XRD考試題庫(kù)及答案

單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）1.XRD主要用于分析材料的什么？A.化學(xué)成分B.晶體結(jié)構(gòu)C.表面形貌D.力學(xué)性能2.以下哪種不是XRD常用的靶材？A.CuB.FeC.AlD.Mo3.XRD圖譜中峰的位置反映什么？A.晶體類(lèi)型B.晶面間距C.晶粒大小D.材料密度4.布拉格方程中2θ代表什么？A.入射角B.反射角C.衍射角D.折射角5.提高XRD分辨率可采取什么措施？A.增大管電壓B.減小狹縫寬度C.增加掃描速度D.更換探測(cè)器6.XRD分析時(shí)樣品需滿(mǎn)足什么條件？A.塊狀B.粉末狀C.任意形狀D.規(guī)則形狀7.以下哪種晶系對(duì)稱(chēng)性最高？A.立方晶系B.四方晶系C.正交晶系D.單斜晶系8.XRD圖譜中峰的強(qiáng)度與什么有關(guān)？A.原子序數(shù)B.晶面指數(shù)C.晶體結(jié)構(gòu)D.以上都有關(guān)9.進(jìn)行XRD分析時(shí)，掃描范圍通常是？A.0-10°B.10-60°C.60-90°D.90-180°10.以下哪種方法可用于XRD定量分析？A.外標(biāo)法B.內(nèi)標(biāo)法C.無(wú)標(biāo)樣法D.以上都是答案：1.B2.C3.B4.C5.B6.B7.A8.D9.B10.D多項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）1.XRD可用于哪些領(lǐng)域？A.材料科學(xué)B.礦物學(xué)C.生物學(xué)D.化學(xué)工程2.影響XRD峰寬的因素有？A.儀器分辨率B.樣品結(jié)晶度C.晶粒大小D.掃描速度3.以下哪些是XRD的探測(cè)器？A.閃爍計(jì)數(shù)器B.半導(dǎo)體探測(cè)器C.正比計(jì)數(shù)器D.光電倍增管4.XRD分析中常用的輻射源有？A.X射線(xiàn)管B.同步輻射光源C.中子源D.激光源5.晶體結(jié)構(gòu)的基本要素包括？A.晶胞B.點(diǎn)陣C.空間群D.原子坐標(biāo)6.XRD圖譜處理軟件可進(jìn)行哪些操作？A.平滑B.尋峰C.扣除背景D.計(jì)算晶面間距7.不同晶系的晶體在XRD圖譜上有哪些特點(diǎn)？A.峰的數(shù)目不同B.峰的位置不同C.峰的強(qiáng)度不同D.峰的對(duì)稱(chēng)性不同8.XRD樣品制備的方法有？A.壓片法B.涂片法C.粉末法D.塊狀法9.XRD圖譜中背底產(chǎn)生的原因有？A.樣品吸收B.空氣散射C.儀器噪聲D.樣品不純10.利用XRD可進(jìn)行哪些材料性能研究？A.晶體結(jié)構(gòu)鑒定B.應(yīng)力分析C.織構(gòu)分析D.相分析答案：1.ABCD2.ABC3.ABC4.AB5.ABCD6.ABCD7.ABCD8.ABCD9.ABC10.ABCD判斷題（每題2分，共10題）1.XRD只能分析晶體材料。（）2.布拉格方程是XRD的理論基礎(chǔ)。（）3.XRD圖譜中峰的半高寬越大，晶體結(jié)晶度越高。（）4.不同靶材產(chǎn)生的X射線(xiàn)波長(zhǎng)相同。（）5.樣品顆粒大小對(duì)XRD圖譜沒(méi)有影響。（）6.XRD分析時(shí)掃描速度越快越好。（）7.立方晶系的晶體在XRD圖譜上峰的對(duì)稱(chēng)性最高。（）8.內(nèi)標(biāo)法可消除樣品制備過(guò)程中的誤差。（）9.XRD圖譜中背底強(qiáng)度與樣品無(wú)關(guān)。（）10.利用XRD可準(zhǔn)確分析材料的化學(xué)成分。（）答案：1.√2.√3.×4.×5.×6.×7.√8.√9.×10.×簡(jiǎn)答題（總4題，每題5分）1.簡(jiǎn)述XRD分析晶體結(jié)構(gòu)的基本原理。利用X射線(xiàn)與晶體中原子相互作用產(chǎn)生衍射現(xiàn)象，通過(guò)布拉格方程計(jì)算晶面間距等參數(shù)來(lái)確定晶體結(jié)構(gòu)。2.說(shuō)明提高XRD分辨率的方法及原理。減小狹縫寬度，原理是限制X射線(xiàn)發(fā)散角度，使衍射峰變窄，提高分辨率。3.簡(jiǎn)述XRD定量分析的常用方法。外標(biāo)法、內(nèi)標(biāo)法、無(wú)標(biāo)樣法等，通過(guò)比較峰強(qiáng)度等參數(shù)確定各相含量。4.分析XRD圖譜中峰寬與晶體結(jié)晶度的關(guān)系。峰寬越窄，晶體結(jié)晶度越高；峰寬越寬，晶體結(jié)晶度越低，因?yàn)榻Y(jié)晶度影響衍射峰的尖銳程度。討論題（總4題，每題5分）1.討論不同晶系在XRD圖譜上的特征差異及應(yīng)用。立方晶系對(duì)稱(chēng)性高，峰簡(jiǎn)單易識(shí)別；四方晶系等有其獨(dú)特峰位和強(qiáng)度特征?？捎糜诓牧暇w結(jié)構(gòu)鑒定和區(qū)分不同材料。2.談?wù)刋RD在材料研發(fā)中的重要作用?？纱_定材料晶體結(jié)構(gòu)，指導(dǎo)新材料合成；分析相組成，評(píng)估材料質(zhì)量；監(jiān)測(cè)材料相變等，推動(dòng)材料性能優(yōu)化。3.討論XRD分析中樣品制備對(duì)結(jié)果的影響。制備不當(dāng)會(huì)導(dǎo)致峰形異常、強(qiáng)度不準(zhǔn)等。如顆粒大小不均影響峰寬，壓片不實(shí)影