ICS19.100CCSJ0432在提交反饋意見時，請將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。IDB32/TXXXX—XXXX 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語和定義 4檢測方法概要 25人員要求 36安全要求 37檢測工藝 38檢測設(shè)備和器材 39檢測準(zhǔn)備 510校準(zhǔn)與復(fù)核 711靈敏度設(shè)定 錯誤！未定義書簽。12檢測與記錄 錯誤！未定義書簽。 錯誤！未定義書簽。14檢測記錄及報告 7DB32/TXXXX—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由江蘇省特種設(shè)備安全檢驗與節(jié)能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。本文件起草單位：江蘇方天電力技術(shù)有限公司、江蘇省特種設(shè)備安全監(jiān)督檢驗研究院、南京華中檢測有限公司、武漢中科創(chuàng)新技術(shù)股份有限公司、南京市鍋爐壓力容器檢驗研究院、國家電投集團江蘇新能源有限公司、江蘇聯(lián)能電力科學(xué)研究院有限公司、蘇交控如東海上風(fēng)力發(fā)電有限公司、三峽新能源海上風(fēng)電運維江蘇有限公司、華能江蘇清潔能源分公司、揚子石化股份有限公司本文件主要起草人：馬君鵬、馬向東、余薇、代興亮、林光輝、王子成、章彬斌、蘇俊、鄭凱、周俊、曹峰、楊鋼、吳勝平、吳肖、何正東、王舒濤、楊春、潘鐵根、王馳、黃志祥、彭杰、周峰峰、戴飛、付志平、蔣良雄、趙占輝、陳金玉1DB32/TXXXX—XXXX風(fēng)電機組螺栓相控陣超聲導(dǎo)波成像檢測技術(shù)導(dǎo)則本文件規(guī)定了風(fēng)電機組螺栓相控陣柱面超聲導(dǎo)波成像檢測與缺陷評定方法。本文件適用于外徑不小于10mm且不大于100mm，長度不大于1500mm，長度與外徑比值不小于10的碳鋼及低合金鋼制在役風(fēng)電機組螺栓周向缺陷的不拆卸檢測。風(fēng)電機組其它類型和材質(zhì)的螺栓周向缺陷檢測以及役前檢測可參照執(zhí)行。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T9445無損檢測人員資格鑒定與認(rèn)證GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測GB/T12604.13無損檢測術(shù)語第13部分：陣列超聲檢測GB/T42399.1無損檢測儀器相控陣超聲設(shè)備的性能與檢驗第1部分：儀器GB/T42399.2無損檢測儀器相控陣超聲設(shè)備的性能與檢驗第2部分：探頭GB/T42399.3無損檢測儀器相控陣超聲設(shè)備的性能與檢驗第3部分：組合系統(tǒng)GB/T43480無損檢測相控陣超聲柱面成像導(dǎo)波檢測JB/T11731無損檢測超聲相控陣探頭通用技術(shù)條件3術(shù)語和定義GB/T12604.1和GB/T12604.13界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1周向線陣circumferentiallineararray同一平面上多個晶片沿周向排列形成一個圓環(huán)形（控制方向）的平面陣列。如圖1所示。圖1周向線陣2DB32/TXXXX—XXXX3.2柱面B掃描圖像cylinderBscanview以螺栓外圓周探頭1號晶片對應(yīng)位置為零點，螺栓外圓周展開長度方向為橫坐標(biāo)，螺栓軸向長度方向為縱坐標(biāo)，形成的聲場圖像，并以顏色表示超聲信號幅度的顯示方式，如圖2所示。