教育站別：AgingC檢D檢LCMIINT新進(jìn)人員教育訓(xùn)練2002/091ShuyuTsaiAging簡(jiǎn)介

Aging目的：

將組裝完成的模組進(jìn)行高溫通電的測(cè)試，並以特定的pattern篩檢，將品質(zhì)較不穩(wěn)定的不良品即早篩出，以確保產(chǎn)品出貨品質(zhì)。

2002/092ShuyuTsai目前廠內(nèi)所使用的AgingType：

1.In-Line-Aging2.BatchTypeAging

Aging時(shí)間：4hrAging溫度：55℃±5℃(50℃±5℃)冷卻時(shí)間：1hr(將模組降至常溫)2002/093ShuyuTsaiIn-Line-AgingandBatchTypeAging主要差異：In-Line-Aging：

優(yōu)點(diǎn)：1.減少人員作業(yè)工時(shí)2.適合單一機(jī)種作業(yè)

缺點(diǎn)：1.成本高2.維修較不易2002/094ShuyuTsai

BatchTypeAging：優(yōu)點(diǎn)：1.機(jī)臺(tái)成本較低2.產(chǎn)品類(lèi)別更換較容易3.機(jī)臺(tái)維修較容易缺點(diǎn)：1.耗費(fèi)較多的人力與工時(shí)2.機(jī)臺(tái)較佔(zhàn)空間2002/095ShuyuTsai在Aging較常見(jiàn)的defect：1.電氣性不良：

SLineDefect、畫(huà)面異常、階調(diào)不良……等2.PANEL面內(nèi)問(wèn)題：如注入口氣泡、白光……等2002/096ShuyuTsaiC檢簡(jiǎn)介C檢目的：

LCM製程經(jīng)過(guò)高溫Aging後冷卻1hr(約降至常溫23~25℃)進(jìn)行模組出貨前的功能檢測(cè)(檢視有無(wú)電氣性異常)及品味判定(輝點(diǎn)、暗點(diǎn)、mura、異物…等)2002/097ShuyuTsaiC檢檢測(cè)條件：溫度：25±5℃溼度：25~75%檢驗(yàn)者與待檢驗(yàn)產(chǎn)品間距約35~50cm品位檢查照明度：100~200Lux(在panel表面上量側(cè))檢驗(yàn)者與待檢驗(yàn)產(chǎn)品間角度：先已正視角檢驗(yàn)，在以上(15度)下(15度)，左(45度)右(45度)視角進(jìn)一步確認(rèn)2002/098ShuyuTsai各pattern主要檢測(cè)內(nèi)容：全黑：輝點(diǎn)、線(xiàn)缺陷、纖維異物…等全白：暗點(diǎn)、異物、線(xiàn)缺陷…等灰階：階調(diào)不良、function不良、線(xiàn)缺陷…等50%Gray：mura、黑白點(diǎn)、CF不良…等Colorbar：色序誤R(G)(B)：暗點(diǎn)2002/099ShuyuTsai等級(jí)判定主要依據(jù)：文件編號(hào)：

14013018LCM產(chǎn)品分類(lèi)規(guī)格表文件編號(hào)：

14011020Monitor出貨檢查基準(zhǔn)書(shū)文件編號(hào)：14004044出貨檢查基準(zhǔn)書(shū)forFujitsu文件編號(hào)：14001036NoteBook模組出貨檢查基準(zhǔn)書(shū)2002/0910ShuyuTsai2002/0911ShuyuTsaiCASEstudy11.電氣不良分析：17“E4發(fā)現(xiàn)階調(diào)不良action：1.確認(rèn)不良現(xiàn)象：2.追查發(fā)生異常原因：發(fā)現(xiàn)有不正常的訊號(hào)，經(jīng)追查後發(fā)現(xiàn)TAB已被B/L鋁背板的毛邊刺傷。2002/0912ShuyuTsai3.追蹤B/L發(fā)生異常原因：

3-1發(fā)現(xiàn)廠內(nèi)並不會(huì)造成此不良，判定追蹤原材受入是否已有異常。3-2確認(rèn)異常來(lái)源為原材受入不良，即時(shí)通知IQC協(xié)同廠商CHECK。3-3持續(xù)追蹤廠商是否已改善、是否將此issue平行展開(kāi)至其他module。2002/0913ShuyuTsaiCASEstudy22.cell異常分析：發(fā)現(xiàn)不明muraaction：1.確認(rèn)不良現(xiàn)象：2002/0914ShuyuTsai2.確認(rèn)是否為固定位置或有panel模號(hào)相關(guān)性3.確認(rèn)LCM製程是否有可能造成相關(guān)不良4.通知前製程工程師確認(rèn)是否為前廠異常造成5.確認(rèn)異常品判定依據(jù)6.教育現(xiàn)場(chǎng)人員判定水準(zhǔn)ACDB2002/0915ShuyuTsaiD檢目的：檢驗(yàn)module於完成LCM製程後出貨前的外觀檢查，確認(rèn)產(chǎn)品的外觀是否有不良(如偏光板刮傷、鐵件刮傷、螺絲鎖附是否有欠品、標(biāo)籤是否破損….等)，並且更換出貨時(shí)所使用之硬式保護(hù)膜。