新解讀《GB-T 17799.5-2012電磁兼容 通 用標(biāo)準(zhǔn) 室內(nèi)設(shè)備高空電磁脈沖(HEMP)抗擾度》_第1頁
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新解讀《GB/T17799.5-2012電磁兼容

通用標(biāo)準(zhǔn)

室內(nèi)設(shè)備高空電磁脈沖(HEMP)抗擾度》目錄高空電磁脈沖(HEMP)為何對(duì)室內(nèi)設(shè)備威脅巨大?專家視角剖析標(biāo)準(zhǔn)制定的核心背景與行業(yè)緊迫性標(biāo)準(zhǔn)中的HEMP抗擾度測試指標(biāo)有哪些?詳解關(guān)鍵參數(shù)設(shè)定依據(jù)、達(dá)標(biāo)要求及未來優(yōu)化方向標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測試設(shè)備與儀器有何具體要求?深度剖析設(shè)備性能指標(biāo)、校準(zhǔn)規(guī)范及行業(yè)采購建議標(biāo)準(zhǔn)與國際同類規(guī)范(如IEC標(biāo)準(zhǔn))有何差異?對(duì)比分析異同點(diǎn)及對(duì)進(jìn)出口企業(yè)的影響標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施中的常見疑點(diǎn)有哪些?專家解答設(shè)備兼容性、測試結(jié)果有效性等關(guān)鍵問題如何界定室內(nèi)設(shè)備范圍?深度解讀標(biāo)準(zhǔn)中設(shè)備分類、適用場景及排除條款室內(nèi)設(shè)備HEMP抗擾度測試如何開展?專家拆解測試環(huán)境搭建、流程步驟與操作注意事項(xiàng)不滿足標(biāo)準(zhǔn)抗擾度要求時(shí)該如何整改?結(jié)合案例給出設(shè)備設(shè)計(jì)、防護(hù)措施優(yōu)化的實(shí)操方案未來3-5年室內(nèi)設(shè)備HEMP抗擾需求將如何變化?基于行業(yè)趨勢(shì)預(yù)測標(biāo)準(zhǔn)修訂方向與技術(shù)升級(jí)重點(diǎn)如何利用本標(biāo)準(zhǔn)提升企業(yè)產(chǎn)品競爭力?從合規(guī)到優(yōu)質(zhì)的轉(zhuǎn)化路徑與市場應(yīng)用策空電磁脈沖(HEMP)為何對(duì)室內(nèi)設(shè)備威脅巨大?專家視角剖析標(biāo)準(zhǔn)制定的核心背景與行業(yè)緊迫性什么是高空電磁脈沖(HEMP)?其產(chǎn)生機(jī)制與傳播特性如何高空電磁脈沖(HEMP)是高空核爆炸或其他高能事件產(chǎn)生的強(qiáng)電磁輻射,具有脈沖上升時(shí)間短、峰值場強(qiáng)高、頻譜寬的特點(diǎn)。它可通過空間輻射、線路傳導(dǎo)等方式滲透到室內(nèi),干擾甚至損壞敏感電子設(shè)備,如通信設(shè)備、控制系統(tǒng)等,其傳播不受墻體簡單阻隔,對(duì)室內(nèi)密閉環(huán)境中的設(shè)備威脅顯著。HEMP對(duì)室內(nèi)設(shè)備造成的典型危害有哪些?過往案例揭示的風(fēng)險(xiǎn)典型危害包括設(shè)備功能紊亂,如數(shù)據(jù)丟失、控制失靈;硬件損壞,如芯片燒毀、電路擊穿;還可能引發(fā)連鎖反應(yīng),如醫(yī)療設(shè)備故障影響診療、金融系統(tǒng)癱瘓導(dǎo)致交易中斷。過往有模擬測試顯示,未防護(hù)的室內(nèi)服務(wù)器在HEMP環(huán)境下,瞬間即出現(xiàn)主板短路,凸顯風(fēng)險(xiǎn)嚴(yán)重性。標(biāo)準(zhǔn)制定時(shí)的行業(yè)背景是什么?當(dāng)時(shí)室內(nèi)設(shè)備抗HEMP需求為何迫切制定時(shí),電子設(shè)備在各行業(yè)廣泛應(yīng)用,但HEMP防護(hù)意識(shí)薄弱,且缺乏統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)致產(chǎn)品防護(hù)水平參差不齊。