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文檔簡介
第一章IC設(shè)計(jì)的根本學(xué)問
集成電路設(shè)計(jì)方法大致可分為定制(Custom)>半定制(Semi-custom)、可編程規(guī)律器
件(PLD)等設(shè)計(jì)方法,如圖1.1所示。定制設(shè)計(jì)方法又可分為全定制(Full-Custom)設(shè)計(jì)
和基于包(Cell-Based)的設(shè)計(jì)方法二類。本課程講授集成電路定制設(shè)計(jì)方法。半定制和可編程
規(guī)律器件安排在其它課程中。
圖1.1ASIC設(shè)計(jì)方法分類
1.1集成電路設(shè)計(jì)流程
全定制(i'ull-Custom)設(shè)計(jì)和基于包(Cell-Based)的設(shè)計(jì)方法使用不同的設(shè)計(jì)流程,
所使用的設(shè)計(jì)工具也會有所不同。
1.1.1全定制設(shè)計(jì)流程
全定制(fullcustom)集成電路設(shè)計(jì)方法,是按規(guī)定的功能與性能要求,對電路的構(gòu)造布
局與布線進(jìn)展最優(yōu)化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)最小面積,最正確布線布局、最優(yōu)功耗速度積,以求獲得盡
可能最優(yōu)的設(shè)計(jì)。全定制(fullcustom)集成電路設(shè)計(jì)方法通常用于高性能的設(shè)計(jì)場合:規(guī)模
較小性能要求較高的中小規(guī)模專田集成電路;大批量高性能集成電路,例如CPU與內(nèi)存;需
要最正確優(yōu)化設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)單元庫等等。圖1.2是全定制設(shè)計(jì)流程,大致的步驟如下:
1)電路圖繪制:依據(jù)芯片的功能要求與性能指標(biāo),選擇適宜的集成電路工藝庫,使用
電路圖編輯工具繪制電路圖。
2)前仿真:利用HSPICE對電路圖進(jìn)展仿真(幅員前仿真),并進(jìn)展性能優(yōu)化。
3)繪制幅員:依據(jù)Foundry(代,廠〕供給的幅員設(shè)計(jì)規(guī)章,利用幅員編輯,具繪制芯
片幅員。
4)幅員驗(yàn)證:包括幾個主要步驟:設(shè)計(jì)規(guī)章檢查DRC(DesignRuleCheek),幅員與電
路比照驗(yàn)證LVS(LayoutVersusSchematic),幅員寄生參數(shù)抽取LPE(LayoutParasiteExtract)
等。為了保證設(shè)計(jì)的幅員能被正確制造出來,流片廠家會依據(jù)工藝定義很多設(shè)計(jì)規(guī)章,DRC
就是對幅員進(jìn)展全面的設(shè)計(jì)規(guī)章檢查。LVS的任務(wù)是證明幅員實(shí)現(xiàn)的功能與電路網(wǎng)表描述的完
全全都。按幅員流片的實(shí)際芯片,會引入很多寄生參數(shù),例如引線和MOS管的寄生電阻與電
容,各種寄生晶體管等,LPE的任務(wù)就是對幅員進(jìn)展寄生參數(shù)抽取,獲得包括寄生參數(shù)的電
路網(wǎng)表。
5)幅員后仿真:寄生參數(shù)在前仿真時沒有計(jì)入,因此有必要對幅員進(jìn)展包括寄生參數(shù)
的電路網(wǎng)表進(jìn)展幅員后仿真。經(jīng)過驗(yàn)證后,導(dǎo)出GDSH數(shù)據(jù)交Foundry(代工廠)進(jìn)展流片。
圖1.2全定制設(shè)計(jì)流程
1.1.2Cell-based的設(shè)計(jì)流程
對于產(chǎn)品周期短,電路規(guī)模較大的專用集成電路設(shè)計(jì),通常承受Cell-based的集成電路
設(shè)計(jì)方法。圖1.3是CeD?based的集成電路設(shè)計(jì)流程,大致的步驟如下:
