硬件兼容性與標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程考核試卷_第1頁(yè)
硬件兼容性與標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程考核試卷_第2頁(yè)
硬件兼容性與標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程考核試卷_第3頁(yè)
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硬件兼容性與標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程考核試卷考生姓名:答題日期:得分:判卷人:

本次考核旨在評(píng)估考生對(duì)硬件兼容性及標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程的掌握程度,通過(guò)理論知識(shí)和實(shí)際案例分析,檢驗(yàn)考生在硬件測(cè)試領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)素養(yǎng)。

一、單項(xiàng)選擇題(本題共30小題,每小題0.5分,共15分,在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中,只有一項(xiàng)是符合題目要求的)

1.硬件兼容性測(cè)試的目的是什么?

A.確保硬件組件之間的物理連接

B.確保硬件組件之間的電氣連接

C.確保硬件組件與操作系統(tǒng)兼容

D.確保硬件組件與軟件應(yīng)用兼容()

2.以下哪項(xiàng)不是硬件兼容性測(cè)試的類(lèi)型?

A.硬件與硬件兼容性測(cè)試

B.硬件與軟件兼容性測(cè)試

C.硬件與網(wǎng)絡(luò)兼容性測(cè)試

D.硬件與用戶(hù)兼容性測(cè)試()

3.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程的第一步是什么?

A.設(shè)定測(cè)試目標(biāo)

B.設(shè)計(jì)測(cè)試案例

C.編寫(xiě)測(cè)試腳本

D.執(zhí)行測(cè)試()

4.在硬件兼容性測(cè)試中,以下哪項(xiàng)不是常見(jiàn)的測(cè)試環(huán)境?

A.開(kāi)發(fā)環(huán)境

B.測(cè)試環(huán)境

C.生產(chǎn)環(huán)境

D.用戶(hù)環(huán)境()

5.以下哪個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組織負(fù)責(zé)制定計(jì)算機(jī)硬件的接口標(biāo)準(zhǔn)?

A.IEEE

B.IETF

C.W3C

D.ISO()

6.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定溫度下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.溫度特性

D.電壓特性()

7.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),以下哪項(xiàng)不是測(cè)試過(guò)程中需要關(guān)注的因素?

A.硬件規(guī)格

B.軟件版本

C.操作系統(tǒng)版本

D.網(wǎng)絡(luò)速度()

8.以下哪個(gè)測(cè)試方法用于評(píng)估硬件的散熱性能?

A.溫度測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.電流測(cè)試

D.電壓測(cè)試()

9.在硬件兼容性測(cè)試中,以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的穩(wěn)定性?

A.循環(huán)測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.溫度測(cè)試

D.性能測(cè)試()

10.以下哪項(xiàng)不是硬件兼容性測(cè)試的輸出結(jié)果?

A.測(cè)試報(bào)告

B.缺陷列表

C.測(cè)試案例

D.測(cè)試腳本()

11.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的電磁兼容性?

A.靜電放電測(cè)試

B.射頻干擾測(cè)試

C.磁場(chǎng)干擾測(cè)試

D.溫度干擾測(cè)試()

12.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定電壓下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.電壓特性

D.溫度特性()

13.在硬件兼容性測(cè)試中,以下哪項(xiàng)不是測(cè)試過(guò)程中需要關(guān)注的因素?

A.硬件規(guī)格

B.軟件版本

C.操作系統(tǒng)版本

D.網(wǎng)絡(luò)帶寬()

14.以下哪個(gè)測(cè)試方法用于評(píng)估硬件的耐久性?

A.循環(huán)測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.溫度測(cè)試

D.性能測(cè)試()

15.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的電源管理性能?

A.電流測(cè)試

B.電壓測(cè)試

C.功耗測(cè)試

D.溫度測(cè)試()

16.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定頻率下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.頻率特性

D.溫度特性()

17.在硬件兼容性測(cè)試中,以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的接口性能?

