監(jiān)測系統(tǒng)處于校準狀態(tài)下，光從光源發(fā)射端到接收端的光程，遠小于實際測量時的光程，被稱為零光程。3.6等效濃度equivalentconcentration2在開放光程監(jiān)測系統(tǒng)的測量光路中放置校準池，通入標準氣體，根據測量光程與校準池長度的比例將標準氣體濃度值轉化為實際校準濃度值，該濃度為等效濃度。本標準中所有適用于開放光程監(jiān)測系統(tǒng)性能指標檢測方法的標準氣體濃度值均為等效濃度值。4系統(tǒng)原理與組成4.1系統(tǒng)原理監(jiān)測系統(tǒng)分為點式監(jiān)測系統(tǒng)和開放光程監(jiān)測系統(tǒng)。監(jiān)測原理見表1。表1監(jiān)測系統(tǒng)原理氨化學發(fā)光法/光腔衰蕩光譜法/離軸積分腔氫4.2點式監(jiān)測系統(tǒng)組成4.2.1系統(tǒng)組成點式監(jiān)測系統(tǒng)由樣品采集單元、分析儀器、數據處理單元和校準單元組成。4.2.2樣品采集單元樣品采集單元主要由采樣管路和采樣泵組成，對環(huán)境空氣樣品進行連續(xù)自動采樣。4.2.3分析儀器分析儀器對采集的環(huán)境空氣樣品中的氨和硫化氫進行測量。4.2.4數據處理單元數據處理單元對數據進行顯示、采集、處理、存儲和傳輸。4.2.5校準單元校準單元主要由零氣發(fā)生器、標準氣體及動態(tài)校準儀等組成，對分析儀器進行校準及核查。4.3開放光程監(jiān)測系統(tǒng)組成4.3.1系統(tǒng)組成開放光程監(jiān)測系統(tǒng)由分析儀器、數據處理單元和校準單元組成。4.3.2分析儀器分析儀器主要由光譜監(jiān)測單元和分析單元組成，對開放測量光路上環(huán)境空氣樣品中的氨和硫化氫進3行測量。光譜監(jiān)測單元包括光源信號發(fā)射裝置和光源信號接收裝置，發(fā)射裝置和接收裝置在同一位置時，需配置反射鏡。4.3.3數據處理單元數據處理單元對數據進行顯示、采集、處理、存儲和傳輸。4.3.4校準單元校準單元對分析儀器進行校準及核查，可采用以下兩種方法中的任一種：a）校準單元由不同長度校準池和標準氣體組成。運用等效濃度原理，通過在測量光路上架設不同長度的校準池，來等效不同濃度的標準氣體，對分析儀器進行校準及核查，結構如圖1所示。圖1校準單元結構示意圖b）校準單元由固定長度校準池、零氣發(fā)生器、標準氣體及動態(tài)校準儀組成。通過向固定長度校準池中通入不同濃度的標準氣體，對分析儀器進行校準及核查。5技術要求5.1點式監(jiān)測系統(tǒng)技術要求5.1.1外觀要求5.1.1.1監(jiān)測系統(tǒng)應具有產品銘牌，銘牌上應標有儀器名稱、型號、監(jiān)測因子、工作電壓、生產單位、出廠編號、制造日期等信息。5.1.1.2外觀應完好無損，無明顯缺陷，各零部件連接可靠，各操作鍵、按鈕靈活有效。5.1.1.3主機面板顯示清晰，字符、標識易于識別。5.1.2工作條件5.1.2.1正常工作環(huán)境條件環(huán)境溫度：20℃~30℃;相對濕度：≤85%；大氣壓：80kPa～106kPa。5.1.2.2正常工作供電電壓4供電電壓：AC220V±22V；頻率：50Hz±1Hz。5.1.3安全要求5.1.3.1絕緣電阻在環(huán)境溫度為20℃~30℃、相對濕度≤85%條件下，監(jiān)測系統(tǒng)電源端子對地或機殼的絕緣電阻不小于20MΩ。5.1.3.2絕緣強度在環(huán)境溫度為20℃~30℃、相對濕度≤85%條件下，儀器在1500V（有效值）、50Hz正弦波實驗電壓下持續(xù)1min，不應出現擊穿或飛弧現象。5.1.4功能要求5.1.4.1樣品采集單元要求5.1.4.1.1樣品采集單元一般包括兩種結構，結構示意圖參照HJ654。5.1.4.1.2樣品采集單元應連接緊密，避免漏氣。采樣總管入口應防止雨水和粗大的顆粒物進入，同時應避免鳥類和大型昆蟲進入。采樣頭的設計應保證采樣氣流不受風向影響，穩(wěn)定進入采樣總管。5.1.4.1.3樣品采集單元的制作材料，應選用不與被監(jiān)測污染物發(fā)生化學反應和不釋放有干擾物質的材料。采樣總管、采樣總管與分析儀器連接的管路（簡稱“支管”）宜為聚四氟乙烯管或內部經過惰性化處理的管路。支管外徑宜為φ1/4in（1in=2.54cm），長度宜盡可能短且不超過2m。5.1.4.1.4采樣總管內徑范圍為1.5cm～15cm，采樣氣體在采樣總管內的滯留時間應小于20s。采樣總管內的氣流應保持層流狀態(tài)，支管應設置于采樣總管的層流區(qū)域內，支管連接采樣總管時應伸向采樣總管接近中心的位置。5.1.4.1.5為了防止因室內外空氣溫度差異造成的采樣總管內壁結露，采樣總管應加裝加熱器，加熱溫度一般控制在40℃~50℃。5.1.4.1.6分析儀器入口應安裝孔徑≤5μm的聚四氟乙烯濾膜。