1T/XJZJXHXXXX—XXXXMF561型熱敏電阻器詳細規(guī)范本規(guī)范規(guī)定MF561型熱敏電阻器（以下簡稱熱敏電阻器）的詳細技術要求和產(chǎn)品質(zhì)量保證要求以及技術性能參數(shù)的具體檢測試驗方法。本規(guī)范適用于熱敏電阻器生產(chǎn)過程控制、承制方篩選、鑒定檢驗、質(zhì)量一致性檢驗、用戶驗收等。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法GJB546B-2011電子元器件質(zhì)量保證大綱GJB4041-2000航天用電子元器件質(zhì)量控制要求GJB4027A-2006軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB601B-2018熱敏電阻器總規(guī)范QJ2227A-2005航天元器件有效儲存期和超期復驗要求3術語和定義下列術語和定義適用于本文件。3.1生產(chǎn)批在規(guī)定的時期內(nèi)同一生產(chǎn)線上按同一產(chǎn)品規(guī)范和技術要求制造，采用相同的設計、結構、同批次的主體原材料、工藝、設備以及生產(chǎn)過程控制生產(chǎn)的一批同一型號規(guī)格的電子元器件。生產(chǎn)批以產(chǎn)品上標注的生產(chǎn)日期代碼或批號標識并在生產(chǎn)過程中始終予以保持。3.2檢驗批連續(xù)生產(chǎn)時檢驗批應由在一個月周期內(nèi)提交檢驗的同一生產(chǎn)批次的一批產(chǎn)品組成。質(zhì)量一致性檢驗的A組、B組、C組按規(guī)定的周期進行檢驗。非連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品按生產(chǎn)批次逐批進行檢驗，質(zhì)量一致性檢驗由A組、B組、C組組成，通過全部檢驗合格的產(chǎn)品方可交付用戶使用。3.3過程識別文件產(chǎn)品承制方對全部生產(chǎn)過程提出具體規(guī)定和詳細要求的文件。4要求4.1詳細規(guī)范熱敏電阻器應符合本規(guī)范和GJB601B-2018規(guī)定的要求。本規(guī)范的要求熱敏電阻器總規(guī)范不一致時，應以本規(guī)范為準。4.2合格鑒定和用戶認可按本規(guī)范提交的熱敏電阻器應是經(jīng)檢驗合格和用戶應用認可的產(chǎn)品。4.3設計和結構熱敏電阻器敏感體為熱敏電阻芯片，其組成材料為過渡金屬及稀土氧化物混合粉體經(jīng)高溫燒制成的電子陶瓷體，熱敏電阻芯片外部用玻璃密封。電極引出線為杜鎂絲，杜鎂絲表面鍍鎳。熱敏電阻器結構和外形尺寸在圖1中給出，圖中尺寸以毫米（mm）為單位。2T/XJZJXHXXXX—XXXX4.4材料控制材料控制應符合GJB546B-2011中4.14條要求。產(chǎn)品生產(chǎn)中關鍵原材料發(fā)生變化，應進行技術狀態(tài)更改確認。圖1MF561型熱敏電阻器結構和外形尺寸4.5測量和試驗設備控制生產(chǎn)加工、產(chǎn)品測量試驗儀器設備、計量器具應滿足使用功能和精度要求并按照有關規(guī)定進行校準且在校準有效期內(nèi)使用。4.6生產(chǎn)過程控制產(chǎn)品制造的全過程，包括人員培訓、原材料、生產(chǎn)試驗設備和監(jiān)視測量裝置、生產(chǎn)程序和工藝、產(chǎn)品檢驗、產(chǎn)品標志和包裝、產(chǎn)品用戶驗收和驗收等制定過程識別文件（PID），在生產(chǎn)過程中予以實施。4.7環(huán)境溫度熱敏電阻器的最低使用環(huán)境溫度77K(-196℃)，最高環(huán)境溫度為室溫25℃±10℃。4.8工作溫度范圍熱敏電阻器的使用溫度范圍為77K～200K。4.9交付和驗收產(chǎn)品交付和驗收按照4.7條的要求進行。