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集成電路封裝與測(cè)試技術(shù)智慧樹知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年武漢職業(yè)技術(shù)學(xué)院下面選項(xiàng)中采用疊層的外圍來(lái)互連疊層芯片的互連技術(shù)是()。
答案:疊加帶載體法,焊接邊緣導(dǎo)帶法和絲焊疊層芯片法電子封裝工藝流程為:開始、____、老化篩選測(cè)試、____、老化篩選測(cè)試、____、老化篩選測(cè)試、入庫(kù)()。
答案:芯管封裝;耦合封裝;模塊封裝設(shè)置程式名稱有什么用()。
答案:確定所寫程序的產(chǎn)品型號(hào)csp封裝的芯片面積:封裝面積的比值()
答案:1:1.15DIP封裝通過(guò)其上的____可插到主板上的插槽或焊接在主板上。()。
答案:兩排引腳單芯片封裝的縮寫是()。
答案:SCP如何判斷合適的拾晶高度()。
答案:直到感應(yīng)器變成綠色雙酚類樹脂的玻璃轉(zhuǎn)化溫度為()。
答案:100~120℃盡管封裝焊料在氣密封裝中廣泛應(yīng)用,但可以加入一些合金添加劑,如銦和____,來(lái)提高強(qiáng)度或抗疲勞能力。()。
答案:銀光電子封裝主要的封裝過(guò)程有____、____及____。()。
答案:芯管封裝;器件(管芯)耦合封裝;模塊封裝光電子封裝在光通信系統(tǒng)中可分為_____、器件封裝、模塊封裝、系統(tǒng)封裝、子系統(tǒng)組裝和系統(tǒng)組裝()。
答案:芯片IC級(jí)的封裝形成凸點(diǎn)的工藝技術(shù)多種多樣,錯(cuò)誤的一項(xiàng)是()。
答案:轉(zhuǎn)移法以下不屬于PBGA封裝優(yōu)點(diǎn)的是()。
答案:對(duì)濕氣不敏感,適用于對(duì)氣密性要求和可靠性要求高的器件和封裝熱壓鍵合的優(yōu)點(diǎn)是()。
答案:鍵合工藝簡(jiǎn)單在位置設(shè)置界面點(diǎn)漿前要注意什么()。
答案:關(guān)銀漿馬達(dá)CerDIP封裝的基座和蓋板一般是用()制作的?()。
答案:陶瓷工藝熱超聲波鍵合通常使用()。
答案:金絲芯片凸點(diǎn)的類別,按凸點(diǎn)形狀分類,錯(cuò)誤的是()。
答案:圓錐形焊料傳送轉(zhuǎn)移法中有焊料印刷轉(zhuǎn)移法和焊球注入轉(zhuǎn)移傳送法,其中對(duì)焊球注入轉(zhuǎn)移傳送法的說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
答案:通過(guò)印刷的方法制作出焊球包封通過(guò)將_____和環(huán)境隔離來(lái)實(shí)現(xiàn)保護(hù)功能()。
答案:有源器件針對(duì)國(guó)際上微電子封裝技術(shù)的迅猛發(fā)展和我國(guó)十分落后的現(xiàn)狀,以下哪些對(duì)策是錯(cuò)誤的()。
答案:加大進(jìn)口,閉門造車為了進(jìn)一步減小應(yīng)力對(duì)硅片的破壞作用,可以采用()。
答案:激光切割引線鍵合技術(shù)簡(jiǎn)稱什么()。
答案:WB封裝好的元器件自鑄膜機(jī)中推出后,通常需要再施以_____的熱處理以使鑄膜材料完全硬化()。
答案:4~6h、175℃包封材料是以_____為基礎(chǔ)成分添加了各種添加劑的混合物。()。
答案:環(huán)氧樹脂在設(shè)置矩陣前的設(shè)置對(duì)點(diǎn)一與對(duì)點(diǎn)二位置為()。
答案:互為對(duì)角軍用方面,最常用的封裝方法是()。
答案:熔焊微電子封裝對(duì)芯片的_____尤為重要()。
答案:保護(hù)作用光電子封裝是_____器件、_____元器件及_____材料系統(tǒng)的集成()。
