計(jì)算機(jī)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)控制試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的基本類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.性能測(cè)試

答案：D

2.在軟件測(cè)試過程中，下列哪項(xiàng)不屬于測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.比較測(cè)試

D.壓力測(cè)試

答案：C

3.以下哪個(gè)工具不是用于自動(dòng)化測(cè)試的？

A.Selenium

B.QTP

C.JMeter

D.Visio

答案：D

4.在軟件測(cè)試過程中，以下哪項(xiàng)不是測(cè)試用例的屬性？

A.測(cè)試輸入

B.預(yù)期結(jié)果

C.測(cè)試環(huán)境

D.測(cè)試腳本

答案：D

5.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的生命周期？

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)

C.編碼

D.測(cè)試

答案：C

6.在軟件測(cè)試過程中，以下哪個(gè)階段不屬于測(cè)試階段？

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)

C.測(cè)試執(zhí)行

D.需求評(píng)審

答案：D

7.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的缺陷分類？

A.功能缺陷

B.性能缺陷

C.設(shè)計(jì)缺陷

D.編碼缺陷

答案：D

8.在軟件測(cè)試過程中，以下哪個(gè)不是測(cè)試報(bào)告的內(nèi)容？

A.缺陷列表

B.測(cè)試用例執(zhí)行情況

C.項(xiàng)目進(jìn)度

D.項(xiàng)目預(yù)算

答案：D

9.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的測(cè)試環(huán)境？

A.硬件環(huán)境

B.軟件環(huán)境

C.網(wǎng)絡(luò)環(huán)境

D.測(cè)試人員

答案：D

10.在軟件測(cè)試過程中，以下哪個(gè)不是測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)？

A.高

B.中

C.低

D.必須修復(fù)

答案：D

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.發(fā)現(xiàn)軟件中的錯(cuò)誤

B.驗(yàn)證軟件的功能符合需求

C.優(yōu)化軟件的性能

D.評(píng)估軟件的質(zhì)量

答案：ABCD

2.軟件測(cè)試的常用類型包括哪些？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

答案：ABCD

3.以下哪些是軟件測(cè)試的文檔？

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試用例

C.缺陷報(bào)告

D.測(cè)試報(bào)告

答案：ABCD

4.以下哪些是測(cè)試用例設(shè)計(jì)的關(guān)鍵因素？

A.輸入數(shù)據(jù)

B.輸出數(shù)據(jù)

C.預(yù)期結(jié)果

D.測(cè)試步驟

答案：ABCD

5.在軟件測(cè)試過程中，以下哪些是測(cè)試管理工具？

A.JIRA

B.Bugzilla

C.Trello

D.Confluence

答案：ABCD

6.以下哪些是軟件測(cè)試的缺陷類型？

A.功能性缺陷

B.性能缺陷

C.穩(wěn)定性缺陷

D.用戶體驗(yàn)缺陷

答案：ABCD

7.軟件測(cè)試的自動(dòng)化工具主要包括哪些？

A.Selenium

B.QTP

C.JMeter

D.LoadRunner

答案：ABCD

8.以下哪些是軟件測(cè)試的測(cè)試階段？

A.測(cè)試計(jì)劃階段

B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)階段

C.測(cè)試執(zhí)行階段

D.測(cè)試評(píng)估階段

答案：ABCD

9.軟件測(cè)試的測(cè)試環(huán)境包括哪些方面？

A.硬件配置

B.軟件配置

C.網(wǎng)絡(luò)配置

D.測(cè)試人員配置

答案：ABC

10.以下哪些是軟件測(cè)試的風(fēng)險(xiǎn)？

A.缺陷漏報(bào)

