C5445:2012序文 11適用範囲及び目的 11.1適用範囲 1 12一般事項 1 12.2單位及び記號 42.3用語及び定義 42.4推奬値 62.5表示 63品質(zhì)評価手順 74試験及び測定手順 74.1一般事項 74.2標準大気條件 74.3一般試験 74.4抵抗測定 4.5耐電圧 214.7動的応力 224.8機械的強度 244.9機械的耐久性 274.10電気的耐久性 284.11過負荷 4.12環(huán)境 344.13はんだ付け 484.14八ネ兒封止 4.15きよう(筐)體封止 544.16耐溶剤性 55 564.18靜電容量 564.19照光性 564.20表面実裝スイッチのはんだ付け 584.21機械的強度(表面実裝スイッチ) 61參考文獻 65附屬書JA(參考)JISと対応國際規(guī)格 66この規(guī)格は,工業(yè)標準化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,一般社団法人電子情報技術(shù)産業(yè)協(xié)會(JEITA)及び一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標準原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標準調(diào)查會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。この規(guī)格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大i及び日本工業(yè)標準調(diào)在會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び欠用新案権に関単認について,責(zé)任はもた日本工業(yè)規(guī)格JIS電子機器用スイッチー第1部:通則序文この規(guī)格は,2009年に第2版として発行されたIEC61020-1を基に,対応する部分については対応國際規(guī)格を翻沢し,技術(shù)的內(nèi)容を変史することなく作成した日本工業(yè)規(guī)格であるが,対応同際規(guī)格には規(guī)定されていない規(guī)定項目(動作特性及び塩水噴霧試験)を日本工業(yè)規(guī)格として追加している。なお,この規(guī)格で側(cè)線又は點線の下線を施してある簡所は,対応因際規(guī)格にはない小鞏である。a)導(dǎo)電部(接點)が機械的に動作することb)最大定格電圧が480V以下注記2この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC61020-1:2009,Electromechanicalswitchesforuseinelectricalandelectronicequipment—Part1:Genericspecification(MOD)なお,対応の程度を表す記號“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”の引用規(guī)格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む2C5445:2012JISB7502久口×一名JISC0617(規(guī)格群)電気用図記號注記対応國際規(guī)格:IEC60617(allparts),Graphicalsymbolsfordiagrams(IDT)JISC0920電気機械器具の外郭注記対応國際規(guī)格:IEC60529:2001,Degreesofprotectionprovidedbyenclosures(IPCode)(IDT)JISC1302絶綠抵抗計JISC4526-1機器用スイッチー第1部:一般要求事項注記対応國際規(guī)格:IEC61058-1:2001,Switchesforappliances—Part1:Generalrequirements(MOD)JISC5062抵抗器及びコンデンサの表示記號注記対応國際規(guī)格:IEC60062:2004,Markingcodesforresistorsandcapacitors(MOD)JISC60068-1環(huán)境試験方法一電気·電子一通則注記対応國際規(guī)格:IEC60068-1:1988,Environmentaltesting.Part1:Generalandguidance(IDT)JISC60068-2-6環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記號:Fc)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-6:2007,Environmentaltesting—Part2-6:Tests—TestFc:Vibration(sinusoidal)(IDT)JISC60068-2-11環(huán)境試験方法(電気·電子)塩水噴霧試験方法JISC60068-2-13環(huán)境試験方法(電気·電子)滅圧試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-13:1983,Environmentaltesting—Part2-13:Tests—TestM:Lowairpressure(IDT)JISC60068-2-14球境武験方法一純気·花子一第2-14部:溫度変化試験方法(試験記號:N)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-14:2009,Environmentaltesting—Part2-14:Tests—TestN:Changeoftemperature(IDT)JISC60068-2-17環(huán)境試験方法一ル気·出子一封止(気密性)試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-17:1994,Basicenvironmentaltestingprocedures—Part2-17:Tests—TestQ:Sealing(IDT)JISC60068-2-20環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-20部:試験一試験Tー端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-20:2008,Environmentaltesting—Part2-20:Tests—TestT:Testmethodsforsolderabilityandresistancetosolderingheatofdeviceswithleads(IDT)JISC60068-2-21環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-21部:試験一試験U:端子強度試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-21:2006,Environmentaltesting—Part2-21:Tests—TestU:Robustnessofterminationsandintegralmountingdevices(IDT)JISC60068-2-27環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-27部:衝撃試験方法(試験記號:Ea)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-27:2008,Environmentaltesting