2025年射線探傷工理論知識考試題庫及答案一、選擇題1.射線探傷中，射線的能量越高，則（）A.波長越短，穿透能力越強B.波長越長，穿透能力越強C.波長越短，穿透能力越弱D.波長越長，穿透能力越弱答案：A2.以下哪種射線源可用于探傷（）A.α射線B.β射線C.γ射線D.以上都可以答案：C3.射線探傷的主要優(yōu)點是（）A.可檢測內(nèi)部缺陷B.成本低C.檢測速度快D.對人體無害答案：A4.工業(yè)射線探傷中常用的γ射線源有（）A.鈷-60B.銫-137C.以上都是D.以上都不是答案：C5.X射線是由（）產(chǎn)生的A.放射性物質(zhì)衰變B.高速電子撞擊金屬靶C.化學反應D.以上都不對答案：B6.射線探傷中，底片上的影像黑度是指（）A.底片的顏色深淺B.底片對光的吸收程度C.底片上的密度大小D.以上都對答案：B7.為了提高射線探傷的靈敏度，應選擇（）A.較低的管電壓B.較高的管電壓C.與管電壓無關(guān)D.以上都不對答案：A8.射線探傷中，幾何不清晰度與（）有關(guān)A.焦點尺寸B.焦距C.工件厚度D.以上都是答案：D9.以下哪種缺陷在射線底片上的影像通常呈現(xiàn)為圓形或橢圓形（）A.裂紋B.氣孔C.夾渣D.未焊透答案：B10.射線探傷時，對底片進行評定的依據(jù)是（）A.缺陷的大小B.缺陷的性質(zhì)C.缺陷的位置D.以上都是答案：D11.在射線探傷中，散射線會（）A.降低底片的對比度B.提高底片的對比度C.對底片對比度無影響D.以上都不對答案：A12.射線探傷的防護措施主要有（）A.時間防護B.距離防護C.屏蔽防護D.以上都是答案：D13.射線探傷中，透照方式的選擇主要取決于（）A.工件的形狀B.工件的尺寸C.缺陷的可能位置D.以上都是答案：D14.以下哪種射線探傷方法對人體危害最大（）A.X射線探傷B.γ射線探傷C.中子射線探傷D.以上危害相同答案：B15.射線探傷中，底片上的偽缺陷可能是由（）引起的A.膠片質(zhì)量問題B.暗室處理不當C.工件表面污染D.以上都是答案：D16.射線探傷的適用范圍主要是（）A.金屬材料B.非金屬材料C.復合材料D.以上都適用答案：A17.射線探傷中，射線束的寬度應（）被檢工件的寬度A.大于B.小于C.等于D.以上都可以答案：A18.當射線源的能量一定時，被檢工件的厚度增加，射線的穿透率（）A.增加B.減少C.不變D.無法確定答案：B19.射線探傷中，底片上的影像清晰度主要取決于（）A.射線的能量B.幾何不清晰度C.膠片的粒度D.以上都是答案：D20.以下哪種情況不適合采用射線探傷（）A.檢測內(nèi)部缺陷B.檢測表面開口缺陷C.檢測較厚的工件D.檢測致密性材料答案：B二、判斷題1.射線探傷可以檢測所有類型的材料。（）答案：錯誤2.γ射線是由放射性物質(zhì)衰變產(chǎn)生的。（）答案：正確3.射線探傷的靈敏度只與射線的能量有關(guān)。（）答案：錯誤4.幾何不清晰度越大，底片上的影像越清晰。（）答案：錯誤5.射線探傷中，散射線對底片質(zhì)量有負面影響。（）答案：正確6.射線探傷的防護措施中，距離防護是最主要的。（）答案：正確7.射線探傷可以檢測出工件內(nèi)部的所有缺陷。（）答案：錯誤8.底片上的黑度越大，說明該部位吸收的射線越多。（）答案：正確9.射線探傷時，管電壓越高，穿透能力越強，所以應盡量選擇高的管電壓。（）答案：錯誤10.射線探傷中，透照方式的選擇不會影響探傷結(jié)果。（）答案：錯誤11.中子射線探傷也屬于射線探傷的一種。（）答案：正確12.