2025年無(wú)損檢測(cè)射線(xiàn)RT初級(jí)面試重點(diǎn)題庫(kù)一、單選題（每題2分，共20題）1.射線(xiàn)探傷中，下列哪種材料對(duì)X射線(xiàn)吸收能力最強(qiáng)？A.鋁B.鋼C.鋁合金D.鎂2.射線(xiàn)探傷中，管電壓越高，產(chǎn)生的X射線(xiàn)波長(zhǎng)？A.越長(zhǎng)B.越短C.不變D.無(wú)法確定3.射線(xiàn)探傷中，下列哪種情況會(huì)導(dǎo)致曝光時(shí)間延長(zhǎng)？A.電壓升高B.物距增大C.敏感性提高D.管電流增大4.射線(xiàn)探傷中，膠片上感光最快的區(qū)域是？A.膠片中心B.膠片邊緣C.膠片背面D.無(wú)法確定5.射線(xiàn)探傷中，下列哪種情況會(huì)導(dǎo)致對(duì)比度降低？A.黑度增加B.曝光不足C.敏感性提高D.管電壓升高6.射線(xiàn)探傷中，下列哪種情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.以上都是7.射線(xiàn)探傷中，下列哪種情況會(huì)導(dǎo)致靈敏度降低？A.曝光過(guò)度B.黑度過(guò)低C.透度均勻D.以上都是8.射線(xiàn)探傷中，下列哪種情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.以上都是9.射線(xiàn)探傷中，下列哪種情況會(huì)導(dǎo)致靈敏度降低？A.曝光過(guò)度B.黑度過(guò)低C.透度均勻D.以上都是10.射線(xiàn)探傷中，下列哪種情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.以上都是二、多選題（每題3分，共10題）1.射線(xiàn)探傷中，下列哪些因素會(huì)影響曝光時(shí)間？A.電壓B.電流C.物距D.厚度2.射線(xiàn)探傷中，下列哪些情況會(huì)導(dǎo)致對(duì)比度降低？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.膠片類(lèi)型3.射線(xiàn)探傷中，下列哪些情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.膠片類(lèi)型4.射線(xiàn)探傷中，下列哪些因素會(huì)影響靈敏度？A.曝光時(shí)間B.黑度C.透度D.膠片類(lèi)型5.射線(xiàn)探傷中，下列哪些情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.膠片類(lèi)型6.射線(xiàn)探傷中，下列哪些因素會(huì)影響曝光時(shí)間？A.電壓B.電流C.物距D.厚度7.射線(xiàn)探傷中，下列哪些情況會(huì)導(dǎo)致對(duì)比度降低？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.膠片類(lèi)型8.射線(xiàn)探傷中，下列哪些情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.膠片類(lèi)型9.射線(xiàn)探傷中，下列哪些因素會(huì)影響靈敏度？A.曝光時(shí)間B.黑度C.透度D.膠片類(lèi)型10.射線(xiàn)探傷中，下列哪些情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷？A.曝光不足B.黑度過(guò)高C.透度不均D.膠片類(lèi)型三、判斷題（每題2分，共10題）1.射線(xiàn)探傷中，管電壓越高，產(chǎn)生的X射線(xiàn)波長(zhǎng)越長(zhǎng)。（×）2.射線(xiàn)探傷中，膠片上感光最快的區(qū)域是膠片中心。（√）3.射線(xiàn)探傷中，黑度越高，對(duì)比度越高。（×）4.射線(xiàn)探傷中，曝光不足會(huì)導(dǎo)致對(duì)比度降低。（√）5.射線(xiàn)探傷中，偽缺陷是指實(shí)際不存在的缺陷。（√）6.射線(xiàn)探傷中，透度不均會(huì)導(dǎo)致偽缺陷。（√）7.射線(xiàn)探傷中，靈敏度是指能夠檢測(cè)到的最小缺陷尺寸。（√）8.射線(xiàn)探傷中，膠片類(lèi)型對(duì)靈敏度有影響。（√）9.射線(xiàn)探傷中，物距越大，曝光時(shí)間越長(zhǎng)。（√）10.射線(xiàn)探傷中，偽缺陷是指實(shí)際不存在的缺陷。（√）四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共5題）1.簡(jiǎn)述射線(xiàn)探傷的基本原理。2.簡(jiǎn)述射線(xiàn)探傷的優(yōu)缺點(diǎn)。3.簡(jiǎn)述射線(xiàn)探傷的安全防護(hù)措施。4.簡(jiǎn)述射線(xiàn)探傷的曝光參數(shù)選擇原則。5.簡(jiǎn)述射線(xiàn)探傷的缺陷評(píng)定方法。五、計(jì)算題（每題10分，共2題）1.已知射線(xiàn)探傷的電壓為100kV，電流為10mA，物距為1m，探傷厚度為50mm，求曝光時(shí)間。（假設(shè)曝光指數(shù)為10）2.已知射線(xiàn)探傷的電壓為120kV，電流為15mA，物距為1.5m，探傷厚度為80mm，求曝光時(shí)間。（假設(shè)曝光指數(shù)為12）答案單選題答案1.B2.B3.B4.A5.B6.D7.B8.D9.B10.D多選題答案1.A,B,C,D2.A,B,C,D3.A,B,C,D4.A,B,C,D5.A,B,C,D6.A,B,C,D7.A,B,C,D8.A,B,C,D9.A,B,C,D10.A,B,C,D判斷題答案1.×2.√3.×4.√5.√6.√7.√8.√9.√10.√簡(jiǎn)答題答案1.射線(xiàn)探傷的基本原理是利用射線(xiàn)穿透被檢物體的能力，通過(guò)檢測(cè)射線(xiàn)在物體內(nèi)部缺陷處的衰減情況，來(lái)判斷物體內(nèi)部是否存在缺陷。2.射線(xiàn)探傷的優(yōu)點(diǎn)是可以檢測(cè)物體內(nèi)部的缺陷，缺點(diǎn)是可能存在偽缺陷和漏檢。3.射線(xiàn)探傷的安全防護(hù)措施包括佩戴防護(hù)用品、設(shè)置防護(hù)屏蔽、控制照射時(shí)間等。4.射線(xiàn)探傷的曝光參數(shù)選擇原則是根據(jù)被檢物體的厚度、材質(zhì)、缺陷類(lèi)型等因素選擇合適的曝光參數(shù)。5.射線(xiàn)探傷的缺陷評(píng)定方法包括目視評(píng)定、圖