圖2柱面B掃描圖像示意圖3.3柱面C掃描圖像cylinderCscanview通過平面投影內(nèi)部超聲信號波幅方式在與螺栓檢測端面平行的剖面所形成的聲場圖像，并以顏色表示超聲信號幅度的顯示方式，如圖3所示。圖3柱面C掃描圖像示意圖4檢測原理相控陣超聲柱面掃描是一種針對周向線陣超聲探頭的相位控制技術(shù)。該技術(shù)通過合成沿圓柱面掃描的聲束實現(xiàn)成像顯示?？v波以接近90度的入射角在圓柱側(cè)面產(chǎn)生掠射現(xiàn)象,其中部分縱波轉(zhuǎn)換為橫波,以橫波折(反)射角射向圓柱對側(cè),在對側(cè)的圓柱面又部分轉(zhuǎn)換為縱波,如此反復(fù)。這些超聲波在圓柱結(jié)構(gòu)3DB32/TXXXX—XXXX件中受圓柱面約束,沿圓柱結(jié)構(gòu)件長度方向傳導(dǎo),即超聲柱面導(dǎo)波,可實現(xiàn)遠(yuǎn)距離傳輸并用于檢測。超聲柱面導(dǎo)波遠(yuǎn)距離檢測原理，如圖4所示。圖4超聲柱面導(dǎo)波遠(yuǎn)距離檢測原理5人員要求檢測人員應(yīng)按GB/T9445的要求或者合同各方同意的體系進(jìn)行資格鑒定與認(rèn)證。檢測人員應(yīng)進(jìn)行專項培訓(xùn)，熟悉相控陣超聲導(dǎo)波成像檢測方法，了解風(fēng)電機組螺栓材料、制造和在役缺陷產(chǎn)生機理等相關(guān)知識，應(yīng)能按規(guī)定的檢測工藝要求熟練操作。6安全要求從事檢測的人員應(yīng)遵守安全工作的有關(guān)規(guī)定，當(dāng)檢測條件符合安全作業(yè)條件時，方可進(jìn)行檢測。7檢測工藝規(guī)程7.1檢測工藝規(guī)程制訂時應(yīng)考慮表1所列相關(guān)因素。相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時，應(yīng)重新編制或修訂工藝規(guī)程。表1檢測工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素1234567898檢測設(shè)備和器材4DB32/TXXXX—XXXX8.1.1儀器檢測儀器除應(yīng)滿足GB/T42399.1的要求外，還應(yīng)滿足如下要求：a)工作頻率為0.5MHz～15MHz（按-3dB測量）；b)接收激發(fā)通道不小于16/64；c)發(fā)射電壓：不小于50V；d)增益調(diào)節(jié)范圍不小于80dB，最小調(diào)節(jié)步進(jìn)不大于0.1dB；e)掃查圖像顯示至少包括A掃圖、柱面B掃描圖像、柱面C掃描圖像；f)具備全程動態(tài)聚焦功能。8.1.2探頭探頭除應(yīng)滿足GB/T42399.2的要求外，還應(yīng)滿足如下要求：a)探頭頻率范圍應(yīng)滿足檢測要求；b)采用周向線陣；c)探頭中心頻率實測平均值與標(biāo)稱頻率值誤差應(yīng)不大于10%；d)探頭-6dB相對帶寬平均值應(yīng)不小于探頭數(shù)據(jù)表中規(guī)定的相對帶寬；e)同一探頭晶片間靈敏度差值應(yīng)不大于4dB，晶片靈敏度的均勻性應(yīng)滿足均方差不大于1dB；f)探頭激發(fā)孔徑范圍內(nèi)不應(yīng)存在失效晶片。若失效晶片不可避免，則在確保檢測靈敏度滿足要求的前提下，在環(huán)陣任意1/4圓周范圍內(nèi)的失效晶片的數(shù)量不能超出激發(fā)晶片總數(shù)的15%，且不應(yīng)存在相鄰的失效晶片。