計量工程師職業(yè)資格考試計量儀器故障排除題目及答案考試時間：______分鐘總分：______分姓名：______第一題一臺用于測量長度的千分尺，在測量多次后，發(fā)現(xiàn)零位漂移，每次測量讀數(shù)都偏大一個固定的微小數(shù)值，且該數(shù)值不隨測量力或被測工件材質(zhì)變化而顯著改變。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第二題一臺測量交流電壓的數(shù)字萬用表，在測量正常市電時顯示穩(wěn)定讀數(shù)，但在測量一個已知內(nèi)阻的直流電源電壓時，讀數(shù)顯著偏低，且與電源實際電壓不符。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第三題一臺測量溫度的鉑電阻溫度計，其輸出信號與輸入的攝氏溫度不成線性關(guān)系，在低溫區(qū)偏差較大，高溫區(qū)偏差較小。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第四題一臺測量質(zhì)量的電子天平，在安裝新的校準砝碼后，進行校準時發(fā)現(xiàn)無論如何調(diào)整，天平都無法達到校準點，顯示的校準誤差始終偏大一個固定值。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第五題一臺測量壓力的活塞式壓力計，在測量較高壓力時，讀數(shù)逐漸不穩(wěn)定，并伴有緩慢泄漏現(xiàn)象，但初始階段壓力指示正常。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第六題一臺測量電感的LCR數(shù)字電橋，在測量一個標稱值為100μH的標準電感時，讀數(shù)顯示為0.1mH，且無論如何調(diào)整量程或更換測試夾具，結(jié)果一致。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第七題一臺測量折射率的阿貝折射儀，在測量標準溶液時，讀數(shù)與標準值偏差較大，且多次測量結(jié)果重復性差。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第八題一臺測量時間的電子秒表，在連續(xù)多次測量短暫時間（如幾秒鐘）時，讀數(shù)逐漸變長，每次測量都比上一次多幾毫秒，但測量較長時間（如幾分鐘）時則無明顯累積誤差。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第九題一臺測量相對濕度的毛發(fā)濕度計，其指示值總是比實際環(huán)境濕度偏高，且無論環(huán)境溫濕度如何變化，偏差值基本保持不變。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。第十題一臺測量力值的測力計，在施加預緊力后，其示值會持續(xù)緩慢變化，最終穩(wěn)定在一個比預緊力對應的示值偏高的數(shù)值上。請分析可能導致此現(xiàn)象的故障原因。試卷答案第一題解析思路：分析零位漂移且為固定微小數(shù)值，首先考慮與零位調(diào)整或零位相關(guān)的部件。千分尺的零位誤差常見原因包括：測桿與砧座的磨損或臟污導致閉合不嚴；零位調(diào)整機構(gòu)（如調(diào)整螺釘）松動或磨損；微分筒或套筒上的零刻線磨損或相對移動；測力機構(gòu)（棘輪、測力彈簧）失效導致無預緊力或預緊力不當。固定微小數(shù)值排除了隨機誤差或環(huán)境因素主導的情況，更指向某個具體部件的固定性偏差。第二題解析思路：數(shù)字萬用表測量交流正常，測量直流偏低，首先排除表筆接觸不良或表內(nèi)直流電路是否存在短路。關(guān)鍵在于交直流測量通路是否有差異?？赡艿脑虬ǎ褐绷鬏斎攵舜嬖谔摵富蚪佑|不良點；直流電路中某個元件（如整流二極管、濾波電容、基準電壓源、A/D轉(zhuǎn)換器相關(guān)元件）性能下降或損壞，導致直流測量通路電流減小或電壓分壓改變；表內(nèi)基準電壓源對直流測量有影響等。第三題解析思路：鉑電阻輸出信號與溫度非線性關(guān)系，低溫區(qū)偏差大。