射線探傷對人體有危害，所以在探傷過程中不需要進行檢測。（）答案：錯誤13.底片上的偽缺陷不會影響對真實缺陷的判斷。（）答案：錯誤14.射線探傷適用于檢測表面和近表面缺陷。（）答案：錯誤15.射線探傷中，射線束的強度均勻性對探傷結(jié)果沒有影響。（）答案：錯誤16.當被檢工件的材質(zhì)不同時，射線的穿透率也會不同。（）答案：正確17.射線探傷的底片可以長期保存，不會發(fā)生變化。（）答案：錯誤18.射線探傷中，提高射線的能量可以提高探傷的靈敏度。（）答案：錯誤19.射線探傷的檢測速度比超聲波探傷快。（）答案：錯誤20.射線探傷中，對底片進行評定時，只需要考慮缺陷的大小。（）答案：錯誤三、填空題1.射線探傷中常用的射線有______和______。答案：X射線；γ射線2.射線的能量與波長成______關(guān)系。答案：反比3.射線探傷的主要目的是檢測工件內(nèi)部的______。答案：缺陷4.工業(yè)射線探傷中，γ射線源的半衰期是指______。答案：放射性物質(zhì)的原子核有半數(shù)發(fā)生衰變時所需要的時間5.X射線管的主要組成部分有______、______和______。答案：陰極；陽極；玻璃外殼6.射線探傷中，底片的黑度是用______來測量的。答案：黑度計7.幾何不清晰度的計算公式為______。答案：Ug=df×b/L1（其中Ug為幾何不清晰度，df為焦點尺寸，b為工件表面至膠片的距離，L1為焦點至工件表面的距離）8.射線探傷中，散射線的來源主要有______和______。答案：工件本身；周圍物體9.射線探傷的防護措施包括______、______和______。答案：時間防護；距離防護；屏蔽防護10.射線探傷的透照方式主要有______、______和______。答案：縱縫透照；環(huán)縫透照；雙壁單影透照11.射線探傷中，底片上的影像質(zhì)量主要取決于______、______和______。答案：對比度；清晰度；靈敏度12.射線探傷對人體的危害主要是由于______引起的。答案：射線的電離作用13.射線探傷中，底片上的偽缺陷可能是由______、______和______等原因引起的。答案：膠片質(zhì)量問題；暗室處理不當；工件表面污染14.射線探傷的適用范圍主要是______材料。答案：金屬15.射線探傷中，射線束的寬度應______被檢工件的寬度。答案：大于16.當射線源的能量一定時，被檢工件的厚度增加，射線的穿透率______。答案：減少17.射線探傷中，底片上的影像清晰度主要取決于______、______和______。答案：射線的能量；幾何不清晰度；膠片的粒度18.射線探傷中，對底片進行評定的依據(jù)是______、______和______。答案：缺陷的大??；缺陷的性質(zhì)；缺陷的位置19.射線探傷的檢測速度比超聲波探傷______。答案：慢20.射線探傷中，為了提高探傷的靈敏度，應選擇______的管電壓。答案：較低四、簡答題1.簡述射線探傷的原理。射線探傷是利用射線（如X射線、γ射線等）能夠穿透物質(zhì)，并在穿透過程中與物質(zhì)發(fā)生相互作用，使射線的強度發(fā)生衰減的特性來檢測工件內(nèi)部缺陷的一種無損檢測方法。當射線穿透工件時，如果工件內(nèi)部存在缺陷，由于缺陷部位的物質(zhì)密度與周圍正常組織不同，射線在缺陷部位和正常部位的衰減程度也不同。這樣，在射線底片上就會形成與缺陷相對應的影像，通過對底片上影像的分析和判斷，就可以確定缺陷的位置、大小和性質(zhì)。