5.1.4.1.7在不使用采樣總管時，可直接用管路采樣，采樣管路應選用不與被監(jiān)測污染物發(fā)生化學反應和不釋放有干擾物質的材料，宜為聚四氟乙烯管或內部經過惰性化處理的管路，采樣氣體滯留在采樣管路內的時間應小于20s。5.1.4.2校準單元要求5.1.4.2.1具備自動核查功能，可定期自動核查，且頻次可設置。5.1.4.2.2具備手動和自動校準功能。5.1.4.2.3零氣發(fā)生器具備除塵、除水、除油、除烴等的功能。5.1.4.3數據顯示、記錄和輸出要求5.1.4.3.1具備顯示、記錄和輸出分析儀器內部工作狀態(tài)數據和測量濃度數據的功能，不得修改和刪除，數據格式和記錄要求見附錄A。5.1.4.3.2具備體積濃度、標準狀態(tài)質量濃度和參比狀態(tài)質量濃度的切換功能。5.1.4.3.3具備數據的標記功能，應能標記維護、質控、故障或其他異常情況。5.1.4.3.4具備系統(tǒng)軟件升級自動備份功能，確保原有信息不被覆蓋。系統(tǒng)軟件具備中文界面，應能顯示軟件版本號。5.1.4.3.5具備系統(tǒng)日志記錄保存功能，日志記錄至少包含登錄操作、工作狀態(tài)、參數修改、時間修改、校準維護等信息類別，內容應包含操作權限用戶、操作時間、操作內容、數值或狀態(tài)等前后變化情況。日志不得具有修改、刪除功能。日志保存時限不得少于1年。5.1.4.4斷電恢復功能要求監(jiān)測系統(tǒng)斷電后，應能自動保存數據；恢復供電后監(jiān)測系統(tǒng)應自動啟動，并恢復正常工作狀態(tài)。5.2開放光程監(jiān)測系統(tǒng)技術要求5.2.1外觀要求5.2.2工作條件5.2.2.1室外部件正常工作環(huán)境條件環(huán)境溫度：-30℃~50℃;大氣壓：80kPa～106kPa。5.2.2.2室內部件正常工作環(huán)境條件環(huán)境溫度：20℃~30℃;相對濕度：≤85%；大氣壓：80kPa～106kPa。5.2.2.3正常工作供電電壓供電電壓：AC220V±22V；頻率：50Hz±1Hz。5.2.3安全要求安全要求見5.1.3。5.2.4功能要求5.2.4.1校準單元要求校準單元應符合以下要求：a）使用4.3.4a）方式的校準單元，應具有自動記錄測量燈譜信息的功能，且應至少配備4種不同長度的校準池，校準池應選用高透光率的材質。b）使用4.3.4b）方式的校準單元，要求見5.1.4.2。5.2.4.2數據顯示、記錄和輸出要求6數據顯示、記錄和輸出要求見5.1.4.3。5.2.4.3斷電恢復功能要求斷電恢復功能要求見5.1.4.4。6性能指標監(jiān)測系統(tǒng)測量范圍應為0nmol/mol～200nmol/mol，性能指標應滿足表1或表2要求。表1點式監(jiān)測系統(tǒng)性能指標要求7表2開放光程監(jiān)測系統(tǒng)性能指標要求7檢測方法7.1點式監(jiān)測系統(tǒng)檢測方法7.1.1零點噪聲待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入零氣，待讀數穩(wěn)定后，每2min記錄該時間段數據的平均值xi（記為1個數據），獲得至少25個數據。按公式（1）、（2）計算待測分析儀器的零點噪聲。 xix=i=1（1） n 式中：x——待測分析儀器測量值的平均值，nmol/mol；xi——待測分析儀器第i次測量值，nmol/mol；i——記錄數據的序號，i=1，2，…n；n——記錄數據的總次數，n≥25。8 xi-xn-1式中：SD0——待測分析儀器零點噪聲（標準偏差），nmol/mol；xi——待測分析儀器第i次測量值，nmol/mol； x——待測分析儀器測量值的平均值，nmol/mol；i——記錄數據的序號，i=1，2，…n；n——記錄數據的總次數，n≥25。7.1.2檢出限按公式（3）計算待測分析儀器的檢出限。IDL=2SD0（3）式中：IDL——待測分析儀器檢出限，nmol/mol；SD0——待測分析儀器零點噪聲，nmol/mol。7.1.3示值誤差待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入20%量程標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xi，然后通入零氣。重復測試6次，按公式（4）計算待測分析儀器測量值的平均值；按公式（5）計算待測分析儀器的20%量程示值誤差。將20%量程標準氣體更換為80%量程標準氣體，重復上述操作，按公式（4）、（5）計算待測分析儀器的80%量程示值誤差。 xi n式中：x——待測分析儀器測量值的平均值，nmol/mol；xi——待測分析儀器第i次測量值，nmol/mol；i——測試序號，i=1，2，…n；xsn——xs式中：RE——待測分析儀器示值誤差（相對誤差），%；x——待測分析儀器測量值的平均值，nmol/mol；xs——標準氣體濃度標稱值，nmol/mol。7.1.4精密度待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入20%量程標準氣體通入待測分析儀器，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xi，然后通入零氣。