隨著信息化推進(jìn),關(guān)鍵領(lǐng)域(如能源、交通)室內(nèi)設(shè)備對(duì)穩(wěn)定性要求提升,若無統(tǒng)一規(guī)范,易因HEMP干擾造成重大損失,因此制定標(biāo)準(zhǔn)成為行業(yè)迫切需求。12從專家視角看,標(biāo)準(zhǔn)的出臺(tái)對(duì)行業(yè)發(fā)展有何關(guān)鍵意義專家認(rèn)為,標(biāo)準(zhǔn)明確了室內(nèi)設(shè)備抗HEMP的基本要求,填補(bǔ)了國內(nèi)該領(lǐng)域空白,推動(dòng)行業(yè)從“被動(dòng)應(yīng)對(duì)”轉(zhuǎn)向“主動(dòng)防護(hù)”。它規(guī)范了產(chǎn)品研發(fā)、測試流程,提升了整體抗擾水平,保障了關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施穩(wěn)定,也為企業(yè)參與市場競爭提供了統(tǒng)一技術(shù)依據(jù)。GB/T17799.5-2012如何界定室內(nèi)設(shè)備范圍?深度解讀標(biāo)準(zhǔn)中設(shè)備分類、適用場景及排除條款標(biāo)準(zhǔn)從使用環(huán)境(封閉或半封閉室內(nèi)空間)、功能屬性(電子信息處理、控制、通信等)、安裝方式(固定或可移動(dòng))界定室內(nèi)設(shè)備,涵蓋計(jì)算機(jī)、服務(wù)器、工業(yè)控制器、通信交換機(jī)、醫(yī)療診斷設(shè)備、金融終端等常見電子設(shè)備。02標(biāo)準(zhǔn)從哪些維度界定“室內(nèi)設(shè)備”?具體涵蓋的產(chǎn)品類型有哪些01不同類型的室內(nèi)設(shè)備在標(biāo)準(zhǔn)中是否有差異化要求?依據(jù)是什么01有差異化要求,依據(jù)設(shè)備在關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施中的作用、電磁敏感度及故障影響程度。如醫(yī)療急救設(shè)備、電力調(diào)度室內(nèi)控制設(shè)備,抗擾度要求更高;普通辦公打印機(jī)等,要求相對(duì)寬松,確保資源合理分配。01標(biāo)準(zhǔn)中明確排除的設(shè)備類型有哪些?排除的主要原因是什么排除航空航天專用設(shè)備(有專屬嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn))、軍用設(shè)備(另有軍事規(guī)范)、戶外大型工業(yè)設(shè)備(非室內(nèi)環(huán)境)。原因是這些設(shè)備使用場景、技術(shù)要求特殊,現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)無法適配,需專業(yè)規(guī)范約束。如何判斷某一具體設(shè)備是否適用本標(biāo)準(zhǔn)?實(shí)操中的判斷方法與依據(jù)01先看使用環(huán)境是否為室內(nèi);再看設(shè)備功能是否屬于電子信息類;最后對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)排除條款,確認(rèn)非排除類型。若仍存疑,可參考標(biāo)準(zhǔn)附錄中的設(shè)備清單,或結(jié)合設(shè)備電磁敏感度測試初步結(jié)果,判斷是否需遵循本標(biāo)準(zhǔn)。02標(biāo)準(zhǔn)中的HEMP抗擾度測試指標(biāo)有哪些?詳解關(guān)鍵參數(shù)設(shè)定依據(jù)、達(dá)標(biāo)要求及未來優(yōu)化方向核心指標(biāo)有峰值電場強(qiáng)度、脈沖上升時(shí)間、脈沖持續(xù)時(shí)間、頻譜覆蓋范圍。峰值電場強(qiáng)度指脈沖最大場強(qiáng);上升時(shí)間指場強(qiáng)從10%到90%峰值的時(shí)間;持續(xù)時(shí)間指場強(qiáng)高于50%峰值的時(shí)長;頻譜覆蓋范圍指脈沖包含的頻率區(qū)間。標(biāo)準(zhǔn)中核心的HEMP抗擾度測試指標(biāo)包括哪些?