這指向鉑電阻本身或其測量電路的特性。可能的原因包括：鉑電阻元件老化或性能漂移，偏離IEC標準分度表；測量電路的激勵電流不穩(wěn)定或非恒流源；放大器或后續(xù)處理電路存在非線性失真，尤其在信號幅度較小時更為明顯；參考溫度補償環(huán)節(jié)不準確或缺失；儀器內(nèi)部溫度傳感器（用于環(huán)境溫度補償）故障或校準失效等。第四題解析思路：電子天平校準無法達點，顯示固定誤差。這通常指向校準過程本身或與校準相關(guān)的核心部件?？赡艿脑虬ǎ盒碌男薯来a本身存在誤差或未按要求進行傳遞校準；天平內(nèi)部與砝碼檢測相關(guān)的傳感器（如應變片、壓力傳感器、光電傳感器）損壞或失準；稱重模塊或A/D轉(zhuǎn)換器故障；校準程序軟件錯誤或參數(shù)設(shè)置不當；天平內(nèi)部校準砝碼的機械定位機構(gòu)（如砝碼托）有問題。第五題解析思路：活塞式壓力計測量高壓時讀數(shù)不穩(wěn)伴泄漏。初始正常說明基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)和部分部件功能完好。高壓下出現(xiàn)問題，重點分析高壓部分和密封性?？赡艿脑虬ǎ焊邏夯钊蚧钊麠U密封圈磨損、老化或損壞；高壓腔體（如測壓室、充液腔）存在微小裂紋或砂眼；充液系統(tǒng)（如充液閥、充液管路）在高壓下密封不嚴或泄漏；活塞桿與導向套之間的潤滑不良導致摩擦力增大或運動不平穩(wěn)；高壓泵或壓力源本身在高負載下穩(wěn)定性下降。第六題解析思路：LCR電橋測量標準電感讀數(shù)嚴重偏小且固定。首先確認測試夾具是否適合測量電感且接觸良好。固定偏小且量程選擇導致讀數(shù)異常，指向測量電路或核心部件?？赡艿脑虬ǎ旱土砍虣n位的測量線圈或放大器虛焊、損壞或性能下降；用于測量電感的振蕩器頻率不穩(wěn)定或幅度不足；整流濾波電路對低量程檔影響過大；A/D轉(zhuǎn)換器或數(shù)字處理單元在低量程檔存在固定偏差；量程切換開關(guān)接觸不良導致實際接入電路與顯示量程不符。第七題解析思路：阿貝折射儀讀數(shù)偏差大且重復性差。首先檢查棱鏡組是否清潔、透光性是否良好、恒溫系統(tǒng)是否工作正常。問題出現(xiàn)在測量過程中，可能的原因包括：折射率測量原理中的光路（入射光、臨界反射光）發(fā)生偏折，如棱鏡組安裝傾斜、磨損導致接觸不良；內(nèi)部光源強度不穩(wěn)定或單色性差；光電探測器（如光電二極管）響應漂移或靈敏度變化；測量電路（如檢流計、放大器）存在噪聲或非線性；讀數(shù)系統(tǒng)（如刻度盤、CCD讀數(shù)）誤差；樣品制備或溶液純度問題。第八題解析思路：電子秒表短時測量逐漸變長，長時測量穩(wěn)定。這指向計時基準或計時相關(guān)控制邏輯。短時測量易受干擾或觸發(fā)延遲影響。可能的原因包括：計時基準晶振頻率隨溫度變化（溫漂）或老化導致頻率漂移，短時測量受影響更顯著；計時啟動或停止信號處理電路存在延遲，尤其在低電平或干擾信號下；內(nèi)部計時中斷服務程序（ISR）響應不timely或存在優(yōu)先級問題，導致短時測量觸發(fā)不穩(wěn)定；電源穩(wěn)定性對時基影響較大（如低功耗模式切換導致抖動）。第九題解析思路：毛發(fā)濕度計指示值恒定偏高。毛發(fā)濕度計原理是基于毛發(fā)吸濕膨脹系數(shù)的變化。指示恒定偏高，排除環(huán)境濕度真實變化的影響，指向毛發(fā)本身或其驅(qū)動/指示機構(gòu)?？赡艿脑虬ǎ簼癜l(fā)）受污染、潮濕或老化，導致其感濕特性改變（如對濕度不敏感或靈敏度降低，但在某個濕度點附近表現(xiàn)異常）；濕包安裝位置不當，長期處于局部高濕環(huán)境；指示機構(gòu)（如指針、刻度盤）卡滯或存在固定偏移；傳動機構(gòu)（如游絲、齒輪）故障導致讀數(shù)無法回零或準確反映濕包狀態(tài)。第十題解析思路：測力計施加預緊力后示值持續(xù)變化至偏高。測力計的核心是力敏元件（如應變片、壓電晶體）及其測量電路。預緊力后示值變化，指向與預緊力狀態(tài)相關(guān)的部件或效應。可能的原因包括：力敏元件在長期受力或應力狀態(tài)變