ICS3104001

CCSL.13.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T7017—2025/IEC604402012

:

代替GB/T7017—1986

電阻器非線性測量方法

Methodofmeasurementofnon-linearityinresistors

IEC604402012IDT

(:,)

2025-12-02發(fā)布2026-07-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T7017—2025/IEC604402012

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

測量方法

4…………………1

測量原理

4.1……………1

測量電路

4.2……………4

測量系統(tǒng)的要求

4.3……………………4

測量系統(tǒng)的驗(yàn)證

4.4……………………5

測量程序

5…………………5

環(huán)境條件

5.1……………5

樣品準(zhǔn)備

5.2……………5

測量條件

5.3……………5

程序

5.4…………………5

預(yù)防措施

5.5……………6

測量結(jié)果的評估

6…………………………6

評估

6.1…………………6

要求

6.2…………………7

相關(guān)詳細(xì)規(guī)范中應(yīng)規(guī)定的內(nèi)容

7…………7

Ⅰ

GB/T7017—2025/IEC604402012

:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)

GB/T1.1—2020《1:》

定起草

。

本文件代替電阻器非線性測量方法與相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整

GB/T7017—1986《》,GB/T7017—1986,

和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下

,:

增加了規(guī)范性引用的見第章

a)IEC60068-1(2、5.1);

增加了術(shù)語電動勢非線性及三次諧波比及其定義見第章

b)“”“”“”(3);

增加了相關(guān)元件規(guī)范應(yīng)規(guī)定的內(nèi)容見第章

c)(5);

增加了額定功耗小于的一套樣品推薦測試條件見表

d)100mW(1)。

本文件等同采用電阻器非線性測量方法

IEC60440:2012《》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本文件由全國電子設(shè)備用阻容元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC165)。

本文件起草單位蚌埠市雙環(huán)電子集團(tuán)股份有限公司中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院廣東芯陶微電

:、、

子有限公司福建毫米電子有限公司廈門日拓電器科技有限公司

、、。

本文件主要起草人邵建強(qiáng)陸志文李福喜彭偉周少榮張烽倪僚勇

:、、、、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布為

———1986GB/T7017—1986。

本次為第一次修訂

———。

Ⅲ

GB/T7017—2025/IEC604402012

:

電阻器非線性測量方法

1范圍

本文件描述的非線性測試方法是一種評估電阻元件完整性的方法它作為一種有效的在線篩選方

。

法適用于檢測和消除無源元件潛在的早期失效

,。

引起電阻非線性的典型因素有電阻膜內(nèi)的不均勻斑點(diǎn)螺旋槽中留下的薄膜痕跡連接引線或端

:、、

頭與電阻體之間的接觸不穩(wěn)定等

。

本文件描述了一種測量方法和相關(guān)的測試條件以評估電阻中產(chǎn)生的非線性失真的大小如果相

,。

關(guān)詳細(xì)規(guī)范規(guī)定或客戶與制造商之間達(dá)成協(xié)議則采用此方法

,,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

環(huán)境試驗(yàn)概述和指南

IEC60068-1

注環(huán)境試驗(yàn)概述和指南

:GB/T2421—2020(IEC60068-1:2013,IDT)

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

電動勢electromotiveforce

e.m.f

產(chǎn)生電流的電位差

。

32

.

非線性non-linearity

在正弦電流作用下產(chǎn)生諧波頻率的電壓導(dǎo)致元件阻抗偏離歐姆定律

,