—Part2-27:Tests—TestEaandguidance:Shock(IDT)JISC60068-2-30環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-30部:溫濕度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記號:Db)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-30:1985,Environmentaltesting—Part2-30:Tests—TestDband3C5445:2012guidance:Dampheat,cyclic(12+12-hourcycle)(MOD)JISC60068-2-38環(huán)境試驗方法(L気：子)溫濕度禮L合せ(艸亻久ル)試驗方法JISC60068-2-42環(huán)境試験方法一電気·電子一接點及び接続部の二酸化硫黃試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-42:2003,Environmentaltesting—Part2-42:Tests—TestKc:Sulphurdioxidetestforcontactsandconnections(IDT)JISC60068-2-43環(huán)境試験方法一電気·電子一接點及び接続部の硫化水素試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-43:2003,Environmentaltesting—Part2-43:Tests—TestKd:Hydrogensulphidetestforcontactsandconnections(IDT)JISC60068-2-45環(huán)境試験方法一電気·電子一耐溶剤性(洗凈溶剤浸せき)試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-45:1980,Environmentaltesting.Part2:Tests.TestXAandguidance:Immersionincleaningsolvents(MOD)JISC60068-2-46環(huán)境試験方法一電気·電子一接點及接続部の硫化水素試験一指針JISC60068-2-49環(huán)境試験方法一電気·電子一接點及び接続部の二酸化硫黃試験一指針注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-49:1983,Environmentaltesting—Part2:Tests.GuidancetoTestKc:Sulphurdioxidetestforcontactsandconnections(IDT)JISC60068-2-58環(huán)境試験方法一電気·電子一表面実裝部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-58:2004,Environmentaltesting—Part2-58:Tests—TestsTd:Testmethodsforsolderability,resistancetodissolutionofmetallizationandtosolderingheatofsurfacemountingdevices(SMD)(MOD)注記対応因際規(guī)格:IEC60068-2-61:1991,Environmentaltesting—Part2:Testmethods—TestZ/ABDM:Climaticsequence(IDT)JISC60068-2-68環(huán)境試験方法一電気·電子一砂じん(塵)試験注記対応川際規(guī)格:IEC60068-2-68:1994,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestL:Dustandsand(IDT)JISC60068-2-77環(huán)境試験方法一電気·電子一表面実裝部品(SMD)の本體強度及び耐衝撃性試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-77:1999,Environmentaltesting—Part2-77:Tests—Test77:Bodystrengthandimpactshock(IDT)JISC60068-2-78環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-78部:高溫高濕(定常)試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-78:2001,Environmentaltesting—Part2-78:Tests-TestCab:Dampheat,steadystate(IDT)JISZ2911:2000かび抵抗性試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-10:1988,Environmentaltesting—Part2:Tests.TestJandguidance:Mouldgrowth(MOD)JISZ8203國際單位系(SI)及びその使い方注記対応國際規(guī)格:ISO1000:1992,SIunitsandrecommendationsfortheuseoftheirmultiplesandofcertainotherunits(IDT)IEC60027(allparts),Lettersymbolstobeusedinelectricaltechnology4單位,図記號及び文子記號は,JISZ8203,IEC60027規(guī)格群及びJISC0617規(guī)格群によるのがよい。特定のスイッチに特有の図記號は,個別仕様書に規(guī)定する。構(gòu)造的に類似のスイッチ群に特有の図記號及び文字記號は,個別仕様書に規(guī)定する。追加の単位又は図記號を使用する場合,JISZ8203,IEC60027規(guī)格群及びJISC0617規(guī)格群の原則に従う。2.3用語及び定義特定のスイッチに特有の用語は,個別仕様書に規(guī)定する。構(gòu)造的に類似のスイッチ群に特有の用語は,個別仕様書に規(guī)定する。次の用語は,全てのスイッチに共通である。用語の定義がIEC60050規(guī)格群(以下,IEVという。)と同様のものには,參考として括弧內(nèi)にIEV番號を示す。2.3.12.3.22導(dǎo)電部間の空間における最小の距離。2.3.3スイッチ機構(gòu)に起因する,接點の移動後に生じる間欠的でランダムな閉接點の開動作又は開接點の閉動作。2.3.4対となる二つの接點の取初の閉の瞬川,又は閉じた接點の最初の開の瞬問から全てのコンタクトバウン2.3.5衝撃,振動などの外的影響に起因して生じる間欠的でランダムな開接點の閉動作及びノ又は閉接點の開動作。2.3.62導(dǎo)電部間の絶緣物の表面沿いの最小の距離(IEV151-15-50)。2.3.7使用率(dutycycle)1サイクルのトータル時間に対する閉成(ON)時間の比。例えば,30%ON(IEV151-04-06)。2.3.8導(dǎo)電部である接點が機械的に動作することによって,回路を開閉する又は回路の接続を切り替えるスイ5C5445:20122.3.92.3.10スイッチの主回路で一つの電気的に分離した導(dǎo)電路に関わるスイッチの部分(IEV441-15注記1取付部分及び全極を一緒に動作させる機構(gòu)部分は,極には含まない。注記2一つの極をもつスイッチは,単極という。