A.信號(hào)完整性測(cè)試

B.熱插拔測(cè)試

C.磁場(chǎng)干擾測(cè)試

D.溫度干擾測(cè)試()

18.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定濕度下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.濕度特性

D.溫度特性()

19.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的電磁干擾性能?

A.射頻干擾測(cè)試

B.磁場(chǎng)干擾測(cè)試

C.電壓干擾測(cè)試

D.溫度干擾測(cè)試()

20.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定負(fù)載下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.負(fù)載特性

D.溫度特性()

21.在硬件兼容性測(cè)試中,以下哪項(xiàng)不是測(cè)試過(guò)程中需要關(guān)注的因素?

A.硬件規(guī)格

B.軟件版本

C.操作系統(tǒng)版本

D.硬件性能()

22.以下哪個(gè)測(cè)試方法用于評(píng)估硬件的耐高溫性能?

A.溫度測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.電流測(cè)試

D.功耗測(cè)試()

23.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的耐低溫性能?

A.溫度測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.電流測(cè)試

D.功耗測(cè)試()

24.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定壓力下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.壓力特性

D.溫度特性()

25.在硬件兼容性測(cè)試中,以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的耐沖擊性能?

A.溫度測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.電流測(cè)試

D.沖擊測(cè)試()

26.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定振動(dòng)下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.振動(dòng)特性

D.溫度特性()

27.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的耐腐蝕性能?

A.溫度測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.電流測(cè)試

D.腐蝕測(cè)試()

28.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定濕度下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.濕度特性

D.溫度特性()

29.在硬件兼容性測(cè)試中,以下哪種測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估硬件的耐鹽霧性能?

A.溫度測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.電流測(cè)試

D.鹽霧測(cè)試()

30.以下哪個(gè)術(shù)語(yǔ)用于描述硬件組件在特定光照下的性能?

A.穩(wěn)定性

B.可靠性

C.光照特性

D.溫度特性()

二、多選題(本題共20小題,每小題1分,共20分,在每小題給出的選項(xiàng)中,至少有一項(xiàng)是符合題目要求的)

1.硬件兼容性測(cè)試的目的是什么?()

A.確保硬件組件能夠正常工作

B.確保硬件組件之間的物理連接

C.確保硬件組件與軟件應(yīng)用兼容

D.確保硬件組件符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)()

2.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,以下哪些步驟是必要的?()

A.設(shè)定測(cè)試目標(biāo)

B.設(shè)計(jì)測(cè)試案例

C.編寫(xiě)測(cè)試腳本

D.執(zhí)行測(cè)試并報(bào)告結(jié)果()

3.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中需要考慮的環(huán)境因素?()

A.溫度

B.濕度

C.電磁干擾

D.電壓()

4.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中常用的測(cè)試工具?()

A.性能測(cè)試工具

B.穩(wěn)定性測(cè)試工具

C.電磁兼容性測(cè)試工具

D.電源管理測(cè)試工具()

5.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,以下哪些步驟與測(cè)試案例設(shè)計(jì)相關(guān)?()

A.確定測(cè)試用例

B.編寫(xiě)測(cè)試用例

C.設(shè)計(jì)測(cè)試場(chǎng)景

D.評(píng)估測(cè)試用例()

6.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中常見(jiàn)的測(cè)試類(lèi)型?()

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.穩(wěn)定性測(cè)試

D.安全性測(cè)試()

7.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中常見(jiàn)的測(cè)試方法?()

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.模擬測(cè)試

D.實(shí)際環(huán)境測(cè)試()

8.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,以下哪些步驟與測(cè)試環(huán)境搭建相關(guān)?()

A.確定測(cè)試環(huán)境需求

B.準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備

C.配置測(cè)試軟件

D.驗(yàn)證測(cè)試環(huán)境()

9.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中需要注意的測(cè)試結(jié)果?()

A.故障率

B.通過(guò)率

C.性能指標(biāo)

D.用戶(hù)體驗(yàn)()

10.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中可能遇到的挑戰(zhàn)?()

A.硬件組件復(fù)雜性

B.軟件版本多樣性

C.網(wǎng)絡(luò)連接問(wèn)題

D.測(cè)試資源限制()