4.10熱敏電阻器基本特性MF561型低溫熱敏電阻器的基本特性按表1規(guī)定。表1MF561型低溫熱敏電阻器基本特性B77K/90K10kΩ~500kΩ±40%±10%6.1%/K~±10%4.11外觀質(zhì)量用5～10倍的放大鏡或顯微鏡觀測熱敏電阻芯片，熱敏電阻器芯片應整齊完整無缺損、無裂紋。密封玻璃應無裂紋。電極引出線無損傷，金屬鍍層均勻光亮、無銹蝕、起皮或脫落。T/XJZJXHXXXX—XXXX34.12標稱零功率電阻值按照GJB601B-2018的4.6.2條規(guī)定試驗。測量在液氧中進行，液氧的溫度可用標準鉑電阻溫度計監(jiān)測，必要時可對液氧的溫度進行修正。標稱零功率電阻值應符合表1和訂貨合同規(guī)定。4.13B值按照GJB601B-2018的4.6.3條規(guī)定分別測量液氮（77K）和液氧（90K）溫度下的零功率電阻值，按公式(1)計算B值，B值范圍及每個B值偏差應符合表1規(guī)定。式中：T1為液氮溫度,T2為液氧溫度,可用鉑電阻溫度計測量。R1、R2分別為溫度T1、T2時的零功率電阻值。4.14電阻溫度系數(shù)按照GJB601B-2018的4.6.4條方法3，即按以下公式(2)計算，液氧溫度下的電阻溫度系數(shù)(αT）用百分數(shù)表示其范圍及每個電阻溫度系數(shù)偏差應符合表1規(guī)定。式中：B為熱敏電阻材料常數(shù)，其數(shù)值按本規(guī)范4.13條計算；T為液氧絕對溫度，單位K。4.15可焊性按照GJB601B-2018的4.6.10條規(guī)定，采用GJB360B-2009方法208中4.2條老化條件1a和4.3.3條焊槽法進行可焊性試驗，試驗可以使用未經(jīng)過高溫貯存試驗，電性能或外觀質(zhì)量（引出線除外）不合格的樣品?？珊感栽囼灪笠鼍€浸漬表面至少有95%的新焊料浸漬層，且浸漬層應均勻光滑，無起皮脫落。4.16短期負荷按照GJB601B-2018的4.6.11條規(guī)定，施加最大額定功率1mW，試驗后零功率電阻值的變化率應不超過±0.3%。4.17絕緣電阻按照GJB601B-2018的4.6.12條規(guī)定和以下方法試驗，絕緣電阻應不低于500MΩ。熱敏電阻器玻璃密封體的頭部浸入容器中盛裝的自來水中，浸入的深度應為浸沒熱敏電阻敏感體（黑體）部分。絕緣電阻測試儀表兩根測試線的一端連接熱敏電阻器的兩根電極引線，另一端接入容器中的自來水中，測試電壓DC100±10%V。4.18介質(zhì)耐電壓按照GJB601B-2018的4.6.12條規(guī)定，正常大氣壓按GJB360B-2009方法301，低氣壓按GJB360B-2009方法105試驗。試驗后應無機械損傷、飛弧或擊穿現(xiàn)象。試驗漏電流≤0.5mA。4.19低溫貯存按照GJB601B-2018的4.6.14條進行試驗，貯存溫度為液氮溫度（77K），貯存時間241h。熱敏電阻器應無機械損傷，零功率電阻值的變化率應不超過±0.5%。產(chǎn)品篩選時不做電測量。4.20高溫貯存按照GJB601B-2018的4.6.15條規(guī)定試驗，貯存溫度125℃±3℃,貯存時間1002h。試驗后零功率電阻值變化率應不超過±0.5%。4.21引出端強度按照GJB601B-2018的4.6.19條規(guī)定及GJB360B-2009方法211試驗條件A進行試驗，每個引出端的拉力為5N，試驗后熱敏電阻器不應有機械損傷，零功率電阻值的變化率應不超過±0.3%。T/XJZJXHXXXX—XXXX44.22耐焊接熱按照GJB601B-2018的4.6.21.1條規(guī)定及GJB360B-2009方法211試驗條件A進行試驗，每個引出端的拉力為5N，試驗后熱敏電阻器不應有機械損傷，零功率電阻值的變化率應不超過±0.3%。4.23溫度沖擊按照GJB601B-2018的4.6.24.1條和以下規(guī)定進行試驗：上限溫度：1253℃；下限溫度：液氮溫度（77K極限溫度試驗時間：1min；兩極限溫度之間的轉(zhuǎn)換時間：10min～15min；循環(huán)次數(shù)：10次。