二つ以上の極をもつ場合及びそれらの極を一緒に動作するように連結(jié)する場合,それを多極(2極,3極など)という。2.3.11動作サイクル(operatingcycle)ある位置から次の位置へ,そして最初の位置に戻る一連の動作。位置が三つ以上點る場合…金ての位置を通過して最初の位置に戻る一連の動作をいう(IEV441-16-02)。2.3.122.3.13最高使用溫度(uppercategorytemperature)2.3.142.3.15定格電流(ratedcurrent)設(shè)計上意図する接點の開閉及び通電ができる電流。2.3.16定格電圧(ratedvoltage)2.3.17電気的負荷(electricalload)供試品に所要の電流を流すために回路に接続する素子(例えば,抵抗,コイル,コンデンサなど。)2.3.18動作試験スイッチの実使用狀態(tài)を想定し,電気的負荷を接続してスイッチを動作させる試験。2.3.19ある位置から近接する位置へ可動接點を移動させること。2.3.20復(fù)帰力6C5445:2012作動力を除去したとき,操作部を操作前の位置に復(fù)帰させるために自動復(fù)帰機構(gòu)がもつ復(fù)元力。2.3.212.3.222.3.232.3.24支軸を中心に揺動運動をする操作部の両端を交互に押すことによって,接點の開閉を行うスイッチ。2.4推奬値個別仕様書には,同一の全ての品種に適用可能な定格,限界値,特性,許容差,要求事項及び寸法の推2.4.1空間距離及び沿面距離個別仕様書には,機能絶緑に関する最小空間距離及び最小沿面距離,又は規(guī)定する大気圧での最小耐電圧試験電圧のいずれかを規(guī)定する?；A(chǔ)絶緑,付加絶緑又は強化絶緑に関する最小空間距離及び最小沿面距離は,JISC4526-1の20.(空間距離,沿面距離,固體絶緑及び剛性プリント配線板アセンブリのコーティング)に従って規(guī)定スイッチ本體に,個別仕様書の要求事項(例えば,安全要求事項)を表示する。スイッチ本體にスペースがある場合は,史に次の川を表示する。a)製造業(yè)者名又はその商標b)識別番號c)端子の識別(個別仕様書に規(guī)定する場合)必要な表示が不明瞭にならない場合又は必要な表示の意味を取り違えることがない場合,その他の事項を表示してもよい。上記に規(guī)定する表示事項を全て表示できない場合,上記に記載の順で表示する。スイッチに表示できない表示事項は,スイッチの最小包裝単位上に表示する。2.5.2.包裝の表示忽裝の表示は最小包裝単位の見やすい簡所に.容易に消えない方法で..次の事項を含む個別仕様書に規(guī)定する事項を表示する。ただL,次のa)又はb)のいずれか一方を省略Lてもよい。.a)…製造年月.製造年週又はそれ點の略號製造業(yè)者名又は子略號d)數(shù)量7C5445:20123品質(zhì)評価手順(対応間除規(guī)格では,この簡條において,出頭評価手順について規(guī)定しているが,この規(guī)格では不要で個別仕様書には,試験,各試験又は試験群の前後に行う測定及び実施する順序を示す表を規(guī)定する。初期測定及び最終測定は,同一條件で行う。試験を連続して行う場合は,ある試験の最終測定を次の試験の個別仕様書に試験順序の規(guī)定がない場合,この規(guī)格で規(guī)定する順序とまる。この規(guī)格にある試験方法が,全てのタイプのスイッチに適用可能とは限らない。個別仕様書には,その必要とする場合,追加の試験方法及びノ又は試験方法の詳細を,個別仕様書に規(guī)定する。個別仕様書に規(guī)定がない場合,パラメータの実測値,例えば,試験電圧,試験電流,試験時に印加する力又は試験トルクは,規(guī)定値の5%以內(nèi)の許容差とする。個別仕様書に規(guī)定がない場合,試験前又は試験中に,供試品に洗浄などの特別の処理を施してはならな個別仕様書に取付けを規(guī)定する場合,供試品を通常の方法によって強固に取り付け,個別仕様書に規(guī)定外観試験は,次のいずれかの方法によって行う。a)裸眼(通常の視力,通常の色覚,最も適切な観察距離及び照明による。)b)拡大鏡(規(guī)定する場合)個別仕様書に規(guī)定がない場合,特殊な方法,例えば,偏光ライト(材料の內(nèi)部応力を観測するため),その他の表示器(材料內(nèi)部のひび又は気孔を観測するため)を使用してはならない。次の事項は,拡大鏡を用いないで検査する。c)仕上がり狀態(tài)8C5445:2012..潤滑劑の塗布位置及び狀熊g)…部血の緩み及び分離(特に応力が加れった後)個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)試験の詳細b)検查項目c)適合基準d)拡大鏡の倍率(規(guī)定する場合)寸法は,次に示す適切な測定機器で測定する。b)適正な比例倍率がある投影検査器c)工具頭微鏡個別仕様書に規(guī)定する外形寸法,詳細寸法(ねじ部,取付部.端子部など),空間距離及び沿面距離を測定する?？臻g距離及子沿面距離の測定方法は,JISC4526-1.の附屬書A(空間距離及子沿面距離の測定)寸法は,個別仕様背に規(guī)定する限度內(nèi)でな個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)検查項b)ゲージ測定の詳細(該當(dāng)する場合)c)測定機器のタイプ及び倍率個別仕様書でゲージ測定が適切であると規(guī)定する寸法については,個別仕様書に規(guī)定するゲージ又はゲ注記例えば.ねじゲージの場合,JISB0251に規(guī)定するねじ用限界ゲージを用いてもよい。…個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)検查項目b)ゲージ測定の詳細(該當(dāng)する場合)9C5445:2012d)適合其準質(zhì)量の測定は,天びんなどの適切な測定機器で行うことが望ましい。次の事項を適用する。a)測定機器の精度及び分解能は,測定対象質(zhì)量に対して適切でなければならない。b)測定には,個別仕様書に規(guī)定する取外し可能な部品(取付部品など)を全て含む。質(zhì)量は,個別仕様書に規(guī)定する限度內(nèi)でなければならない。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)検查項目b)測定の詳細(該當(dāng)する場合)c)測定機器のタイプd)適合基準この試験の目的は,全ての開閉動作機能が適切であるか否かを評価することにある。コード出カスイッチは,各スイッチ回路ごとに最大電流150mAで通電表示機能をもつ観測回路を接続か否か検査する。は,定格電圧及びノ又は定格電流で検査する。接點の動作順序を含むスイッチの機能動作が,個別仕様書に規(guī)定する要求事項に適合していなければなこの試験の目的は,スイッチの操作部が,ある位置から次の位置へ動くときの作動力を測定することに供試品は,個別仕様書に従って準備する。供試品は,個別仕様書に規(guī)定する固定器具を用いて金屬板に強固に取り付ける。金屬板は,加える力に十分に耐えなければならない。金屬板の長さ及び幅は,供試品の輪郭よりも大きくする。C5445:20124.3.6.1.3試験方法操作部に対して個別仕様上に規(guī)定する方向及び位ǔに力を加える.(図.1參照)。個別仕様背に規(guī)定がない場合,操作部が最初の安定釣合い位置からその次の安定釣合い位置又は停止位置へ移動するまで,かつ,スイッチが電気的に動作するまで又は特定の接觸抵抗に達するまで,一定の割合で力を加える。次の安定釣合い位置又は停止位置へ操作部を移動するために必要な最大力を測定し,記録する。操作部が2番目の力を測定し,記録する。該當(dāng)する場合,作動力の測定は,両方向で行う。