答案:光電子;電子;功能應(yīng)用任何微電子器件都由()個(gè)基本組成部分組成()。
答案:兩微電子封裝決定了電子整機(jī)系統(tǒng)的()。
答案:小型化、可靠性、成本共晶固晶的優(yōu)點(diǎn)是_____()。
答案:有效提升熱傳導(dǎo)效率:成本低下列哪一項(xiàng)不是飛邊毛刺現(xiàn)象()。
答案:膠帶毛邊WLP的加工過(guò)程決定了它的優(yōu)點(diǎn),但不包括()。
答案:引腳線電阻、電感和電熔等大包封通過(guò)將_____和封裝材料形成一體,以達(dá)到機(jī)械保護(hù)的目的()。
答案:芯片下面選項(xiàng)中不屬于三維封裝技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)的是()。
答案:制作成本較高電子封裝的發(fā)展趨勢(shì)將更輕、更?。ǎ?/p>
答案:更薄計(jì)算矩陣時(shí)應(yīng)該注意什么()。
答案:根據(jù)所給模板來(lái)靈活變化導(dǎo)電膠粘貼法的缺點(diǎn)是()。
答案:熱穩(wěn)定性不好硅片上電路層有效厚度一般為()。
答案:300um該局部加熱是為了防止對(duì)_____的破壞()。
答案:內(nèi)部元件在切割過(guò)程中,藍(lán)膜的作用是()。
答案:高頻集成電路芯片的集成度基本遵循摩爾定律變化,集成度越高,芯片功能越強(qiáng)大,對(duì)應(yīng)的____也越來(lái)越多()
答案:I/O準(zhǔn)備做點(diǎn)漿時(shí)應(yīng)該做什么()。
答案:開馬達(dá),裝銀漿,刮平對(duì)于可靠性要求嚴(yán)格的大型電子計(jì)算機(jī)等應(yīng)用,必須采用()。
答案:氣密性封裝TAB載帶的制作技術(shù)包括單層帶制作技術(shù)、雙層帶制作技術(shù)、三層帶制作技術(shù)和_____制作技術(shù)()。
答案:雙金屬層帶導(dǎo)電膠是常見的______的高分子材料聚合物。()。
答案:填充銀導(dǎo)電膠填充料是銀顆?;蜚y薄片,填充量一般在_____之間,黏著劑都是導(dǎo)電的()。
答案:75%~80%將載帶內(nèi)引線鍵合區(qū)于芯片凸點(diǎn)焊接在一起的方法主要有熱壓焊和()。
答案:熱壓再流焊硅片的厚度一般為()。
答案:900um晶圓級(jí)封裝是尺寸最小的低成本封裝技術(shù),低成本的原因不包括以下選項(xiàng)的是()。
答案:芯片制造、封裝、測(cè)量到出廠步驟分明由于包封需要高純度的聚合物,故_____的廣泛使用出現(xiàn)在氣密封裝使用后的許多年。()。
答案:非氣密性封裝常見器件封裝技術(shù)不包括()。
答案:包裝下面芯片的叫法錯(cuò)誤的是()。
答案:硅片_____是微系統(tǒng)封裝技術(shù)中十分重要的環(huán)節(jié)()。
答案:器件級(jí)封裝___技術(shù)簡(jiǎn)稱為MCM()。
答案:多芯片封裝BGA的類型有多少種?()。
答案:5種FC工藝主要工藝步驟如下,其中有誤的一步是()。
答案:第四步,使用導(dǎo)電材料填充芯片底部孔隙目前大量批生產(chǎn)所用到的主流硅片為()。
答案:8in下面不是微電子封裝的功能是()。
答案:電子封裝塑料封裝中常用的芯片粘貼方法是()。
答案:導(dǎo)電膠粘貼法TAB設(shè)備是一次性完成芯片上所有焊區(qū)連接和芯片機(jī)械固定的并行芯片互連設(shè)備,具有承片臺(tái)、熱壓頭、視覺系統(tǒng)和()。
答案:物料傳輸系統(tǒng)在熔焊中,高電流脈沖可以把局部加熱到_____℃,使封裝的蓋板或平板融化()。
答案:1000-1500最具知識(shí)經(jīng)濟(jì)特征的技術(shù)是()。
答案:IC技術(shù)光電子是光器件和電子電路互連的產(chǎn)物,連接的方式除_____連接外還有____連接()。
