《2025年無損檢測員(高級)職業(yè)技能鑒定綜合試卷及答案》一、單項選擇題（每題1分，共30分。每題只有一個正確答案，請將正確選項字母填入括號內(nèi)）1.在射線照相檢測中，決定膠片對比度的首要因素是（）A.射線能量??B.膠片類型??C.曝光量??D.顯影條件答案：B2.采用10mm厚鋼板焊縫進(jìn)行超聲橫波檢測時，若探頭K值為2，則一次聲程在板中的跨距約為（）A.20mm??B.28mm??C.40mm??D.56mm答案：C3.磁粉檢測中，下列關(guān)于交流電磁軛提升力校驗(yàn)的說法正確的是（）A.極間距200mm時提升力應(yīng)≥45N??B.提升力與極間距無關(guān)??C.校驗(yàn)周期為每班一次??D.提升力不合格允許降低10%使用答案：A4.滲透檢測時，對鋁合金鑄件優(yōu)先選用的乳化劑類型為（）A.親水型??B.親油型??C.溶劑型??D.反應(yīng)型答案：A5.在TOFD檢測中，導(dǎo)致“側(cè)向波”信號出現(xiàn)的主要原因是（）A.缺陷尖端衍射??B.底面反射??C.探頭楔內(nèi)折射??D.兩探頭間直通波答案：D6.對φ219mm×12mm環(huán)焊縫進(jìn)行射線檢測，按NB/T47013.22015AB級要求，有效評定長度一次曝光可達(dá)（）A.150mm??B.200mm??C.250mm??D.300mm答案：C7.采用A型脈沖超聲儀檢測鍛件時，若底波降低量BG為12dB，且無缺陷回波，則該部位可記錄為（）A.Ⅰ級??B.Ⅱ級??C.Ⅲ級??D.不記錄答案：B8.在數(shù)字射線DR檢測中，與圖像空間分辨率最直接相關(guān)的參數(shù)是（）A.管電壓??B.像素尺寸??C.積分時間??D.增益答案：B9.磁粉檢測中，若使用黑光燈激發(fā)熒光磁粉，其峰值波長應(yīng)為（）A.254nm??B.365nm??C.420nm??D.550nm答案：B10.滲透檢測的“顯像時間”指（）A.從施加顯像劑到觀察完成的時間??B.從清洗到干燥的時間??C.從顯像劑施加到開始觀察的時間??D.從乳化到顯像的時間答案：C11.超聲相控陣檢測中，電子掃查方式不包括（）A.線掃??B.扇掃??C.動態(tài)深度聚焦??D.機(jī)械掃答案：D12.對厚度50mm的奧氏體不銹鋼焊縫進(jìn)行射線檢測，優(yōu)先選擇的γ源是（）A.Ir192??B.Co60??C.Se75??D.Yb169答案：C13.在磁粉檢測中，若出現(xiàn)“磁寫”現(xiàn)象，最有效的消除方法是（）A.退磁后重新磁化??B.降低電流??C.改變磁化方向??D.增加磁懸液濃度答案：A14.滲透檢測時，對開口缺陷顯示跡痕進(jìn)行長度測量，應(yīng)使用的工具是（）A.游標(biāo)卡尺??B.鋼直尺??C.對比試塊??D.帶刻度的5倍放大鏡答案：D15.超聲檢測中，若使用2.5MHz、φ20mm直探頭檢測100mm厚鋼鍛件，其近場長度約為（）A.42mm??B.84mm??C.168mm??D.210mm答案：B16.射線底片黑度為2.5時，對應(yīng)的光學(xué)密度定義為（）A.透射光強(qiáng)與入射光強(qiáng)之比??B.入射光強(qiáng)與透射光強(qiáng)之比??C.入射光強(qiáng)與透射光強(qiáng)之比取常用對數(shù)??D.透射光強(qiáng)與入射光強(qiáng)之比取常用對數(shù)答案：C17.在TOFD檢測中，若兩探頭中心距為120mm，板厚40mm，則直通波與底面反射波的時間間隔約為（鋼中縱波聲速5.9km/s）（）A.13.6μs??B.20.3μs??C.27.1μs??D.40.7μs答案：C18.磁粉檢測中，若采用濕法連續(xù)法，磁懸液濃度推薦值為（）A.0.1mL/100mL??B.0.5mL/100mL??C.1.2mL/100mL??D.2.5mL/100mL答案：C19.滲透檢測時，對鈦合金零件禁止使用的顯像劑類型是（）A.干式??B.水基濕式??C.溶劑型??D.含氯顯像劑答案：D20.超聲檢測中，當(dāng)量法評定缺陷時，若缺陷回波比φ2mm平底孔高6dB，則當(dāng)量直徑為（）A.φ2.8mm??B.φ3.2mm??C.φ4mm??D.φ5mm答案：C21.射線檢測中，使用階梯塊對比試片的主要目的是（）A.校驗(yàn)黑度??B.校驗(yàn)靈敏度??C.校驗(yàn)分辨率??D.校驗(yàn)散射答案：B22.