それぞれの方向での測定回數(shù)は,個別仕様書に規(guī)定すその他の機械的な動作特性の測定方法は,個別仕様書に規(guī)定する。溫度,大気圧などの動作特性の測定方法は,個別仕様書に規(guī)定する。b図1一作動力及び作動トルク測定方向全ての実測値は,個別仕様書に規(guī)定する限度內(nèi)でなければならない。個別仕様背には,次の小頭を規(guī)定する。a)供試品の準備b)測定回數(shù)c)力を加える位置及び方向d)力又は動作速度の増加率e)力の最小許容値及び最大許容値f)測定器の種類g)測定器の先端形狀C5445:2012h)標準溫度範囲(15℃~35℃)以外の溫度(該當(dāng)寸石場合)供試品は,個別仕様書に従って準備する。供試品は,個別仕様書に規(guī)定する固定器具を用いて金屬板に強固に取り付ける。金屬板は,加える力にトルクは,操作軸に対して,個別仕様書に規(guī)定する方向に加える(図1.參照)。個別仕様書に規(guī)定がない場合,操作部が最初の安定釣合い位置からその次の安定釣合い位置まで又は停止位置へ移動するまで,か該當(dāng)する場合,トルクの測定は,両方向で行う。それぞれの方向での測定回數(shù)は,個別仕様書に規(guī)定すその他の機械的な動作特性の測定方法は,個別仕様書に規(guī)定する。溫度,大気圧などの動作特性の測定方法は,個別仕様書に規(guī)定する。全ての実測値は,個別仕様書に規(guī)定する限度內(nèi)でなければならない。倜別仕様告には,次の項を規(guī)定する。a)供試品の準備b)測定回數(shù)c)動作の方向f)測定器の種類g)測定器の先端形狀h)標準溫度範囲(15℃~35℃)以外の溫度(該當(dāng)する場合)この試験の目的は,自動復(fù)帰機構(gòu)をもつスイッチの操作供試品を金屬性の取付板に通常の方法で取り付ける。個別仕様書に規(guī)定がない場合,押し動作のスイッ1)動作限度位置から初期停止位置までの間の操作部の復(fù)帰力を個別仕様書に規(guī)定する測定點で測定す作動量—→作動量—→作動量1)初期力がない場合2)初期力がある場合図2一個別仕様書に規(guī)定する測定點の例4.3.6.3.3個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)作動量を角度で表すもの:操作部を徐々に動作し,個別仕様書に規(guī)定する停止位置間の角度を測定すb)作動量を距離で表すもの:操作部を徐々に動作し,個別仕様書に規(guī)定する停止位置間の距離を測定す4.3.6.4.3個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。C5445:2012a)試験方法[a)又はb)]b)作動量の種類c)測定位置(規(guī)定する場合)e)この規(guī)格との相違供試品を4.1.3に従って取り付ける。別仕様書の規(guī)定によるが,開回路電圧は10Vd.c以下及び試験電流は100mA以下でなければならない。個別仕様書に規(guī)定がない場合,試験回路に用いる検出及び表示用機器(例えば,オシロスコープ又は同等のもの)は,帯域幅1MHz以上かつ時間軸精度±5%以內(nèi)で,接點移動前の靜止狀態(tài)も表示できなければならない。供試品を個別仕様書に規(guī)定する一定の速度で動作させる。コンタクトバウンスが作動力及びノ又は動作規(guī)定する。接點I問出圧降下が州川路ǔ圧の90%以上あるときにその接點は州の狀態(tài)であるとし,接點IM心圧降下が%の限度內(nèi)で生じる電圧変動は,動的接觸抵抗に起因する。コンタクトバウンスは,最初の閉成(又は開裝入カインピーダンスは,個別仕様書に規(guī)定する(図3及び図4參照)。抵抗抵抗電源供試品検出及び表示機器90%-90%要求事項コンタクトバウンス時間は,個別仕様書に規(guī)定する限度內(nèi)でなければならない。4.3.7.4個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品の準備b)動作速度c)力を加える位置及び方向d)試験電圧及び試験電流4.4抵抗測定4.4.1接觸抵抗一mVレベルこの試験の目的は,接點材質(zhì)に電気的影響を與えない電圧で,端子を含む導(dǎo)電開閉回路の全電気抵抗をa)測定は,直流(図5參照)又は交流(図6參照)のいずれで火施してもよい。交流での測定時は,周波數(shù)は2kHz以下とする。疑義がある場合は,直流で測定する。b)測定機器の精度は,合汁思差が1%以下でなければならない。c)通常,接觸抵抗は,個別仕様書に規(guī)定する測定簡所間で測定する電圧降下から算出する。e)個別仕様書に規(guī)定する測定簡所で直接測定できない場合は,使用する電線の抵抗値を測定値から差し引き,訂正した値を記録する。f)測定する接點は,個別仕様書に従って選択する。g)接點上の絶緑被膜の破壊を防ぐため,測定回路の開回路電圧は,20mVd.c.又は20mVa.c.peak以下でh)1測定サイクルを各開閉回路について行う。直流に関する1測定サイクルは,次による。一順方向電流での測定一逆方向電流での測定i)接觸抵抗の値が作動力に依存する場合,接觸抵抗は,個別仕様書に規(guī)定する作動力で測定する。S1～3V9b:電子式電壓計供試品注記④)の內(nèi)部抵抗狀高<測定上支障狀南石場合仗,④の部分蒼次の囡の回路に置寺?lián)Q元石。囡5一低電圧·低電流法に女石接觸抵抗試驗回路(直流に女石場合)A供試品點的r囡6一低電圧·低電流法に女石接觸抵抗試驗回路(交流に女石場合)C5445:2012要求事項接觸抵抗仗,個別仕様背k規(guī)定市石限度內(nèi)で女忄機試女5女,。直流での接觸抵抗の測定仗,両方向の電流で害測市石寧ー久の平均值匕市石。接觸抵抗仗,次の式k丈→て算出市石。己己k,R:接觸抵抗(Ω)Vmr:順方向測定電圧(V)Vm:逆方向測定電圧(V)Ig:順方向電流(A)I:逆方向電流(A)注記この規(guī)格匕の相違仗,試驗報告書k明記市石己匕術(shù)望支L,。4.4.1.4個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書k仗,次の事項走規(guī)定市石。a)測定簡所b)測定市石接點數(shù)c)接觸抵抗の許容值e)測定前k供試品走無負荷で20回動作市石己匕の有無p…測定裝置の精度(規(guī)定市石場合)g)試驗k川,石電源壓(4.4.1.2匕足女石場合)h)…貳驗周波數(shù)(規(guī)定す石場合)4.4.2接觸抵抗一規(guī)定電流己の試驗の目的仗,接點材質(zhì)の溶融電圧走超之石電圧で,端子走含赴導(dǎo)電開閉回路の全電気抵抗走測定市石己匕k鹵石。測定仗,次の匕擴n行虧。a)測定仗,直流(囡?參照)又仗交流(囡8參照)の,壙機で害施Lて專丈,。交流での測定時仗,周波數(shù)術(shù)2kHz以下で女忄機試女5女,。疑義術(shù)鹵石場合仗,直流で測定市石。b)測定機器の精度仗,合計誤差術(shù)1%以下で女忄機試女5女,。c)通常,接觸抵抗仗,個別仕様書k規(guī)定市石測定簡所間で測定市石電圧降下扒5算出市石。d)測定電圧走印加市石間,接點走動作Lて仗女5女,。測定中,接點k異常女圧力術(shù)加打石の走避忄,扒→,試驗電線の移動走避忄石丈虧k注意L女忄機試女5女,。e)個別仕様書k規(guī)定市石測定簡所で直接測定で芒女,場合仗,使用市石電線の抵抗值走測定值扒5差L引〈。訂正L憶值走記緑市石。D測定市石接點仗,個別仕様書k徉→て選護市石。g)試驗電流及仆試驗電圧:接觸抵抗仗,個別仕様書k規(guī)定市石定格交流電流又仗定格直流電流で測定市石。電源の開回路電圧仗,1Vd.c.以上又仗1Va.c.peak以上匕市石。