8.1.3組合性能8.1.3.1檢測儀器和探頭的組合性能除應(yīng)滿足GB/T42399.3的要求外，還應(yīng)滿足如下要求：a)最大檢測聲程處，探測0.5mm人工切槽時其靈敏度余量應(yīng)不小于10dB；b)儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差應(yīng)不大于10%；8.1.3.2當(dāng)出現(xiàn)以下情況時應(yīng)測定儀器和探頭的組合性能：a)新購置的儀器和探頭；b)儀器或探頭在維修或更換主要部件后；c)檢測人員認(rèn)為有必要時。8.1.3.3每隔3個月應(yīng)按GB/T42933.1～GB/T42933.3方法對儀器、探頭及其組合系統(tǒng)進(jìn)行一次性能測試或校準(zhǔn)。8.2對比試塊8.2.1檢測系統(tǒng)調(diào)校應(yīng)采用對比試塊進(jìn)行。8.2.2螺栓對比試塊的直徑應(yīng)在被檢螺栓公稱直徑0.9倍～1.1倍范圍內(nèi)，應(yīng)選取與被檢工件聲學(xué)性能相同或相近的材料制成，對比試塊的結(jié)構(gòu)形式和表面粗糙度應(yīng)與被檢螺栓相同或相近，其長度應(yīng)不小于最大檢測聲程，該材料內(nèi)部不應(yīng)有大于或等于Φ1平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。8.2.3螺栓對比試塊人工缺陷為線切割槽，加工深度為直徑的2%，最小深度為0.5mm，寬度不大于0.5mm，各切割槽間隔120°,加工位置示意圖見圖5、圖6，加工部位見表2。在滿足靈敏度等要求時，可根據(jù)檢測需要增加對比試塊上刻槽數(shù)量或調(diào)整刻槽尺寸。5DB32/TXXXX—XXXX圖5單頭螺紋螺栓對比試塊人工缺陷加工位置示意圖圖6雙頭螺紋螺栓對比試塊人工缺陷加工位置示意圖表2對比試塊加工部位abc8.2.4在滿足靈敏度等要求時，可采用被檢螺栓工件自身作為等效對比試塊進(jìn)行靈敏度設(shè)置。8.3耦合劑8.3.1宜采用透聲性好，且不損傷檢測表面的水基耦合劑。當(dāng)環(huán)境溫度低于0℃時，耦合劑中應(yīng)添加防凍液。在保證同等耦合效果情況下，也可采用其他類型耦合劑。8.3.2檢測采用的耦合劑應(yīng)與檢測系統(tǒng)設(shè)置和校準(zhǔn)時的相同。9檢測準(zhǔn)備9.1查閱資料檢測前應(yīng)查閱被檢螺栓的相關(guān)資料,主要包括:a)名稱、規(guī)格、材質(zhì)及結(jié)構(gòu)形式等；b)歷次檢測資料。9.2檢測面準(zhǔn)備影響探頭與檢測面耦合的銹蝕、鍍鋅層凸起和污物等應(yīng)予以清除。6DB32/TXXXX—XXXX9.3探頭選擇檢測前應(yīng)根據(jù)螺栓規(guī)格尺寸選擇合適探頭:a)當(dāng)螺栓公稱直徑M＞20mm時，探頭的晶片數(shù)應(yīng)不小于64晶片；當(dāng)螺栓公稱直徑M≤20mm時，探頭晶片數(shù)應(yīng)不小于32晶片，探頭推薦頻率見表3；b)探頭直徑應(yīng)與螺栓工件匹配，探頭直徑與螺栓公稱直徑相差應(yīng)不大于10mm，探頭外徑應(yīng)為螺栓公稱直徑的0.75倍～1.2倍范圍，探頭內(nèi)徑應(yīng)為探頭外徑的0.2倍～0.5倍范圍，探頭推薦尺寸見表4；表3探頭推薦頻率探頭頻率f（MHz）表4探頭推薦尺寸10檢測設(shè)置10.1掃查范圍設(shè)置掃查范圍設(shè)置應(yīng)至少大于被檢螺栓工件長度50mm，聲束應(yīng)能覆蓋到螺栓的全部被檢區(qū)域。10.2儀器檢查每次使用前或連續(xù)工作一周以上時，應(yīng)對晶片有效性按照J(rèn)B/T11731的規(guī)定進(jìn)行測試檢查。