通關(guān)秘籍：RT中級(jí)無損檢測員考試復(fù)習(xí)資料一、單選題（每題2分，共20題）1.射線檢測中，使用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行曝光的主要目的是什么？A.測量膠片靈敏度B.評(píng)估人員操作技能C.確定曝光參數(shù)D.檢查設(shè)備性能2.在RT檢測中，以下哪種情況會(huì)導(dǎo)致偽缺陷的產(chǎn)生？A.曝光時(shí)間過長B.膠片處理不當(dāng)C.透件厚度均勻D.設(shè)備校準(zhǔn)正常3.對(duì)于厚度為50mm的鋼制壓力容器，選擇射線源時(shí)，通常優(yōu)先考慮哪種能量？A.0.3MeVB.1.25MeVC.2.5MeVD.4MeV4.在射線底片上，以下哪種標(biāo)記表示“未曝光”？A.黑點(diǎn)B.白點(diǎn)C.灰色條紋D.無標(biāo)記5.當(dāng)透件存在彎曲時(shí)，為減少偽缺陷，應(yīng)采取哪種措施？A.增加曝光時(shí)間B.使用斜射法C.加大射線劑量D.曝光參數(shù)不變6.以下哪種缺陷類型在射線底片上通常表現(xiàn)為細(xì)長形？A.裂紋B.未焊透C.夾雜物D.孔洞7.在RT檢測中，使用增感屏的主要目的是什么？A.提高膠片分辨率B.增加曝光劑量C.改善膠片對(duì)比度D.減少散射8.當(dāng)透件厚度較大時(shí)，為提高檢測靈敏度，應(yīng)優(yōu)先選擇哪種射線源？A.低能量鈷源B.高能量鈷源C.X射線機(jī)D.中子源9.在射線底片上，以下哪種標(biāo)記表示“廢片”？A.“OK”標(biāo)記B.“NG”標(biāo)記C.“EX”標(biāo)記D.無標(biāo)記10.當(dāng)透件表面存在油污時(shí)，為減少偽缺陷，應(yīng)采取哪種措施？A.增加曝光時(shí)間B.使用清洗劑去除油污C.加大射線劑量D.曝光參數(shù)不變二、多選題（每題3分，共10題）1.射線檢測中，影響膠片對(duì)比度的因素有哪些？A.曝光時(shí)間B.透件厚度C.膠片類型D.散射控制2.在RT檢測中，以下哪些屬于偽缺陷的常見原因？A.曝光不足B.膠片處理不當(dāng)C.透件表面污染D.設(shè)備校準(zhǔn)誤差3.對(duì)于厚壁壓力容器，選擇射線源時(shí)需考慮哪些因素？A.透件材料B.透件厚度C.檢測靈敏度要求D.曝光距離4.在射線底片上，以下哪些標(biāo)記表示“合格”？A.“OK”B.“PASS”C.“EX”D.無標(biāo)記5.當(dāng)透件存在彎曲時(shí)，為減少偽缺陷，可采取哪些措施？A.使用斜射法B.增加曝光時(shí)間C.使用墊鐵調(diào)整透件位置D.曝光參數(shù)不變6.在RT檢測中，以下哪些屬于常見的缺陷類型？A.裂紋B.未焊透C.夾雜物D.孔洞7.在射線底片上，以下哪些標(biāo)記表示“廢片”？A.“NG”B.“REJECT”C.“EX”D.無標(biāo)記8.當(dāng)透件表面存在油污時(shí)，為減少偽缺陷，可采取哪些措施？A.使用清洗劑去除油污B.增加曝光時(shí)間C.使用屏蔽罩減少散射D.曝光參數(shù)不變9.在RT檢測中，以下哪些屬于散射控制的常用方法？A.使用鉛屏B.增加曝光距離C.使用準(zhǔn)直器D.使用增感屏10.對(duì)于薄壁壓力容器，選擇射線源時(shí)需考慮哪些因素？A.透件材料B.透件厚度C.檢測靈敏度要求D.曝光距離三、判斷題（每題1分，共20題）1.射線檢測中，使用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行曝光的主要目的是確定曝光參數(shù)。（√）2.在RT檢測中，偽缺陷不會(huì)對(duì)檢測結(jié)果產(chǎn)生實(shí)質(zhì)性影響。（×）3.對(duì)于厚度為30mm的鋼制壓力容器，選擇1.25MeV的射線源即可滿足檢測要求。（√）4.射線底片上的黑點(diǎn)通常表示缺陷。（×）5.當(dāng)透件存在彎曲時(shí)，無需調(diào)整曝光參數(shù)。（×）6.在RT檢測中，未焊透通常表現(xiàn)為細(xì)長形缺陷。（√）7.使用增感屏的主要目的是提高膠片分辨率。（×）8.當(dāng)透件厚度較大時(shí)，應(yīng)優(yōu)先選擇低能量射線源。（×）9.射線底片上的“NG”標(biāo)記表示“合格”。（×）10.當(dāng)透件表面存在油污時(shí)，可忽略其對(duì)檢測結(jié)果的影響。（×）11.在RT檢測中，裂紋通常表現(xiàn)為孔洞狀缺陷。（×）12.散射控制對(duì)射線檢測的靈敏度有直接影響。（√）13.對(duì)于薄壁壓力容器，選擇高能量射線源可提高檢測靈敏度。（×）14.射線底片上的白點(diǎn)通常表示缺陷。（×）15.當(dāng)透件厚度均勻時(shí)，無需調(diào)整曝光參數(shù)。（√）16.