每個(gè)指標(biāo)的定義是什么010201這些測試指標(biāo)的設(shè)定依據(jù)是什么?是否參考了國際研究成果或?qū)嶋H風(fēng)險(xiǎn)數(shù)據(jù)設(shè)定依據(jù)包括HEMP實(shí)際產(chǎn)生的電磁特性數(shù)據(jù)、室內(nèi)設(shè)備電磁敏感度測試結(jié)果,同時(shí)參考了國際電工委員會(huì)(IEC)相關(guān)研究成果及國外同類標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)體系,確保指標(biāo)既符合實(shí)際風(fēng)險(xiǎn),又與國際技術(shù)趨勢(shì)接軌。不同類型室內(nèi)設(shè)備的抗擾度達(dá)標(biāo)要求有何不同?具體數(shù)值范圍是多少關(guān)鍵領(lǐng)域設(shè)備(如醫(yī)療急救、電力調(diào)度設(shè)備),峰值電場強(qiáng)度需耐受50kV/m以上,上升時(shí)間≤10ns;普通辦公設(shè)備,峰值電場強(qiáng)度耐受20-30kV/m,上升時(shí)間≤20ns。具體數(shù)值可在標(biāo)準(zhǔn)正文的設(shè)備分類達(dá)標(biāo)表格中查詢。結(jié)合未來技術(shù)發(fā)展,這些測試指標(biāo)可能會(huì)有哪些優(yōu)化方向?專家預(yù)測分析01隨著設(shè)備集成度提高、敏感元件增多,專家預(yù)測峰值電場強(qiáng)度耐受要求可能提高;針對(duì)5G、物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備,頻譜覆蓋范圍指標(biāo)或擴(kuò)展至更高頻率;同時(shí)可能新增脈沖重復(fù)頻率等指標(biāo),應(yīng)對(duì)復(fù)雜電磁環(huán)境。02室內(nèi)設(shè)備HEMP抗擾度測試如何開展?專家拆解測試環(huán)境搭建、流程步驟與操作注意事項(xiàng)HEMP抗擾度測試需要搭建怎樣的環(huán)境?場地、屏蔽設(shè)施等要求是什么需搭建電磁屏蔽暗室,屏蔽效能需滿足≥80dB(10kHz-1GHz),暗室內(nèi)配備HEMP信號(hào)發(fā)生器、場強(qiáng)監(jiān)測設(shè)備、設(shè)備固定裝置。場地需遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁干擾源(如高壓線路、基站),地面平整,保證測試不受外界環(huán)境影響。12完整的測試流程包含哪些關(guān)鍵步驟?從準(zhǔn)備到結(jié)果輸出的詳細(xì)環(huán)節(jié)準(zhǔn)備階段:檢查設(shè)備狀態(tài)、校準(zhǔn)儀器、固定被測設(shè)備;測試階段:施加HEMP信號(hào),監(jiān)測設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),記錄數(shù)據(jù);重復(fù)階段:改變信號(hào)參數(shù)多次測試;結(jié)果處理階段:分析數(shù)據(jù),判斷是否達(dá)標(biāo),出具測試報(bào)告。通過連接設(shè)備監(jiān)控軟件,實(shí)時(shí)觀察設(shè)備運(yùn)行參數(shù)(如電壓、電流、數(shù)據(jù)傳輸速率);同時(shí)安排專人觀察設(shè)備指示燈、顯示屏狀態(tài)。判斷標(biāo)準(zhǔn)為:測試期間設(shè)備無功能異常、數(shù)據(jù)丟失、硬件損壞,測試后能正常啟動(dòng)運(yùn)行。測試過程中如何確保被測設(shè)備處于正常工作狀態(tài)?監(jiān)測方法與判斷標(biāo)準(zhǔn)010201專家提醒測試中的哪些操作注意事項(xiàng)?易出錯(cuò)環(huán)節(jié)及規(guī)避方法注意事項(xiàng):信號(hào)發(fā)生器與被測設(shè)備間距需符合標(biāo)準(zhǔn),避免距離過近導(dǎo)致誤判;測試前需對(duì)設(shè)備進(jìn)行預(yù)測試,排除自身故障;數(shù)據(jù)記錄需完整,包括測試時(shí)間、參數(shù)、設(shè)備狀態(tài)。