試驗后熱敏電阻器應無機械損傷，零功率電阻值的變化率應不超過±0.5%。4.24耐濕按照GJB601B-2018的4.6.25條規(guī)定及GJB360B-2009方法106及試驗過程中對半的樣品施加負荷功率1mW，絕緣電阻測試電壓DC100V，試驗后熱敏電阻器應無機械損傷，熱敏電阻器零功率電阻值變化率應不超過±0.5%。4.25負荷壽命按照GJB601B-2018的4.6.26條規(guī)定試驗，施加最大額定功率1mW，試驗中間不測量，試驗100020h后熱敏電阻器應無機械損傷，零功率電阻值的變化率應不超過±1%。4.26高溫暴露按照GJB601B-2018的4.6.27條試驗，在125℃±3℃溫度下保持100020h。試驗中間不測量，試驗后熱敏電阻器零功率電阻值的變化率應不超過±1%。4.27高頻振動按照GJB601B-2018的4.6.28條規(guī)定及GJB360B-2009方法204試驗條件D進行試驗，試驗元件可以用膠粘的方法固定在振動臺上，試驗過程中試驗樣品不加電負荷，不進行性能檢測。試驗后熱敏電阻器應無機械損傷，零功率電阻值的變化率應不超過±0.5%。4.28沖擊按照GJB601B-2018的4.6.29條規(guī)定及GJB360B-2009方法213試驗條件A試驗，試驗元件可以用膠粘的方法固定在沖擊臺上，沖擊過程中不測量。試驗后熱敏電阻器應無機械損傷，零功率電阻值的變化率應不超過±0.5%。4.29浸漬按照GJB601B-2018的4.6.30條規(guī)定及GJB360B-2009方法104試驗條件B試驗，絕緣電阻測試電壓DC100V。試驗后熱敏電阻器應無機械損傷，絕緣電阻應不低于100MΩ,零功率電阻值的變化率應不超過±0.5%。4.30標志熱敏電阻器標志在每只熱敏電阻器包裝上，每只熱敏電阻器單獨裝入1個小塑料袋，塑料袋內(nèi)裝入該熱敏電阻器型號、元件編號、生產(chǎn)批次、標稱零功率電阻值、電阻比等數(shù)據(jù)的標志箋。標志箋應無污損，數(shù)據(jù)清晰可辨。4.31加工質(zhì)量熱敏電阻器應符合GJB601B-2018中的3.37及下列規(guī)定：熱敏電阻器應采用保證質(zhì)量一致的方法加工，并且應沒有裂紋以及影響壽命、使用性或外觀的其他缺陷。5質(zhì)量保證規(guī)定T/XJZJXHXXXX—XXXX5質(zhì)量保證按GJB601B-2018中第4章和以下規(guī)定執(zhí)行。5.1檢驗的分類本規(guī)范規(guī)定的檢驗分類如下：a)承制方篩選；b)鑒定檢驗；c)質(zhì)量一致性檢驗（分連續(xù)生產(chǎn)批和非連續(xù)生產(chǎn)批，見3.1條）；d)下廠驗收。5.2檢驗環(huán)境條件和檢驗儀器設備要求檢驗應在15℃~35℃,相對濕度20%～80%RH和氣壓86kPa～106kPa的標準大氣條件下進行。檢驗用儀器設備應符合4.5條要求。5.3承制方篩選鑒定檢驗和質(zhì)量一致性檢驗前進行篩選，篩選的項目和順序按表2規(guī)定，進行100%的篩選，篩選不合格的產(chǎn)品予以剔除。表2承制方篩選12345675.4鑒定檢驗鑒定檢驗應在鑒定機構認可的實驗室進行。5.4.1抽樣提交鑒定檢驗的熱敏電阻器樣本大小應按照GJB601B-2018中4.4.2規(guī)定抽樣。5.4.2檢驗程序鑒定檢驗程序按GJB601B-2018的4.4.3條和表3規(guī)定的項目和順序進行。表3鑒定檢驗第1組B值02第2組可焊性1第3組1第12T/XJZJXHXXXX—XXXX64組第5組1第6組1第7組15.4.3鑒定檢驗失效不合格品數(shù)超過表3規(guī)定的允許不合格品數(shù)時，則鑒定檢驗失效，不能給予鑒定批準。