GB/T19943—XXXX/ISO5574無損檢測金屬材料X或伽瑪射線膠片照相檢測基本規(guī)則本文件規(guī)定了用于缺欠檢測的X或伽瑪射線工業(yè)膠片射線照相檢測技術(shù)的基本規(guī)則，適用于金屬材ISO5576無損檢測工業(yè)x射線和伽瑪射線術(shù)語（Non-destructivetesting—IndustrialX-rayandgamma-rayradiology—Vocabul注：GB/T12604.2-2005無損檢測術(shù)語射線ISO5580無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求（Non-destructivetestradiographicilluminators—MinimumrequirISO9712無損檢測人員資格鑒定與認(rèn)證（Non-destructivetesting—QualificationandcertificationofNDISO11699-1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類注：GB/T19348.1-2014無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類（ISOISO11699-2無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分：用參考值方法控制膠片處理bymeansofreferenISO19232-1無損檢測射線照相底片的圖像質(zhì)量第1部分:用絲型像質(zhì)計測定圖像像質(zhì)值qualityvalueusingw注：GB/T23901.1-2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定（ISOGB/T19943—XXXX/ISO5575ISO19232-2無損檢測射線照相底片的圖像質(zhì)量第2部分:用階梯孔型像質(zhì)計測定圖像像質(zhì)值注：GB/T23901.2-2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第2部分：階梯孔型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定（ISOISO19232-3無損檢測射注：GB/T23901.3-2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第3部分：像質(zhì)分類（ISO19232-3:201ISO19232-4無損檢測射線照相底片的圖像質(zhì)量第4部分:圖像像質(zhì)值和質(zhì)量表的評價注：GB/T23901.4-2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第4部分：像質(zhì)值和像質(zhì)表的實驗評價（ISOEN12543（全部分）無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)的焦點特性第2部分:針孔相機射線照相方法innon-destructivetesting—Part2:PinholecameraradiEN12679無損檢測工業(yè)射線照相源尺寸的測定射線照相方法（Non-destructivetesting—DeterminationofthesizeofindustrialGB/T19943—XXXX/ISO5576t透照厚度penetratedthiw根據(jù)標(biāo)稱厚度計算得到的透照方向上的材料厚度，包括所有穿工件—膠片距離object-to-filmdb沿射線束的中心線測量的被檢測工件射線照相檢測部分射線源側(cè)表面至膠片表面之間的距注2：x射線管的源尺寸按EN12543確定，伽瑪射線源尺寸按EN126GB/T19943—XXXX/ISO5577源—膠片距離source-to-filmdi注3：SFD為源至工件表面距離(3.6f沿射線束的中心線測量的射線源與被檢測工件源側(cè)表面之間質(zhì)量(見5.7)。由于與A級技術(shù)相比具有更高的檢測靈敏GB/T19943—XXXX/ISO55785.1人員資格按照本文件實施射線檢測的人員應(yīng)按ISO9712或合同各方認(rèn)可的體系取得相關(guān)工業(yè)門類的資格等5.2輻射安全防護使用射線檢測時，應(yīng)當(dāng)嚴(yán)格執(zhí)行地方、國家或國際規(guī)定的安全防5.3表面處理與檢測時機GB/T19943—XXXX/ISO5579除非另有規(guī)定，射線照相檢測應(yīng)在制造的最后階段進5.4射線照相底片標(biāo)識5.5標(biāo)記在被檢測工件上應(yīng)做永久性標(biāo)記，以便準(zhǔn)確定位每張X射線底片的位如果材料性質(zhì)和/或使用條件不允許在工件表面上做永久性標(biāo)記，可通過精確的示意圖或照片等方5.6膠片搭接GB/T19943—XXXX/ISO557為獲得良好的檢測靈敏度，應(yīng)盡可能選擇較低的X射線管電壓。允許使用的最大管電壓與不同材料GB/T19943—XXXX/ISO557伽瑪射線和1MeV以上的X射線推薦的透照厚度——采用Se75檢測時，最小透照厚度可使用膠片系統(tǒng)進行伽瑪射線照相檢測時，輸送射線源的往返時間不應(yīng)超過總曝光時間的10GB/T19943—XXXX/ISO557X射線4MeV~12MeV射線照相檢測所使用的膠片系統(tǒng)等級(C1-C5)應(yīng)根據(jù)ISO11699-1的對不同的射線源，可選用的最低膠片系統(tǒng)類別見表2采用不同射線源透照時，推薦選用的金屬屏材質(zhì)及厚度見表2和表只要能達到要求的圖像質(zhì)量，經(jīng)合同各方商定，也可GB/T19943—XXXX/ISO557表2鋼、銅和鎳基合金射線照相檢測所適用的膠片系統(tǒng)/X射線＞100kV~150kVX射線＞150kV~250kV鉛屏（前后）0.02~0.15鉛屏（前后）0.02~0.15X射線＞250kV~500kV鉛屏（前后）0.02~0.2鉛屏（前）0.1~0.2b；鉛屏(后)0.02~0.2X射線＞500kV~1000kV鋼或銅屏（前后）0.25~0.7c/鉛屏（前后）0.02~0.2/鉛屏（前）0.1~0.2b鉛屏（后）0.02~0.2鋼或銅屏（前后）0.25~0.7cX射線＞1MeV~4MeV鋼或銅屏（前后）0.25~0.7c銅或鋼屏（后）≤1及鉭屏（后）≤0.5dGB/T19943—XXXX/ISO557表3鋁和鈦射線照相檢測所適用的膠片系統(tǒng)鉛屏（前后）0.02~0.15鉛屏（前后）0.1~0.2鉛屏（前后）0.02~0.15鉛屏（前）0.2b；鉛屏（后）0.1~0.2為減少散射線的影響，射線束透照時應(yīng)盡可能采用Se75、Ir192和Co60射線源或存在邊緣散射時，可在工件與暗盒之間放置一個鉛質(zhì)濾光板濾除GB/T19943—XXXX/ISO557為防止散射線對膠片的影響，必要時，應(yīng)在膠片暗袋后貼附至少1mm厚的鉛板或至少1.5源尺寸或焦點尺寸（d）應(yīng)按EN12543或EN12679規(guī)定測定。當(dāng)源尺寸或焦點尺寸有兩個方向尺寸 使用A級技術(shù)檢測平面型缺欠時，為使幾何不清晰度減小為原來的1/2，射線源－工件最小距離fmin對裂紋敏感性材料有更為嚴(yán)格的技術(shù)要求時，應(yīng)GB/T19943—XXXX/ISO557GB/T19943—XXXX/ISO557圖2確定射線源—工件最小距離fmin的諾模圖，與工件—膠片的距離b和源尺寸d的關(guān)系射線經(jīng)過厚度均勻評定區(qū)外端的斜向穿透厚度與中心束的穿透厚度之比，A級不應(yīng)大于1.2，B級不底片上由于射線穿透厚度變化所引起的黑度值變化的范圍，其下限值不宜低于6.8規(guī)定的數(shù)值，同GB/T19943—XXXX/ISO557射線照相條件應(yīng)使被檢測區(qū)域的底片總黑度(包括片基黑AB采用多膠片透照，單張底片觀察