11.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,以下哪些步驟與測(cè)試執(zhí)行相關(guān)?()

A.運(yùn)行測(cè)試用例

B.記錄測(cè)試結(jié)果

C.分析測(cè)試數(shù)據(jù)

D.生成測(cè)試報(bào)告()

12.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中可能影響測(cè)試結(jié)果的因素?()

A.硬件配置

B.軟件配置

C.網(wǎng)絡(luò)配置

D.環(huán)境條件()

13.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中常見(jiàn)的測(cè)試報(bào)告內(nèi)容?()

A.測(cè)試概述

B.測(cè)試結(jié)果

C.故障分析

D.改進(jìn)建議()

14.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,以下哪些步驟與測(cè)試維護(hù)相關(guān)?()

A.更新測(cè)試用例

B.優(yōu)化測(cè)試腳本

C.調(diào)整測(cè)試環(huán)境

D.評(píng)估測(cè)試效率()

15.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中常見(jiàn)的測(cè)試流程?()

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試設(shè)計(jì)

C.測(cè)試執(zhí)行

D.測(cè)試評(píng)估()

16.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中可能使用的測(cè)試技術(shù)?()

A.自動(dòng)化測(cè)試

B.手動(dòng)測(cè)試

C.集成測(cè)試

D.單元測(cè)試()

17.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,以下哪些步驟與測(cè)試管理相關(guān)?()

A.制定測(cè)試計(jì)劃

B.分配測(cè)試資源

C.監(jiān)控測(cè)試進(jìn)度

D.確保測(cè)試質(zhì)量()

18.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中可能遇到的常見(jiàn)問(wèn)題?()

A.硬件故障

B.軟件沖突

C.網(wǎng)絡(luò)不穩(wěn)定

D.環(huán)境因素()

19.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,以下哪些步驟與測(cè)試改進(jìn)相關(guān)?()

A.識(shí)別缺陷

B.分析原因

C.制定改進(jìn)措施

D.重新測(cè)試()

20.以下哪些是硬件兼容性測(cè)試中可能關(guān)注的長(zhǎng)期趨勢(shì)?()

A.硬件技術(shù)發(fā)展

B.軟件更新頻率

C.行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)變化

D.用戶(hù)需求演變()

三、填空題(本題共25小題,每小題1分,共25分,請(qǐng)將正確答案填到題目空白處)

1.硬件兼容性測(cè)試的第一步是______,明確測(cè)試的目標(biāo)和范圍。

2.在硬件兼容性測(cè)試中,______是確保硬件組件能夠正常工作的關(guān)鍵。

3.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,______步驟用于設(shè)計(jì)具體的測(cè)試案例。

4.硬件兼容性測(cè)試通常包括______、______和______三個(gè)主要階段。

5.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),需要準(zhǔn)備______、______和______等測(cè)試環(huán)境。

6.硬件兼容性測(cè)試中,______是評(píng)估硬件性能的指標(biāo)之一。

7.______測(cè)試是硬件兼容性測(cè)試中用于評(píng)估硬件組件之間電氣連接的測(cè)試。

8.在硬件兼容性測(cè)試中,______是確保硬件組件與操作系統(tǒng)兼容的重要步驟。

9.______測(cè)試是硬件兼容性測(cè)試中用于評(píng)估硬件在特定溫度下的性能的測(cè)試。

10.硬件兼容性測(cè)試中,______是評(píng)估硬件在特定電壓下的性能的術(shù)語(yǔ)。

11.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),需要關(guān)注______、______和______等因素。

12.______測(cè)試是硬件兼容性測(cè)試中用于評(píng)估硬件的散熱性能的測(cè)試。

13.硬件兼容性測(cè)試的輸出結(jié)果通常包括______、______和______。

14.在硬件兼容性測(cè)試中,______是評(píng)估硬件的電磁兼容性的測(cè)試方法。

15.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,______步驟用于評(píng)估測(cè)試用例的有效性。