接觸抵抗の算出仗,4.4.1.3.の算出C5445:2012i)1測定サイクルを各開閉川路について行う。直流での1測定サイクルは,次による。一電圧の印加一順方向電流での測定一逆方向電流での測定交流での1測定サイクルは,次による。一電圧の印加一測定注記個別仕様書に規(guī)定がない場合,閉成した接點は,前の測定の終わり及びこの測定における電j)接觸抵抗の値が作動力に依存する場合,接觸抵抗は,個別仕様書に規(guī)定する作動力で測定する。A:直流電流計A:直流電流計試験回路の抵抗(又はインピーダンス)にRL:可変抵抗器A-RL直流電源図7一規(guī)定電流による接觸抵抗試験回路(直流による場合)試験回路の抵抗(又はイ試験回路の抵抗(又はインピーダンス)に:交流電源2:交流電源2kHz以下とし,試験電流を流すのに供試品A-RLRL:可変抵抗器図8一規(guī)定電流による接觸抵抗試験回路(交流による場合)4.4.2.3要求事項接觸抵抗は,個別仕様書に規(guī)定する限度內(nèi)でなければならない。4.4.2.4個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)測定簡所C5445:2012b)測定する接點數(shù)c)測定鎧流及び測定跑壓d)接觸抵抗の許容值!…測定裝置の精度(規(guī)定まる場合).i).開離時最大試験電壓(4.4.2.2之異態(tài)る場合)試験中の動作は,その次の読取位置に操作部を移動するために必要最小限の動きとする。様書に規(guī)定する位置で,二つの操作部位置のそれぞれにおいて行う。抵抗は,4.4.2に従って,試験電圧15V未満,試験電流10A～25Aで測定する。取付ブッシング上の適切な簡所とスイッチ操作部の導(dǎo)む部(又は該當(dāng)する場合,化磁波障防止川のシールド)との間の電圧降下を測定する。抵抗は,個別仕様片に規(guī)定する限度內(nèi)でなければならない。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。b)最大許容抵抗a)絶緑抵抗は,絶緑抵抗計(JISC.1302に規(guī)定する志の).これと同等以上の精度態(tài)志つ高抵抗ズりッジb)絶緑抵抗は,測定器の指示が安定した場合にだけ測定する。安定しない場合,絶緑抵抗の読取値は,電圧印加後,60秒±5秒経過したときに記録する。C5445:2012c)絶緣抵抗は,次に示す測定簡所A~測定簡所Dのいずれかで測定する。測定筒所A:一各端子と接地金屬との間一隣接する互いに絶緑する回路の端子間一…充電金屬部と人が觸れる非充電金屬部との間及び人又は充電金屬部と絶緣する操作測定筒所B:一…各端子と外郭及び人又は取付板に(一括)接続したその他の端子との間測定筒所C:絶緑する隣接端子を交互に接続し.端子を第1グループ及び第.2.グループの二つのグループに分け一第1.グループと外郭との間及び人又は取付板に接続した第.2.グループとの間一第2グ兒一外郭匕の間及又は取付板に接続Lた第1分兒一の間測定簡所D:一…最小の絶緑距離にある二つの端子閲端子を一括接続した試験に疑義を生じた場合,合否の判定は,各端子を個々に試験して行う。d)測定は,最大6か所までの動作位置について,それぞれ行う。D…同一簡所態(tài)2.回以上測定まる場合は,必ず極性態(tài)同一方向にして行う...絶緑抵抗は,個別仕様書に規(guī)定する限度內(nèi)でなければならない。個別仕様背には,次の小項を規(guī)定する。a)測定簡所(A～D)c)艷綠抵抗の最小值e特別の準備,取付けなど(規(guī)定する場合).f_試験回數(shù)(2回以上行5場合)乙の試験匯用いる裝置の電源は,0Vと個別仕様書に規(guī)定する試験電壓(商用周波數(shù)実効值又は直流電壓)との閲態(tài)徐々に上げ下げで點この貳験の魚荷條件によって著しい波形のいず熱.霊圧変動などを生てはな5在。試験電壓が商用周波數(shù)で1000V以上の場合は,その電源容量左500VA以上匕する。.20C5445:2012a)直流又は交流ピーク試験電圧を5秒間印加する。交流試験電圧を用いる場合,45Hz～60Hzの周波數(shù)b)試験電圧は,次に示す測定簡所A~測定簡所Dのいずれかに印加する。測定簡所A:一各端子と接地部又は取付金具との間一隣接する互いに絶緑する回路の端子間一同じ開閉回路の全ての接続していない端子間一充電金屬部と人が觸れる非充電金屬部との間及び人又は測定簡所B:一各端子と處郭及び人又は取付板に接続したその他の端子(一括接続する)との閲絶緣する隣接端子を交互に接続し.端子を第1グループ及び第.2グループの二つのグループに一…第1グループと外郭との間及び人又は取付板に接続した第2.ダループとの間一…第2.グル一プと外郭との間及び人又は取付板に接続測定筒所D:一最小の絶緣距離に點點二つの端子聞c)試験電圧は,個別仕様書に規(guī)定する。d)漏れ電流は,適切な方法で測定する。e)試験は,操作部の位置ごとに行う。供試品は,試験中に,絶緑破壊,火花放心又は破払を起こすことなく,試験出圧の印加に耐えなければ最大許容漏れ電流は,2mAとする。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)測定簡所(A～D)b)試験電圧の値及び種類d)最大許容漏れ電流(2mAと異なる場合)a)前処理:必要とする場合,個別仕様書に規(guī)定する前処理を行う。b)初期測定:個別仕様書に規(guī)定する初期測定を行う。21C5445:2012內(nèi)の気圧は,8kPa±5%(標高17600m相當(dāng))に4時間維持する。試験槽は,槽壁を通して電気的にd)個別仕様書に規(guī)定がない場合,定格電圧が42Vを超えるスイッチに対する試験電圧は,400Va.c.供試品は,試験中に,絶緑破壊,火花放電又は破損を起こすことなく,試験電圧の印加に耐えなければ個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品の取付け及び配線の方法b)処理の厳しさ(圧力)c)初期測定d)測定に対する要求事項e)試験時間(必要とする場合)g最大漏れ電流a)供試品を平たんで水平な非導(dǎo)ǔ性の取付而に取り付ける。b)溫度検出器は,熱電対とし,スイッチのきょう(筐)體に可能な限り近い端子部に配置する。c)溫度上昇試験は,電気的耐久性試験の前及びノ又は電気的耐久性試験の直後に行う。通電電流は,定格電流とする。電気的耐久性試験の前では,次の溫度で試験を行う。一その他のスイッチは,最高使用溫度電気的耐久性試験の後では,全てのスイッチは,25℃±10℃で試験を行う。e)試験の通電時間は,1時間とする。5分の間隔をおいた連続した3回の測定の後で,±2℃を超える溫f)電線サイズは,電気的耐久性試験に用いたものと同じサイズとし,最小長さは,表1に規(guī)定する。mm0.5未淌22C5445:2012端子における溫度上昇は,45K以下でなければな端子における溫度上昇は,55K以下でなければならない。4.6.4個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)電線サイズb)供試品の配線及び端子形狀c)供試品の取付けd)溫度検出器の配置,種類及び特性e)試験電流及びその種類f)供試品數(shù)(必要とする場合)g)電気的耐久性試験の前及び/又は後の測定h)この規(guī)格との相違a)初期測定は,個別仕様背の規(guī)定に従って行う。c)個別仕様書に規(guī)定がない場合,衝撃パルスは,ピーク加速度490m/s2(50g),かつ,パルス幅11msd)衝撃パルスは,互いに垂直な3軸の各方向に3回ずつ,合計18回印加する。f)試験後,供試品の破損,変形,外れ又は緩んだ部分がないか2.5.2の表示を除く外観試験(4.3.1)を行う。