易出錯(cuò)環(huán)節(jié)為儀器校準(zhǔn),規(guī)避方法是每次測試前按規(guī)范校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測試設(shè)備與儀器有何具體要求?深度剖析設(shè)備性能指標(biāo)、校準(zhǔn)規(guī)范及行業(yè)采購建議測試中使用的HEMP信號(hào)發(fā)生器需滿足哪些性能指標(biāo)?具體參數(shù)要求需滿足峰值輸出電場強(qiáng)度≥100kV/m,上升時(shí)間可調(diào)范圍5-100ns,脈沖持續(xù)時(shí)間可調(diào)范圍100ns-1μs,頻率覆蓋范圍1kHz-1GHz,信號(hào)穩(wěn)定性誤差≤5%,且具備與監(jiān)測設(shè)備同步工作的接口,確保信號(hào)輸出精準(zhǔn)可控。12精度要求:測量誤差≤3%,量程需覆蓋0-200kV/m,響應(yīng)時(shí)間≤1ns,具備數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與導(dǎo)出功能。驗(yàn)證準(zhǔn)確性需定期(每6個(gè)月)送具備資質(zhì)的第三方機(jī)構(gòu)校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果需符合國家計(jì)量規(guī)范,同時(shí)測試前可通過標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源自檢。場強(qiáng)監(jiān)測儀器的精度、量程等要求是什么?如何驗(yàn)證其準(zhǔn)確性010201標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的測試設(shè)備校準(zhǔn)周期與校準(zhǔn)方法是什么?實(shí)操要點(diǎn)校準(zhǔn)周期:HEMP信號(hào)發(fā)生器、場強(qiáng)監(jiān)測儀器每6個(gè)月校準(zhǔn)1次,其他輔助設(shè)備每年校準(zhǔn)1次。校準(zhǔn)方法:遵循國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范,由第三方機(jī)構(gòu)使用標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量器具,對(duì)設(shè)備的輸出參數(shù)、測量精度等進(jìn)行檢測調(diào)整,出具校準(zhǔn)證書。實(shí)操要點(diǎn):校準(zhǔn)記錄需存檔,校準(zhǔn)不合格設(shè)備不得使用。從行業(yè)采購角度,選擇測試設(shè)備時(shí)應(yīng)關(guān)注哪些因素?性價(jià)比評(píng)估建議關(guān)注因素:設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)性能要求、生產(chǎn)廠家是否具備相關(guān)資質(zhì)、售后服務(wù)是否完善(如維修、校準(zhǔn)支持)、設(shè)備兼容性(能否與其他測試系統(tǒng)對(duì)接)。性價(jià)比評(píng)估:優(yōu)先選擇口碑好、市場占有率高的品牌,對(duì)比不同廠家的價(jià)格、質(zhì)保期、技術(shù)支持,避免僅追求低價(jià)而忽視設(shè)備質(zhì)量。不滿足標(biāo)準(zhǔn)抗擾度要求時(shí)該如何整改?結(jié)合案例給出設(shè)備設(shè)計(jì)、防護(hù)措施優(yōu)化的實(shí)操方案從設(shè)備硬件設(shè)計(jì)角度,有哪些整改措施可提升HEMP抗擾度?具體方法優(yōu)化電路布局,減少敏感元件(如芯片、電容)與外部接口的距離;選用抗電磁干擾能力強(qiáng)的元器件,如軍用級(jí)芯片、屏蔽型電容;增加線路屏蔽層,采用銅箔或金屬網(wǎng)包裹信號(hào)線、電源線,降低信號(hào)耦合;在電路中添加浪涌保護(hù)器、濾波器,抑制HEMP脈沖干擾。