1)HDL設(shè)計(jì)描述和功能仿真:依據(jù)芯片的功能要求,將芯片劃分為假設(shè)干功能模塊,
使用VHDL或Verilog等硬件描述語言實(shí)現(xiàn)各模塊的設(shè)計(jì),并對HDL設(shè)計(jì)進(jìn)展功能驗(yàn)證。
2)規(guī)律綜合:依據(jù)芯片的功能要求與性能指標(biāo),選擇適宜的集成電路工藝庫,使用規(guī)
律綜合工具對HDL設(shè)計(jì)進(jìn)展綜合,得到包含所用工藝延時等信息的門級網(wǎng)表。
圖1.3Cell-based的設(shè)計(jì)流程
3)綜合后仿真:功能仿真沒有考慮實(shí)際電路的延遲,綜合后仿真(門級仿真J的主要
工作是確認(rèn)經(jīng)綜合后的電路是否符合要求,此階段仿真將計(jì)入門電路的延遲。
4)自動布局布線:自動布局布線是使用EDA工具把綜合后的門級網(wǎng)表轉(zhuǎn)換成芯片的幅
員。布局是將設(shè)計(jì)好的功能模塊合理地安排在芯片上,規(guī)劃好它們的位置。布線則指完成各
模塊之間互連的連線。在自動布局布線階段,使用經(jīng)過驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)單元庫,會大大提高布局
布線的速度并提高芯片的性能。
5)幅員驗(yàn)證:這一步類似于全定制設(shè)計(jì)方法,包括:設(shè)計(jì)規(guī)章檢查DRC(DesignRule
Check),幅員與電路比照驗(yàn)證LVS(LayoutVersusSchematic),幅員寄牛.參數(shù)抽取LPE(Layoul
ParasiteExtract)等。
6)幅員后仿真:這一步類似于全定制設(shè)計(jì)方法,即對幅員進(jìn)展包括寄生參數(shù)的電路網(wǎng)
表進(jìn)展幅員后仿真。經(jīng)過驗(yàn)證后,導(dǎo)出GDSII數(shù)據(jù)交Foundry(代工廠)進(jìn)展流片。
1.2集成電路設(shè)計(jì)工具簡介
圖L2和圖1.3是一個定制IC設(shè)計(jì)的典型流程。各設(shè)計(jì)工具的作用已在流程中標(biāo)示。IC
設(shè)計(jì)工具眾多,目前主流的IC設(shè)計(jì)工具由三大公司開發(fā)。
1.2.1Cadence公司
Cadence涵蓋了電子設(shè)計(jì)的整個流程,包括系統(tǒng)級設(shè)計(jì),功能驗(yàn)證,1C綜合及布局布線,
模擬、混合信號及射頻IC設(shè)計(jì),全定制集成電路設(shè)計(jì),IC物理驗(yàn)證,PCB設(shè)計(jì)和硬件仿真
建模等。
1、IC5141USR3功能介紹
IC514I是Cadence公司開發(fā)的用于全定制集成電路設(shè)計(jì)的主要工具平臺。目前它在全定
制集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域居行業(yè)領(lǐng)先地位。USR3表示是每三版修訂。IC5141USR3功能強(qiáng)大,
本課程用到的IC5141中的主要工具有:ComposeEditor(電路圖設(shè)計(jì)工具),VirtuosoLayout
Editor(幅員設(shè)計(jì)工具),Diva(幅員驗(yàn)證工具),AnalogArlisl(電路模擬工具)等。
Diva(幅員驗(yàn)證工具)可完成在線的DRC,LVS和LPE任務(wù)。AnalogArtist可通過Cadence
與HSPICE的接口(ADE)調(diào)用HSPICE對電路進(jìn)展模擬。此外,AnalogArlisl還可調(diào)用Cadence
公司開發(fā)的Spectre和UltraSim等快速仿真程序。
2、ASSURA3.1.4功能介紹
ASSURA是Cadence公司的幅員驗(yàn)證工具,Assura在語法上與diva相像,可以說是diva
