GB/T18310.27—202X/IEC61300-2-21纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-27部分：試驗(yàn)灰塵（層流）opticinterconnectingdevicesandpassivec注：GB/T18309.1—2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則（IECIEC61300-3-1纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-1部外觀(guān)檢查（Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivmeasurementprocedures—Part3-1:Examinationsandmeasurements—Visualexaminatio注：GB/T18311.1—202X纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-1部分：檢查和測(cè)量外觀(guān)檢查（IEC61300-3-1:200注：GB/T18311.3—2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-3部分:檢查衰減和回波損耗變化(多路)（IEC61300-3-3:19procedures—Part3-4:Examinationsandmeasurements—Attenua注：GB/T18311.4—2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-4部分:檢查回波損耗（Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivmeasurementprocedures—Part3-6:Examinationsandmeasurements—Returnlos注：GB/T18311.6-2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-IEC61300-3-35纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-35GB/T18310.27—202X/IEC61300-2-22components—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-35:Emeasurements—Visualinspectionoffibreoptdevicesandpassivecodevicesandpassivecomponents—IECTR62572-4纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件可靠性第4部分：插座式4:Guidelinesforopticalconnectorend-faceclean被試器件(DUT)暴露于指定的灰塵濃度下的試驗(yàn)箱內(nèi)，含塵空氣在試驗(yàn)箱內(nèi)循環(huán)一段時(shí)間。應(yīng)確定不應(yīng)超過(guò)試驗(yàn)箱內(nèi)容積的30%。試驗(yàn)箱內(nèi)的含塵空氣在落到DUT之前是一個(gè)近似于層5.2灰塵5.3光學(xué)測(cè)量設(shè)備為了測(cè)量光學(xué)性能，設(shè)備和測(cè)量方法應(yīng)按IEC6130對(duì)于衰減和回波損耗的變化，設(shè)備和測(cè)量方法應(yīng)按IEC61300-3-3進(jìn)GB/T18310.27—202X/IEC61300-2-23分）和IEC62005（所有部分）規(guī)定的波長(zhǎng)下進(jìn)光纜上。光纜的松散端可與互連裝置端接，以方便與光學(xué)測(cè)量設(shè)除非相關(guān)規(guī)范另有規(guī)定，DUT應(yīng)放置在IEC應(yīng)將DUT盡可能安裝和放置在試驗(yàn)箱的中間部位。如試驗(yàn)多個(gè)DUT，為保護(hù)DUT，應(yīng)使其表面與任何光學(xué)測(cè)量的兩種可能的試驗(yàn)配置：如圖1a）所示的配置A，終端光纜的松散端位于試驗(yàn)箱外；如圖1b）所示的配置B，全部終端光纜都放入試驗(yàn)箱內(nèi)。當(dāng)終端光纜的端接互連裝置時(shí)，應(yīng)對(duì)其進(jìn)行防塵保GB/T18310.27—202X/IEC61300-2-246.4初始檢查和測(cè)量有部分）要求在試驗(yàn)過(guò)程中監(jiān)測(cè)光學(xué)性能，則應(yīng)在初始灰塵暴露和灰塵暴露期間監(jiān)測(cè)DUT的光學(xué)性能變化，如按IEC61300-3-3測(cè)量衰減和回波損耗。光學(xué)性能應(yīng)按IEC61753（所有部分）或IEC626.6初始灰塵暴露灰塵濃度控制在規(guī)定的嚴(yán)酷度。保持相對(duì)濕度小于10%。試驗(yàn)箱在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)保持上述試驗(yàn)條件（參禁止使用吹風(fēng)機(jī)或真空吸塵器清理灰塵。在進(jìn)行最終檢查和測(cè)量之前，應(yīng)將DUT置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下至少2h。在重新連接光學(xué)測(cè)量設(shè)備之前，可使量的結(jié)果和光學(xué)性能的變化應(yīng)在相關(guān)IEC61753（GB/T18310.27—202X/IEC61300-2-5部分）和IEC62005（所有部分）規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值來(lái)驗(yàn)min10.6±7.1E10.6±7.1注：性能類(lèi)別代號(hào)見(jiàn)IEC61753-1?！A(yù)處理程序（見(jiàn)6.2——試驗(yàn)條件：方向或方向的變化（見(jiàn)6.3——恢復(fù)程序（見(jiàn)6.9——初始檢查、測(cè)量和性能要求（見(jiàn)6.4——試驗(yàn)期間檢查、測(cè)量和性能要求（見(jiàn)6.5）——最終檢查、測(cè)量和性能要求（見(jiàn)6