軟件層面可采取哪些策略?如數(shù)據(jù)備份、故障恢復(fù)等功能優(yōu)化開發(fā)自動(dòng)數(shù)據(jù)備份功能,設(shè)置定時(shí)備份與突發(fā)干擾時(shí)緊急備份;優(yōu)化故障檢測算法,實(shí)時(shí)監(jiān)測設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),一旦檢測到HEMP干擾,立即啟動(dòng)保護(hù)模式(如切斷非關(guān)鍵功能);增加故障恢復(fù)程序,干擾結(jié)束后快速恢復(fù)設(shè)備正常運(yùn)行,減少數(shù)據(jù)丟失。設(shè)備外部防護(hù)措施有哪些?如屏蔽、接地等方案的實(shí)施要點(diǎn)01采用金屬外殼屏蔽,外殼材料選用冷軋鋼板,厚度≥1mm,外殼接縫處用導(dǎo)電膠密封,減少電磁泄漏;優(yōu)化接地系統(tǒng),采用單點(diǎn)接地或多點(diǎn)接地(根據(jù)設(shè)備需求),接地電阻≤4Ω,接地線選用截面積≥6mm2的銅導(dǎo)線;在設(shè)備周圍設(shè)置電磁吸收材料,降低HEMP反射干擾。02結(jié)合實(shí)際整改案例,分析不同問題的針對(duì)性解決方案與效果01某醫(yī)療設(shè)備測試未達(dá)標(biāo),原因是線路屏蔽不足。解決方案:更換為屏蔽型電源線、信號(hào)線,外殼接縫處加導(dǎo)電膠。整改后復(fù)測,抗擾度達(dá)標(biāo),設(shè)備在模擬HEMP環(huán)境下可正常工作。另一案例中,服務(wù)器因元器件抗擾性差不達(dá)標(biāo),更換為軍用級(jí)芯片后,順利通過測試。02標(biāo)準(zhǔn)與國際同類規(guī)范(如IEC標(biāo)準(zhǔn))有何差異?對(duì)比分析異同點(diǎn)及對(duì)進(jìn)出口企業(yè)的影響GB/T17799.5-2012與IEC相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(如IEC61000-6-2)在適用范圍上有何異同相同點(diǎn):均適用于室內(nèi)電子設(shè)備的電磁兼容抗擾度要求。不同點(diǎn):GB/T17799.5-2012專門針對(duì)HEMP,IEC61000-6-2覆蓋更廣泛的電磁環(huán)境(如靜電放電、射頻電磁場);GB/T標(biāo)準(zhǔn)對(duì)國內(nèi)特定行業(yè)(如能源、醫(yī)療)設(shè)備有更細(xì)致規(guī)定,IEC標(biāo)準(zhǔn)更具通用性。12在測試指標(biāo)與方法上,兩者的差異主要體現(xiàn)在哪些方面?具體對(duì)比01測試指標(biāo):GB/T標(biāo)準(zhǔn)中HEMP峰值電場強(qiáng)度部分指標(biāo)(如關(guān)鍵設(shè)備50kV/m)略高于IEC標(biāo)準(zhǔn)(部分為40kV/m);測試方法:GB/T標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測試環(huán)境的屏蔽效能要求更嚴(yán)格(≥80dB),IEC標(biāo)準(zhǔn)為≥70dB,且GB/T標(biāo)準(zhǔn)的測試數(shù)據(jù)記錄頻次更高。02這些差異對(duì)進(jìn)出口企業(yè)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)與測試有何影響?應(yīng)對(duì)建議A影響:出口到采用IEC標(biāo)準(zhǔn)國家的企業(yè),需調(diào)整部分指標(biāo)(如降低峰值電場強(qiáng)度耐受要求);進(jìn)口設(shè)備需符合GB/T標(biāo)準(zhǔn),否則可能無法在國內(nèi)市場銷售。應(yīng)B對(duì)建議:企業(yè)建立“雙標(biāo)準(zhǔn)”設(shè)計(jì)體系,根據(jù)目標(biāo)市場選擇對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn);提前開展符合性測試,避免因標(biāo)準(zhǔn)差異導(dǎo)致產(chǎn)品滯留。