的升級版本,它能處理更大規(guī)模幅員的物理驗(yàn)證。
3、IUS56功能介紹
IUS(IncisiveUnifiedSimulator)是Cadence公司的主要仿真工具。IUS工具包括NCsim
(使用Verilog和Verilog-AMS仿真數(shù)?;旌想娐?,以及NC-SC(SystemC仿真工具)。
通過IUS的AMS模擬器,可以對數(shù)模混合信號進(jìn)展仿真。安裝后,IUS可以獨(dú)立使用,也
可在IC5141平臺中調(diào)用。
4、MMSIM60功能介紹
MMSIM(Multi-modesimulation)是Cadence公司的另一主要仿真工具,它包括Spectre
和UltraSim等快速模擬程序。安裝后,MMSIM可以獨(dú)立使用,也可在IC5141平臺中調(diào)用。
5、SOCEncounter52功能介紹
Encounter是Cadence公司的自動布局布線工具,目前它在自動布局布線領(lǐng)域居行業(yè)領(lǐng)先地
位。幾乎全部的IC設(shè)計(jì)公司都會使用Encounter完成自動幅員設(shè)計(jì)。
1.2.2Synopsys公司
Synopsys是IC設(shè)計(jì)工具的另一巨頭,它也涵蓋了集成可路設(shè)計(jì)的整個流程。尤其是
Syr.opsys的DC在規(guī)律綜合領(lǐng)域居行業(yè)領(lǐng)先地位。
1、DC2023功能介紹
DC(DesignCompiler)是Synopsys的規(guī)律綜合優(yōu)化工具,它把HDL描述綜合為與工藝相
關(guān)的門級網(wǎng)表。它可以承受多種輸入格式,如硬件描述語言、原理圖和網(wǎng)表等,并產(chǎn)生多種
性能報告。
2、Primetime功能介紹
PrimeTime是靜態(tài)時序分析工具,可進(jìn)展靜態(tài)時序分析(STA),準(zhǔn)確的RC延遲計(jì)算,先
進(jìn)的建模和時序驗(yàn)收。
3、HSPCIE功能介紹
1972年美國加利福尼亞大學(xué)柏克萊分校開發(fā)了用于集成電路的電路模擬程序SPICE。其
后,消滅了SPICE的各種版本,HSPICE即是其中最成功的電路模擬程序之一。HSPICE承
受了準(zhǔn)確的、經(jīng)過驗(yàn)證的集成電路器件模型庫和先進(jìn)的仿真和分析算法,供給了一個高精度
的電路仿真環(huán)境。目前HSPICE已成為業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)確電路仿真器。
1.2,3Mentor公司
Mentor是IC設(shè)計(jì)工具的另一巨頭,它也涵蓋了集成電路設(shè)計(jì)的整個流程。Menlor公司尤
其以ModelSim仿真工具和Calibre物理驗(yàn)證工具最為精彩。
1、Calibre功能介紹
Calibre工具可完成DRC、LVS和LPE等幅員驗(yàn)證任務(wù)。目前,Calibre工具已經(jīng)被眾多設(shè)計(jì)
公司、單元庫、IP開發(fā)商和晶圓代工廠承受,作為深亞微米集成電路的主要物理驗(yàn)證工具。
Calibre工具已經(jīng)被集成到Cadence公司的VirtuosoLayoutEditor設(shè)計(jì)環(huán)境中,可在IC5141中直接
調(diào)用,也可單獨(dú)使用。
1.3工藝庫
1.3.1工藝庫簡介
集成電路設(shè)計(jì)必需針對具體的制造工藝。工藝庫通常由晶圓代工廠、IP公司(例如
Artisan)xEDA軟件公司(例如Cadence,Synopsys)等供給。使用IC工具進(jìn)展芯片設(shè)計(jì)時
必需有工藝庫的支持。工藝庫包含集成電路的各種信息,例如單元的規(guī)律功能、面積、輸入
到輸出定時關(guān)系、單元扇出限制,以及幅員信息。不同的設(shè)計(jì)工具使用不同的工藝庫,例如