16.硬件兼容性測(cè)試中,______是評(píng)估硬件在特定濕度下的性能的術(shù)語(yǔ)。

17.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),需要關(guān)注______、______和______等環(huán)境因素。

18.______測(cè)試是硬件兼容性測(cè)試中用于評(píng)估硬件在特定頻率下的性能的測(cè)試。

19.硬件兼容性測(cè)試中,______是評(píng)估硬件的接口性能的測(cè)試方法。

20.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),需要關(guān)注______、______和______等硬件規(guī)格。

21.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,______步驟用于確定測(cè)試目標(biāo)和范圍。

22.硬件兼容性測(cè)試中,______是評(píng)估硬件在特定光照下的性能的術(shù)語(yǔ)。

23.在進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試時(shí),需要關(guān)注______、______和______等軟件配置。

24.硬件兼容性測(cè)試中,______是評(píng)估硬件的耐久性的測(cè)試方法。

25.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,______步驟用于監(jiān)控測(cè)試進(jìn)度和確保測(cè)試質(zhì)量。

四、判斷題(本題共20小題,每題0.5分,共10分,正確的請(qǐng)?jiān)诖痤}括號(hào)中畫(huà)√,錯(cuò)誤的畫(huà)×)

1.硬件兼容性測(cè)試只關(guān)注硬件組件之間的連接,而不考慮軟件因素。()

2.在標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)該在測(cè)試執(zhí)行之后進(jìn)行。()

3.硬件兼容性測(cè)試可以完全自動(dòng)化,不需要人工干預(yù)。()

4.溫度測(cè)試是評(píng)估硬件在高溫環(huán)境下的性能,而不是在低溫環(huán)境下的性能。()

5.電磁兼容性測(cè)試是評(píng)估硬件對(duì)電磁干擾的抵抗能力。()

6.硬件兼容性測(cè)試的結(jié)果可以完全通過(guò)軟件來(lái)評(píng)估。()

7.硬件兼容性測(cè)試中,穩(wěn)定性測(cè)試是評(píng)估硬件在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行下的性能。()

8.硬件兼容性測(cè)試通常不需要考慮操作系統(tǒng)版本的影響。()

9.在硬件兼容性測(cè)試中,電源管理性能的測(cè)試是評(píng)估硬件的節(jié)能效果。()

10.硬件兼容性測(cè)試的結(jié)果可以直接用于確定產(chǎn)品的市場(chǎng)定位。()

11.硬件兼容性測(cè)試中,信號(hào)完整性測(cè)試是評(píng)估硬件信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。()

12.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,測(cè)試環(huán)境搭建應(yīng)該在測(cè)試用例設(shè)計(jì)之后進(jìn)行。()

13.硬件兼容性測(cè)試中,耐高溫性能的測(cè)試是在高溫環(huán)境下進(jìn)行的。()

14.硬件兼容性測(cè)試的結(jié)果可以完全通過(guò)物理測(cè)試得出。()

15.電磁干擾測(cè)試是評(píng)估硬件對(duì)其他電子設(shè)備的干擾程度。()

16.硬件兼容性測(cè)試中,耐久性測(cè)試是評(píng)估硬件在重復(fù)使用中的性能變化。()

17.標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程中,測(cè)試計(jì)劃應(yīng)該在測(cè)試用例設(shè)計(jì)之前完成。()

18.硬件兼容性測(cè)試中,軟件沖突測(cè)試是評(píng)估不同軟件版本之間的兼容性。()

19.硬件兼容性測(cè)試的結(jié)果應(yīng)該包括所有測(cè)試用例的執(zhí)行情況。()

20.硬件兼容性測(cè)試中,用戶(hù)環(huán)境測(cè)試是評(píng)估硬件在用戶(hù)日常使用中的表現(xiàn)。()

五、主觀(guān)題(本題共4小題,每題5分,共20分)