5.4.4鑒定合格資格的保持為了保持鑒定合格資格，承制方應進行周期檢驗，如果檢驗結果表明產(chǎn)品不符合本規(guī)范要求規(guī)定，或連續(xù)一年內(nèi)未生產(chǎn)，則喪失鑒定合格資格，需重新進行鑒定檢驗。5.5質(zhì)量一致性檢驗分連續(xù)生產(chǎn)批和非連續(xù)生產(chǎn)批質(zhì)量一致性檢驗，非連續(xù)生產(chǎn)批檢驗要求按6.1.2條和以下規(guī)定。5.5.1A組檢驗A組檢驗按表4規(guī)定的檢驗項目和順序進行。5.5.1.1A1分組每一檢驗批都應按表5的規(guī)定隨機抽樣，如果出現(xiàn)一個或多個不合格品，則整批將被重新篩選并剔除不合格品。然后按表5的規(guī)定再次抽樣，如果在二次樣品中出現(xiàn)一個或多個不合格品，則整批將被拒收并不得按本規(guī)范交貨。5.5.1.2A2分組（可焊性）每一檢驗批都應按表5的規(guī)定隨機抽樣，如果有一個或多個不合格品整批將被拒收。5.5.1.3樣本處理可焊性試驗被認為是一種破壞性試驗，經(jīng)受A2分組檢驗的樣品不得交付用戶使用。表4A組檢驗表5A組抽樣方案A1分組樣品數(shù)5T/XJZJXHXXXX—XXXX7585.5.2B組檢驗B組檢驗應由表6規(guī)定的檢驗項目組成，并按其所示的順序進行。除非另有規(guī)定，B組檢驗的樣品應使用已經(jīng)過A組檢驗并合格的樣品進行檢驗。表6B組檢驗5.5.2.1B組抽樣方案每一檢驗批都應按表7的規(guī)定隨機抽樣，在B組中如果出現(xiàn)一個或多個不合格品，則整批將被篩選并剔除不合格品。然后按表7的規(guī)定重新抽樣，如果在二次樣品中出現(xiàn)一個或多個不合格品，則整批將被拒收并不得按本規(guī)范交貨。表7B組抽樣方案35675.5.2.2樣品處理已經(jīng)過B組檢驗的樣品不得按合同或訂單交貨。5.5.3C組檢驗非連續(xù)生產(chǎn)時C組檢驗按生產(chǎn)批逐批檢驗（見3.2條）。C組檢驗由表8規(guī)定的檢驗項目組成并按其順序進行。C組檢驗樣品應在已通過A組和B組檢驗合格的生產(chǎn)批中抽取。經(jīng)過B組檢驗的樣品不得用于C組檢驗。5.5.3.1抽樣方案5.5.3.1.1C1分組表8C組檢驗T/XJZJXHXXXX—XXXX8抽取10只任意電阻值的樣品進行C1分組檢驗，允許有1只不合格品，如果多于1只不合格，再抽取20只樣品檢驗，且不允許出現(xiàn)不合格品。5.5.3.1.2C2分組抽取30只樣品分成C2-1、C2-2、C2-3三組檢驗，每個分組10只樣品允許有1只不合格品，但三個分組加起來不得多于1只不合格品。5.5.3.1.3C3分組抽取10只樣品進行C3分組檢驗，允許有1只不合格品。5.5.3.2樣品處理經(jīng)過C組檢驗的樣品不得按合同或訂單交貨。5.5.3.3不合格如果未能通過C組檢驗，承制方應分析不合格原因并采取糾正措施，糾正后追加樣品重新進行C組檢驗，同時該批產(chǎn)品重新進行A組和B組檢驗，在C組復驗表明糾正措施有效之前，不得進行驗收和交貨。若復驗仍然失效，停止按合同或訂單交貨并將失效資料提供給鑒定機構或有關主管部門。5.5.4檢驗報告和合格證無論檢驗是否通過，檢驗完成后均應填寫檢驗報告。質(zhì)量一致性檢驗通過后填寫產(chǎn)品檢驗合格證，產(chǎn)品檢驗合格證應至少包括以下內(nèi)容：a)產(chǎn)品名稱；b)型號規(guī)格；c)產(chǎn)品數(shù)量；d)本詳細規(guī)范號；e)產(chǎn)品生產(chǎn)單位；f)生產(chǎn)批號、生產(chǎn)日期；g)檢驗人員簽章、檢驗專用章。5.6包裝要求熱敏電阻器的包裝要求應符合本規(guī)范6.1.1條的規(guī)定。5.7下廠驗收用戶下廠驗收要求按附錄A的規(guī)定。5.8破壞性物理分析（DPA）破壞性物理分析（DPA）按照GJB4027A-2006規(guī)定，具體要求見附錄B。