1第1部分:射線(xiàn)檢測(cè)下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適GB/T9445無(wú)損檢測(cè)人員資GB/T19348.1無(wú)損檢測(cè)工業(yè)射線(xiàn)照相膠片第1部分：工業(yè)射線(xiàn)照相膠GB/T23901.1無(wú)損檢測(cè)射線(xiàn)照相底片像質(zhì)第1部分：線(xiàn)型像質(zhì)計(jì)GB/T23910無(wú)損檢測(cè)射線(xiàn)照相檢測(cè)GB/T26141.2無(wú)損檢測(cè)射線(xiàn)照相底片數(shù)字化系統(tǒng)的質(zhì)量鑒定第2部HB6573熔模鋼鑄件用標(biāo)準(zhǔn)參考3.1w3.2d3.3工件—膠片距離objEct-tofiImb23.4射線(xiàn)源—工件距離sourcE-to-objEctdf沿射線(xiàn)束中心線(xiàn)測(cè)出的射線(xiàn)源（或焦點(diǎn)）至射線(xiàn)源側(cè)被3.5射線(xiàn)源—膠片距離sourcE-to-fiImdSFD3.6透照厚度差PEnEtrationthicknEss3.7透照厚度比ratioofmax.andmK3.83.93.10將兩張?zhí)匦灾笜?biāo)不同的膠片裝在同一暗盒內(nèi)的透照技術(shù)，或?qū)蓮堃陨咸匦灾笜?biāo)相同或不同的膠按照本文件實(shí)施射線(xiàn)檢測(cè)的人員，應(yīng)按照GB/T9445或合同各方商定后進(jìn)行資格鑒定與認(rèn)證，取得射線(xiàn)檢測(cè)相關(guān)工業(yè)門(mén)類(lèi)的資格等級(jí)證書(shū)，并由雇主或其代理對(duì)其進(jìn)行崗4.2檢測(cè)場(chǎng)所及環(huán)境條件暗室的溫度適宜，并安裝有適當(dāng)亮度的紅燈。暗室應(yīng)分為“干區(qū)”和“濕區(qū)”，“干區(qū)”用于膠評(píng)片室應(yīng)整潔、安靜、通風(fēng)良好。評(píng)片室內(nèi)應(yīng)有足夠的面積用于底片評(píng)定，評(píng)定區(qū)域內(nèi)光線(xiàn)應(yīng)暗4.3設(shè)備4.3.1射線(xiàn)裝置3重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片射線(xiàn)檢測(cè)用膠片系統(tǒng)應(yīng)符合GB/T19348.1要求，即C1～C6，C1為最高級(jí)別，C6minσ新采購(gòu)的膠片應(yīng)根據(jù)批次不同，在使用前測(cè)定膠片灰霧度，對(duì)已開(kāi)封的剩余膠片，每月應(yīng)至少抽4.3.3增感屏射線(xiàn)檢測(cè)應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏，增感屏應(yīng)符合GB/T23910的要求，增感屏表面應(yīng)平整、4.3.4像質(zhì)計(jì)重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片射線(xiàn)檢測(cè)使用絲型像質(zhì)計(jì)，其型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.1的要求，像質(zhì)計(jì)4.3.5密度計(jì)密度計(jì)的最大可測(cè)值不應(yīng)小于4.5，測(cè)量精度誤差4.3.6觀(guān)片燈4.4檢測(cè)時(shí)機(jī)在透照前，葉片表面應(yīng)去除遮蓋或混淆鑄件內(nèi)部缺陷的狀態(tài)，清除影響底片上缺陷影像辨認(rèn)的多4對(duì)于重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片射線(xiàn)檢測(cè)，一般選用A級(jí)技術(shù)。在合同要求下，可采用B級(jí)技術(shù)或部分B級(jí)技重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片包括動(dòng)葉與靜葉，所有葉片應(yīng)做100%射線(xiàn)檢測(cè)，如確有不可達(dá)區(qū)域，應(yīng)在檢測(cè)重型燃?xì)廨啓C(jī)動(dòng)葉各區(qū)域劃分及命名見(jiàn)圖1，重型燃?xì)廨啓C(jī)靜葉各區(qū)56.2透照布置應(yīng)根據(jù)重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照技術(shù)，在可實(shí)施情況下應(yīng)選用單壁透照方式，在單壁透照不能實(shí)施時(shí)可采用雙壁透照方式。