答案:電子線路;光通路封裝元器件的損壞大多是因氯離子存在所導(dǎo)致的_____而造成的()。
答案:腐蝕下列FCB的說(shuō)法中,錯(cuò)誤的一項(xiàng)是()。
答案:互連線長(zhǎng),互連電容,電阻和電感小硅片的背面減薄技術(shù)主要有()。
答案:其他三個(gè)都是打線鍵合技術(shù),焊區(qū)金屬一般采用()。
答案:鋁或金化學(xué)鍍法是一種不需要通電,利用強(qiáng)還原劑在化學(xué)鍍液中將預(yù)鍍的金屬離子還原成該金屬原子沉積在鍍層表面的方法。對(duì)其說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
答案:適用于多芯片共晶粘結(jié)法是利用金硅合金在含_____硅,363℃時(shí)之共晶熔合反應(yīng)而產(chǎn)生接合()。
答案:3%使用有機(jī)物材料封裝稱為包裝,通常用_____來(lái)實(shí)現(xiàn)()。
答案:低溫聚合物清模膠是____顏色()。
答案:白色開始塑封前料餅醒料最少需要_____小時(shí)()。
答案:4小時(shí)三聚氰胺清模料有幾種作用()。
答案:其他三個(gè)選項(xiàng)都對(duì)使用合格的環(huán)氧樹脂填充材料應(yīng)符合相應(yīng)要求,錯(cuò)誤的一項(xiàng)是()。
答案:固化溫度要高微電子封裝直接影響著IC本身的()。
答案:電性能、熱性能、光性能、機(jī)械性能不傷到硅片的切割方式是()。
答案:激光切割下面選項(xiàng)中不屬于多芯片組件封裝的優(yōu)點(diǎn)是()。
答案:提高抗壓能力第一個(gè)發(fā)明集成電路的國(guó)家是()。
答案:美國(guó)電子封裝是指對(duì)電路芯片進(jìn)行包裝,進(jìn)而保護(hù)電路芯片,以免其受到外界環(huán)境影響的包裝。()
答案:對(duì)電子封裝技術(shù)以高端電子產(chǎn)品制造為對(duì)象,由電子元器件再加工和連接組合以構(gòu)成系統(tǒng)、整機(jī)及合適工作環(huán)境的設(shè)計(jì)制造過(guò)程。()
答案:對(duì)關(guān)于電子封裝基片的性質(zhì),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
答案:信號(hào)傳遞快現(xiàn)有先進(jìn)封裝技術(shù)的定義為:在半導(dǎo)體開發(fā)的最后階段,將一小塊材料(硅晶芯片,邏輯和存儲(chǔ)器)包裹在支撐外殼中,以防止物理?yè)p壞和腐蝕,并允許芯片連接到電路板的工藝技術(shù)。()
答案:對(duì)電子封裝技術(shù)專業(yè)要求同學(xué)們要掌握()。
答案:電子封裝與組裝技術(shù)###電子封裝材料###電子器件的設(shè)計(jì)與制造###微細(xì)加工技術(shù)與傳統(tǒng)板級(jí)系統(tǒng)集成相比,SiP尺寸更小,成本更低,系統(tǒng)性能和集成度大大提高;與SoC相比,SiP具有開發(fā)周期短,成本低,靈活度高等優(yōu)勢(shì)。()
答案:對(duì)按照芯片組裝方式的不同,關(guān)于SiP的分類,說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
答案:4DB、2DC、2.5DD、3D使用3D封裝技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)40~50倍的成品尺寸和重量的減少。()
答案:對(duì)收縮型四邊扁平封裝的引腳中心距離比普通的四邊扁平要大,所以在封裝體的邊緣可以容納更多的引腳個(gè)數(shù)。()
答案:錯(cuò)下面不屬于QFP封裝改進(jìn)品質(zhì)的是()。