10.3檢測靈敏度設(shè)置10.3.1利用對比試塊設(shè)置將檢測探頭放置在螺栓對比試塊相應(yīng)檢測端，探頭中心線與試塊中心重合并耦合穩(wěn)定，調(diào)整儀器掃描范圍使底波出現(xiàn)在80%時基處，閘門起點位于5%時基處，閘門終點位于螺栓底波前，調(diào)節(jié)增益使柱面B掃描圖像中三個人工刻槽信號同時清晰可見并標(biāo)定顏色色標(biāo)，且圖像中三個刻槽的A掃描信號幅度均不低于滿屏的20%，再增益6dB為檢測靈敏度。10.3.2利用螺栓工件自身設(shè)置將檢測探頭放置在待檢螺栓檢測端，探頭中心線與試塊中心重合并耦合穩(wěn)定，調(diào)節(jié)儀器掃描范圍使螺栓底波出現(xiàn)在80%時基位置處，調(diào)節(jié)增益使底波波高達(dá)到滿屏高的80%，在此基礎(chǔ)上增益12dB～18dB，使螺栓本體噪聲波（結(jié)構(gòu)噪聲除外）不高于滿屏高20%，記錄儀器增益為檢測靈敏度。若噪聲波高于滿屏高20%，應(yīng)使用對比試塊進(jìn)行調(diào)節(jié)。7DB32/TXXXX—XXXX11檢測實施11.1檢測將探頭放置在被檢螺栓檢測端面上，探頭中心線與被檢螺栓中心重合，耦合良好后開始檢測，檢測過程中保持探頭固定不動。對所有A掃描信號幅度達(dá)到或超過滿屏幕20%的相關(guān)顯示信號均應(yīng)確定其距檢測端面的位置和最大反射波幅，并通過柱面C掃描圖像確定其在螺栓的圓周位置。11.2缺陷指示長度測定缺陷指示長度測定應(yīng)采用半波高度法(-6dB法)。放置探頭找到缺陷最強反射波，將波高調(diào)整到80%屏高，圓周方向移動光標(biāo)，當(dāng)波高降到40%屏高位置時進(jìn)行標(biāo)記;反方向移動光標(biāo)至同樣使波高降到40%屏高位置并做好標(biāo)記，兩標(biāo)記間的距離即為缺陷指示長度。11.3復(fù)核11.3.1出現(xiàn)下列情形之一時，應(yīng)對儀器和探頭組合系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a)探頭、耦合劑發(fā)生改變；b)檢測人員懷疑超聲傳播速度設(shè)置或檢測靈敏度設(shè)置有變化；c)連續(xù)工作4小時以上；d)檢測工作結(jié)束時。11.3.2檢測靈敏度的復(fù)核復(fù)核時，發(fā)現(xiàn)檢測靈敏度與校準(zhǔn)時相比下降超過2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有檢測的螺栓進(jìn)行復(fù)檢。12缺陷評定檢測到最大反射波幅大于檢測靈敏度或柱面B掃圖像中超過標(biāo)定顏色色標(biāo)的顯示信號，當(dāng)其指示長度不小于5mm時，應(yīng)判定為裂紋。指示長度小于5mm的顯示信號不判定缺陷性質(zhì)，可通過拆卸方式進(jìn)行輔助判斷。13檢測記錄及報告13.1檢測記錄應(yīng)按照現(xiàn)場檢測實際情況詳細(xì)、客觀記錄檢測過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。檢測記錄至少應(yīng)包括以下內(nèi)a)記錄編號；b)檢測工藝規(guī)程名稱及編號；c)檢測對象：項目名稱、工件名稱、編號、規(guī)格尺寸、材質(zhì)、檢測部位、檢測時的表面狀態(tài)、檢測時機；d)檢測設(shè)備和器材：儀器名稱、規(guī)格型號和編號；探頭情況（類型、標(biāo)稱頻率、晶片尺寸、角度、編號等）；試塊型號；耦合劑；8DB32/TXXXX—XXXXe)檢測工藝參數(shù)：檢測范圍、掃查位置