重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片透照方式及布置透照厚度比（K值）為射線(xiàn)經(jīng)過(guò)厚度均勻評(píng)定區(qū)外端的斜向穿透厚度與中心束的穿透厚度6對(duì)于截面厚度變化較大的區(qū)域，為了一次透照獲得更好的可檢覆蓋率，可采用多膠片技術(shù)或雙膠6.3能量源選擇使用不高于500kV的X射線(xiàn)機(jī)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，在保證穿透力的前提下，應(yīng)采取較低的管電壓，允許的采用提高射線(xiàn)能量法檢測(cè)變截面部件時(shí)，可適當(dāng)提高管電壓。重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片射線(xiàn)檢測(cè)管電壓7A級(jí)重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片射線(xiàn)檢測(cè)應(yīng)優(yōu)先使用常規(guī)射線(xiàn)機(jī)（管電壓不超過(guò)500kV），如果符合表2透照厚6.4射線(xiàn)膠片系統(tǒng)和金屬增感屏應(yīng)根據(jù)射線(xiàn)技術(shù)等級(jí)、射線(xiàn)源類(lèi)型或能量選擇合適的膠片類(lèi)別及增感屏材料和厚度。使用膠片和w/㎜A級(jí)A級(jí)X射線(xiàn)(≤100kV） (>100kV～150kV）(>150kV～250kV）(>250kV～500kV）w≤50w＞50 -w≤100w＞100w≤100w＞100w≤100 w>300-6.5散射線(xiàn)的控制8對(duì)工件進(jìn)行透照時(shí)，可利用丸粒、補(bǔ)償液、補(bǔ)償膏、鉛板等屏蔽物對(duì)非透照區(qū)進(jìn)行遮擋，也可設(shè)采用Se75、Ir192和Co60射線(xiàn)源或存在邊緣散射時(shí)，可在工件與暗盒之間放置一個(gè)鉛質(zhì)濾光板濾除散射線(xiàn)。根據(jù)透照厚度的不同，濾光板的厚度在0.5㎜葉片射線(xiàn)檢測(cè)時(shí)，膠片暗袋背面應(yīng)貼附不小于2㎜厚的鉛板。透照時(shí)1個(gè)高度不小于10㎜，厚度不小于1.5㎜的鉛6.6射線(xiàn)源-工件距離射線(xiàn)源-工件距離的選擇取決于射線(xiàn)檢測(cè)幾何不清晰度要求，可通過(guò)允許的幾何不清晰度的最大值表4允許的最大幾何不清晰ug值>12.7～25.4>25.4～50.8>50.8～101.6>101.6fmin=d.+b························································6.7像質(zhì)計(jì)的使用通常情況下，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在葉片射線(xiàn)源側(cè)的表面，靠近被檢區(qū)的邊緣，每1個(gè)透照部位均應(yīng)放置像質(zhì)計(jì)，當(dāng)1張膠片上同時(shí)透照多個(gè)工件時(shí)，應(yīng)在其中靠近邊緣的工件上放置像質(zhì)計(jì)，線(xiàn)型像質(zhì)計(jì)的最當(dāng)無(wú)法將像質(zhì)計(jì)放置于葉片射線(xiàn)源側(cè)表面時(shí)，可將像質(zhì)計(jì)放置在材料和厚度與葉片被檢區(qū)相同的試塊上，平面尺寸不小于100㎜×100㎜，試塊盡可能靠近被檢區(qū)域，像質(zhì)計(jì)到膠片的距離不小于葉片當(dāng)無(wú)法將像質(zhì)計(jì)放置于葉片放射源側(cè)表面，且無(wú)法使用試塊時(shí)，可將像質(zhì)計(jì)放置于膠片側(cè)，但應(yīng)9每張底片均應(yīng)有像質(zhì)計(jì)影像。如果一次透照要檢測(cè)多種厚度，那么每個(gè)厚度范圍應(yīng)單獨(dú)使用像質(zhì)6.8標(biāo)記定位標(biāo)記在底片上應(yīng)明顯標(biāo)識(shí)檢測(cè)范圍，不應(yīng)影響底片評(píng)定。當(dāng)采用多張膠片對(duì)葉片被檢區(qū)一次6.9膠片處理膠片處理應(yīng)采用膠片廠(chǎng)家生產(chǎn)或推薦的沖洗配方或藥劑，按照推薦的條件進(jìn)行，以獲得選定的膠片系統(tǒng)的性能。采用自動(dòng)處理時(shí)，應(yīng)按照自動(dòng)洗片機(jī)6.10底片質(zhì)量ABAB片黑度取決于觀(guān)片燈及其最大亮度。