在RT檢測中，夾雜物通常表現(xiàn)為細(xì)長形缺陷。（×）17.使用屏蔽罩可減少散射，提高檢測靈敏度。（√）18.對(duì)于厚壁壓力容器，選擇低能量射線源可提高檢測靈敏度。（√）19.射線底片上的“OK”標(biāo)記表示“廢片”。（×）20.當(dāng)透件表面存在油污時(shí)，可增加曝光時(shí)間以減少偽缺陷。（×）四、簡答題（每題5分，共4題）1.簡述RT檢測中偽缺陷的常見原因及解決方法。2.簡述選擇射線源時(shí)需考慮的主要因素。3.簡述散射控制對(duì)RT檢測的影響及常用方法。4.簡述RT檢測中膠片處理不當(dāng)可能導(dǎo)致的后果。五、論述題（每題10分，共2題）1.結(jié)合實(shí)際案例，論述RT檢測中如何減少偽缺陷的產(chǎn)生。2.結(jié)合實(shí)際案例，論述RT檢測在壓力容器檢測中的應(yīng)用及注意事項(xiàng)。答案與解析一、單選題答案與解析1.C解析：標(biāo)準(zhǔn)試塊用于確定曝光參數(shù)，確保檢測靈敏度滿足要求。2.B解析：膠片處理不當(dāng)（如顯影過度）會(huì)導(dǎo)致偽缺陷。3.B解析：1.25MeV射線穿透力較強(qiáng)，適合厚壁檢測。4.B解析：白點(diǎn)表示未曝光區(qū)域。5.B解析：斜射法可減少因透件彎曲導(dǎo)致的偽缺陷。6.A解析：裂紋通常表現(xiàn)為細(xì)長形缺陷。7.C解析：增感屏可提高膠片對(duì)比度。8.C解析：X射線機(jī)穿透力強(qiáng)，適合厚壁檢測。9.B解析：“NG”標(biāo)記表示“不合格”。10.B解析：油污會(huì)導(dǎo)致散射，使用清洗劑可減少偽缺陷。二、多選題答案與解析1.A,B,C,D解析：曝光時(shí)間、透件厚度、膠片類型、散射控制均影響對(duì)比度。2.B,C,D解析：膠片處理不當(dāng)、表面污染、設(shè)備校準(zhǔn)誤差會(huì)導(dǎo)致偽缺陷。3.A,B,C,D解析：需考慮材料、厚度、靈敏度要求、曝光距離。4.A,B解析：“OK”或“PASS”表示合格。5.A,C解析：斜射法、墊鐵調(diào)整可減少偽缺陷。6.A,B,C,D解析：裂紋、未焊透、夾雜物、孔洞均為常見缺陷。7.A,B,C解析：“NG”、“REJECT”、“EX”表示廢片。8.A,C解析：清洗劑、屏蔽罩可減少偽缺陷。9.A,C,D解析：鉛屏、準(zhǔn)直器、增感屏可控制散射。10.A,B,C,D解析：需考慮材料、厚度、靈敏度要求、曝光距離。三、判斷題答案與解析1.√2.×解析：偽缺陷會(huì)誤導(dǎo)檢測結(jié)果。3.√4.×解析：黑點(diǎn)可能表示缺陷或未曝光區(qū)域。5.×解析：需調(diào)整曝光參數(shù)以補(bǔ)償彎曲影響。6.√7.×解析：增感屏主要提高靈敏度。8.×解析：厚壁檢測需高能量射線源。9.×解析：“NG”表示不合格。10.×解析：油污需處理以減少偽缺陷。11.×解析：裂紋通常表現(xiàn)為細(xì)長形。12.√13.×解析：薄壁檢測需低能量射線源。14.×解析：白點(diǎn)可能表示缺陷或未曝光區(qū)域。15.√16.×解析：夾雜物通常表現(xiàn)為顆粒狀。17.√18.√19.×解析：“OK”表示合格。20.×解析：增加曝光時(shí)間可能加劇偽缺陷。四、簡答題答案與解析1.偽缺陷的常見原因及解決方法原因：膠片處理不當(dāng)、表面污染、透件彎曲、散射控制不足等。解決方法：規(guī)范膠片處理流程、清潔透件表面、使用斜射法或墊鐵調(diào)整位置、增加屏蔽罩或準(zhǔn)直器控制散射。2.選擇射線源時(shí)需考慮的主要因素-透件材料（鋼、鋁合金等）-透件厚度-檢測靈敏度要求-曝光距離及效率-設(shè)備成本及維護(hù)難度3.散射控制對(duì)RT檢測的影響及常用方法影響：散射會(huì)降低圖像對(duì)比度，影響缺陷識(shí)別。常用方法：使用鉛屏、增加曝光距離、使用準(zhǔn)直器、合理布置透件位置。4.膠片處理不當(dāng)可能導(dǎo)致的后果-曝光不足或過度導(dǎo)致圖像對(duì)比度低-顯影不當(dāng)導(dǎo)致偽缺陷或缺陷模糊-膠片老化或存儲(chǔ)不當(dāng)影響靈敏度五、論述題答案與解析1.如何減少RT檢測中的偽缺陷結(jié)合實(shí)際案例，偽缺陷常因膠片處理不當(dāng)、表面污染、透件彎曲、散射控制不足等導(dǎo)致。例如，某壓力容器檢測中，因膠片顯影過度導(dǎo)致多處偽缺陷被誤判。解決方法包括：-規(guī)范膠片處理流程，確保顯影時(shí)間及溫度符合標(biāo)準(zhǔn)。-清潔透件表面，避免油污、銹蝕等影響散射。-使用斜射法或墊鐵調(diào)整透件位置，減少彎曲導(dǎo)致的偽缺陷。-增加屏蔽罩或準(zhǔn)直器，控制散射，提高圖像對(duì)比度。2.RT檢測在壓力容器檢測中的應(yīng)用及注意事項(xiàng)RT檢測因穿透力強(qiáng)、靈敏度高，常用于壓力容器檢測