6交貨準備6.1包裝要求6.1.1熱敏電阻器包裝T/XJZJXHXXXX—XXXX9每只熱敏電阻器應獨立裝入一個小塑料袋，袋內(nèi)裝有標志箋，內(nèi)容包括：型號、元件編號、標稱零功率電阻值、電阻比等數(shù)據(jù)。相同型號規(guī)格的熱敏電阻器再裝入大的塑料袋或包裝盒中。6.1.2包裝箱熱敏電阻器在運輸時，應裝入干燥的包裝箱內(nèi)，包裝的材料、結構和尺寸應滿足運輸方式的要求。箱內(nèi)空隙應用干燥、防壓的包裝材料填塞。包裝箱應打箍緊固。箱內(nèi)蓋下應放有：a)裝箱單；b)產(chǎn)品合格證；c)篩選報告；d)質(zhì)量一致性檢驗報告；e)下廠驗收報告（若有時）；f)失效分析報告（若有時）。6.2熱敏電阻器產(chǎn)品運輸裝有熱敏電阻器的包裝箱允許用任何運輸工具運輸，但要避免雨雪的直接淋襲或機械損傷。6.3熱敏電阻器的貯存包裝后的熱敏電阻器產(chǎn)品應貯存在溫度為-10℃~40℃,相對濕度不大于80%RH，清潔、干燥、通風、無腐蝕性氣體的庫房中。7說明事項7.1訂貨文件內(nèi)容合同或訂單中應包括：a)本詳細規(guī)范的名稱和編號；b)型號規(guī)格；c)產(chǎn)品數(shù)量；d)其他特殊要求。7.2產(chǎn)品有效貯存期產(chǎn)品交付前在承制方的有效貯存期應是生產(chǎn)、檢驗完成后1個月以上，24個月以內(nèi)。超過有效貯存期的產(chǎn)品須進行超期復驗，超期復驗要求按QJ2227A-2005有關規(guī)定進行。T/XJZJXHXXXX—XXXX（規(guī)范性）下驗收廠A.1下廠驗收用戶按照本附錄、合同或技術協(xié)議規(guī)定進行下廠驗收。A.1.1下廠驗收提交文件下廠驗收時承制方至少應提交以下文件：a)試驗儀器、設備清單；b)原材料檢驗報告；c)篩選報告；d)質(zhì)量一致性檢驗報告（或鑒定檢驗報告）；e)失效分析報告（若有時）；f)產(chǎn)品合格證。A.1.2下廠驗收要求及檢驗程序下廠驗收應由承制方和用戶方共同完成或由用戶委托承制方完成，驗收試驗由承制方檢驗人員操作。下廠驗收檢驗程序和要求按表A.1的規(guī)定進行。如用戶方需要調(diào)整驗收項目和內(nèi)容，應在合同或技術協(xié)議中說明。表A.1下廠驗收檢驗程序與要求1100%234下廠驗收檢驗抽樣方法及判定數(shù)按表A.2的規(guī)定進行。表A.2抽樣方法及判定數(shù)01010101注：Ac是接受判定數(shù)，Re是拒收判定數(shù)。A.1.3驗收通過條件與重新交驗A.1.3.1驗收通過條件滿足下述要求的產(chǎn)品可以通過驗收：a)產(chǎn)品滿足采購合同內(nèi)容要求；b)承制方貯存期限滿足要求；c)質(zhì)量文件審查通過；d)驗收試驗通過；e)DPA試驗（若有時）通過。A.1.3.2重新交驗T/XJZJXHXXXX—XXXX下廠驗收試驗中，表A.1中各檢驗項目如出現(xiàn)一個或多個不合格品，則驗收中止。應對不合格樣品進行分析，滿足下面要求的可以進行重新交驗，產(chǎn)品只準許進行一次重新交驗，重新交驗的產(chǎn)品應進行重新交驗記錄。a)分析結論為非批次性原因；b)通過針對性篩選可有效剔除不合格品，且能夠保證對熱敏電阻器的質(zhì)量和可靠性不會產(chǎn)生不T/XJZJXHXXXX—XXXX（規(guī)范性）破壞性物理分析B.1破壞性物理分析（DPA）用戶要求時（合同或技術協(xié)議規(guī)定）按照本附錄進行破壞性物理分析（DPA），試驗在用戶方和承制方認可的實驗室進行。B.2程序B.2.1DPA項目熱敏電阻器的DPA項目和順序按表B.1進行。表B.112B.2.2DPA抽樣DPA按產(chǎn)品生產(chǎn)批次抽樣，樣品從通過質(zhì)量一致性檢驗等待交付或下廠驗收的產(chǎn)品中抽取，抽樣數(shù)為生產(chǎn)批總數(shù)的1%，不少于2只，也不多于5只。B.2.3外觀檢查B.2.3.1檢