2026年電子檢測(cè)產(chǎn)品中EMI項(xiàng)目測(cè)試日程規(guī)劃一、單選題（每題2分，共20題）1.在EMI測(cè)試中，輻射發(fā)射測(cè)試的頻率范圍通常是？A.9kHz-30MHzB.30MHz-1GHzC.150MHz-600MHzD.1GHz-6GHz2.根據(jù)CISPR22標(biāo)準(zhǔn)，哪些設(shè)備需要進(jìn)行傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試？Ⅰ.臺(tái)式計(jì)算機(jī)Ⅱ.筆記本電腦Ⅲ.移動(dòng)電話A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部3.在EMI測(cè)試中，屏蔽效能測(cè)試通常使用什么設(shè)備？A.頻譜分析儀B.網(wǎng)絡(luò)分析儀C.電磁屏蔽室D.信號(hào)發(fā)生器4.根據(jù)FCCPart15標(biāo)準(zhǔn)，哪種設(shè)備屬于ClassB設(shè)備？A.家用電子設(shè)備B.商業(yè)電子設(shè)備C.工業(yè)電子設(shè)備D.醫(yī)療電子設(shè)備5.在EMI測(cè)試中，天線的高度通常設(shè)置為多少？A.1米B.1.5米C.3米D.10米6.根據(jù)EN55014標(biāo)準(zhǔn)，哪些設(shè)備需要進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試？Ⅰ.信息技術(shù)設(shè)備Ⅱ.電信設(shè)備Ⅲ.汽車電子設(shè)備A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部7.在EMI測(cè)試中，接地電阻的要求通常是？A.≤1ΩB.≤5ΩC.≤10ΩD.≤100Ω8.根據(jù)GB/T9254標(biāo)準(zhǔn)，傳導(dǎo)騷擾限值的頻率范圍是？A.150kHz-30MHzB.300kHz-30MHzC.150kHz-100MHzD.300kHz-100MHz9.在EMI測(cè)試中，混響室主要用于測(cè)試哪種騷擾？A.輻射發(fā)射B.傳導(dǎo)發(fā)射C.靜電放電D.射頻傳導(dǎo)10.根據(jù)IEC61000標(biāo)準(zhǔn)，抗擾度測(cè)試分為哪幾類？A.4類B.5類C.6類D.7類二、多選題（每題3分，共10題）1.在EMI測(cè)試中，哪些設(shè)備需要進(jìn)行傳導(dǎo)騷擾測(cè)試？Ⅰ.電源適配器Ⅱ.無線充電器Ⅲ.電機(jī)驅(qū)動(dòng)器A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部2.根據(jù)CISPR33標(biāo)準(zhǔn)，哪些測(cè)試項(xiàng)目屬于輻射發(fā)射測(cè)試？Ⅰ.150kHz-30MHzⅡ.30MHz-1GHzⅢ.300MHz-1GHzA.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部3.在EMI測(cè)試中，哪些因素會(huì)影響屏蔽效能？Ⅰ.材料的導(dǎo)電性Ⅱ.間隙的大?、?電磁波的頻率A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部4.根據(jù)EN55021標(biāo)準(zhǔn)，哪些設(shè)備需要進(jìn)行傳導(dǎo)騷擾測(cè)試？Ⅰ.信息技術(shù)設(shè)備Ⅱ.電信設(shè)備Ⅲ.汽車電子設(shè)備A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部5.在EMI測(cè)試中，哪些測(cè)試項(xiàng)目屬于靜電放電抗擾度測(cè)試？Ⅰ.接觸放電Ⅱ.感應(yīng)放電Ⅲ.空氣放電A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部6.根據(jù)GB/T17626標(biāo)準(zhǔn)，哪些測(cè)試項(xiàng)目屬于電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試？Ⅰ.電壓暫降Ⅱ.電壓中斷Ⅲ.EFT/BA.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅢD.