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T/CSTM01039—Substrateglassforminilightemitting 2023-10-21實中關村材料試驗技術聯 發(fā)T/CSTMT/CSTM01039-T/CSTMT/CSTM01039- 本文件參照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定(CSTM/FC03)提出。本文件規(guī)定了微小間距發(fā)光二極管（MiniLED）背光和直顯用基板玻璃的術語和定義、產品分本文件適用于厚度不大于1.1mm的微小間距發(fā)光二極管（MiniLED）件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適GB/T2828.1—2012計數抽樣檢驗程序1部分：按接收質量限(AQL)GB/T5432GB/T5700—2008GB/T11614GB/T16920玻璃GB/T31838.3固體絕緣材料介電和電阻特性第3部分：電阻特性(DC方法)表面電阻和表面GB/T31838.6固體絕緣材料介電和電阻特性第6部分：介電特性(AC方法)相對介電常數和介質損耗因數(0.1Hz-10MHz)GB/T31958GB/T32639GB/T32643GB/T32647GB/T37780GB/T37900GB/T38712GB/T39815—2021SJ/T11039微小間距發(fā)光二極管minilightemittingdiodeMiniLED單顆芯片（不含封裝）100μm~300μm backlightsubstrate directdisplaysubstratePMAM參照GB/T11614和GB/T3195811＞1.0mm不準許；≤1.0mm，數量≤3個/m2，且任意300mm×300mm區(qū)域內數量≤3個＞100μm不準許；≤100μm≤3個/m2，且任意300mm×300mm區(qū)寬W≤0.1mmL≤30mm，數量≤2長度≤2mm；寬度≤1mm長度≤0.5mm；寬度≤0.5mm度不大于標稱厚度的表2

a表3

直顯基板玻璃切角尺寸長度應不大于2.0mm；寬度應不大于1.0mm基板玻璃的波紋度應不大于0.25m/20mm翹曲應不大于0.20mm表410-5.0-3.2-lg1kHz1kHz反射光光源：檢驗區(qū)光照強度不小于8000透射光光源：檢驗區(qū)光照強度不小于1500邊緣側光光源：檢驗區(qū)光照強度不小于4000樣品支撐架：不小于試樣尺寸的中空硬質合金框架，框架應不影響對試樣有效面的觀察，與7°~51）；讀數放大鏡：放大倍數為40倍、精度為0.05mm和放大倍數為10倍、精度為0.1mm的讀數放大a）b)反射光檢查示意 c)透射光檢查示意d）圖1GB／T5700—2008中5.1的規(guī)定。反射光、透射光檢查時，將試樣緊貼支撐架背框放置，觀察者在距試樣約300mm處目視檢查并記錄缺陷數量、位置等信息。如圖1b）、圖1c）所示。邊緣側光檢查時，將試樣垂直懸吊于試樣夾上，移動側光源至試樣邊緣20mm~30mm，光源垂直入射試樣橫斷面，觀察者在距試樣約300mm處目視檢查并記錄。如圖1d）所示。采用放大倍數不低于40倍、精度為0.05mm的讀數放大鏡測定內部缺陷、表面缺陷尺寸。采用放大倍數不低于10倍、精度為0.1mm的讀數放大鏡測定邊緣缺陷的尺寸。以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（00級平面度大理石）0.1mm的游標卡尺或相同精度的三坐標測量儀測量四個邊長尺寸，長邊測量值與長度標稱值的最大差以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（00級平面度大理石）上，按照圖2所示，以p點作為測試起點，p點距離定位角所在長邊、短邊邊緣距離均不大于10mm。用測量精度為0.001mm的螺旋測微計或非接觸式三坐標測量儀，垂直流向方向每隔50mm固定間距進行測量，測試終點距試樣邊緣距離不大于10mm。圖2以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（00級平面度大理石）上，工作面向上，按照圖3所示，采用放大倍數為10倍、精度為0.1mm的讀數放大鏡，讀數放大鏡置于試樣角部，且十字線同 圖34θ為85°，高度和長度均不小于試樣長度。安裝百分表一側的背板上沿垂直方向應有尺寸標識，1m圖中I）定位銷：水平定位銷2個（圖4中IC、ID），用于支撐玻璃試樣，兩個定位銷上表面應保持水平，且保證試樣穩(wěn)定擺放。垂直定位銷1個（圖4中B），用于試樣側邊卡位。定位銷C、IB中10m，D20m。百分表：精度不低于0.1mm，安裝位置應在垂直方向和水平方向可調，以保證檢測點距離試樣上邊緣約10mm，且百分表的測桿可接觸到試樣的側邊緣。 11——2——試樣圖4水平移動百分表位置，使百分表測桿頂在試樣邊緣并固定百分表。旋轉百分表盤，使百分表0；保持支撐邊不變，將試樣沿水平方向翻轉180°，重復d），確認百分表測桿頂在試樣邊緣，；按公式（1）分別計算以上4次測量的直角度。選取4次計算結果的最大值作為測試結——兩個被測量邊偏離垂直線之和，單位為毫米（mmL——垂直定位銷與百分表中心線的間距，單位為毫米（mm以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（00級平面度大理石）上，采用精度為0.02mm的塞尺或精度不低于0.02mm的三坐標測量儀，測量試樣下表面與平臺表面之間的最大距離；再將試按照GB/T37780的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為120mm×25mmGB/T39815—2021BA0.5N~300GB/T387122060SJ/T11039（0.65±0.10）mm200mm~300mm。lgGB/T31838.6（50±2）mm×（50±2）mm，31kHz。GB/T31838.6（50±2）mm×（50±2）mm，31kHz。按照GB/T32644—2016中的失重法進行，分別選擇如下試驗條件：