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1、測量系統(tǒng)分析測量系統(tǒng)分析,課程內(nèi)容為什么要實施MSA? 什么是MSA? 如何實施MSA? 如何分析MSA? 培訓(xùn)目標(biāo):理解MSA5性分析,應(yīng)用5性分析確保測量系統(tǒng)滿足測試中的要求.第一章測量系統(tǒng)基礎(chǔ)第二章測量系統(tǒng)統(tǒng)一特性第三章測量系統(tǒng)變異影響第四章測量系統(tǒng)分析,哪一個過程好? 第一章測量系統(tǒng)的基礎(chǔ),7.6.1測量系統(tǒng)的分析是分析各種測量和測試設(shè)備系統(tǒng)測量結(jié)果中存在的惡化,應(yīng)該進行適當(dāng)?shù)慕y(tǒng)一研究。 此要求應(yīng)適用于控制修訂計劃中提出的測量系統(tǒng)。 所使用的分析方法和接收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)滿足客戶和測量系統(tǒng)分析參考手冊的要求。 得到客戶批準(zhǔn)后,還可以采用其他分析方法和接收標(biāo)準(zhǔn)。 PPAP手冊中規(guī)定的3360新的或
2、先進的測量儀器測量和測試設(shè)備應(yīng)參照MSA手冊進行劣化研究的APQP手冊中規(guī)定的3360、MSA分析修訂圖和分析報告的輸出之一.0.MSA分析的對象、TS-16949標(biāo)準(zhǔn)7.6監(jiān)視和測量設(shè)備的制造1、確定測量系統(tǒng)分析目的所使用的數(shù)據(jù)是否可靠的:測量系統(tǒng)分析還定義為評估新的測量裝置、比較兩種不同的測量方法、評估可能的測量方法、解決測量系統(tǒng)的誤差問題并將該測量分配(或指派)到特定的點這個定義是美國標(biāo)準(zhǔn)局(NBS) cccEisenhart1963 )首次提出的。 賦值過程定義為測量ccc過程,而給定的值定義為測量值。 測量儀器:用于獲得測量結(jié)果的裝置包括通過/不通過裝置,特別是工廠中使用的裝置。 測
3、量系統(tǒng):用于定量或定性評價被測量特性的儀器或測量儀器、標(biāo)準(zhǔn)、操作、方法、夾具、軟件、人員、環(huán)境和假設(shè)的集合測量結(jié)果的整個過程。 2 .術(shù)語,3 .測量過程,標(biāo)準(zhǔn):部件:設(shè)備:人/程序:環(huán)境,S W I P E,測量,數(shù)值,分析,輸入,輸出,可能需要改進。4 .測量數(shù)據(jù)的質(zhì)量,數(shù)據(jù)質(zhì)量是最通用的統(tǒng)一修正特性:準(zhǔn)確度(Accuracy ) X或偏移(Accuracy ) X ) “精確度”或變化:使用相同的測量儀器來反復(fù)測量同一工件的相同質(zhì)量特性,并產(chǎn)生數(shù)據(jù)的偏差。 數(shù)據(jù)的分布。 位置、寬度、數(shù)據(jù)質(zhì)量:取決于從在穩(wěn)定條件下操作的測量系統(tǒng)開始多次測量的集成校正特性,4.1低質(zhì)量數(shù)據(jù)的原因和影響、低質(zhì)
4、量數(shù)據(jù)的一般原因是劣化過大,如果相互作用引起的劣化過大例如,有嚴重劣化的測量系統(tǒng)可能會隱藏制造過程的劣化,因為測量系統(tǒng)的劣化可能不適用于制造過程的分析。 5 .測量過程中,為了有效地控制哪個過程的惡化,過程需要知道該做什么,會引起什么錯誤呢? 流程在做什么? 規(guī)范和工程要求規(guī)定程序應(yīng)該做什么? 什么? 流程失效模式和結(jié)果分析(PFMEA )用于確定與潛在流程失效相關(guān)的風(fēng)險,并在這些失效發(fā)生之前提交補救措施。 PFMEA的結(jié)果轉(zhuǎn)移到控制訂正畫面。 通過評價過程的結(jié)果和殘奧儀表,可以獲得過程在做什么的知識。 這樣的活動通常被稱為檢驗,并且確定或拒絕過程是以穩(wěn)定的方式操作以滿足客戶定義的目標(biāo)。 這種
5、檢查行為本身就是一個過程。 1 )充分的分辨率和靈敏度。 2 )被統(tǒng)一控制。 3 )產(chǎn)品控制、偏差小于公差。4 )過程控制3360表示有效的分辨率,偏差小于制造過程的退化。6 .測量系統(tǒng)的統(tǒng)一校正特性,6.1測量儀器分辨率,分辨率(分辨率,可讀性,分辨率) 3360別名:最小讀取單位,測量分辨率,刻度限制或檢測度。 校正分辨率描述了校正測量設(shè)備識別兩個部件的校正測量值之間的差的能力,其中,由設(shè)置校正確定的固有特性校正測量或設(shè)備輸出的最小刻度單位總是以校正測量單位表示,1:10經(jīng)驗法則,6.1校正測量系統(tǒng)的有效分辨率,1 .要求是過程的退化或容許偏差必須等于或大于零件差1.2的極差控制圖可以指示