針對Synopsys的工藝庫和針對Cadence的工藝庫。
1.3.2NCSU庫簡介
NCSUCDK(NorthCarolinaStateUniversityCadenceDesignkit)是由NorthCarolinaState
University開發(fā)的CDK(CadenceDesignkit)工藝庫。NCSUCDK使用美國MOSIS的SCMOS
設(shè)計(jì)規(guī)章,可用于IC全定制設(shè)計(jì)。目前的最版本是NCSUCDK1.5.1,適用的IC設(shè)計(jì)平臺
是IC5141o
目前NCSUCDK1.5.1供給的工藝有:TSMC0.18um,TSMC0.25um,TSMC0.35um,
AMI0.5um,AMI1.5um,HP0.6um。
通過IC5141平臺,使用NCSUCDK1.5.1可進(jìn)展以下主要IC設(shè)計(jì):Virtuoso[幅員設(shè)計(jì)),
Composer(電路圖設(shè)計(jì)),Diva幅員驗(yàn)證,AnalogArtist(HSPICE,Spectre,UltraSim)等。
1.3.3OSU庫簡介
OSUCellLibrary由OklahomaStateUniversity開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)單元庫。OSUCellLibrary必需
在NCSUCDK支持下運(yùn)行。目前的最版本是OSUV2.4,適用的1C設(shè)計(jì)平臺是IC5141,
SOCEncouter5.2,以及Synopsys公司的DC,可用于CMOSIC全定制設(shè)計(jì)以及Cell-based的
IC設(shè)計(jì)。
目前OSUV2.4供給的工藝有:TSMC0.18um,TSMCO.25um,AMI0.35um(withpad
cells),AMI0.5uni(withpadcells)o
1.4可獲資源鏈接
1.4.1芯片制造代工廠(Foundry]
芯片制造代工廠(Foundry)眾多,下面列出國內(nèi)用戶最常使用的主要Foundry以及可獲
工藝技術(shù)(截止到2023年10月I。
lvTSMC臺積電〔臺灣〕
中文全稱:臺灣積體電路制造股份
英文全稱:TaiwanSemiconductorManufacturingCompanyLimited
可獲工藝:0.5um,0.35um,O.25um,O.I8um,0.13um,0.09um0.065um,0.045um
2、CSM或稱Chartered加坡特許〔加坡〕
中文全稱:特許半導(dǎo)體制造公司
英文全稱:CharteredSemiconductorManufacturingLtd
可獲工藝:O.35um,0.25um,0.18um,0.13um,0.09um,0.065um,0.045um
3、SMIC中芯國際〔上?!?/p>
中文全稱:中芯國際集成電路制造股份
英文全稱:SemiconductorManufacturingInternationalCorporation
可獲工藝:0.35um,0.25um,0.18um,0.13um,0.09um
4、HJTC或稱HJ和艦科技(蘇州)
中文全稱:和艦科技(蘇州)
英文全稱:HeJianTechnology(Suzhou)Co.,Lid.
可獲工藝:0.35um,0.25um,0.18um
5、CSMC華潤上華〔無錫〕
中文全稱:華潤上華科技
英文全稱:CSMCTechnologiesCorporation
可獲工藝:3.0至0.5微米
1.4.2主要MPW效勞機(jī)構(gòu)
多工程晶圓(MultiProjectWafer)也稱多目標(biāo)芯片,簡稱MPW,參與MPW打算的芯
片設(shè)計(jì),必需使用一樣的工藝,它們放在同一晶圓片上流片,每個設(shè)計(jì)可以得到數(shù)十片芯片
樣品,而制造費(fèi)用依據(jù)芯
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