2.比較X射線和γ射線的特點。X射線和γ射線都是電磁波，但它們有以下不同特點：-產(chǎn)生方式：X射線是由高速電子撞擊金屬靶產(chǎn)生的；γ射線是由放射性物質(zhì)衰變產(chǎn)生的。-能量和波長：γ射線的能量一般比X射線高，波長更短。-射線源特性：X射線的強度可以通過調(diào)節(jié)管電壓和管電流來控制；γ射線的強度則取決于放射性物質(zhì)的活度，且隨時間按指數(shù)規(guī)律衰減。-穿透能力：在相同條件下，γ射線的穿透能力比X射線強。-設(shè)備特點：X射線探傷設(shè)備體積較大，需要電源；γ射線探傷設(shè)備體積小，攜帶方便，但需要特殊的防護措施。3.射線探傷中，影響底片對比度的因素有哪些？-射線能量：射線能量越高，底片對比度越低。因為高能量射線使散射線增多，降低了影像的對比度。-工件厚度差：工件厚度差越大，底片上不同部位的射線吸收差異越大，對比度越高。-散射線：散射線會降低底片的對比度，因為它會使底片整體黑度增加，掩蓋了缺陷與正常部位的黑度差異。-膠片特性：不同類型的膠片對比度特性不同，高對比度膠片可以提高底片的對比度。-顯影條件：顯影時間、溫度等顯影條件會影響底片的對比度。顯影時間過長或溫度過高，會使底片對比度增加，但也可能導致灰霧度增大。4.簡述射線探傷的防護措施。-時間防護：盡量縮短操作人員接觸射線的時間?？梢酝ㄟ^合理安排工作流程、提高操作熟練程度等方式來減少受照時間。-距離防護：增大操作人員與射線源的距離。因為射線的強度與距離的平方成反比，距離越遠，射線強度越低。-屏蔽防護：在射線源與操作人員之間設(shè)置屏蔽物，如鉛板、混凝土墻等，以吸收和阻擋射線，減少操作人員受到的輻射劑量。-個人防護：操作人員應佩戴個人劑量計，實時監(jiān)測自己受到的輻射劑量。同時，穿戴鉛衣、鉛帽、鉛眼鏡等防護用品，減少身體各部位受到的輻射。-安全管理：制定嚴格的安全操作規(guī)程，對探傷場所進行有效的管理和監(jiān)控。設(shè)置明顯的警示標志，防止無關(guān)人員進入探傷區(qū)域。5.射線探傷中，底片上出現(xiàn)偽缺陷的原因有哪些，如何避免？原因：-膠片質(zhì)量問題：如膠片過期、受潮、有劃傷等，會在底片上形成類似缺陷的影像。-暗室處理不當：顯影液、定影液濃度不合適，顯影時間過長或過短，溫度控制不當，以及在暗室操作過程中膠片受到擠壓、摩擦等，都可能導致底片出現(xiàn)偽缺陷。-工件表面污染：工件表面的油污、鐵銹、氧化皮等雜質(zhì)，會影響射線的穿透和吸收，在底片上形成偽缺陷。-射線散射：周圍物體產(chǎn)生的散射線照射到膠片上，可能形成偽缺陷影像。避免方法：-選擇質(zhì)量合格的膠片，并妥善保存，避免膠片過期、受潮。-嚴格按照暗室處理操作規(guī)程進行操作，控制好顯影液、定影液的濃度、溫度和時間，避免膠片受到擠壓和摩擦。-對工件表面進行清理，去除油污、鐵銹、氧化皮等雜質(zhì)。-采用合適的屏蔽措施，減少散射線的影響。例如，在探傷時使用鉛板屏蔽周圍物體。6.如何選擇射線探傷的透照方式？選擇射線探傷的透照方式主要考慮以下因素：-工件形狀和尺寸：對于不同形狀和尺寸的工件，應選擇合適的透照方式。例如，對于平板狀工件，可采用縱縫透照或單壁透照；對于圓形筒體工件，可采用環(huán)縫透照或雙壁單影透照。-缺陷可能位置：根據(jù)工件的加工工藝和使用情況，分析缺陷可能出現(xiàn)的位置，選擇能夠最佳顯示這些缺陷的透照方式。