重復測試6次，按公式（6）計算待測分析儀器的20%量程精密度。將20%量程標準氣體更換為80%量程標準氣體，重復上述操作，按公式（6）計算待測分析儀器的80%量程精密度。92x-xi 2x-xi ( )x式中：RSD——待測分析儀器精密度（相對標準偏差），%；xi——待測分析儀器第i次測量值，nmol/mol； x——待測分析儀器測量值的平均值，nmol/mol；i——測試序號，i=1，2，…n；n——測試總次數，n=6。7.1.524h漂移待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入零氣，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xz,i；然后通入20%量程標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xr,i；再通入80%量程標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xs,i。通氣結束后，待測分析儀器連續(xù)運行至少24h（期間不允許任何維護和校準）后重復上述操作，分別按公式（7）、（8）、（9）計算待測分析儀器的24h零點漂移xzd,i、24h20%量程漂移xrd,i和24h80%量程漂移xsd,i，然后可對待測分析儀器進行零點和量程校準。重復測試3次，每次測試結果均應符合表1的要求。xzd,i=xz,i+1-xz,i（7）式中：xzd,i——待測分析儀器第i次的24h零點漂移，nmol/mol；xz,i——待測分析儀器第i次的零氣測量值，nmol/mol；i——測試序號，i=1，2，3。xrd,ir,i+1-xr,i（8）式中：xrd,i——待測分析儀器第i次的24h20%量程漂移，nmol/mol；xr,i——待測分析儀器第i次的20%量程標準氣體測量值。xsd,is,i+1-xs,i（9）式中：xsd,i——待測分析儀器第i次的24h80%量程漂移，nmol/mol；xs,i——待測分析儀器第i次的80%量程標準氣體測量值，nmol/mol。7.1.67d漂移待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入零氣，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xZ,i；然后通入20%量程標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xR,i；再通入80%量程標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xS,i。通氣結束后，待測分析儀器連續(xù)運行至少7d（期間不允許任何維護和校準）后重復上述操作，按公式（10）、（11）、（12）計算待測分析儀器7d零點漂移xZD,i、7d20%量程漂移xRD,i和7d80%量程漂移xSD,i。然后可對待測分析儀器進行校準和維護。重復測試3次，每次測試結果均應符合表1的要求。（10）xZD,i=xZ,i+1-xZ,（10）式中：xZD,i——待測分析儀器第i次的7d零點漂移，nmol/mol；xZ,i——待測分析儀器第i次的零氣測量值，nmol/mol；i——測試序號，i=1，2，3。xRD,i=xR,i+1-xR,i（11）式中：xRD,i——待測分析儀器第i次的7d20%量程漂移，nmol/mol；xR,i——待測分析儀器第i次的20%量程標準氣體測量值，nmol/mol。xSD,i=xS,i+1-xS,i（12）式中：xSD,i——待測分析儀器第i次的7d80%量程漂移，nmol/mol；xS,i——待測分析儀器第i次的80%量程標準氣體測量值，nmol/mol。7.1.7響應時間待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入零氣，使讀數下降至3nmol/mol以下。用動態(tài)校準儀發(fā)生滿量程標準氣體，待發(fā)生氣體濃度穩(wěn)定后，將標準氣體通入待測分析儀器，同時用秒表開始計時；當待測分析儀器讀數上升至標準氣體濃度標稱值90%時，停止計時，所用時間即為上升時間。待滿量程標準氣體讀數穩(wěn)定后，通入零氣，同時用秒表開始計時，當待測分析儀器讀數下降至滿量程標準氣體濃度標稱值10%時，停止計時，所用時間即為下降時間。響應時間每天測試1次，重復測試3d，平均值應符合表1的要求。7.1.8電壓影響待測分析儀器運行穩(wěn)定后，在正常電壓條件下，通入80%量程標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值x。