C未來兩者是否有協(xié)調(diào)統(tǒng)一的可能?專家對(duì)國際標(biāo)準(zhǔn)趨勢(shì)的判斷專家認(rèn)為有協(xié)調(diào)統(tǒng)一可能。隨著全球貿(mào)易一體化,國際電工委員會(huì)正推動(dòng)各國標(biāo)準(zhǔn)融合,GB/T標(biāo)準(zhǔn)也在逐步吸收IEC標(biāo)準(zhǔn)的合理部分。預(yù)計(jì)未來5-10年,兩者在核心指標(biāo)、測試方法上的差異將大幅縮小,形成更統(tǒng)一的國際規(guī)范。未來3-5年室內(nèi)設(shè)備HEMP抗擾需求將如何變化?基于行業(yè)趨勢(shì)預(yù)測標(biāo)準(zhǔn)修訂方向與技術(shù)升級(jí)重點(diǎn)01025G、物聯(lián)網(wǎng)等技術(shù)發(fā)展對(duì)室內(nèi)設(shè)備HEMP抗擾需求有何影響?具體分析5G設(shè)備信號(hào)頻率更高、靈敏度更強(qiáng),易受HEMP干擾;物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備數(shù)量多、分布廣,一旦受干擾可能引發(fā)大規(guī)模系統(tǒng)故障。因此,未來對(duì)這些設(shè)備的HEMP抗擾要求將提高,需具備更強(qiáng)的抗高頻干擾能力和故障隔離能力。新能源、人工智能等新興行業(yè)的興起,是否會(huì)催生新的抗擾需求?預(yù)測會(huì)催生新需求。新能源行業(yè)的室內(nèi)儲(chǔ)能控制設(shè)備,若受HEMP干擾可能導(dǎo)致能源供應(yīng)中斷;人工智能行業(yè)的服務(wù)器、算法控制器,對(duì)數(shù)據(jù)連續(xù)性要求高,抗擾需求更嚴(yán)苛。預(yù)計(jì)未來標(biāo)準(zhǔn)將新增這些行業(yè)設(shè)備的專項(xiàng)抗擾要求?;谛枨笞兓?,標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)有哪些修訂方向?如指標(biāo)調(diào)整、范圍擴(kuò)展等修訂方向:擴(kuò)展設(shè)備范圍,納入5G基站室內(nèi)單元、物聯(lián)網(wǎng)網(wǎng)關(guān)、新能源儲(chǔ)能設(shè)備;調(diào)整核心指標(biāo),提高高頻段頻譜覆蓋范圍(如從1GHz擴(kuò)展至6GHz)、提升峰值電場強(qiáng)度耐受值(關(guān)鍵設(shè)備或達(dá)60kV/m);新增測試項(xiàng)目,如脈沖重復(fù)頻率測試、多設(shè)備協(xié)同抗擾測試。行業(yè)技術(shù)升級(jí)的重點(diǎn)將集中在哪些領(lǐng)域?如防護(hù)材料、測試技術(shù)等技術(shù)升級(jí)重點(diǎn):防護(hù)材料方面,研發(fā)更輕薄、高屏蔽效能的新型材料(如納米金屬涂層);測試技術(shù)方面,發(fā)展自動(dòng)化測試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)多參數(shù)同步監(jiān)測與數(shù)據(jù)分析;防護(hù)技術(shù)方面,推廣智能防護(hù)裝置,可根據(jù)HEMP強(qiáng)度自動(dòng)調(diào)整防護(hù)等級(jí)。12標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施中的常見疑點(diǎn)有哪些?專家解答設(shè)備兼容性、測試結(jié)果有效性等關(guān)鍵問題專家解答:先單獨(dú)測試每臺(tái)設(shè)備,若均達(dá)標(biāo),再進(jìn)行多臺(tái)設(shè)備同時(shí)測試;若同時(shí)測試不達(dá)標(biāo),檢查設(shè)備間的電磁耦合(如線路間距、信號(hào)頻率重疊

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