光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗方法3OpticsandPhotonics-Environmentaltestmethods–Part3:Mechanicalstresses ——1部分:——2部分:——3部分:——4部分:——6部分:——7部分:——8部分:——9部分:——11部分:——12部分:——14部分:——17部分:——20部分:——22部分:——23部分:3GB/T12085.11部分：術(shù)語、試驗范圍(GB/T12085.1―××××,ISO9022-1:2016,MOD)GB/T2423.10-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc：振動（正弦）(IECGB/T2423.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ca和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度(GB/T2423.15―2008，IEC60068-2-7：1986，IDT)GB/T2423.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊(GB/T2423.5―2019，IEC60068-2-27：2008，IDT)GB/T2423.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ec：粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）(GB/T2423.7―2018，IEC60068-2-31：2008，IDT)GB/T2423.43電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2安裝(GB/T2423.43―2008，IEC60068-2-47：2005，IDT)GB/T2423.39電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ee和導(dǎo)則：散裝貨物試驗包含彈跳(GB/T2423.39―2018，IEC60068-2-55：2013，MOD)GB/T2423.562Fh：寬帶隨機振動和導(dǎo)則(GB/T2423.56―2018，IEC60068-2-64：2008，IDT)GB/T12085.11GB/T2423.43安置在ɡ值取整數(shù)近似為10ms2表GB/TGB/TGB/TGB/TGB/TGB/T36：掃頻振動(正弦GB/TGB/T表沖擊持續(xù)時間0102、03、05a適用于零件和部件的試驗。對成套光學(xué)儀器，在加速度500ɡ時沖擊的持續(xù)時間為0.5ms表沖擊持續(xù)時間±101表允許偏差-0ab50表0aa表0注：優(yōu)先選用表沿各軸線方向暴露時 ＞1001a36(正弦36(正弦)8大位移振幅的振動不強調(diào)用于光學(xué)儀器)。在特殊情況下參照GB/T2423.10-20191。36(正弦)89表位移1010101001a1表頻帶104.7.210規(guī)定時間沿每根軸表8表加速度平方頻譜密 ɡ2/均方根加速度 頻率范圍 01a表 2/均方根加速度 頻率范圍 01a表 /均方根加速度 頻率范圍 01ab