《2025年無損檢測員(中級)職業(yè)技能鑒定考試試卷含答案》一、單項選擇題（每題1分，共30分。每題只有一個正確答案，請將正確選項的字母填入括號內(nèi)）1.在射線照相檢測中，決定膠片對比度的主要因素是（）A.射線能量??B.膠片類型??C.曝光時間??D.焦距答案：B2.超聲檢測中，當(dāng)探頭與被檢材料之間存在空氣薄層時，超聲波的透射率將（）A.增大??B.減小至接近零??C.不變??D.先增大后減小答案：B3.磁粉檢測時，若缺陷方向與磁力線方向夾角為0°，則缺陷漏磁場強度（）A.最大??B.最小??C.中等??D.無法判斷答案：B4.滲透檢測中，乳化時間不足最可能導(dǎo)致（）A.過度清洗??B.背景過亮??C.虛假顯示??D.缺陷漏檢答案：C5.在TOFD技術(shù)中，兩探頭中心距增大將（）A.提高缺陷高度測量精度??B.降低時間分辨率??C.增大盲區(qū)??D.減小信號幅度答案：A6.下列哪項不是射線防護三要素之一（）A.時間??B.距離??C.屏蔽??D.電壓答案：D7.超聲斜探頭K值標(biāo)定常用的標(biāo)準(zhǔn)試塊是（）A.CSKIA??B.V2??C.STBA1??D.ⅡW答案：A8.磁懸液濃度測定采用（）A.比重計??B.折射儀??C.沉淀管??D.粘度計答案：C9.滲透檢測時，顯像劑層過厚將造成（）A.缺陷顯示放大??B.背景模糊??C.靈敏度提高??D.干燥時間縮短答案：B10.在CR技術(shù)中，IP板受激光掃描后發(fā)射的熒光波長約為（）A.390nm??B.490nm??C.590nm??D.690nm答案：B11.當(dāng)X射線管電壓升高時，其線質(zhì)（）A.變硬??B.變軟??C.不變??D.先軟后硬答案：A12.超聲檢測中，6dB法測長時，移動探頭使回波降至原波高的（）A.25%??B.50%??C.70.7%??D.12.5%答案：B13.磁粉檢測中，周向磁化最適合發(fā)現(xiàn)（）A.橫向裂紋??B.縱向裂紋??C.片狀夾雜??D.縮孔答案：A14.滲透檢測的“乳化”作用是（）A.溶解缺陷內(nèi)滲透液??B.使?jié)B透液親水易被水清洗??C.提高熒光亮度??D.降低表面張力答案：B15.在射線照相中，幾何不清晰度Ug與焦點尺寸d、缺陷至膠片距離b、焦點至工件距離f的關(guān)系為（）A.Ug=d·b/f??B.Ug=d·f/b??C.Ug=b·f/d??D.Ug=d/(b+f)答案：A16.超聲檢測中，若材料聲速c=5900m/s，探頭頻率f=5MHz，則縱波波長約為（）A.0.84mm??B.1.18mm??C.2.36mm??D.3.50mm答案：B17.磁粉檢測后，如需退磁，則退磁磁場強度應(yīng)（）A.略高于最大磁化場??B.等于矯頑力??C.低于矯頑力??D.任意值答案：A18.在滲透檢測中，熒光滲透液的亮度用（）表征A.勒克斯??B.坎德拉??C.輻照度??D.黑光輻照度答案：B19.射線實時成像系統(tǒng)的空間分辨率主要受限于（）A.探測器像素尺寸??B.管電流??C.工件厚度??D.射線能量答案：A20.超聲相控陣檢測中，電子聚焦的優(yōu)點是（）A.無需機械掃描??B.可動態(tài)改變焦距??C.成本低??D.探頭無磨損答案：B21.磁粉檢測中，若磁懸液污染，最可能出現(xiàn)（）A.背景過暗??B.磁粉團聚??C.漏磁場增大??D.退磁困難答案：B22.在CR成像中，IP板余輝時間過長將導(dǎo)致（）A.圖像對比度下降??B.掃描時間縮短??C.信號噪聲比提高??D.圖像放大答案：A23.滲透檢測時，工件溫度低于10℃，應(yīng)優(yōu)先采?。ǎ〢.延長滲透時間??B.提高滲透液溫度??C.降低乳化劑濃度??D.增加顯像時間答案：B24.超聲檢測中，當(dāng)量法評定缺陷時，若缺陷回波比基準(zhǔn)孔高6dB，則其當(dāng)量面積為基準(zhǔn)孔的（）A.0.5倍??B.1倍??C.2倍??D.4倍答案：C25.射線照相中，采用雙膠片技術(shù)的主要目的是（）A.提高靈敏度??B.擴大厚度寬容度??C.減少曝光時間??D.降低散射答案：B26.磁粉檢測中，交流電磁化對表面缺陷的檢測靈敏度（）A.高于直流??B.低于直流??C.等于直流??D.與電流值無關(guān)答案：A27.在TOFD掃查中，若直通波消失，最可能的原因是（）A.探頭對偏??B.增益過高??C.工件過薄??D.耦合良好答案：A28.滲透檢測中，顯像劑噴灑距離一般控制在（）A.5–10cm??B.15–20cm??C.25–30cm??D.40–50cm答案：B29.超聲檢測中，若斜探頭楔塊磨損，將導(dǎo)致K值（）A.增大??B.減小??C.不變??D.先增后減答案：B30.射線照相中，采用鉛箔增感屏的主要作用是（）A.吸收散射線??B.增加膠片感光速度??C.降低管電壓??D.