全部7.在EMI測(cè)試中，哪些設(shè)備需要進(jìn)行輻射抗擾度測(cè)試？Ⅰ.醫(yī)療設(shè)備Ⅱ.交通安全設(shè)備Ⅲ.電力電子設(shè)備A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部8.根據(jù)IEC61000標(biāo)準(zhǔn)，哪些測(cè)試項(xiàng)目屬于射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試？Ⅰ.150kHz-30MHzⅡ.30MHz-1GHzⅢ.300MHz-1GHzA.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部9.在EMI測(cè)試中，哪些因素會(huì)影響傳導(dǎo)騷擾的測(cè)試結(jié)果？Ⅰ.電源線長(zhǎng)度Ⅱ.被測(cè)設(shè)備的工作狀態(tài)Ⅲ.測(cè)試環(huán)境的電磁背景A.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部10.根據(jù)CISPR25標(biāo)準(zhǔn)，哪些測(cè)試項(xiàng)目屬于輻射抗擾度測(cè)試？Ⅰ.10V/mⅡ.30V/mⅢ.100V/mA.Ⅰ和ⅡB.Ⅱ和ⅢC.只有ⅠD.全部三、判斷題（每題2分，共10題）1.在EMI測(cè)試中，屏蔽效能越高越好。（正確/錯(cuò)誤）2.根據(jù)FCCPart15標(biāo)準(zhǔn)，ClassA設(shè)備的發(fā)射限值比ClassB設(shè)備寬松。（正確/錯(cuò)誤）3.在EMI測(cè)試中，混響室和電波暗室是同義詞。（正確/錯(cuò)誤）4.根據(jù)EN55014標(biāo)準(zhǔn)，所有汽車電子設(shè)備都需要進(jìn)行EMI測(cè)試。（正確/錯(cuò)誤）5.在EMI測(cè)試中，接地電阻越小越好。（正確/錯(cuò)誤）6.根據(jù)GB/T9254標(biāo)準(zhǔn)，傳導(dǎo)騷擾限值與頻率無關(guān)。（正確/錯(cuò)誤）7.在EMI測(cè)試中，混響室主要用于測(cè)試傳導(dǎo)發(fā)射。（正確/錯(cuò)誤）8.根據(jù)IEC61000標(biāo)準(zhǔn)，抗擾度測(cè)試分為4類。（正確/錯(cuò)誤）9.在EMI測(cè)試中，電源線長(zhǎng)度對(duì)傳導(dǎo)騷擾測(cè)試結(jié)果有顯著影響。（正確/錯(cuò)誤）10.根據(jù)CISPR25標(biāo)準(zhǔn)，輻射抗擾度測(cè)試只需要測(cè)試10V/m的場(chǎng)強(qiáng)。（正確/錯(cuò)誤）四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共5題）1.簡(jiǎn)述EMI測(cè)試的基本流程。2.解釋屏蔽效能的概念及其影響因素。3.比較CISPR22和FCCPart15標(biāo)準(zhǔn)的異同點(diǎn)。4.描述靜電放電抗擾度測(cè)試的測(cè)試方法。5.說明電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試的測(cè)試要求。五、計(jì)算題（每題10分，共3題）1.某電子設(shè)備的輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果顯示，在100MHz處測(cè)得場(chǎng)強(qiáng)為10μV/m，計(jì)算其是否符合CISPR22的限值要求（限值為30μV/m）。2.某電源適配器的傳導(dǎo)騷擾測(cè)試結(jié)果顯示，在150kHz處測(cè)得電壓為10μV，計(jì)算其是否符合GB/T9254的限值要求（限值為60μV）。3.某醫(yī)療設(shè)備的靜電放電抗擾度測(cè)試中，接觸放電的電壓為2kV，計(jì)算其是否符合IEC61000-4-2的限值要求（限值為4kV）。六、論述題（每題15分，共2題）1.詳細(xì)說明EMI測(cè)試在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的重要性及其對(duì)產(chǎn)品認(rèn)證的影響。2.