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板級(jí)封裝在功率模塊上的應(yīng)用目
錄高功率密度模塊
的需求基礎(chǔ)工藝研究
板級(jí)封裝案列
天芯互聯(lián)簡(jiǎn)介
01020304高功率密度的模塊需求功率器件發(fā)展方向:高功率密度、模塊化封裝發(fā)展方向:集成化、小型化高功率密度模塊的應(yīng)用場(chǎng)景電動(dòng)汽車(chē)主逆變器,羅姆SiC封裝型模塊“TRCDRIVE
pack?”體積更小供電模塊小型化、高散熱,
電源向集成小型化、高散熱、高性能、高可靠性等方向發(fā)展服務(wù)器的供電模塊汽車(chē)逆變模塊先進(jìn)封裝平臺(tái)
n
天芯先進(jìn)封裝業(yè)務(wù)聚焦PLP
、WLP
、SIP
、
FCBGA封裝51、依托PCB工藝平臺(tái)打造的板級(jí)封裝2、聚焦在功率類(lèi)產(chǎn)品,
I/Opitch>180μm3、工藝優(yōu)勢(shì)在于載流和散熱板級(jí)封裝的技術(shù)來(lái)源和平臺(tái)能力普銳斯混動(dòng)功率模塊
Danfoss
汽車(chē)功率模塊
三菱電機(jī)J1系列散熱方式:?jiǎn)蚊鎕eatSink→雙面HeakSink板級(jí)封裝的技術(shù)來(lái)源和平臺(tái)能力l
銅柱芯片互聯(lián)方式l
雙面Heat-sink散熱方式板級(jí)封裝解決方案芯片間連接方式:鋁線(xiàn)/鋁帶→銅線(xiàn)/銅片Heat-sinkBlindviaHeat-sink目
錄高功率密度模塊
的需求基礎(chǔ)工藝研究
板級(jí)封裝案例
天芯互聯(lián)簡(jiǎn)介
01020304l
合理的RDL結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可以減少FOPLP封裝在熱沖擊條件下的累積應(yīng)力,這將抑制導(dǎo)通電阻的增加,提高器件封裝的可靠性可靠性問(wèn)題_盲孔熱/機(jī)械性能研究通流的研究
n
孔變槽l
增加銅柱與芯片接觸面積l
芯片互聯(lián)層增加銅厚n
厚銅10l
底部通過(guò)散熱熱沉襯底能夠快速地將熱量散發(fā)到周?chē)h(huán)境中,以保持器件的工作溫度在安全范圍內(nèi)l
頂部通過(guò)銅柱散到表面散熱的研究Cu
platingSingulationModule
FOPLPCu
platingSingulation&
FTCu
platingLamination FOPLP工藝流程介紹基礎(chǔ)工藝流程Chip
First-DieFace
upChip
First-DieFace
upCu
platingCu
platingCu
platingLaserdrillLaser
drillLaser
drillSingulationLaser
drillLaser
drillSolder
MaskMoldingMoldingMoldingMoldingDieAttachDieAttachDieAttachLaminationLaminationSolder
MaskCu
CarrierCu
CarrierFinalTestFinalTestPatternPatternPatternPatternPatternPatternSMTItemHVMNPITech
node14nm7nmWafertypeSiliconSiliconMask
layer3P3M3P3MRDL
ProcessRDL
MaterialCuCuMin
RDL
L/S
-um8/85/5Max
RDLTHK-um1012Re-PassivationMaterialHD4100BL301HD4100BL301
0P1M/1P1M FOPLP工藝流程介紹BG目
錄高功率密度模塊
的需求基礎(chǔ)工藝研究
板級(jí)封裝案例
天芯互聯(lián)簡(jiǎn)介
01020304功率MOSFET應(yīng)用研究FOPLP工藝WB工藝封裝體內(nèi)阻WB方案Rdson=1.1mΩFOPLP方案Rdson=0.25mΩ可定制封裝寄生內(nèi)阻同clip工藝持平,只有WB的25%DFN3*3FOPLP(DFN5X6)lModelResistance(mΩ)
0.20.20.6Table7Theta)cpowerT
TcJCLeg13.8W90.2oc23.7C/WLeg23.8W21.3C/WLeg33.8W74.4ocLeg43.8W5.2低內(nèi)阻高散熱功率MOSFET應(yīng)用研究l
PLP
DFN5*6雙面散熱結(jié)構(gòu)對(duì)比傳統(tǒng)封裝的θJC要低60%PLP
DFN5*6寄生內(nèi)阻與cu