調節(jié)待測分析儀器電壓高于正常電壓值10%，通入同一濃度標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xH；調節(jié)待測分析儀器電壓低于正常電壓值10%，通入同一濃度標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xL。按公式（13）計算待測分析儀器的電壓影響。式中：Δx——待測分析儀器的電壓影響（相對誤差），%；xH——待測分析儀器在高于正常電壓10%條件下的標準氣體測量值，nmol/mol；x——待測分析儀器在正常電壓條件下的標準氣體測量值，nmol/mol；xL——待測分析儀器在低于正常電壓10%條件下的標準氣體測量值，nmol/mol；R——待測分析儀器滿量程值，nmol/mol。7.1.9干擾成分影響待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入零氣，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xa,i；然后通入200nmol/mol一氧化氮（或二氧化硫）干擾氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xb,i。重復測試3次，計算平均值xa和xb，按公式（14）計算待測分析儀器干擾成分的影響IE1。待測分析儀器運行穩(wěn)定后，通入20nmol/mol氨（或硫化氫）標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xc,i；然后通入20nmol/mol氨和200nmol/mol一氧化氮（或20nmol/mol硫化氫和200nmol/mol二氧化硫）標準氣體的混合氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xd,i。重復測試3次，計算平均值xc和xd，按公式（15）計算待測分析儀器干擾成分的影響IE2。取IE1和IE2中絕對值較大者為干擾成分影響測試的結果。式中：IE1——待測分析儀器干擾成分影響（相對于通零氣時），%；xb——干擾氣體3次測量平均值，nmol/mol； xa——零氣3次測量平均值，nmol/mol；R——待測分析儀器滿量程值，nmol/mol。式中：IE2——待測分析儀器干擾成分的影響（相對于通20nmol/mol標準氣體時），%；xd——混合氣體3次測量平均值，nmol/mol； xc——標準氣體3次測量平均值，nmol/mol；R——待測分析儀器滿量程值，nmol/mol。7.1.10轉換效率轉換效率僅針對采用化學發(fā)光法原理的氨分析儀器和紫外熒光法原理的硫化氫分析儀器。針對化學發(fā)光法的待測氨分析儀器，測試前用一氧化氮標準氣體對待測氨分析儀器各測量通道（如一氧化氮測量通道、氮氧化物測量通道、氨和氮氧化物混合氣體測量通道）進行校準。校準完成后，通入160nmol/mol氨標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器氨5min數據的平均值xNH,i；然后通入160nmol/mol一氧化氮標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器一氧化氮5min數據的平均值xNO,i；最后通入零氣，使讀數下降至3nmol/mol以下。重復測試3次，按公式（16）、（17）計算待測氨分析儀器的轉換效率ηNH。ηNH3,i=ηNH,ηNH,ixNH,i——第NH,ixNO,i——第i次通一氧化氮標準氣體后待測分析儀器一氧化氮測量值，nmol/mol；i——測試序號，i=1，2，3。ηNH=NH,i式中：ηNH——待測氨分析儀器轉換效率，%；ηNH——第ηNHi——測試序號，i=1，2，3；3——測試總次數。（16）（17）針對紫外熒光法的待測硫化氫分析儀器，測試前應先將待測硫化氫分析儀器內置的二氧化硫氣體滌除器取下（若有），用二氧化硫標準氣體對待測硫化氫分析儀器各測量通道（如二氧化硫測量通道、硫化氫測量通道或二氧化硫和硫化氫混合氣體測量通道）進行校準。校準完成后，通入160nmol/mol硫化氫標準氣體，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器硫化氫5min數據的平均值xHS,i；然后將160nmol/mol二氧化硫標準氣體通入待測分析儀器，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器二氧化硫5min數據的平均值xSO,i；最后通入零氣，使讀數下降至3nmol/mol以下。重復測試3次，按公式（18）、（19）計算待測硫化氫分析儀器的轉換效率ηHS。ηH2S,i=式中：ηHS,i——第i次硫化氫測量值和二氧化硫測量值的比值，%；xHS,i——第i次通硫化氫標準氣體后待測分析儀器硫化氫測量值，nmol/mol；xSO,i——第i次通二氧化硫標準氣體后待測分析儀器二氧化硫測量值，nmol/mol；i——測試序號，i=1，2，3。ηHS=HS,i式中：ηHS——待測硫化氫分析儀器轉換效率，%；ηHS,i——第i次硫化氫測量值和二氧化硫測量值的比值，%；i——測試序號，i=1，2，3；3——測試總次數。