分析當(dāng)前EMI測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)及其對(duì)測(cè)試人員的要求。答案與解析一、單選題答案1.B2.A3.C4.A5.C6.A7.B8.A9.A10.C二、多選題答案1.A2.A3.D4.A5.A6.C7.A8.A9.D10.A三、判斷題答案1.正確2.正確3.錯(cuò)誤4.錯(cuò)誤5.正確6.錯(cuò)誤7.錯(cuò)誤8.錯(cuò)誤9.正確10.錯(cuò)誤四、簡(jiǎn)答題答案1.EMI測(cè)試的基本流程：-準(zhǔn)備測(cè)試樣品和測(cè)試環(huán)境-選擇合適的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)-連接測(cè)試設(shè)備-進(jìn)行預(yù)測(cè)試以確定測(cè)試參數(shù)-進(jìn)行正式測(cè)試并記錄數(shù)據(jù)-分析測(cè)試結(jié)果并判斷是否符合標(biāo)準(zhǔn)-出具測(cè)試報(bào)告2.屏蔽效能的概念及其影響因素：-屏蔽效能是指屏蔽材料對(duì)電磁波的衰減能力，通常用分貝表示。-影響因素包括：材料的導(dǎo)電性和介電常數(shù)、屏蔽體的幾何形狀和尺寸、頻率、間隙的大小和數(shù)量、接地情況等。3.CISPR22和FCCPart15標(biāo)準(zhǔn)的異同點(diǎn)：-相同點(diǎn)：都是針對(duì)信息設(shè)備的EMI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試項(xiàng)目和方法有相似之處。-不同點(diǎn)：CISPR22適用于歐洲市場(chǎng)，而FCCPart15適用于美國(guó)市場(chǎng)；部分限值要求有所不同。4.靜電放電抗擾度測(cè)試的測(cè)試方法：-使用靜電放電發(fā)生器模擬人體接觸或接近設(shè)備時(shí)的靜電放電。-測(cè)試項(xiàng)目包括接觸放電和感應(yīng)放電。-測(cè)試時(shí)將放電電極放置在設(shè)備的典型放電點(diǎn)上。5.電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試的測(cè)試要求：-使用電快速瞬變脈沖群發(fā)生器模擬電力線上的瞬變脈沖騷擾。-測(cè)試時(shí)將測(cè)試夾子連接到電源線或信號(hào)線上。-測(cè)試項(xiàng)目包括不同頻率范圍的脈沖群。五、計(jì)算題答案1.輻射發(fā)射測(cè)試計(jì)算：-測(cè)得場(chǎng)強(qiáng)為10μV/m，限值為30μV/m。-10μV/m≤30μV/m，符合標(biāo)準(zhǔn)。2.傳導(dǎo)騷擾測(cè)試計(jì)算：-測(cè)得電壓為10μV，限值為60μV。-10μV≤60μV，符合標(biāo)準(zhǔn)。3.靜電放電抗擾度測(cè)試計(jì)算：-測(cè)試電壓為2kV，限值為4kV。-2kV≤4kV，符合標(biāo)準(zhǔn)。六、論述題答案1.EMI測(cè)試在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的重要性及其對(duì)產(chǎn)品認(rèn)證的影響：-EMI測(cè)試是評(píng)估電子產(chǎn)品電磁兼容性的重要手段，對(duì)于確保產(chǎn)品在電磁環(huán)境中的正常工作和避免對(duì)其他設(shè)備的干擾至關(guān)重要。-通過EMI測(cè)試，可以及早發(fā)現(xiàn)和解決產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的電磁兼容性問題，降低產(chǎn)品上市后的故障率，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。-EMI測(cè)試結(jié)果也是產(chǎn)品認(rèn)證的重要依據(jù)，只有通過相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的EMI測(cè)試，產(chǎn)品才能獲得市場(chǎng)準(zhǔn)入資格。2.分析當(dāng)前EMI測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)及其對(duì)測(cè)試人員的要求：-當(dāng)前EM