一連の試験の後,供試品に対して機能動作(4.3.5)を行う。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品及び接続する電線の束の取付方法(接點から最初のクランプまでの支持していない電線を含b)パルス波形c)試験の厳しさ(加速度レベル及びパルス時間)d)衝撃の軸及び方向23C5445:2012)接觸抵抗の最大値(必要とする場合)g)検價する動作特性この試験の目的は,個別仕様書に規(guī)定する?yún)棨穉)初期測定は,個別仕様書の規(guī)定に従って行う。b)供試品を通常の方法によって取り付ける。c)周波數(shù)範囲及び振幅は,個別仕様書の規(guī)定による。d)掃引サイクルは,互いに垂直な3軸に12掃引サイクルずつ,合計36掃引サイクルとする。e)振動周波數(shù)は,周波數(shù)範囲の限度値間を?qū)潝?shù)変化させる。全體の周波數(shù)範囲は,その最小周波數(shù)から最大周波數(shù)に掃引し,最小周波數(shù)に戻るように掃引g)試験後,供試品の破損,変形,外れ又は緩んだ部分がないか2.5.2の表示を除く外観試験(4.3.1)を行う。一連の試験の後,供試品に対して機能動作(4.3.5)を行う。j個別仕様匯武驗中の勁作武験又は出気的竹荷を規(guī)定する場合，試驗中に功作試驗を行之，又はL気個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品及び接続する電線の束の取付方法(接點から最初のクランプまでの支持していない電線を含b)試験の厳しさ(周波數(shù)範囲,振幅の大きさ,加速度レベル及び試験時間)d)接觸抵抗の最大値(必要とする場合)e)検查する動作特性24a)供試品を通常の方法によって取り付ける。別仕様書に規(guī)定する時間,観測する。接點は,個別に又は一つ以上のグループで観測してもよい。グ兒-丁內(nèi)で觀測寸石場合,閉接點仗直列接統(tǒng)l,開接點仗並列接統(tǒng)する。c)供試品を動的応力試験の間,継続して観測する。d)測定は,100mA以下の直流電流で行う。電源の開回路電圧は,10V以下でなければならない。f裝置は,次の性能を備元なければならない。一供試品に最大10V及150mAの直流電流を供給で吉る。一…開回路電圧の50%を超える電圧降下點又は震壓上昇點を.遮斷発生又は接続発生として検出でき合,推奬值は,1μs,10μs,100μs,1ms及び個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品の取付方法及び配線方法c)観測する接點及びそれらの動作條件e)接觸抵抗の変化(規(guī)定する場合)g)…供貳品に流す電流②太きさ及び印加霊圧の太きさ初期測定は,2.5.2の表示を除<外観試験(4.3.1),機能動作(4.3.5)接觸抵抗(4.4.1及4.4.2),艷綠抵抗(4.4.4),耐電壓(4.5.1)及下作動力(4.3.6.1)する。.供試品を通常の方法によって取り付ける。個別仕様書に,印加する力又はトルク,及び力を印加する方力又はトルクは,規(guī)定値まで徐々に増加し,1分間維持する。力は,各供試品に連続して印加する。ス一迅の試験の後,取終測定として.機能動作(4.3.5),接觸抵抗(4.4.1.及び4.4.2).總淼抵抗(4.4.4).…耐電壓(4.5.1)及び作動力(4.3.6.1)を行之...要求事項試験後,機械的動作又は電気的動作を損なう損傷があってはならない。c)スライダe)サムホイール図9一操作部に対する力及びトルクの印加方向及び印加位置26C5445:2012個別仕様背には,次の小頭を規(guī)定する。a)初期測定b)供試品の取付方法e..力又は卜兒久の保持時間……最終測定この試験の目的は,スイッチの通常の取付力に耐えるための,ねじ取付ブッシングの評価供試品を,通常の方法又は個別仕様書に規(guī)定する取付金具がある場合はそれを用いて,金屬プレートの試験後,通常の動作を損なう機械的損傷があってはならない。この試験の川的は,ねじ取付川のスイッチが,通常の取付力に耐えるか否かを評価することにある。a)個別仕様上に規(guī)定する取付川ねじを川いて試験を行う。ねじを規(guī)定しない場合,取付けに川いる最大b)表2に示すトルクを,10秒～15秒の間,印加する。c)試験後,供試はの破擔(dān),変形,外れ又は緩んだ部分がないか2.5.2の表示を除く外観試験(4.3.1)を行試験後,通常の動作を損なう機械的損傷があってはならない。取付ねじの不具合は,許容する。27C5445:2012b)JISC60068-2-21の試験Ua1(引張強さ)及び試験Ua2(押し強さ)を全ての端子に対して行う。追加c)試験後,供試品の破損,変形,外れ又は緩んだ部分がないか2.5.2の表示を除く外観試験(4.3.1)を行試験後,通常の動作を損なう機械的損傷があってはならない。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)該當(dāng)する試験b)供試品の準備及び取付方法c)力の値,曲げ數(shù)及びその他の試験條件d)この規(guī)格との相違初期測定は,2.5.2.の表示を除く外観貳驗(4.3.1),機能動作(4.3.5),接觸抵抗(4.抵抗(4.4.4),耐電壓(4.5.1)及び作動力(43.6.1)とす系?！趣巫鲃恿Δ婴铯椁胜C構(gòu)とする。b)個別仕様書の要求事項に従って,供試品に無負荷狀態(tài)で機械的耐久性を行う。c)供試品を通常の方法で動作させる。動作回數(shù)及び動作頻度は,個別仕様書に規(guī)定する。d)一連の試験の後,供試品に対して機能動作(4.3.5)及び動作特性(4.3.6)を行う。該當(dāng)する場合,供試品に対して,抵抗測定(4.4)及び封止(4.14及び4.15)も行う。試験後,機械的動作又は電気的動作を損なう損傷があってはならない。個別個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品の準備(使用する電線の種類を含む。)b)供試品の取付けc)動作の回數(shù),頻度及び速さ28d)最終測定に対する要求事項f...初期測定g礻ル封止特性值(該當(dāng)する場合)この試験の目的は,その使用溫度範囲內(nèi)で,スイッチの機械的開試験中,供試品の半數(shù)を最低使用溫度で試験を行い,殘りの半數(shù)を,最高使用溫度で試験を行う。最終測定は,2.5.2表示を除<外観試験(4.3.1).接觸抵抗(4.4.1及U4.4.2)、操作部加5取付工以頭ング(表面)までの接地抵抗(該當(dāng)する場合)(4.4.3),絶緣抵抗(4.4.4),作動力(4.3.6.1)及び入ネ兒封止(該當(dāng)する場合)(4.14)とする。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品の準備(使用する電線の種類を含む。)b)供試品の取付けc)動作の川數(shù),頻度及び速さd)最終測定に対する要求事項_初沒測定g礻兒封止特性值(該當(dāng)する場合)この試験の目的は,標準大気條件でのスイッチの電気的壽命範囲において,6V又は0.5Aを超える定格スイッチの追加試験は,4.10.2～4.10.4に規(guī)定する。初期測定は,2.5.2.の表示を除く外観貳験(4.3.1),機能動作(4.3.5).接觸抵抗(4.抵抗(4.4.4),耐電壓(4.5.1)及び作動力(4.3.6.1)上する。な性能をもたなければならない。また,裝置は,開閉に必要とする作動力以外の力を,供試品に加え29C5445:2012注記試験川路は,JISC4526-1の表2による(該當(dāng)する場合)。b)供試品を個別仕様書に規(guī)定する負荷に接続する。