《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（gps）表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第602部分：非接觸（共聚焦色差探針）式儀器的標(biāo)稱特性gb/t33523.602-2022》詳細(xì)解讀contents目錄1范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4計量特性概述附錄A(規(guī)范性)區(qū)域表面結(jié)構(gòu)掃描儀器不同結(jié)構(gòu)的分類contents目錄附件B(資料性)一般原理附錄C(規(guī)范性)概念圖附錄D(資料性)與GPS矩陣模型的關(guān)系參考文獻(xiàn)011范圍詳細(xì)闡述了非接觸（共聚焦色差探針）式儀器的標(biāo)稱特性。提供了對該類型儀器性能評估和校準(zhǔn)的指南。制定了相關(guān)術(shù)語和定義，確保理解和應(yīng)用的一致性。1范圍022規(guī)范性引用文件01GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》：該文件規(guī)定了標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)、起草規(guī)則以及相關(guān)術(shù)語和定義，是編寫本標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)。02GB/T33523.1-2022《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第1部分：術(shù)語、定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》：該文件提供了與表面結(jié)構(gòu)相關(guān)的術(shù)語、定義以及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)的詳細(xì)說明，為理解本標(biāo)準(zhǔn)中的相關(guān)概念提供了依據(jù)。03GB/TXXXXX-XXXX（所有部分）《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）測量與檢驗》：該文件涉及產(chǎn)品幾何量的測量與檢驗方法，對于本標(biāo)準(zhǔn)中涉及的測量方法和儀器使用提供了指導(dǎo)和支持。2規(guī)范性引用文件033術(shù)語和定義03應(yīng)用廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、科研領(lǐng)域等，為產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供有力支持。01定義一種非接觸式測量儀器，利用共聚焦原理和色差技術(shù)，實現(xiàn)對物體表面形貌的高精度測量。02特性具有高分辨率、高測量精度、非接觸性等優(yōu)點，適用于各種材料和表面的測量。3術(shù)語和定義044計量特性概述計量特性是指用于描述測量結(jié)果及其質(zhì)量狀況的特性，是評價測量儀器性能的重要指標(biāo)。在本規(guī)范中，計量特性主要涉及非接觸（共聚焦色差探針）式儀器的標(biāo)稱特性，包括測量范圍、示值誤差、測量不確定度等。了解和掌握這些計量特性，對于正確選用和操作該類儀器，以及保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性具有重要意義。4計量特性概述05附錄A(規(guī)范性)區(qū)域表面結(jié)構(gòu)掃描儀器不同結(jié)構(gòu)的分類高分辨率成像共聚焦顯微測量法利用針孔排除離焦光，實現(xiàn)高分辨率的表面形貌測量。光學(xué)切片能力通過逐層掃描樣本，獲取不同深度的圖像信息，進(jìn)而重建三維表面結(jié)構(gòu)。廣泛的應(yīng)用范圍適用于各種材料的表面測量，包括金屬、非金屬、涂層等。附錄A(規(guī)范性)區(qū)域表面結(jié)構(gòu)掃描儀器不同結(jié)構(gòu)的分類06附件B(資料性)一般原理共聚焦技術(shù)利用共聚焦原理，確保測量光束在物鏡的焦點上，實現(xiàn)高精度表面形貌測量。色差探針通過探測不同波長的光在樣品表面反射后的強(qiáng)度變化，獲得表面形貌信息。光學(xué)分辨率受限于光的波長和光學(xué)系統(tǒng)的數(shù)值孔徑，決定了儀器的測量精度。附件B(資料性)一般原理07附錄C(規(guī)范性)概念圖概念圖由多個節(jié)點和連接線構(gòu)成，節(jié)點代表不同的概念，連接線則展示概念之間的邏輯關(guān)系。組成部分概念圖通常呈現(xiàn)出層次化的結(jié)構(gòu)，高層概念統(tǒng)領(lǐng)低層概念，低層概念對高層概念進(jìn)行具體化和細(xì)化。層次結(jié)構(gòu)通過圖形化的方式，概念圖能夠直觀展示復(fù)雜的概念體系，便于用戶理解和分析?？梢暬磉_(dá)附錄C(規(guī)范性)概念圖08附錄D(資料性)與GPS矩陣模型的關(guān)系GPS矩陣模型是一個多維度的框架，用于描述、理解和控制產(chǎn)品的幾何特性。定義與概述模型組成作用與意義包括公差、表面結(jié)構(gòu)、幾何要素等關(guān)鍵組成部分，共同構(gòu)成產(chǎn)品的完整幾何描述。提供統(tǒng)一的語言和工具，支持產(chǎn)品設(shè)計、制造、檢驗等全過程的幾何特性管理。030201附錄D(資料性)與GPS矩陣模型的關(guān)系09參考文獻(xiàn)123產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語、定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)GB/T1957-2006利用區(qū)域法對表面結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征的系列國