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T/CSTM00964—Generalrulesforperformanceevaluationofatomic 2023-03-09實(shí)中關(guān)村材料試驗(yàn)技術(shù)聯(lián) 發(fā)T/CSTMT/CSTM00964—T/CSTMT/CSTM00964— 本文件參照GB/T1.1—20201部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定X射線熒光光譜儀相關(guān)使用性GB/T6379.1測量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度(正確度與精密度)第1GB/T GB/T32267JJG768JJG810波長色散XT/CSTM 1T/CSTM 2GB/T6379.1和GB/T32267、JJG768和JJG810[來源：GB/T32267-檢出限detectionlimit（limitof[來源：GB/T32267-2015，2.1]定量限quantificationlimitlimitof[來源：GB/T32267-2015，2.2]acceptedreference[來源：GB/T6379.1-2004，3.5][來源：GB/T6379.1-2004，3.7]重復(fù)性[來源：GB/T32267-儀器穩(wěn)定性stabilityof[來源：GB/T32267-2015，2.19]minimumbandwidthofspectral[來源：JJG768-2005，6.3.3.2]baseline[來源：GB/T32267-2015，2.20]mutualinterferencebetween[來源：GB/T32267-ratioofcount[來源：JJG810-1993，7]energyresolutionof[來源：JJG810-1993，8]deviationoflinearcountrateof[來源：JJG810-1993，9]在儀器考核波長范圍內(nèi)選取兩條足夠鄰近且譜線峰值大致相當(dāng)?shù)脑靥卣髯V線λ1、λ2（如1 150λ150W0.5，λ1λ250%W0.5,λ2λ1λ2兩譜峰之間的寬度，定義此條件下測得的分辨率（R0.5）

0.5,80W0.8,λ2λ1λ2兩譜峰之間的寬度，定義此條件下測得的分辨率（R0.8）見

0.8,5.1.1.1R0.8111時(shí)能分R0.51時(shí)能較好分辨。5.1.1.1方法二所測最小光譜帶寬是否滿足國家、行業(yè)、團(tuán)體分析方法標(biāo)準(zhǔn)或計(jì)量檢定規(guī)程、計(jì)103倍與線性校準(zhǔn)曲線斜率定量限為含量接近檢出限的樣品測量信號10次獨(dú)立測量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差的10倍與線性校準(zhǔn)曲線斜率T/CSTM00277.1或T/CSTM00277.2T/CSTM00277.1或T/CSTM00277.2 nr8y——

uCRM——測量數(shù)據(jù)按GB/T8170進(jìn)行修約，通常，單個(gè)測量數(shù)據(jù)較判定極限數(shù)值（臨界值）多保留一位有效將各評價(jià)儀器性能測試數(shù)據(jù)由小到大順序排列，計(jì)算下四分位數(shù)Q1、中位數(shù)Q2和上四分位數(shù)Q3，g）h）Mn257.610nmXA.2A.2XJJG60%A50%BJJGF-PC：≤40%（Al-Kα）A級，≤45%（Al-Kα）BSC：≤60Cu-Kα）A級，≤70C