clip相當(dāng)Cu
Clip(PDFN5X6)鋁帶(PDFN5X6)PakageTypeTheta
JCpowerTJTcJCclip3.8WFOP
LP3.8W5.2'C/W雙芯半橋模塊熱仿真結(jié)果:clip工藝雙面扇出工藝(雙面散熱)l
水平結(jié)構(gòu)的雙芯MOSFET封裝,不需要重新設(shè)計(jì)clip,產(chǎn)品內(nèi)阻低,同時(shí)可以設(shè)計(jì)雙面散熱多芯MOS應(yīng)用研究X-ray:
①切片①:外觀:方案ThetaJCPowerTJTCθJCNo
Heatsink2W77.4℃0℃38.7℃/WWith
Heatsink2W10.5℃0℃5.3℃/WWith
Heatsinkl
減少芯片間連線(xiàn)長(zhǎng)度,降低信號(hào)損耗和干擾l
有效降低產(chǎn)品的內(nèi)阻多芯MOS應(yīng)用研究u
三維堆疊
Die
圖
eiD
u
三維堆疊With
HeatsinkNo
Heatsinku
高散熱No
Heatsink
Die
Die18多芯MOS應(yīng)用研究利用板級(jí)扇出式封裝工藝開(kāi)發(fā)包含6顆Si
MOSFET芯片的三相全橋驅(qū)動(dòng)電路集成模塊l
FOPLP性能提升方向:增加芯片Via數(shù)量、芯片Via大小、材料導(dǎo)熱系數(shù)、材料厚度l
傳統(tǒng)封裝改善方向:塑封料的導(dǎo)熱系數(shù)方案ThetaJCPowerTJTCθJCJB2W43.2℃35.5℃3.9℃/WJC2W171.2℃0℃85.6℃/W IPM模塊系統(tǒng)級(jí)封裝案列u
三維堆疊l尺寸縮小,
DFN8*8(8mm*8mm)縮小到DFN5*6l載流能力性能提升DriverL/F
DieDieu
高散熱20產(chǎn)品外觀
X-Ray
DFN2.2x2.5結(jié)構(gòu)圖向上扇出JC模型l相比于FCQFN封裝,
FOPLP封裝具有較好的散熱能力,得益于芯片背面通過(guò)導(dǎo)電膠與銅載板相連
,提高了芯片的散熱能力
PMIC封裝案列替代FCQFN或者FCLGA工藝Stack-upL1PPL2EMCDIE內(nèi)層板SM設(shè)
計(jì)
圖
仿
真
結(jié)
構(gòu)
圖仿
真
結(jié)
果恒溫銅塊
四周絕熱Thickness
(Micron)40955022020035600銅載板銀膠芯片塑封料布線(xiàn)層塑封料芯片布線(xiàn)層FCQFN封裝:Tj
=37.0℃FOPLP封裝:Tj
=2.1℃產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖結(jié)構(gòu)圖FCQFN封裝FOPLP封裝21TotalThickness:lModule
FOPLP工藝芯片與銅相連
,提升了產(chǎn)品散熱能力l具備集成化和小型化優(yōu)勢(shì)
PMIC封裝案列Module
FOPLP工藝產(chǎn)品JC模型成品切片圖產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖成品切片圖結(jié)構(gòu)圖結(jié)構(gòu)圖設(shè)計(jì)圖設(shè)計(jì)圖TOPViewTOPViewSideViewSideViewX-RayX-Ray22GaN雙面散熱封裝L1
Cu-PODL2
CuLead
FrameVia
L1to
L2Via
L2to
Diel
FOPLP、雙面散熱(裸露散熱片)L2銅層外觀封裝設(shè)計(jì)圖X-Ray圖成品外觀結(jié)構(gòu)示意圖切片圖BottomViewTopViewSideView23n
FOPLP
+
Molding工藝,GaN
+Control
+
Inductor合封n4顆GaN
FaceUp,實(shí)現(xiàn)三維堆疊n封裝尺寸:
17.00x13.50x3.15mmGaN系統(tǒng)級(jí)封裝案列InductorT-PadControlGaN24目
錄高功率密度模塊
的需求基礎(chǔ)工藝研究
板級(jí)封裝案例
天芯互聯(lián)簡(jiǎn)介
01020304先進(jìn)封裝與系統(tǒng)集成解決方案主
營(yíng)
業(yè)
務(wù)一站式解決方案集成電路測(cè)試解決方案 天芯互聯(lián)簡(jiǎn)介
公司愿景:打造國(guó)際
一
流的半導(dǎo)體器件模組
一
站式解決方案提供商深
圳
研
發(fā)
中
心
+
深
圳
制
造
基
地?zé)o
錫
設(shè)
計(jì)
中
心無(wú)
錫
制
造
基
地?zé)o
錫深
圳26芯片
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