Y相機(jī)質(zhì)量控制

一、放射源和模型

（一）點(diǎn)源：點(diǎn)源用于測試探頭固有均勻性、空間分辨率、空間線性、能量分辨

率，以及最大計(jì)數(shù)率。點(diǎn)源可由gTc或57co制成。點(diǎn)源直徑一般要求在5廊以

內(nèi)，點(diǎn)源的強(qiáng)度應(yīng)保證其產(chǎn)生的計(jì)數(shù)率20kcps。

（r）線源：線源用于測試探頭的分辨率和全身掃描分辨率。線源為"C。固體線

源或4Tc可灌注線源。線源內(nèi)徑、1mm,長度30-40cm,幾何線性良好，強(qiáng)度l-2mCio

（三）四象限鉛柵模型：四象限鉛柵模型用于測試探頭固有分辨率。模型的幾何

形狀如圖37所示，模型分為四個象限，在每一象限鉛柵的寬度和間隔相等，分

別為2mm、2.5mm、3mm.4mm,鉛板厚度3m模型的面積應(yīng)能完全覆蓋探頭有效

視野（UFOV）o

（四）SLIT鉛柵模型：SLTT鉛柵模型用于測試探頭固有空間分辨率和固有空間

線性。3nlm厚鉛板上開有若干條寬1mm的平行線槽，相鄰兩條線槽中心距離為30mm

（圖3-2為SLIT鉛柵碟型的幾何形狀圖）。模型的面積應(yīng)能在X和Y兩個方向完

全覆蓋探頭有效視野（UF0V）o

（五）系統(tǒng)靈敏度測試面源：系統(tǒng)靈敏度測試面源用于測試系統(tǒng)靈敏度。直徑為

100mm的有機(jī)玻璃空心平面模型，使用時(shí)注入3mn深度的"nTc液體。

圖3-1四象限鉛柵模型幾何形狀圖圖3-2SLIT模型的幾何形狀圖

二、探頭固有泛源均勻性

（一）測試條件及設(shè)冬20%光電峰對稱窗，使用儀器所提供的探頭能量、線性

和均勻性校正技術(shù)。將探頭的準(zhǔn)直器卸下，裝上UF0V鉛環(huán)。點(diǎn)源，計(jì)數(shù)率不超

過20kcpso

(二)測試步驟將點(diǎn)源置于探頭中心正前方，與探頭表面的距離至少為該探頭

UFOV最大直線長度的5倍(除非系統(tǒng)所提供的均勻性測試軟件帶有距離校E)。

采集16M計(jì)數(shù)泛源圖像，圖像存儲在64X64X16矩陣中(或按系統(tǒng)提供的均勻

性測試軟件指定的矩陣尺寸)。

(三)計(jì)算和分析

1.使用被測試Y相機(jī)提供的均勻性測試軟件。

2.如果被測試儀器沒有提供均勻性測試軟件，按下列步驟進(jìn)行：

(1)確定CFOV和UFOV范圍：在泛源圖像上，以計(jì)數(shù)為1/2視野中心像素計(jì)數(shù)

的邊沿像素作出圖像半高邊界線，對于半高位置相鄰的像素可用線性插值法，確

定平均半徑而貝I,UF0V=0.95危收,CFOV=0.l^Rave.

(2)按下列加權(quán)因子在UFOV內(nèi)對泛源圖像進(jìn)行9點(diǎn)平滑一次。UFOV范圍以外

像素的加權(quán)因子為Oo用平滑后的值除以非0加權(quán)因子之和作歸一化處理。

121

242

121

(3)積分均勻性：分別在UFOV和CFOV內(nèi)找出最大像素計(jì)數(shù)值(Max)和最小像素

計(jì)數(shù)值(Min),計(jì)算:

積分均勻性二±[(Max-Min)/(Max+Min)]X100%

(4)微分均勻性：分別在UFOV和CFOV內(nèi)，以X方向的每一行或Y方向的每一

列上5個相鄰像素為一組，找出最高像素計(jì)數(shù)值(High)和最低像素計(jì)數(shù)值(Low),

計(jì)算：

微分均勻性二±[(High-Low)/(High+Low)]X100%

計(jì)算從圖像邊沿的一端開始，對第一組(5個像素)計(jì)算后，向后移動一個像素，

對第二組(同樣為5個像素)進(jìn)行計(jì)算，再移動到下一個像素進(jìn)行計(jì)算，直至行

末端或列末端。以上過程循環(huán)往復(fù)，計(jì)算泛源圖像的所有行和列，最后取最大值

作為微分均勻性結(jié)果。

(四)結(jié)果報(bào)告CFOV的積分均勻性和微分均勻性，UFOV的積分均勻性和微分

均勻性。

三、探頭固有空間分辨率

(一)測試條件及設(shè)冬20%光電峰對稱窗，使用儀器所提供的探頭能量、線性

和均勻性校正技術(shù)。探頭卸下準(zhǔn)直器，裝上UFOV鉛環(huán)，SLIT鉛柵模型（儀器提

供固有分辨率測試軟件）或四象限鉛柵模型置于探頭表面，盡可能緊貼晶體。點(diǎn)