觀(guān)片燈應(yīng)底片質(zhì)量用所發(fā)現(xiàn)的像質(zhì)計(jì)最細(xì)絲的編號(hào)或直徑描述，對(duì)于厚度均勻的區(qū)域，所發(fā)現(xiàn)的最細(xì)絲長(zhǎng)度應(yīng)為100%，對(duì)于厚度不均勻區(qū)域在底片影像上所發(fā)對(duì)于葉片射線(xiàn)檢測(cè)，采用單壁透照且像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)，其最低像對(duì)于葉片射線(xiàn)檢測(cè)，不應(yīng)將像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)，確實(shí)無(wú)法放置的，經(jīng)合同各方商定后可將其放置于膠片側(cè)，但應(yīng)至少通過(guò)一次對(duì)比試驗(yàn)來(lái)確定底片質(zhì)量，方法是在葉片射線(xiàn)源側(cè)和膠片側(cè)各放置一個(gè)透照厚度w/㎜ 4級(jí)、5級(jí)、6級(jí)，重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片各區(qū)重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片葉身流道面、進(jìn)氣邊、出氣邊、葉身與緣板轉(zhuǎn)角等關(guān)鍵位置應(yīng)取較高質(zhì)量等級(jí)，受到應(yīng)力較大的進(jìn)出氣邊及其他關(guān)鍵位置應(yīng)選取1級(jí)～2級(jí)，榫頭質(zhì)量等級(jí)不宜低于3級(jí)，葉片大厚度位重型燃?xì)廨啓C(jī)定向凝固葉片質(zhì)量等級(jí)應(yīng)高于等軸晶葉片，定向凝固葉片參考底片選取不根據(jù)穿透厚度，選擇固定的一套底片進(jìn)行等級(jí)比對(duì)，定向凝固1222223233331111442222553333654525注1:氣孔指具有氣孔形狀特征的單個(gè)缺陷；注2:收縮類(lèi)缺陷分類(lèi)圖譜請(qǐng)查閱HB6573；注3:由芯撐引起的高密度顯示不在評(píng)定范圍；注4:參考片需全尺寸進(jìn)行引用和對(duì)比，不宜選取局部進(jìn)行對(duì)比。㎜1222221113111>25.43111表8重型燃?xì)廨啓C(jī)等軸晶凝固葉片質(zhì)量分級(jí)要求3(續(xù))㎜2333331333123>25.4312334144442344233>25.4423345255353435342>25.4534256366464546453>25.46453表8重型燃?xì)廨啓C(jī)等軸晶凝固葉片質(zhì)量分級(jí)要求3(續(xù))㎜67477576657665>25.47665注1:氣孔是指按照HB6573標(biāo)準(zhǔn)定義的一種不連續(xù)性類(lèi)型；對(duì)于真空鑄件，相應(yīng)的物理缺陷是與氣孔具有相同注3:對(duì)于厚度大于25.4㎜的部分，適用25.4㎜的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)于雙壁鑄件的壁厚，兩壁厚度相加。每個(gè)參考射線(xiàn)照片應(yīng)應(yīng)用于被檢查零件的相同尺寸（1:1）的區(qū)域，并且缺陷（不連續(xù)性）的最大允許尺寸和最小允許間距與參考片上的相同。即，對(duì)于參考片內(nèi)的多個(gè)缺陷，允許間距與參考片中的相同，而對(duì)于參考片底片應(yīng)在合適的溫度、濕度等環(huán)境中存儲(chǔ)，防止底片變質(zhì)和其他損壞。如底片說(shuō)明書(shū)沒(méi)有特殊要8.2底片數(shù)字化葉片射線(xiàn)檢測(cè)底片可使用射線(xiàn)底片數(shù)字化系統(tǒng)，其數(shù)字化系統(tǒng)的檢測(cè)要求和性能按照GB/T26141射線(xiàn)檢測(cè)后，應(yīng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果及有關(guān)檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)記錄，并填寫(xiě)檢測(cè)報(bào)告，以便于任何情況下k)射線(xiàn)源種類(lèi)和焦點(diǎn)尺寸及所選用的設(shè)備；m)管電壓和管電流，或射線(xiàn)源的類(lèi)型和活度；n)曝光時(shí)間和射線(xiàn)源－膠片距離；r)合同各方商定的與本文件的差異說(shuō)明；(資料性)通常情況下，重型燃?xì)廨啓C(jī)葉片各區(qū)域透照技術(shù)見(jiàn)表A.1。重型燃?xì)廨啓C(jī)動(dòng)葉典型透照布置見(jiàn)圖A.1，重型燃?xì)廨啓C(jī)靜葉典型透照布置見(jiàn)A注2：厚度不均勻區(qū)域可采用雙膠片技術(shù)或注3：當(dāng)被檢區(qū)底片黑度變化超過(guò)像質(zhì)計(jì)所在處黑度值+30%或-15%時(shí)，則a）動(dòng)葉空心單壁透照示意ba）靜葉單壁透照示意b(資料性)22123212