集成電路的選用、代換與檢測(cè)陳學(xué)平2024-09-17

01.3.1集成電路的選用與代換02.5.2集成電路的檢測(cè)目錄01ONE3.1集成電路的選用與代換

集成電路的選用在選用某種類(lèi)型的集成電路之前，應(yīng)先認(rèn)真閱讀產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)或有關(guān)資料，全面了解該集成電路的功能、電氣參數(shù)、外形封裝（包括引腳分布情況）及相關(guān)外圍電路。絕對(duì)不允許集成電路的使用環(huán)境、參數(shù)等指標(biāo)超過(guò)廠(chǎng)家所規(guī)定的極限參數(shù)。選用集成電路時(shí)，還應(yīng)仔細(xì)觀察其產(chǎn)品型號(hào)是否清晰，外形封裝是否規(guī)范等，以免購(gòu)到假貨。

集成電路的代換直接代換集成電路損壞后，應(yīng)優(yōu)先選用與其規(guī)格、型號(hào)完全相同的集成電路來(lái)直接更換。不可憑經(jīng)驗(yàn)或僅因引腳數(shù)、外觀形狀等相同便盲目直接代換。

集成電路的代換間接代換在無(wú)可直接代換集成電路的情況下，也可以用與原集成電路的封裝形式、內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)、主要參數(shù)等相同，只是個(gè)別或部分引腳功能排列不同的集成電路來(lái)間接代換（通過(guò)改變引腳），做應(yīng)急處理。02ONE5.2集成電路的檢測(cè)

常用的檢測(cè)方法集成電路常用的檢測(cè)方法有在線(xiàn)測(cè)量法、非在線(xiàn)測(cè)量法和代換法。

常用的檢測(cè)方法在線(xiàn)測(cè)量法在線(xiàn)測(cè)量法是利用電壓測(cè)量法、電阻測(cè)量法及電流測(cè)量法等，通過(guò)在電路上測(cè)量集成電路的各引腳電壓值、電阻值和電流值是否正常，來(lái)判斷該集成電路是否損壞。①集成電路的電阻測(cè)量法。集成電路的電阻測(cè)量法分為在線(xiàn)測(cè)量和非在線(xiàn)測(cè)量，由于集成電路非在路電阻測(cè)量法不受外圍電路元器件的制約，因此是檢測(cè)集成電路好壞的常用方法。集成電路非在路電阻測(cè)量法是指集成電路在完全與外圍電路脫焊的狀態(tài)下，用萬(wàn)用表電阻擋測(cè)量各引腳相對(duì)于接地引腳的正、反向電阻值，然后與正常值（可查閱相關(guān)資料）相比較，或結(jié)合內(nèi)部電路對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析，以判斷集成電路是否正常。一般凡阻值差別較大的引腳，很可能是其內(nèi)部相應(yīng)的電路已經(jīng)損壞。②集成電路直流電壓測(cè)量法。這是一種判斷集成電路有無(wú)故障最常用的方法，具有簡(jiǎn)捷、迅速、有效的特點(diǎn)。下面結(jié)合彩色電視機(jī)有關(guān)電路，具體介紹測(cè)量方法和注意事項(xiàng)。

常用的檢測(cè)方法非在線(xiàn)測(cè)量法非在線(xiàn)測(cè)量法是在集成電路未焊入電路時(shí)，通過(guò)測(cè)量其各引腳之間的直流電阻值與已知正常同型號(hào)集成電路各引腳之間的直流電阻值進(jìn)行對(duì)比，以確定其是否正常。

常用的檢測(cè)方法代換法代換法是用已知完好的同型號(hào)、同規(guī)格集成電路來(lái)代換被測(cè)集成電路，可以判斷出該集成電路是否損壞。

常用集成電路的檢測(cè)微處理器集成電路的檢測(cè)微處理器集成電路的關(guān)鍵測(cè)試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號(hào)輸入端、XOUT晶振信號(hào)輸出端及其他各線(xiàn)輸入、輸出端。不同型號(hào)微處理器的RESET復(fù)位電壓也不相同，有的是低電平復(fù)位，即在開(kāi)機(jī)瞬間為低電平，復(fù)位后維持高電平；有的是高電平復(fù)位，即在開(kāi)機(jī)瞬間為高電平，復(fù)位后維持低電平。

常用集成電路的檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源集成電路的檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源集成電路的關(guān)鍵腳電壓是電源端（VCC）、激勵(lì)脈沖輸出端、電壓檢測(cè)輸入端、電流檢測(cè)輸入端。測(cè)量各引腳對(duì)地的電壓值和電阻值時(shí)，若與正常值相差較大，在其外圍元器件正常的情況下，可以確定是該集成電路已損壞。內(nèi)置大功率開(kāi)關(guān)管的厚膜集成電路，還可通過(guò)測(cè)量開(kāi)關(guān)管C、B、E極之間的正、反向電阻值，來(lái)判斷開(kāi)關(guān)管是否正常。

常用集成電路的檢測(cè)音頻功放集成電路的檢測(cè)對(duì)引起無(wú)聲故障的音頻功放集成電路，測(cè)量其電源電壓正常時(shí)，可用信號(hào)干擾法來(lái)檢查。測(cè)量時(shí)，萬(wàn)用表應(yīng)置于R×1擋，將紅表筆接地，用黑表筆去點(diǎn)觸音頻輸入端，正常時(shí)揚(yáng)聲器中應(yīng)有較強(qiáng)的“喀、喀”聲。

常用集成電路的檢測(cè)運(yùn)算放大器集成電路的檢測(cè)用萬(wàn)用表直流電壓擋，測(cè)量運(yùn)算放大器輸出端與負(fù)電源端之間的電壓值（在靜態(tài)時(shí)電壓值較高）。用手持金屬鑷子依次點(diǎn)觸運(yùn)算放大器的兩個(gè)輸入端（加入干擾信號(hào)），若萬(wàn)用表表針有較大幅度的擺動(dòng)，則說(shuō)明該運(yùn)算放大器完好；若萬(wàn)用表表針不動(dòng)，則說(shuō)明該運(yùn)算放大器已損壞。

常用集成電路的檢測(cè)時(shí)基集成電路的檢測(cè)用如圖10-16所示的測(cè)試電路來(lái)檢測(cè)時(shí)基集成電路的好壞。測(cè)試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電流、電源開(kāi)關(guān)S和8引腳IC插座組成。將時(shí)基集成電路（例如NE555）插入IC插座后，按下電源開(kāi)關(guān)S，若被測(cè)時(shí)基集