標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 25187-2024 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述》與《GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述》相比,存在多方面的更新和改進(jìn)。這些變化主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:

首先,在術(shù)語定義部分,《GB/T 25187-2024》對(duì)某些專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了更精確的定義或調(diào)整,以更好地反映當(dāng)前技術(shù)發(fā)展水平及行業(yè)共識(shí)。例如,對(duì)于“分辨率”、“靈敏度”等關(guān)鍵概念,新版標(biāo)準(zhǔn)提供了更為詳細(xì)的解釋,并且引入了新的術(shù)語來描述近年來出現(xiàn)的新技術(shù)和方法。

其次,關(guān)于儀器性能參數(shù)的選擇,《GB/T 25187-2024》增加了更多具體指導(dǎo)原則。這包括但不限于對(duì)不同應(yīng)用場景下如何合理選擇相關(guān)參數(shù)提出了建議,以及針對(duì)特定類型樣品(如納米材料、生物樣本)測試時(shí)應(yīng)注意的問題進(jìn)行了特別說明。此外,還新增了一些反映最新科研成果和技術(shù)進(jìn)步的內(nèi)容,比如提高了對(duì)探測器響應(yīng)時(shí)間的要求,明確了數(shù)據(jù)處理軟件的功能需求等。

再者,新版標(biāo)準(zhǔn)加強(qiáng)了對(duì)實(shí)驗(yàn)條件控制的要求。它不僅強(qiáng)調(diào)了環(huán)境因素(如溫度、濕度)對(duì)結(jié)果的影響,而且詳細(xì)規(guī)定了樣品制備、儲(chǔ)存條件等方面的標(biāo)準(zhǔn)操作程序,旨在確保測試結(jié)果的一致性和可靠性。

最后,《GB/T 25187-2024》還包含了更多關(guān)于質(zhì)量保證和驗(yàn)證的信息。這部分內(nèi)容介紹了如何通過定期校準(zhǔn)、比對(duì)試驗(yàn)等方式來監(jiān)控設(shè)備狀態(tài),確保長期穩(wěn)定運(yùn)行;同時(shí),也提供了一系列用于評(píng)估系統(tǒng)性能的方法指南,幫助用戶判斷其是否滿足特定應(yīng)用的需求。

以上幾點(diǎn)概括了從2010版到2024版之間的一些主要差異,反映了該領(lǐng)域內(nèi)技術(shù)進(jìn)步和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)積累的結(jié)果。


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  • 2024-11-28 頒布
  • 2025-06-01 實(shí)施
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GB/T 25187-2024表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述_第1頁
GB/T 25187-2024表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述_第2頁
GB/T 25187-2024表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述_第3頁
GB/T 25187-2024表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述_第4頁
GB/T 25187-2024表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述_第5頁
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文檔簡介

ICS

71.040.40

CCS

G04

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T25187—2024/ISO15471:2016

代替GB/T25187—2010

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

Surfacechemicalanalysis—Augerelectronspectroscopy—Description

ofselectedinstrumentalperformanceparameters

(ISO15471:2016,IDT)

2024-11-28發(fā)布2025-06-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T25187—2024/ISO15471:2016

目次

前言

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引言

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1

范圍

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1

2

規(guī)范性引用文件

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1

3

術(shù)語和定義

···························································································

1

4

符號(hào)和縮略語

·························································································

1

5

選擇儀器性能參數(shù)的表述

············································································

1

5.1

分析方法

·························································································

1

5.2

樣品

······························································································

2

5.3

系統(tǒng)配置

·························································································

2

5.4

電子槍陰極

······················································································

2

5.5

橫向分辨和束流

·················································································

2

5.6

譜儀信號(hào)強(qiáng)度和能量分辨

········································································

3

5.7

譜儀能量標(biāo)

······················································································

3

5.8

譜儀強(qiáng)度線性

····················································································

3

5.9

譜儀響應(yīng)函數(shù)

····················································································

3

5.10

譜儀參數(shù)

························································································

3

5.11

圖像漂移

························································································

4

5.12

真空環(huán)境

························································································

4

參考文獻(xiàn)

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5

GB/T25187—2024/ISO15471:2016

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)

定起草。

本文件代替GB/T25187—2010《表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述》,與

GB/T25187—2010相比,除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外,主要技術(shù)變化如下:

─更改了噪聲測量方法2(見5.6.3,2010年版的5.6.3)。

本文件等同采用ISO15471:2016《表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述》。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。

本文件由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)提出并歸口。

本文件起草單位:廈門荷清教育咨詢有限公司、廈門大學(xué)、中國科學(xué)院化學(xué)研究所。

本文件主要起草人:岑丹霞、徐富春、李建輝、湯丁亮、劉芬、王水菊。

本文件于2010年首次發(fā)布,本次為第一次修訂。

GB/T25187—2024/ISO15471:2016

引言

全球有多家廠商生產(chǎn)俄歇電子能譜儀(AES)和掃描俄歇電子顯微鏡(SAM)。盡管每臺(tái)儀器的

AES分析方法的基本原理是相同的,但儀器的具體設(shè)計(jì)和性能說明的方式各不相同。因此,通常很難比

較不同廠商生產(chǎn)的儀器性能。本文件提供一個(gè)基本項(xiàng)目單,以使所有俄歇電子能譜儀能以共同的方式來

表述。本文件無意取代廠商的說明書,廠商的說明書可能長達(dá)30頁或更多。本文件目的是使廠商說明

書中確定的某些項(xiàng)目具有一致和明確的含義。

GB/T25187—2024/ISO15471:2016

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

1范圍

本文件規(guī)定了俄歇電子能譜儀特定性能參數(shù)的表述要求。

本文件適用于俄歇電子能譜儀的性能參數(shù)表述。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文

件,僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用

于本文件。

ISO18115?1表面化學(xué)分析詞匯第1部分:通用術(shù)語及譜學(xué)術(shù)語(Surfacechemicalanalys?

is—Vocabulary—Part1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)

注:GB/T22461.1—2023表面化學(xué)分析詞匯第1部分:通用術(shù)語及譜學(xué)術(shù)語(ISO18115?1:2013,IDT)

3術(shù)語和定義

ISO18115?1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。

4符號(hào)和縮略語

下列符號(hào)和縮略語適用于本文件。

AES:俄歇電子能譜(augerelectronspectroscopy)

俄歇電子能譜儀(augerelectronspectrometer)

FL:費(fèi)米能級(jí)(fermilevel)

FWHM:半高峰寬(fullwidt

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