c)供試品を通常の方法によって取り付ける。安全要求事項に適合する場合は,金屬製の取付板及び金屬製の試験操作部を電気的に接地する。d)供試品を個別仕様書に規(guī)定する回數(shù),試験する。e)開閉頻度は,個別仕様書に規(guī)定する。f)個別仕様書に規(guī)定がない場合,各電気的負荷の使用率は,25%ON以上とする。h)供試品を6Vかつ0.5Aを超える,個別仕様書に規(guī)定する電気的定格負荷で試験する。最大定格電圧での電気的耐久性試験は,低い電圧での皮相電力値が高い電圧での皮相電力値よりも小さい場合,同i)個別仕様書に規(guī)定がない場合,交流電圧の公稱周波數(shù)は,50Hz又は60Hzとする。j)雙投スイッチでは,供試品の半數(shù)は試験負荷を一方の投回路に接続して試験し,殘りの半數(shù)は他方の投回路に試験負荷を接続して試験する。多極スイッチは,全極を同k)電源は,スイッチ端子部において個別仕様書に規(guī)定する試験電圧を維持でき,個別仕様書に規(guī)定するD個別仕様書に規(guī)定がない場合,供試品は,電源の高圧側(cè)と電気的負荷との間に接続する。m)供試品の各極には,分離した獨立の負荷を接続する。n)個別仕様上に規(guī)定する場合,接點が適切な心がで川路を開閉できるか否か[接點が州かなくなる州故障(stick)又は接點が閉じなくなる閉故障(miss)]を測定するために,連続的に観測する。観測回路開故障回數(shù)及びノ又は閉故障回數(shù)の標準値は,次から選択する。一開故障又は閉故障0回一1000サイクル當(dāng)たり開故障又は閉故障10回o)接続電線のサイズは,供試品の定格に適合しなければならない。p)一連の試験の後,供試品に,2.5.2の表示燾除く外観貳験(4.3.1).接觸抵抗一規(guī)定電流(4.4.2),機能動作(4.3.5),絶緑抵抗(4.4.4)..耐電壓(4.5.1)及び作動力(4.3.6.1)の試験を行う。30C5445:2012個別仕様背k規(guī)定寸石場合,試驗中,許容川數(shù)走超之石州故障及谷,又仗閉故障術(shù)南→て仗女5女,。試驗後,機械的動作又仗電気的動作走損女虧損傷術(shù)南→て仗女5女,。個別仕様書k仗,次の事項走規(guī)定寸石。a)供試品の準備(使用す石電線の種類及谷壙イ仄走含赴。)b)供試品の取付忄d)電圧,交流又仗直流,高調(diào)波成分及谷波高率(該當(dāng)寸石場合)fD)大気圧[標準気圧範圈(86kPa～106kPa)で女,場合]g)動作回數(shù),動作速度及谷動作頻度h)最終測定の要求事項及谷使用寸石試驗i)機械的女補助k)初期測定試驗中の接點の開故障及閉故障の回數(shù)(該當(dāng)支石場合).己の試驗の目的仗,標準気圧範圈(86kPa～106kPa)での又イ”于の電気的壽命範圈k書,て,6V扒→0.5A走超之石定格負荷走適切k制御寸石能力k→,て,最高使用溫度での影響走評倆寸石己匕k南石。試驗方法仗,4.10.1.2の規(guī)定k徉,,個別仕様書k規(guī)定寸石最高使用溫度で行虧。個別仕様青k規(guī)定寸石場合,試驗中,許容川數(shù)走超之石州故障及谷,又仗閉故障術(shù)南→て仗女5女,。試驗後,機械的動作又仗電気的動作走損女虧損傷術(shù)南→て仗女5女,。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。m)試驗中の試驗槽の溫度己の試驗の目的仗,標準気圧範圈(86kPa～106kPa)での又イ”于の電気的壽命範圈k書,て,6V扒→0.5A走超之石定格負荷走適切k制御寸石能力k→,て,使用溫度範圈での影響走評倆寸石己匕k南石。試驗方法仗,4.10.1.2の規(guī)定k徉,,次の順番で行虧。31C5445:2012個別仕様背に規(guī)定する場合,試験中,許容川數(shù)を超える州故障及びノ又は閉故障があってはならない。試験後,機械的動作又は電気的動作を損なう損傷があってはならない。4.10.3.4個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。m)最低使用溫度n).最高使用溫度4.10.4電気的耐久性一滅圧この試験の目的は,スイッチの電気的壽命範囲において,6Vかつ0.5Aを超える定格負荷を適切に制御する能力について,減圧の影響を評価することに試験は,4.10.1.2の規(guī)定に従い,個別仕様書に規(guī)定する標高に相當(dāng)する滅圧雰囲気中で行う。初期測定及下最終測定は,2.5.2の表示を除<外観試験(4.3.1),機能動作(4.3.5)及不耐電壓(4.5.1)個別仕様書に規(guī)定する場合,試験中,許容回數(shù)を超える開故障及びノ又は閉故障があってはならない。試験後,機械的動作又は電気的動作を損なう損傷があってはならない。4.10.4.4個別仕様書に規(guī)定する事項個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。m)試験中の減壓值この試験の目的は,接點材料の溶融電圧(約0.4V)を超え,アーク電圧(約6V),かつ,アーク電流(約0.5A)未満の口ジックレベルの電気的負荷をスイッチが適切に制御する能力をもつか否かを評価するコンタクトバウンスを排除するため,最初の10msまでは接點の観測を行わない。試験は,次のとおり行う。a)供試品を通常の方法によって取り付ける。b)供試品の各接點に5.0Vd.c.土0.5Vd.c.,かつ,10mA±1mAの抵抗負荷を接続して試験する。接點は,接點の各閉動作及び各開動作の間,接點に規(guī)定する試験パラメータが変化することのない裝置によって観測する。観測裝置は,正しい開動作及び閉動作を記録しなければならない,又は接點故障が生じた場合に試験を中斷しなければならない。1)閉動作中の観測各接點の安定的な閉動作の50%以上の時間で電圧降下を観測する。2.1V以上の電圧降下は,接點の閉故障とみなす。2)開動作中の観測各接點の安定的な開動作の50%以上の時間で電圧降下を観測する。324.5V未満の能圧降下は,接點の開故障とみなす。c)接點の最大故障回數(shù)は,個別仕様書に規(guī)定する。一開故障又は閉故障なしd)個別仕様書に規(guī)定がない場合,試験は,標準大気條件で行う。e)動作回數(shù)は,個別仕様書に規(guī)定する。fD)b)の試験電圧,試験電流及び観測については,TTLロジック回路にだけ適用する。試験中,供試品は,適切な順序で回路を開閉しなければならない。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。この試験の目的は,スイッチが接點材料の軟化電圧(約80mV)以下の低レベルの電気的負荷を適切にb)供試接點の各紅を最大20mV及び最大10mAの抵抗負荷を接続して試験する。接點の観測は,供試接點の各閉動作及び各開動作の間,接點に規(guī)定する試験パラメータが変化することのない裝置によって行う。観測裝置は,適切な開動作及び1)閉動作中の観測各接點の安定的な閉動作の開回路電圧の50%以上の電圧降下は,接點の閉故障とみなす。開回路電圧の90%未満の電圧降下は,接點の開故障とみなす。c)接點の最大故障回數(shù)は,個別仕様書に規(guī)定する。一開故障又は閉故障なし一106サイクル當(dāng)たり開故障又は閉故障1回d)個別仕様書に規(guī)定がない場合,試験は,標準大気條件で行ら。33C5445:2012e)動作回數(shù)は,個別仕様書に規(guī)定する。試験中,供試品は,適切な順序で回路を開閉しなければならない。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。