例如，如果懷疑缺陷主要出現(xiàn)在焊縫根部，可選擇合適的透照角度和方式來清晰顯示根部缺陷。-探傷效率和成本：在滿足探傷要求的前提下，應考慮透照方式的探傷效率和成本。一些透照方式可能需要多次透照，效率較低；而某些透照方式可能需要特殊的設(shè)備和工裝，成本較高。因此，需要綜合考慮選擇合適的透照方式。-射線源和膠片的特性：不同的射線源和膠片對透照方式也有一定的要求。例如，γ射線源的射線束發(fā)散角較大，在選擇透照方式時需要考慮其對影像質(zhì)量的影響；不同類型的膠片對射線的靈敏度和對比度特性不同，也會影響透照方式的選擇。7.簡述射線探傷中底片評定的主要內(nèi)容和步驟。主要內(nèi)容：-缺陷的大?。簻y量底片上缺陷影像的尺寸，包括長度、寬度、直徑等，以確定缺陷的大小。-缺陷的性質(zhì)：根據(jù)缺陷影像的特征，如形狀、黑度、邊界等，判斷缺陷的性質(zhì)，如裂紋、氣孔、夾渣、未焊透等。-缺陷的位置：確定缺陷在工件中的位置，以便對工件的質(zhì)量和安全性進行評估。-缺陷的數(shù)量：統(tǒng)計底片上缺陷的數(shù)量，判斷缺陷的密集程度。步驟：-外觀檢查：檢查底片的外觀質(zhì)量，如底片是否有劃傷、污損、灰霧度是否符合要求等。-識別影像：在觀片燈下觀察底片，識別出正常組織和缺陷影像，并區(qū)分出偽缺陷。-測量和記錄：使用量具測量缺陷的大小，記錄缺陷的位置、數(shù)量等信息。-性質(zhì)判斷：根據(jù)缺陷影像的特征，結(jié)合相關(guān)標準和經(jīng)驗，判斷缺陷的性質(zhì)。-質(zhì)量評級：根據(jù)缺陷的大小、性質(zhì)、數(shù)量和位置等信息，按照相應的標準對工件進行質(zhì)量評級，確定工件是否合格。8.射線探傷與超聲波探傷相比，有哪些優(yōu)缺點？優(yōu)點：-直觀性：射線探傷底片上可以直接顯示出缺陷的影像，能夠直觀地觀察到缺陷的形狀、大小和位置，便于對缺陷進行分析和判斷。-檢測范圍：可以檢測各種類型的內(nèi)部缺陷，包括氣孔、夾渣、未焊透、裂紋等，對缺陷的檢測準確性較高。-記錄性：底片可以長期保存，作為檢測結(jié)果的永久性記錄，便于后續(xù)的復查和追溯。缺點：-成本較高：射線探傷設(shè)備價格昂貴，且需要使用放射性物質(zhì)或高壓電源，運行成本和維護成本較高。-檢測速度慢：射線探傷需要進行多次透照和底片處理，檢測速度相對較慢，不適合大批量工件的快速檢測。-對人體有危害：射線對人體有輻射危害，需要采取嚴格的防護措施，增加了檢測的復雜性和成本。-對表面和近表面缺陷檢測能力差：射線探傷主要適用于檢測內(nèi)部缺陷，對表面和近表面缺陷的檢測效果不如超聲波探傷。五、計算題1.已知X射線管的管電壓為200kV，求該X射線的最短波長。根據(jù)公式λmin=1.24/U（kV）（其中λmin為最短波長，U為管電壓），將U=200kV代入公式可得：λmin=1.24/200=0.0062nm答：該X射線的最短波長為0.0062nm。2.用鈷-60進行射線探傷，已知鈷-60的半衰期為5.27年，初始活度為10Ci，經(jīng)過10.54年后，其活度變?yōu)槎嗌?？根?jù)半衰期公式A=A0×(1/2)^(t/T)（其中A為經(jīng)過時間t后的活度，A0為初始活度，T為半衰期），已知A0=10Ci，T=5.27年，t=10.54年。將數(shù)值代入公式可得：A=10×(1/2)^(10.54/5.27)=10×(1/2