B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)不完善

C.測(cè)試資源不足

D.項(xiàng)目進(jìn)度延誤

答案：ABCD

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試是軟件開發(fā)的最后一步。（）

答案：×

2.單元測(cè)試和集成測(cè)試是軟件測(cè)試的兩個(gè)獨(dú)立階段。（）

答案：√

3.測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)越高，其重要性就越低。（）

答案：×

4.性能測(cè)試是在軟件系統(tǒng)交付用戶使用后進(jìn)行的測(cè)試。（）

答案：×

5.軟件測(cè)試過程中，測(cè)試用例的覆蓋率越高，軟件質(zhì)量就越好。（）

答案：×

6.缺陷報(bào)告中的優(yōu)先級(jí)分為高、中、低，優(yōu)先級(jí)越高，修復(fù)的時(shí)間越長(zhǎng)。（）

答案：×

7.軟件測(cè)試的目的是為了證明軟件是正確的。（）

答案：×

8.自動(dòng)化測(cè)試可以完全替代手工測(cè)試。（）

答案：×

9.軟件測(cè)試過程中，測(cè)試用例的設(shè)計(jì)應(yīng)盡量覆蓋所有可能的輸入組合。（）

答案：√

10.測(cè)試報(bào)告只包含測(cè)試結(jié)果，不包括測(cè)試過程中的發(fā)現(xiàn)和結(jié)論。（）

答案：×

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的生命周期及其主要階段。

答案：軟件測(cè)試的生命周期包括以下幾個(gè)主要階段：測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、缺陷管理、測(cè)試評(píng)估和測(cè)試報(bào)告。測(cè)試計(jì)劃階段明確測(cè)試的目標(biāo)、范圍、資源等；測(cè)試用例設(shè)計(jì)階段根據(jù)需求設(shè)計(jì)測(cè)試用例；測(cè)試執(zhí)行階段執(zhí)行測(cè)試用例并記錄結(jié)果；缺陷管理階段跟蹤、報(bào)告和修復(fù)缺陷；測(cè)試評(píng)估階段評(píng)估測(cè)試的執(zhí)行情況和軟件質(zhì)量；測(cè)試報(bào)告階段編寫測(cè)試報(bào)告，總結(jié)測(cè)試結(jié)果。

2.解釋什么是回歸測(cè)試，并說明其在軟件測(cè)試中的作用。

答案：回歸測(cè)試是指在軟件修改后，重新運(yùn)行之前已經(jīng)通過的所有測(cè)試用例，以驗(yàn)證修改沒有引入新的錯(cuò)誤?；貧w測(cè)試的作用是確保軟件修改后的功能仍然符合預(yù)期，同時(shí)減少因修改而引入的新缺陷。

3.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試和手工測(cè)試的區(qū)別。

答案：自動(dòng)化測(cè)試和手工測(cè)試的主要區(qū)別在于執(zhí)行測(cè)試的方式和效率。自動(dòng)化測(cè)試是通過編寫腳本或使用工具自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試用例，具有重復(fù)性高、效率快、結(jié)果可重復(fù)驗(yàn)證等特點(diǎn)；手工測(cè)試是由測(cè)試人員手動(dòng)執(zhí)行測(cè)試用例，更注重對(duì)軟件的直觀感受和用戶體驗(yàn)。

4.什么是缺陷生命周期？簡(jiǎn)述其主要階段。

答案：缺陷生命周期是指從發(fā)現(xiàn)缺陷到修復(fù)缺陷的整個(gè)過程。其主要階段包括：發(fā)現(xiàn)、報(bào)告、分配、修復(fù)、驗(yàn)證和關(guān)閉。發(fā)現(xiàn)階段是測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)缺陷；報(bào)告階段是記錄缺陷信息；分配階段是分配給相應(yīng)的開發(fā)人員修復(fù)；修復(fù)階段是開發(fā)人員修復(fù)缺陷；驗(yàn)證階段是測(cè)試人員驗(yàn)證缺陷是否已修復(fù)；關(guān)閉階段是缺陷被關(guān)閉。

5.舉例說明軟件測(cè)試中如何進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。

答案：在軟件測(cè)試中，風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估可以通過以下步驟進(jìn)行：首先，識(shí)別測(cè)試過程中可能出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)，如時(shí)間壓力、資源不足、技術(shù)難題等；其次，對(duì)每個(gè)風(fēng)險(xiǎn)進(jìn)行評(píng)估，確定其發(fā)生的可能性和影響程度；最后，根據(jù)風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估結(jié)果，制定相應(yīng)的風(fēng)險(xiǎn)應(yīng)對(duì)策略，如增加資源、調(diào)整時(shí)間計(jì)劃、尋求技術(shù)支持等。

6.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試中測(cè)試用例設(shè)計(jì)的原則。

答案：測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)遵循以下原則：覆蓋性原則，確保測(cè)試用例能夠覆蓋所有功能點(diǎn)；可理解性原則，測(cè)試用例應(yīng)簡(jiǎn)潔明了，易于理解和執(zhí)行；可維護(hù)性原則，測(cè)試用例應(yīng)易于修改和更新；可重復(fù)性原則，測(cè)試用例應(yīng)能夠在不同的測(cè)試環(huán)境中重復(fù)執(zhí)行；有效性原則，測(cè)試用例應(yīng)能夠有效地發(fā)現(xiàn)缺陷。