答案:PCLP封裝是把芯片裝配為最終產(chǎn)品的過(guò)程。簡(jiǎn)單說(shuō),就是把鑄造廠生產(chǎn)出來(lái)的集成電路裸片放在一塊起到承載作用的基板上,把管腳引出來(lái),然后固定包裝成為一個(gè)整體。()
答案:對(duì)因?yàn)镼FP封裝的可靠性高,且其封裝外形尺寸較小,寄生參數(shù)減小,故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。()
答案:對(duì)下列屬于BGAA形式的是()。
答案:陶瓷圓柱柵格陣列###塑料球柵陣列###陶瓷球柵陣列###載帶球柵陣列QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對(duì)設(shè)定的電性能無(wú)法調(diào)整,而BGA可以通過(guò)芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。()
答案:對(duì)下列關(guān)于BGA的特點(diǎn),說(shuō)法正確的是()。
答案:BGA引腳牢靠,不易變形###BGA引腳短,使信號(hào)路徑短,減小了引線電感和電容,增強(qiáng)了節(jié)點(diǎn)性能。###BGA適合MCM的封裝需要,有利于實(shí)現(xiàn)MCM的高密度、高性能。###明顯改善共面問(wèn)題下面關(guān)于BGA的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
答案:不需要很精密的安放設(shè)備D、封裝面積縮小下面關(guān)于PBGA器件的優(yōu)缺點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
答案:與QFP相比,會(huì)有機(jī)械損傷現(xiàn)象下列關(guān)于BGA球柵陣列的優(yōu)缺點(diǎn),說(shuō)法正確的是()。
答案:性能得到提高###可高效地進(jìn)行功率分配和信號(hào)屏蔽###I/O間距要求不太嚴(yán)格直接芯片連接技術(shù)和C4技術(shù)相同。()
答案:對(duì)通常芯片上的引出端焊盤是排列在管芯片附近的方形()。
答案:銅片為使封裝效率提高,可以部分硅片同時(shí)加工。()
答案:錯(cuò)在近十年由于材料和設(shè)備的發(fā)展,同時(shí)伴隨電子產(chǎn)品功能的日益增強(qiáng),__再次來(lái)到大眾視線()。
答案:FC技術(shù)制造和封裝工藝過(guò)程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵,制造性能主要包括()
答案:固化時(shí)間###固化溫度###聚合速率WLCSP技術(shù)最根本的優(yōu)點(diǎn)是IC到PCB之間的電感很大。()
答案:錯(cuò)濕熱機(jī)械性能包含()。
答案:吸濕膨脹###伸長(zhǎng)率###粘附強(qiáng)度###熱到率凸點(diǎn)越小,距離越短,對(duì)位越困難。()
答案:對(duì)常規(guī)芯片封裝生產(chǎn)過(guò)程包括粘裝和引線鍵合兩個(gè)工序,而倒裝芯片則合二為一。()
答案:對(duì)凸點(diǎn)主要分類有()
答案:金凸點(diǎn)###焊料凸點(diǎn)###聚合物凸點(diǎn)塑封料的機(jī)械性能包括的模量有()。
答案:彎曲強(qiáng)度###伸長(zhǎng)率###剪切模量凸點(diǎn)的制作技術(shù)有()。
答案:電鍍凸點(diǎn)###印刷凸點(diǎn)###噴射凸點(diǎn)測(cè)試滲透技術(shù)分為稱重池和隔離池。()
答案:對(duì)倒裝芯片的連接方式有()。
答案:控制塌陷芯片連接###膠粘劑連接倒裝芯片###直接芯片連接為了獲得好的性能,塑封料的電學(xué)性必須得到控制。()