7.1.11動態(tài)校準儀流量誤差待測動態(tài)校準儀運行穩(wěn)定后，將標準流量計串聯(lián)到動態(tài)校準儀氣路中，使動態(tài)校準儀產生流量控制器（20%～80%）滿量程流量，分別記錄動態(tài)校準儀1min流量平均值qc,i和標準流量計1min流量平均值qv,i，按公式（20）計算兩者的相對誤差；重復測試3次，按公式（21）計算動態(tài)校準儀流量誤差。式中：REq,i——第i次動態(tài)校準儀流量值和標準流量計流量值的相對誤差，%；qc,i——第i次動態(tài)校準儀流量值，L/min（或ml/min）；qv,i——第i次標準流量計流量值，L/min（或ml/min）；i——測試序號，i=1，2，3。REq=Eq,i（21）式中：RE——動態(tài)校準儀流量誤差，%；qREq,i——第i次動態(tài)校準儀流量值和標準流量計流量值的相對誤差，%；i——測試序號，i=1，2，3；3——測試總次數。7.1.12有效數據率待測分析儀器開始連續(xù)30d的運行，測試有效數據率。期間對每次維護時間、故障時間及內容進行詳細記錄。校準、維護保養(yǎng)或故障等非正常監(jiān)測期間的數據為無效數據，每小時正常監(jiān)測時長少于45min的數據為無效數據。統(tǒng)計30d內無效數據個數，按公式（22）計算有效數據率。（22）（22）式中：D——有效數據率，%；T——待測分析儀器應輸出的小時數據個數；t——無效小時數據個數。7.2開放光程監(jiān)測系統(tǒng)檢測方法7.2.1零點噪聲待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.1。7.2.2檢出限待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.2。7.2.3示值誤差待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.3。7.2.4精密度待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.4。7.2.524h漂移待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.5。7.2.67d漂移待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.6。7.2.7響應時間當校準方式為4.3.4a）中的校準方式時，檢測方法如下：待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，將滿量程標準氣體通入校準池，待校準池內氣體濃度穩(wěn)定后，將校準池放入儀器光路中，同時用秒表開始計時，待測分析儀器讀數上升至滿量程標準氣體濃度標稱值90%時，停止計時，所用時間即為上升時間。待滿量程標準氣體讀數穩(wěn)定后，迅速取下校準池，同時用秒表開始計時，當待測分析儀器讀數下降至滿量程標準氣體濃度標稱值10%時，停止計時，所用時間即為下降時間。響應時間每天測試1次，重復測試3d，平均值應符合表2的要求。當校準方式為4.3.4b）時，待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.7。7.2.8電壓影響待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，檢測方法見7.1.8。7.2.9干擾成分影響待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，運行穩(wěn)定后，將零氣通入校準池，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xa,i；然后將200nmol/mol的一氧化氮（或二氧化硫）干擾氣體通入校準池，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值xb,i。重復測試3次，計算平均值xa和xb，按公式（14）計算待測分析儀器干擾成分的影響IE1。7.2.10光源強度影響待測分析儀器處于零光程測量狀態(tài)，運行穩(wěn)定后，將80%量程標準氣體通入校準池，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值x1。在測量光路上放置消光裝置，使待測分析儀器顯示光源強度至少衰減15%，再將80%量程標準氣體通入校準池，待讀數穩(wěn)定后，記錄待測分析儀器5min數據的平均值x2。按公式（23）計算光源強度的影響。式中：IE——待測分析儀器光源強度的影響，%；x2——光源強度衰減時待測分析儀器80%量程標準氣體測量值，nmol/mol；x1——正常光源強度時待測分析儀器80%量程標準氣體測量值，nmol/mol；R——待測分析儀器滿量程值，nmol