1.請(qǐng)?jiān)敿?xì)描述硬件兼容性測(cè)試的基本流程,并解釋每個(gè)步驟的重要性。

2.結(jié)合實(shí)際案例,說(shuō)明在硬件兼容性測(cè)試中如何處理常見(jiàn)的兼容性問(wèn)題,并闡述解決這些問(wèn)題的方法和策略。

3.討論標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試流程在硬件兼容性測(cè)試中的應(yīng)用,以及如何通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化流程提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。

4.分析硬件兼容性測(cè)試的未來(lái)發(fā)展趨勢(shì),包括技術(shù)進(jìn)步對(duì)測(cè)試流程的影響以及可能出現(xiàn)的新挑戰(zhàn)。

六、案例題(本題共2小題,每題5分,共10分)

1.案例題:某公司開(kāi)發(fā)了一款新型筆記本電腦,但在市場(chǎng)推廣前需要進(jìn)行硬件兼容性測(cè)試。請(qǐng)根據(jù)以下信息,設(shè)計(jì)一個(gè)硬件兼容性測(cè)試計(jì)劃,并說(shuō)明測(cè)試步驟和預(yù)期結(jié)果。

信息:

-筆記本電腦采用最新的處理器和顯卡

-預(yù)計(jì)運(yùn)行多種操作系統(tǒng),包括Windows10和macOS

-筆記本電腦需支持多種外部設(shè)備,如USB、HDMI和藍(lán)牙

-筆記本電腦需在多種網(wǎng)絡(luò)環(huán)境下穩(wěn)定工作

2.案例題:一家電子產(chǎn)品制造商遇到了一個(gè)硬件兼容性問(wèn)題,用戶(hù)報(bào)告稱(chēng)在使用特定型號(hào)的顯示器時(shí),電腦的圖形顯示不穩(wěn)定。請(qǐng)根據(jù)以下信息,分析可能的原因,并提出解決方案。

信息:

-顯示器為高清液晶顯示器,符合市場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)

-電腦主板支持多種顯示接口,包括VGA、DVI和HDMI

-電腦操作系統(tǒng)為Windows10,所有驅(qū)動(dòng)程序均為最新版本

-用戶(hù)使用的是隨機(jī)附帶的視頻線(xiàn)纜,未進(jìn)行更換或檢查

標(biāo)準(zhǔn)答案

一、單項(xiàng)選擇題

1.C

2.D

3.A

4.D

5.A

6.C

7.D

8.C

9.A

10.C

11.B

12.A

13.B

14.B

15.A

16.C

17.B

18.D

19.A

20.B

21.D

22.A

23.A

24.C

25.B

26.D

27.D

28.C

29.D

30.C

二、多選題

1.ABCD

2.ABCD

3.ABCD

4.ABCD

5.ABC

6.ABCD

7.ABCD

8.ABCD

9.ABCD

10.ABCD

11.ABCD

12.ABCD

13.ABCD

14.ABCD

15.ABCD

16.ABCD

17.ABCD

18.ABCD

19.ABCD

20.ABCD

三、填空題

1.設(shè)定測(cè)試目標(biāo)

2.確保硬件組件能夠正常工作

3.設(shè)計(jì)測(cè)試案例

4.確保硬件組件之間的電氣連接、確保硬件組件與軟件應(yīng)用兼容、確保硬件組件符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

5.測(cè)試設(shè)備、測(cè)試軟件、測(cè)試環(huán)境

6.性能

7.信號(hào)完整性

8.確保硬件組件與操作系統(tǒng)兼容

9.溫度

10.電壓特性

11.硬件規(guī)格、軟件版本、操作系統(tǒng)版本

12.溫度測(cè)試

13.測(cè)試報(bào)告、缺陷列表、測(cè)試案例

14.射頻干擾測(cè)試

15.評(píng)估測(cè)試用例的有效性

16.濕度特性

17.溫度、濕度、電磁干擾

18.頻率特性

19.信號(hào)完整性測(cè)試

20.硬件規(guī)格、軟件版本、操作系統(tǒng)版本

21.設(shè)定測(cè)試目標(biāo)和范圍

22.光照特性

23.溫度、濕度、電磁干擾

2

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