提高對比度答案：B二、判斷題（每題1分，共20分。正確打“√”，錯誤打“×”）31.超聲檢測中，縱波聲速一定大于橫波聲速。??答案：√32.磁粉檢測可檢測奧氏體不銹鋼的裂紋。??答案：×33.滲透檢測后，允許用高壓水快速沖洗多余滲透液。??答案：×34.射線能量越高，膠片梯度越小。??答案：√35.TOFD技術(shù)不能測量缺陷自身高度。??答案：×36.相控陣探頭晶片越多，聚焦能力越差。??答案：×37.磁粉檢測中，熒光磁粉需在暗室黑光下觀察。??答案：√38.滲透檢測的靈敏度與工件表面粗糙度無關(guān)。??答案：×39.射線實時成像的對比度靈敏度一定高于膠片照相。??答案：×40.超聲檢測中，6dB法適用于所有類型的缺陷測長。??答案：×41.磁粉檢測后，若剩磁大于0.3mT，必須退磁。??答案：√42.在CR技術(shù)中，IP板可無限次循環(huán)使用。??答案：×43.滲透檢測時，環(huán)境溫度高于50℃仍需按標(biāo)準(zhǔn)時間執(zhí)行。??答案：×44.射線照相中，Ug值越小，幾何清晰度越高。??答案：√45.超聲檢測中，水浸法可消除近場區(qū)影響。??答案：√46.磁粉檢測中，直流磁化可檢測皮下3mm缺陷。??答案：√47.滲透檢測的顯像時間越短越好。??答案：×48.射線能量越高，散射比n值越大。??答案：√49.超聲檢測中，探頭阻尼越大，脈沖寬度越窄。??答案：√50.相控陣扇掃圖像中，顏色深淺代表回波幅度。??答案：√三、填空題（每空1分，共20分）51.超聲檢測中，近場區(qū)長度N=________，若晶片直徑D=20mm，波長λ=1.18mm，則N≈________mm。答案：D2/4λ，84.752.射線照相中，曝光量E=I·t，若管電流I=5mA，t=2min，則E=________mA·min。答案：1053.磁粉檢測中，交流電磁化規(guī)范常用公式：I=________×D（直徑，mm）。答案：8–1554.滲透檢測的六個基本步驟依次為：預(yù)清洗、________、________、乳化、清洗、顯像。答案：滲透、滴落55.TOFD技術(shù)中，缺陷深度d=________×Δt·c，其中Δt為衍射波時間差，c為聲速。答案：1/256.超聲檢測中，當(dāng)量法常用________孔作為基準(zhǔn)反射體。答案：φ3×40mm橫孔57.射線實時成像系統(tǒng)的三大性能指標(biāo)為：空間分辨率、________、________。答案：對比度靈敏度、厚度寬容度58.磁粉檢測中，黑光輻照度在工件表面應(yīng)不低于________μW/cm2。答案：100059.滲透檢測時，顯像時間一般控制在________min。答案：10–3060.相控陣探頭晶片間距p與中心頻率f、聲速c的關(guān)系應(yīng)滿足p<________。答案：λ/2四、簡答題（每題6分，共30分）61.簡述超聲檢測中影響缺陷定位精度的主要因素。答案：探頭聲束偏斜、楔塊磨損、聲速設(shè)置誤差、溫度變化、儀器水平線性誤差、工件表面曲率、操作手法不穩(wěn)定。62.說明射線照相中散射線的來源及常用抑制措施。答案：散射線來源于康普頓效應(yīng)、瑞利散射、工件自身及周圍物體反射。抑制措施：使用鉛箔增感屏、鉛板屏蔽、光闌準(zhǔn)直、背面鉛板、降低管電壓、控制曝光場。63.磁粉檢測為何在焊縫檢測中常需交叉磁化？答案：焊縫缺陷方向隨機，單一方向磁化易漏檢；交叉磁化可產(chǎn)生相互垂直的磁場，確保任意方向缺陷均產(chǎn)生漏磁場，提高一次檢測覆蓋率。64.比較熒光滲透與著色滲透的適用場景差異。答案：熒光滲透靈敏度高，需暗室黑光，適合表面光潔、批量生產(chǎn)；著色滲透無需暗室，適合現(xiàn)場、粗糙表面，但靈敏度較低，有毒性大。65.簡述TOFD技術(shù)相比常規(guī)超聲的優(yōu)點與局限。答案：優(yōu)點：定量精度高、記錄永久、無幅值依賴、可檢測傾斜缺陷；局限：上表面盲區(qū)、對近表面缺陷不敏感、設(shè)備昂貴、對耦合要求高、解析圖像需經(jīng)驗。五、綜合計算題（共20分）66.用超聲斜探頭檢測20mm厚鋼板焊縫，已知：探頭K=2，聲速c=3230m/s，儀器聲程標(biāo)定為深度1:1。發(fā)現(xiàn)一缺陷回波在屏幕60mm處，用6dB法測得探頭移動距離為32mm。求：（1）缺陷實際深度；（2）缺陷自身高度；（3）判斷該缺陷是否超標(biāo)（按JB/T4730Ⅱ級，單缺陷允許最大當(dāng)量面積φ3×404dB）。答案：（1）聲程S=60mm，K=2，深度d=S/√(1+K2)=60/√5≈26.8mm，減去板厚20mm，缺陷位于底面以下6.8mm，即埋深206.8=13.2mm。（2）6dB法測長L=32mm·cosθ=32·(1/√5)≈14.3mm，自身高度h=L·sinθ