相控陣超聲檢測中，若激發(fā)孔徑為32晶片，聚焦深度100mm，則最佳聚焦聲束寬度主要取決于（）A.晶片頻率??B.晶片間距??C.偏轉(zhuǎn)角度??D.增益大小答案：A23.對球罐焊縫進(jìn)行磁粉檢測時，推薦采用的磁化方法是（）A.交叉磁軛??B.觸頭法??C.線圈法??D.感應(yīng)電流法答案：A24.在滲透檢測中，若乳化時間過長，最可能出現(xiàn)的顯示是（）A.虛假顯示??B.漏檢??C.背景過淡??D.缺陷過度擴(kuò)散答案：D25.超聲檢測中，使用雙晶探頭的主要優(yōu)點(diǎn)是（）A.靈敏度高??B.盲區(qū)小??C.穿透力強(qiáng)??D.價格低答案：B26.射線檢測中，增大焦距的主要目的是（）A.提高黑度??B.減小幾何不清晰度??C.提高管電壓??D.縮短曝光時間答案：B27.在TOFD檢測中，若缺陷尖端衍射信號與直通波相位相反，則該缺陷性質(zhì)傾向?yàn)椋ǎ〢.氣孔??B.未熔合??C.裂紋??D.夾渣答案：C28.磁粉檢測中，若使用直流電磁化，其檢測深度相對交流電（）A.更淺??B.更深??C.相同??D.無法比較答案：B29.滲透檢測時，對粗糙表面優(yōu)先選用的滲透方法是（）A.水洗型著色??B.后乳化型熒光??C.溶劑型著色??D.反應(yīng)型熒光答案：A30.超聲檢測中，若出現(xiàn)“草狀回波”，其最可能原因是（）A.材料粗晶??B.探頭失壓??C.耦合不良??D.儀器阻塞答案：A二、多項選擇題（每題2分，共20分。每題有兩個或兩個以上正確答案，多選、少選、錯選均不得分）31.下列因素中，影響射線照相圖像顆粒度的有（）A.膠片類型??B.射線能量??C.顯影時間??D.增感屏類型??E.焦距答案：ABCD32.超聲檢測中，可導(dǎo)致底波消失的原因有（）A.大面積疏松??B.嚴(yán)重傾斜裂紋??C.探頭耦合不良??D.儀器增益過大??E.材料各向異性答案：ABC33.磁粉檢測中，能夠形成相關(guān)顯示的有（）A.疲勞裂紋??B.鍛造折疊??C.表面劃痕??D.磨削裂紋??E.電極燒傷答案：ABDE34.滲透檢測中，可能導(dǎo)致虛假顯示的情況有（）A.顯像劑污染??B.清洗不足??C.零件溫度過低??D.乳化不足??E.干顯像劑過厚答案：ABE35.相控陣超聲檢測的優(yōu)點(diǎn)包括（）A.電子掃查無需移動探頭??B.可實(shí)現(xiàn)多角度掃查??C.可動態(tài)聚焦??D.可完全替代射線檢測??E.數(shù)據(jù)可記錄答案：ABCE36.射線檢測中，與散射比有關(guān)的因素有（）A.射線能量??B.材料厚度??C.焦距??D.照射場大小??E.膠片黑度答案：ABD37.在TOFD檢測中，可用于缺陷高度測量的方法有（）A.尖端衍射時差法??B.飛行時間法??C.波型轉(zhuǎn)換法??D.相位反轉(zhuǎn)法??E.底波衰減法答案：ABD38.磁粉檢測中，能夠進(jìn)行周向磁化的方法有（）A.觸頭法??B.中心導(dǎo)體法??C.線圈法??D.感應(yīng)電流法??E.磁軛法答案：ABD39.超聲檢測中，影響缺陷定位精度的因素有（）A.聲速設(shè)定誤差??B.探頭折射角誤差??C.儀器水平線性??D.耦合劑厚度??E.材料衰減答案：ABCD40.滲透檢測時，對熒光滲透劑亮度的校驗(yàn)項目包括（）A.熒光亮度??B.含水量??C.氯含量??D.可去除性??E.粘度答案：ABC三、判斷題（每題1分，共10分。正確打“√”，錯誤打“×”）41.射線檢測中，增大管電壓可以提高對比度靈敏度。（）答案：×42.超聲檢測中，當(dāng)量法評定的缺陷實(shí)際尺寸一定小于當(dāng)量尺寸。（）答案：√43.磁粉檢測時，交流電的趨膚效應(yīng)使其對近表面缺陷更敏感。（）答案：√44.滲透檢測中，熒光滲透劑的黑光輻照度應(yīng)不低于1000μW/cm2。（）答案：√45.TOFD檢測中，直通波信號缺失一定意味著存在表面缺陷。（）答案：×46.相控陣超聲檢測的掃描軸與超聲波傳播方向垂直。（）答案：×47.射線底片黑度越高，對應(yīng)的圖像對比度一定越高。（）答案：×48.磁粉檢測中，相關(guān)顯示通常邊緣清晰、輪廓分明。（）答案：√49.滲透檢測時，零件表面溫度高于52℃會導(dǎo)致熒光猝滅。（）答案：√50.超聲檢測中，草狀回波可以通過降低頻率得到改善。（）答案：√四、簡答題（每題6分，共30分）51.簡述射線檢測中“幾何不清晰度”的產(chǎn)生原因及控制措施。