試卷答案如下：

一、單項(xiàng)選擇題

1.答案：D解析：性能測(cè)試屬于軟件測(cè)試的類型之一，而單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試都是測(cè)試的不同階段。

2.答案：C解析：比較測(cè)試不是一種標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法，而黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試和壓力測(cè)試都是常見的測(cè)試方法。

3.答案：D解析：Visio是一個(gè)繪圖工具，用于設(shè)計(jì)流程圖、組織結(jié)構(gòu)圖等，不是用于自動(dòng)化測(cè)試的工具。

4.答案：D解析：測(cè)試腳本是在自動(dòng)化測(cè)試中使用的，而測(cè)試輸入、預(yù)期結(jié)果和測(cè)試環(huán)境都是測(cè)試用例的屬性。

5.答案：C解析：編碼是軟件開發(fā)的過程，不屬于軟件測(cè)試的生命周期階段。

6.答案：D解析：需求評(píng)審是在需求分析階段進(jìn)行的，不屬于測(cè)試階段。

7.答案：D解析：編碼缺陷是指代碼編寫中的錯(cuò)誤，不屬于軟件測(cè)試的缺陷分類。

8.答案：D解析：測(cè)試報(bào)告通常包括測(cè)試結(jié)果、缺陷列表、測(cè)試用例執(zhí)行情況等，但不包括項(xiàng)目預(yù)算。

9.答案：D解析：測(cè)試環(huán)境包括硬件、軟件和網(wǎng)絡(luò)配置，不包括測(cè)試人員。

10.答案：D解析：測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)包括高、中、低，并不包含“必須修復(fù)”這一類別。

二、多項(xiàng)選擇題

1.答案：ABCD解析：軟件測(cè)試的目的是多方面的，包括發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤、驗(yàn)證功能、優(yōu)化性能和評(píng)估質(zhì)量。

2.答案：ABCD解析：軟件測(cè)試的類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試。

3.答案：ABCD解析：軟件測(cè)試的文檔通常包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例、缺陷報(bào)告和測(cè)試報(bào)告。

4.答案：ABCD解析：測(cè)試用例設(shè)計(jì)的關(guān)鍵因素包括輸入數(shù)據(jù)、輸出數(shù)據(jù)、預(yù)期結(jié)果和測(cè)試步驟。

5.答案：ABCD解析：JIRA、Bugzilla、Trello和Confluence都是常用的測(cè)試管理工具。

6.答案：ABCD解析：軟件測(cè)試的缺陷類型包括功能性缺陷、性能缺陷、穩(wěn)定性缺陷和用戶體驗(yàn)缺陷。

7.答案：ABCD解析：Selenium、QTP、JMeter和LoadRunner都是常用的自動(dòng)化測(cè)試工具。

8.答案：ABCD解析：軟件測(cè)試的測(cè)試階段包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、缺陷管理和測(cè)試評(píng)估。

9.答案：ABC解析：測(cè)試環(huán)境包括硬件、軟件和網(wǎng)絡(luò)配置，測(cè)試人員不屬于測(cè)試環(huán)境。

10.答案：ABCD解析：軟件測(cè)試的風(fēng)險(xiǎn)包括缺陷漏報(bào)、測(cè)試用例設(shè)計(jì)不完善、測(cè)試資源不足和項(xiàng)目進(jìn)度延誤。

三、判斷題

1.答案：×解析：軟件測(cè)試是軟件開發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié)，不是最后一步。

2.答案：√解析：?jiǎn)卧獪y(cè)試和集成測(cè)試是軟件測(cè)試的兩個(gè)獨(dú)立階段，分別對(duì)應(yīng)不同的測(cè)試關(guān)注點(diǎn)。

3.答案：×解析：測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)越高，意味著它越重要，需要優(yōu)先處理。

4.答案：×解析：性能測(cè)試通常在軟件開發(fā)的早期階段進(jìn)行，以確保軟件的性能符合要求。

5.答案：×解析：覆蓋率是測(cè)試用例設(shè)計(jì)的一個(gè)重要指標(biāo)，但覆蓋率越高并不意味著軟件質(zhì)量越好。

6.答案：×解析：優(yōu)先級(jí)越高，意味著缺陷的修復(fù)越緊急，修復(fù)的時(shí)間應(yīng)該越短。

7.答案：×解析：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤和驗(yàn)證軟件的正確性，而不是證明軟件是正確的。

8.答案：×解析：自動(dòng)化測(cè)試可以減