源，計(jì)數(shù)率不超過20kcps。測試要分別在探頭的X和Y方向進(jìn)行。

（二）測試步驟將點(diǎn)源置于探頭中心正前方，與探頭表面的距離至少為該探頭

UFOV最大直線長度的5倍。采集3000K計(jì)數(shù)四象限鉛柵模型圖像，圖像存儲在

256X256以上矩陣中。使用SLIT模型時(shí)，采集計(jì)數(shù)和存儲矩陣按測試軟件要求

設(shè)置。

（三）計(jì)算和分析

1,使用被測試Y相機(jī)提供的固有空間分辨率測試軟件。

2.如果被測試儀器沒有提供均勻性測試軟件，按下列步驟進(jìn)行：

仔細(xì)觀察四象限鉛柵模型圖像，分別在UFOV和CFOV確定基本清晰可見的鉛柵間

隔及.和灰心，單位為mm。使用經(jīng)驗(yàn)公式FWHM=1.75B,將B皿v和Bm轉(zhuǎn)換為FWHM。

按所使用的矩陣像素尺寸（mm/pixel）將FWHM單位換算為mm。

（四）結(jié)果報(bào)告X和Y方向上，CFOV的固有空間率FWHM,UFOV的固有空間分

辨率BVHM,單位mm。

四、探頭固有空間線性

（一）測試條件及設(shè)備20%光電峰對稱窗，使用儀器所提供的探頭能量、線性

和均勻性校正技術(shù)。探頭卸下準(zhǔn)直器，裝上UFOV鉛環(huán)，SLIT鉛柵模型置于探頭

表面，盡可能緊貼晶體。伽Tc點(diǎn)源，計(jì)數(shù)率不超過20kcpso測試要分別在探頭

的X和Y方向進(jìn)行。

（二）測試步躲將點(diǎn)源置于探頭中心正前方，與探頭面的距離至少為該探頭

UFOV最大直線長度的5倍。采集3000K計(jì)數(shù)SLIT柵模型圖像，圖像存儲在256

X256以上矩陣中。

（三）計(jì)算和分析仔細(xì)觀察探頭視野范圍內(nèi)SI.TT鉛柵模型圖像的線條有無明

顯彎曲及彎曲程度。

（四）結(jié)果報(bào)告探頭視野范圍內(nèi)X和Y方向上SLIT鉛柵模型圖像的線性情況。

五、探頭固有能量分辨率

（一）測試條件及設(shè)冬20%光電峰對稱窗，使用儀器所提供的探頭能量、線性

和均勻性校正技術(shù)。探頭卸下準(zhǔn)直器，裝上UFOV鉛環(huán)。^Tc點(diǎn)源，計(jì)數(shù)率不超

過20kcps0%：。點(diǎn)源作為參考源，強(qiáng)度與""Tc點(diǎn)源相近°要求被測試的V相機(jī)

（二）測試步驟

1.注射器內(nèi)的放射性活度用活度計(jì)準(zhǔn)確測定，然后注入系統(tǒng)靈敏度測試面源，

模型內(nèi)溶液深度約為3mmo

2.用活度計(jì)再測量注射器的剩余活度，注射器的原活度減去剩余活度得到模型

內(nèi)的活度。

3.系統(tǒng)靈敏度測試模型置于中心視野內(nèi)，模型距離準(zhǔn)直器表面100mm,周圍沒

有散射物體。

4.測量、記錄每分鐘計(jì)數(shù)。

（三）計(jì)算與分析將測量時(shí)的模型放射性活度（單位為MBq或uCi）除以每分

鐘測量計(jì)數(shù)，得到系統(tǒng)靈敏度。測量時(shí)的放射性活度是由模型放射性活度經(jīng)時(shí)間

衰變校正得到。

（四）結(jié)果報(bào)告系統(tǒng)靈敏度，單位為Counts/（uCi-min）,注明所使用的準(zhǔn)

直器。

八、全身掃描分辨率

（一）測試條件及設(shè)冬20%光電峰對稱窗，使用儀器所提供的各種探頭校正技

術(shù)。裝上低能通用型或低能高分辨型準(zhǔn)直器。掃描視野內(nèi)放置兩支"°Tc或57Co

線源，線源置于全身掃描床面，平行于探頭平面，計(jì)數(shù)率10~20kcps。

1.平行于探頭運(yùn)動方向的分辨率：將一支線源置于掃描視野中心（即掃描全程

中心），垂直于探頭運(yùn)動方向，偏差不超過1mm。另一支線源平行于第一支放置,

距離lOOmnio

2.垂直于探頭運(yùn)動方向的分辨率：將一支線源置于掃描視野中心，平行于探頭

運(yùn)動方向，偏差不超過1mm。另一支線源平行于第一支放置，距離100mm。

（二）測試步阻探頭在掃描床上方對線源作掃描，線源與準(zhǔn)直器表面的距離為

100mm,掃描速度1015cm/min,采用系統(tǒng)推薦的掃描存儲矩陣c

（三）計(jì)算和分析在平行和垂直掃描的線源圖像上作剖面，得到線擴(kuò)展函數(shù)。

采用線性插值法，計(jì)算每線源圖像的FW