答案：幾何不清晰度Ug由焦點(diǎn)尺寸d、缺陷至膠片距離L1、焦點(diǎn)至膠片距離L2決定，公式Ug=d·L1/(L2?L1)。產(chǎn)生原因：焦點(diǎn)非點(diǎn)源，缺陷投影邊緣出現(xiàn)半影?？刂疲簻p小焦點(diǎn)尺寸、增大焦距、使缺陷緊貼膠片、采用小角度照射。52.超聲檢測中，如何利用底波高度法評定鍛件中的大面積缺陷？答案：先記錄無缺陷區(qū)底波高度B0，再測缺陷區(qū)底波B，計算衰減量Δ=20lg(B0/B)。按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：Δ≤6dB為Ⅰ級，6–12dB為Ⅱ級，≥12dB為Ⅲ級，需結(jié)合底波消失情況判定。53.磁粉檢測時，為何在交叉磁軛使用后仍需進(jìn)行退磁？簡述退磁原理。答案：交叉磁軛產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)磁場，工件剩磁方向復(fù)雜，剩磁強(qiáng)度大，易影響后續(xù)加工及使用。退磁原理：將工件置于幅值逐漸減小至零的交變磁場中，使磁疇無序化，剩磁趨近于零，常用超低頻降壓或交流線圈遠(yuǎn)離法。54.滲透檢測中，如何區(qū)分相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示與虛假顯示？各舉一例。答案：相關(guān)顯示：由缺陷引起，如疲勞裂紋顯示，輪廓清晰；非相關(guān)顯示：由結(jié)構(gòu)或工藝引起，如鍵槽根部顯示，呈連續(xù)直線；虛假顯示：由污染或操作不當(dāng)引起，如纖維絨毛吸附滲透劑顯示，形狀不規(guī)則，可擦去后不復(fù)現(xiàn)。55.TOFD檢測中，如何利用尖端衍射信號測量裂紋高度？寫出公式并說明符號含義。答案：測裂紋上下尖端衍射波時差Δt，則高度h=Δt·c/2，其中c為縱波聲速。也可用深度公式：h=[(t22?t12)c2]/4S，t1、t2分別為上、下端點(diǎn)衍射波到達(dá)時間，S為探頭半中心距。五、綜合計算與分析題（共20分）56.（本題10分）現(xiàn)用Ir192γ射線對30mm厚鋼焊縫進(jìn)行照相，已知焦點(diǎn)尺寸3mm，焦距600mm，焊縫余高2mm，膠片貼緊工件背面。求：（1）幾何不清晰度Ug；（2）按NB/T47013.22015AB級要求，Ug限值為0.4mm，是否滿足？（3）若Ug超限，在不改變焦點(diǎn)尺寸前提下，如何調(diào)整參數(shù)使其合格？答案：（1）Ug=d·L1/(L2?L1)=3×32/(600?32)=96/568≈0.17mm；（2）0.17mm＜0.4mm，滿足要求；（3）無需調(diào)整，如仍欲減小，可增大焦距至800mm，此時Ug≈0.12mm。57.（本題10分）用2.5MHz、φ20mm直探頭檢測厚度120mm的碳鋼鍛件，發(fā)現(xiàn)距探測面80mm處有一缺陷，其回波高度比φ4mm平底孔試塊回波低10dB。已知材料衰減系數(shù)0.02dB/mm，求：（1）缺陷的當(dāng)量平底孔直徑；（2）若要求記錄≥φ3mm當(dāng)量，該缺陷是否記錄；（3）若改用5MHz同尺寸探頭，衰減系數(shù)變?yōu)?.08dB/mm，問同一缺陷回波比新基準(zhǔn)φ4mm低多少dB？答案：（1）Δ=10dB，Δ=20lg(4/x)，x=4/10^(10/20)=4/3.16≈1.26mm；（2）1.26mm＜3mm，不記錄；（3）頻率翻倍，衰減增加，往返聲程160mm，附加衰減Δα=(0.08?0.02)×160=9.6dB，原差10dB，總差19.6dB，即低約20dB。六、論述題（共40分）58.（本題20分）結(jié)合典型石化裝置在役環(huán)境，論述相控陣超聲檢測替代射線檢測的可行性與限制，并從安全、經(jīng)濟(jì)、技術(shù)三方面給出量化比較。答案：安全：射線需隔離區(qū)，夜間作業(yè)，停工損失約30萬元/天；相控陣無需隔離，可在線檢測，避免停產(chǎn)。經(jīng)濟(jì)：射線拍片100張，耗材人工約5萬元；相控陣設(shè)備折舊+人工約2.5萬元，節(jié)省50%。技術(shù)：相控陣對裂紋高度測量誤差±0.5mm，優(yōu)于射線當(dāng)量法；但對粗晶焊縫，射線靈敏度2%，相控陣僅5%，需增加TOFD補(bǔ)充。限制：設(shè)備初投資高（150萬元），對人員要