標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 42968.9-2025 集成電路 電磁抗擾度測(cè)量 第9部分:輻射抗擾度測(cè)量 表面掃描法》規(guī)定了采用表面掃描技術(shù)對(duì)集成電路進(jìn)行輻射抗擾度測(cè)試的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評(píng)估集成電路在特定頻率范圍內(nèi)對(duì)外部電磁場(chǎng)的敏感性,確保其能在預(yù)期的電磁環(huán)境中正常工作。
標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了如何設(shè)置測(cè)試環(huán)境,包括使用合適的探頭和天線、定義測(cè)試區(qū)域以及確定被測(cè)設(shè)備的位置。此外,還明確了不同類型的干擾信號(hào)(如連續(xù)波或脈沖波)的應(yīng)用條件與參數(shù)選擇原則。對(duì)于測(cè)試程序,標(biāo)準(zhǔn)給出了具體的步驟指導(dǎo),從預(yù)處理到數(shù)據(jù)記錄再到結(jié)果分析,涵蓋了整個(gè)流程。
關(guān)于數(shù)據(jù)分析與報(bào)告編寫,《GB/T 42968.9-2025》也提供了指南,強(qiáng)調(diào)需要根據(jù)測(cè)試目的合理解釋實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),并按照統(tǒng)一格式準(zhǔn)備測(cè)試報(bào)告,以便于信息交流和技術(shù)文檔管理。
該文件還特別注意到了安全事項(xiàng),在執(zhí)行任何測(cè)量之前都必須采取適當(dāng)措施保護(hù)人員及設(shè)備免受潛在危害。同時(shí),考慮到實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種情況,標(biāo)準(zhǔn)為用戶預(yù)留了一定靈活性,允許依據(jù)具體情況調(diào)整某些參數(shù)或方法,前提是這些變動(dòng)不會(huì)影響測(cè)試的有效性和一致性。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2025-12-02 頒布
- 2025-12-02 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS31200
CCSL.56
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T429689—2025/IECTS62132-92014
.:
集成電路電磁抗擾度測(cè)量
第9部分輻射抗擾度測(cè)量表面掃描法
:
Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—
Part9Measurementofradiatedimmunit—Surfacescanmethod
:y
IECTS62132-92014IDT
(:,)
2025-12-02發(fā)布2025-12-02實(shí)施
國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T429689—2025/IECTS62132-92014
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語定義和縮略語
3、………………………1
術(shù)語和定義
3.1…………………………1
縮略語
3.2………………2
通則
4………………………2
試驗(yàn)條件
5…………………2
通則
5.1…………………2
電源電壓
5.2……………3
頻率范圍
5.3……………3
試驗(yàn)設(shè)備
6…………………3
通則
6.1…………………3
屏蔽
6.2…………………3
騷擾發(fā)生器
6.3RF………………………3
電纜
6.4…………………3
近場(chǎng)探頭
6.5……………3
探頭定位和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
6.6…………4
監(jiān)測(cè)器
6.7DUT…………………………4
試驗(yàn)布置
7…………………5
通則
7.1…………………5
試驗(yàn)配置
7.2……………5
試驗(yàn)電路板
7.3…………………………5
探頭定位系統(tǒng)軟件設(shè)置
7.4……………5
軟件
7.5DUT……………6
試驗(yàn)程序
8…………………6
通則
8.1…………………6
運(yùn)行檢查
8.2……………6
抗擾度試驗(yàn)
8.3…………………………6
試驗(yàn)報(bào)告
9…………………8
通則
9.1…………………8
試驗(yàn)條件
9.2……………8
Ⅰ
GB/T429689—2025/IECTS62132-92014
.:
探頭設(shè)計(jì)和校準(zhǔn)
9.3……………………8
試驗(yàn)數(shù)據(jù)
9.4……………8
后處理
9.5………………9
數(shù)據(jù)交換
9.6……………9
附錄資料性近場(chǎng)探頭校準(zhǔn)
A()…………10
附錄資料性電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭
B()…………………14
附錄資料性坐標(biāo)系統(tǒng)
C()………………16
參考文獻(xiàn)
……………………19
Ⅱ
GB/T429689—2025/IECTS62132-92014
.:
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是集成電路電磁抗擾度測(cè)量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下
GB/T42968《》9。GB/T42968
部分
:
第部分通用條件和定義
———1:;
第部分輻射抗擾度測(cè)量小室和寬帶小室法
———2:TEMTEM;
第部分大電流注入法
———3:(BCI);
第部分射頻功率直接注入法
———4:;
第部分工作臺(tái)法拉第籠法
———5:;