答案:對(duì)膠粘劑連接倒裝芯片是用膠黏劑來(lái)代替焊料。()
答案:對(duì)UBM的形成可以采用()方法。
答案:濺射###蒸發(fā)###化學(xué)鍍###電鍍凸點(diǎn)倒裝與倒裝工藝相比其優(yōu)點(diǎn)更多。()
答案:對(duì)鍵合工藝失效,焊盤產(chǎn)生彈坑的原因有()。
答案:在Al的超聲鍵合中,絲線太硬容易導(dǎo)致彈坑的產(chǎn)生###鍵合頭運(yùn)動(dòng)到焊盤的速度太大,易造成GaAs器件出坑###球太小導(dǎo)致堅(jiān)硬的鍵合頭接觸了焊盤###過(guò)高的超聲能導(dǎo)致Si晶格點(diǎn)陣的破壞積累下列對(duì)焊接可靠性無(wú)影響的是()。
答案:燈光亮度引線鍵合的目的是將金線鍵合在晶片、框架或基板上。()
答案:對(duì)引線鍵合的參數(shù)主要包括()。
答案:鍵合時(shí)間###鍵合溫度###鍵合壓力鍵合工藝失效,,鍵合點(diǎn)尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。
答案:金屬絲拉伸錯(cuò)誤###楔通孔中部分堵塞###引線表面骯臟###金屬絲傳送角度不對(duì)根據(jù)焊點(diǎn)的形狀,引線鍵合有兩種形式,分別是()。
答案:載帶自動(dòng)鍵合###倒裝鍵合楔形鍵合是一種單一方向焊接工藝(即第二焊點(diǎn)必須對(duì)準(zhǔn)第一焊點(diǎn)的方向)。()
答案:對(duì)鍵合點(diǎn)根部容易發(fā)生微裂紋。原因可能是鍵合操作中機(jī)械疲勞,也可能是溫度循環(huán)導(dǎo)致熱應(yīng)力疲勞。()
答案:對(duì)引線鍵合的常用技術(shù)有()。
答案:超聲焊###熱聲焊###熱壓焊固晶設(shè)備在自動(dòng)固晶的過(guò)程中操作者可以在設(shè)備運(yùn)行范圍指指點(diǎn)點(diǎn)。()
答案:錯(cuò)芯片粘結(jié)工藝包括()。
答案:銀漿固化###點(diǎn)銀漿###芯片粘結(jié)固晶機(jī)銀漿臂取完銀漿應(yīng)將銀漿點(diǎn)到引線架銅板的()。
答案:正中心一般會(huì)根據(jù)實(shí)際情況對(duì)環(huán)氧樹脂進(jìn)行改性處理,改善環(huán)氧樹脂的導(dǎo)電性能、導(dǎo)熱性能等。改性方法不合適的為()。
答案:添加助燃劑下列芯片互連常用方法,說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
答案:共晶粘結(jié)固晶設(shè)備中銀漿在封裝中的作用是()。
答案:將裸片固定在引線架上###導(dǎo)電作用###散熱作用高分子膠粘結(jié)法的缺點(diǎn)為熱穩(wěn)定性不良、容易在高溫時(shí)發(fā)生劣化及引發(fā)粘著劑中有機(jī)物氣體成分泄漏而降低產(chǎn)品的可靠性,因此不適用于高可靠性需求的封裝之中。()
答案:對(duì)玻璃膠粘貼法是一種僅適用于陶瓷封裝的低成本芯片粘結(jié)技術(shù)。()
答案:對(duì)玻璃膠粘貼法可以得到無(wú)孔洞,熱穩(wěn)定性優(yōu)良,低殘余應(yīng)力與低濕氣含量的結(jié)合。()
答案:對(duì)自動(dòng)固晶機(jī)是高精度的精密設(shè)備。()
答案:對(duì)下面選項(xiàng)中硅片減薄技術(shù)正確的是()。
答案:干式拋光技術(shù)去飛邊毛刺工藝主要有:介質(zhì)去飛邊毛刺、溶劑去飛邊毛刺、水去飛邊毛刺。()
答案:對(duì)以下不屬于打碼目的的是()。
答案:芯片外觀更好看。去毛飛邊工藝指的是將芯片多余部分進(jìn)行有效的切除。()
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