m)接點間電壓4.11過負荷a)4.10.1.2の一定格電流が10A以下の場合は,30回/分一定格電流が10Aを超え,25A未満の場合は,15回/分一定格電流が25A以上の場合は,7.5回/分電流は增加する。e)試験中,接點が道切な順序で川路を開閉できるか否かを袢価するために,逃続的に観測する。f開閉動作速度は,個別仕様書に規(guī)定する。.試験中,供試品は,適切な順序で個々の回路を開閉しなければならない。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)供試品の準備b)電線の種類及びサイズc)最大又は最小適用電圧d)適用電流e)大気圧[標準気圧範囲(86kPa～106kPa)でない場合]f)最終測定での要求事項h)初期測定34C5445:2012a)供試品を通常の方法によって取り付ける。d)負荷回路部品の負荷電流は,規(guī)定値の±10%以內(nèi)とする。f)個別仕様書に規(guī)定がない場合,合計10000回動作させる。使用率は約50%,頻度は毎分7サイクルg)供試品の閉動作は,ランダムな負荷の狀況を得るために,電源h)一連の試験終了後,試験電圧を75%に軽減した耐電圧(4.5.1)及び機能動作(4.3.5)を行う。j)試験電流は,定格開閉電流值の8倍，16倍又は32倍の一久電流とする。倜別仕様告には,次のを規(guī)定する。a)供試品の準備b)試験電圧c)武験出流(供忒品の通常定格心流以下でなければならない。)e)動作回數(shù)(10000回以外の場合)f)初期及び最終測定のための要求事項g)追加の要求事項(ある場合)h)この規(guī)格との相違4.12環(huán)境試験は,JISC60068-2-61に従って行う。各ステップでの厳しさ及び中間測定は,個別仕様書に規(guī)定初期測定は,2.5.2の表示を除<外観試験(4.3.1),機能動作(4.3.5),接觸抵抗(4.4.1及T4.4.2),艷綠抵抗(4.4.4),耐電壓(4.5.1)及下作動力(4.3.6.1)上する。.35C5445:2012各貳験」の終了から次の貳験明りに移す川陥は,3日以內(nèi)とする。ただし.貳験照応2.から貳験応3に移す間隔は,後処理時間を含め2時間以內(nèi)とする。測定は,個別仕様書に規(guī)定がない場合,この一連の試験の最初及び最後にだけ行う。表3一試験項目試験項目12345015最終測定は,2.5.2の表示を除く外観試験(4.3.1),機能動作(4.3.5),接觸抵抗一mVレベル(4.4.1)又は接觸抵抗一規(guī)定電流(4.4.2),絶緑抵抗(4.4.4),耐電圧(4.5.1)及び動作特性(4.3.6)とする。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。b)條件設(shè)定方法d)初圳及び最終測定の要求e)接觸抵抗測定方法36a)初期測定:個別仕様非で規(guī)定する場合,初明測定は,前処理の直後に標準大気條件で行う。b)試験は,JISC60068-2-78に従い,規(guī)定する?yún)棨筏丹切肖Α)極性電圧:個別仕様書に規(guī)定する場合,試験中に二つの供試品に極性電圧を印加する。これらの供試一供試品1において,端子の最初のグループとハウジング及びノ又は取付板に接続する2番目のグループとの間に極性電圧を加える。供試品2において,端子の2番目のグーロータリスイッチの場合,極性電圧の印加簡所は,個別仕様書に規(guī)定する。個別仕様書には,次の事項を規(guī)定する。a)初期測定b)極性電圧及び印加簡所c)追加の要求事項(ある場合)e取付方法f_.前処理の條件h)電気的負荷條件(孩當(dāng)する場合)i)…貳験中の測定項且及び測定時間(該當(dāng)する場合)j表面濕気の除去に関L了上る処置(規(guī)定する場合).k)後処理の條件(顯なる場合)..この試験の目的は,保管,輸送及び使用時に起こる急激な溫度変化に耐えるスイッチの能力について評a)初期測定:個別仕様書に規(guī)定する場合,初期測定は,前処理の直後に標準大気條件で行う。試験時間並びに低溫及び高溫のサイクル數(shù)は,個別仕様書に規(guī)定する。c)供試品は,無負荷の狀態(tài)とする。d)低溫の溫度は,最低使用溫度とする。e)高溫の溫度は,最高使用溫度とする。g)各試験時間は,30分とする。h)移し替え時間は,最大3分とする。37C5445:2012倜別仕様告には,次の項を規(guī)定する。a)初期測定c)追加の要求事項(ある場合)d)この規(guī)格との相違e)取付方法(規(guī)定する場合)f_前処理の條件(規(guī)定する場合)4.12.4かび成長(耐性)b)前処理は,個別仕様書に規(guī)定がない場合,1時間以上とする。d)試験期間は,28日間とする。e)最終測定として,試験槽から取り出した供試品について次のように行う。38C5445:2012女拒，個別仕様書k規(guī)定寸石場合，外觀試驗k先立寫真撮影走行,,表面觀察記緑左殘寸。外德武驗後,供試品の表而k付著L憶菌系體走洗,流L,掂大鏡走川,て供試品表血の工”于Y夕芒或及廿物理的損傷の有無走調(diào)尺石。部品製造k使用寸石絶緑材料仗,細菌學(xué)的試驗手順k丈→て扒廿沔染k丈石損傷走受忄石程度走前?！圃u倆L女忄機試女5女,。試験後,かび成長の程度は,個別仕様書に規(guī)定がない場合,JISZ2911によって0又は1として評価し女忄機試女5女,。個別仕様書k仗,次の事項走規(guī)定寸石。a)供試品の取付忄及廿接統(tǒng)方法c)前処理時間d)測定の要求事項己の試驗の目的仗,加速的女方法k丈→て,二酸化硫黃及廿,又仗硫化水素で沔染蘭機憶大気扒5の又イ”于の腐食の影響走評倆寸石己匕k鹵石。己の貳驗のI」的仗.次の材料で模成寸石接點の接觸k及試寸硫化水素分川気の形響走判定寸石己匕k點a)…銀又仗銀合金b)表血走別のM飛保護L憶銀初期測定仗,次の匕擴n匕寸石。測定順序仗.記載の順匕寸一…絶緑抵抗(4.4.4)…一…耐電壓(4.5.1).一…接觸抵抗(4.4.1.及廿4.4.2)試驗仗,JISC60068-2-43及廿JSC.60068-2-46k徉→て,次の匕擴n行虧。a)供試品走個別仕様書k徉→て準備L取n付忄石。b)個別仕様書k規(guī)定寸石場合,供試品仗,試驗前k規(guī)定回數(shù)動作蘭世石。c)各試驗の害施k関Lて,個別仕様書k部品の條件及廿敵L蘭走規(guī)定寸石。例元試,接點の狀態(tài)(閉成又仗開離),結(jié)線の有無女匕。注記供試品術(shù)複數(shù)の場合,條件の異女石二→の夕兒ー才k區(qū)分忄寸石己匕術(shù)望支L,。d)端子処理:試驗k當(dāng)憶n,供試品の端子k仗,硫化k丈→て接觸抵抗の測定k影響術(shù)女,丈虧k,端子の予備仗h愷,適切女長蘭の引出L用yーF線走取n付忄石女匕の防食処理走行虧。憶愷L,仗h愷付忄走寸石場合仗,供試品k影響走與元女,丈虧k注意寸石。39C5445:2012h)供試品は,その他の供試品に対するガスの流れを妨げないように間隔をおいて配置する。1)硫化水素ガスの濃度は,表5による。單位10-6vol/vol(ppm)102)試験溫度は,表6による。表6一試験溫度單位℃3)試験相対濕度は,(75±5)%とする。4)試験時間は,表7による。表7一試験時間試験時間許容差96(4日)240(10日)500(約21日)+24040一絶緑抵抗(4.4.4)一耐化圧(4.5.1)一動作特性(4.3.6)。特に露出している金屬表面の亀裂,剁離及び孔食に注意する。注記最終測定時の接點の狀態(tài):個別仕様書に規(guī)定がない場合,接點を閉成狀態(tài)で試験槽內(nèi)に放置測定を行う。また,接點を開離狀態(tài)で試験槽內(nèi)に放置した供試品を試験槽から取り出して接觸抵抗を測定する