第部分輻射抗擾度測(cè)量帶狀線法
———8:IC;
第部分輻射抗擾度測(cè)量表面掃描法
———9:。
本文件等同采用集成電路電磁抗擾度測(cè)量第部分輻射抗擾度測(cè)
IECTS62132-9:2014《9:
量表面掃描法
》。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任
。。
本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本文件由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC599)。
本文件起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院揚(yáng)芯科技深圳有限公司北京智芯微電子科技有
:、()、
限公司天津先進(jìn)技術(shù)研究院廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司工業(yè)和信息化部電子第五研究所上海電
、、、、
器設(shè)備檢測(cè)所有限公司廈門市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)院華東師范大學(xué)中國家用電器研究院北京航空航
、、、、
天大學(xué)北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司中國計(jì)量大學(xué)中國合格評(píng)定國家認(rèn)可中心深圳
、、、、
市恒創(chuàng)技術(shù)有限公司中國汽車工程研究院股份有限公司中山大學(xué)北京高搏電磁兼容技術(shù)有限公司
、、、、
河南省電子信息產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)技術(shù)研究院中家院北京檢測(cè)認(rèn)證有限公司上海機(jī)動(dòng)車檢測(cè)認(rèn)證技術(shù)
、()、
研究中心有限公司重慶賽力斯新能源汽車設(shè)計(jì)院有限公司
、。
本文件主要起草人付君程江河陳梅雙崔強(qiáng)楊紅波吳建飛方文嘯孫云龍李煥然邵鄂
:、、、、、、、、、、
梁吉明邢琳廉鵬飛亓新張艷艷閻照文李齊李燕劉佳楊志奇譚澤強(qiáng)高新杰李博弓兆博
、、、、、、、、、、、、、、
王曉迪伍強(qiáng)
、。
Ⅲ
GB/T429689—2025/IECTS62132-92014
.:
引言
為規(guī)范集成電路電磁抗擾度測(cè)量以及為集成電路制造商和檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供不同的電磁抗擾度測(cè)量
,
方法規(guī)定了集成電路電磁抗擾度測(cè)量的通用條件定義和不同測(cè)量方法的試驗(yàn)程序和試
,GB/T42968、
驗(yàn)要求擬由個(gè)部分構(gòu)成
,7。
第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁抗擾度測(cè)量的通用條件和定義
———1:。。
第部分輻射抗擾度測(cè)量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬
———2:TEMTEM。TEM
帶小室法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
TEM。
第部分大電流注入法目的在于規(guī)定大電流注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———3:(BCI)。。
第部分射頻功率直接注入法目的在于規(guī)定射頻功率直接注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———4:。。
第部分工作臺(tái)法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺(tái)法拉第籠法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———5:。。
第部分輻射抗擾度測(cè)量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)
———8:IC。IC
要求
。
第部分輻射抗擾度測(cè)量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———9:。。
Ⅳ
GB/T429689—2025/IECTS62132-92014
.:
集成電路電磁抗擾度測(cè)量
第9部分輻射抗擾度測(cè)量表面掃描法
:
1范圍
本文件描述了評(píng)估近電場(chǎng)近磁場(chǎng)或近電磁場(chǎng)分量對(duì)集成電路影響的測(cè)量方法本測(cè)量方法
、(IC)。
旨在用于的架構(gòu)分析例如平面規(guī)劃和配電優(yōu)化本測(cè)量方法也可用于測(cè)量掃描探頭能夠靠近的
IC,。、
安裝在任何電路板上的某些情況下本測(cè)量方法不僅可掃描還可掃描的環(huán)境為了對(duì)比不
IC。,IC,IC。
同的表面掃描抗擾度宜使用規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)板
IC,IEC62132-1。
本測(cè)量方法提供了對(duì)其上方的電場(chǎng)或磁場(chǎng)近場(chǎng)騷擾的敏感度抗擾度圖測(cè)量探頭的性能和
IC()。
探頭定位系統(tǒng)的精度決定了測(cè)量的分辨率本方法預(yù)期使用的最高頻率為使用現(xiàn)有探頭技術(shù)
。6GHz。
可擴(kuò)展上限頻率范圍但這超出了本文件的范圍本測(cè)量方法使用連續(xù)波幅度調(diào)制或
,。(CW)、(AM)
脈沖調(diào)制信號(hào)在頻域進(jìn)行
(PM)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
國際電工術(shù)語第部分電路理論
IEC60050-131131:[InternationalElectrotechnical
Vocabulary(IEV
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