6、分辨率在控制極限內(nèi)對于不同數(shù)據(jù)秩(ndc )的校正是: ndc=(零件標(biāo)準(zhǔn)偏差/總校正的校正量偏差) * 1.41。 通常不大于4就不能接受的6.2靈敏度,靈敏度是測量系統(tǒng)對被測量特性的變化的響應(yīng)。 靈敏度由測定器的設(shè)定修訂(分辨率)、固有質(zhì)量(OEM )、使用中的保養(yǎng)、機器的操作條件和基準(zhǔn)決定。 通常,這表示為測量單位。 第二章系統(tǒng)校正特性、數(shù)據(jù)劣化的原因、設(shè)備(測量儀器)、工件(部件)、放大、測量系統(tǒng)變異、靈敏度、接觸幾何、測量變形效果的發(fā)展、設(shè)置校正變異把持位置測量站測量探針、相互關(guān)聯(lián)的特性、清潔、適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)、工作的定義彈性變形、質(zhì)量、彈性特性、支持特性對身體的限制、程序、目視標(biāo)準(zhǔn)、工作
7、規(guī)定、工作態(tài)度、經(jīng)驗、訓(xùn)練、經(jīng)驗、訓(xùn)練、理解、技能、人為工程、照明、壓力、振動、空氣污染、幾何兼容性、日光、人工光陽偏置(bias ) repeatabililis Reproducibility再現(xiàn)性線性穩(wěn)定性、偏置:測量結(jié)果的觀測平均值與基準(zhǔn)值的差。 真值的取得可以通過使用更高水平的測定機器進行多次測定,取其平均值。 1、偏置(Bias )、儀器需要校正儀器、設(shè)備或夾緊裝置的磨損或破損標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)出現(xiàn)誤差校正錯誤或調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)的使用錯誤儀器質(zhì)量差設(shè)定校正或匹配性不良線性誤差應(yīng)用錯誤的測量儀器的不同測量方法的設(shè)置、安裝、夾緊; 技術(shù)測量錯誤的特性測定器或零件的變形環(huán)境溫度、濕度、振動、清潔的影響與
8、假設(shè)相反,應(yīng)用常數(shù)中應(yīng)用零件的尺寸、位置、作業(yè)人員的技能、疲勞、觀察錯誤,可能引起1.1過度的偏差的原因、 指同一操作員用同一測量儀多次測量同一部件的同一特性時得到的測量值的劣化(4同)、2 .再現(xiàn)性(Repeatability )、部件(樣品)內(nèi)部:形狀、位置、表面加工、錐度、樣品的一致性。 機器內(nèi)部:修理、磨損、設(shè)備或夾緊裝置故障、質(zhì)量差或維護不當(dāng)。 標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部:質(zhì)量、等級、磨損方法內(nèi)部:設(shè)置、技術(shù)、零調(diào)整、夾持、夾持、點密度劣化評價者內(nèi)部:技術(shù)、職位、經(jīng)驗不足、操作技能和訓(xùn)練、感覺、疲勞。 環(huán)境內(nèi)部:溫度、濕度、振動、亮度、清潔度的短期變動變化。與假設(shè)相反:穩(wěn)定、準(zhǔn)確的操作設(shè)備設(shè)置或方法缺
9、乏穩(wěn)定性,不整合,適用錯誤的測量儀器或零件變形,硬度不足的應(yīng)用:零件尺寸、位置、操作者技能、疲勞、觀察誤差(易讀性、視差),2 .可能重現(xiàn)性差的原因, 不同操作者采用的3 .重復(fù)性(Reproducibility )、部件(樣品)之間:使用相同的設(shè)備、相同的操作者和方法,測定部件類型a、b、c時的平均差。 機器間:使用相同零部件、作業(yè)人員、環(huán)境、機器a、b、c等的平均差基準(zhǔn)間:測量中不同設(shè)定基準(zhǔn)的平均影響方法間:改變點密度,與自動系統(tǒng)相比,手動調(diào)零、夾持或夾緊方法等引起的平均差,3.1關(guān)于可能重復(fù)性差的原因產(chǎn)品和工藝資格及手動測量儀器環(huán)境間:在第1、2、3等時間段進行測量,根據(jù)環(huán)境周期的平均差
10、。 這是高自動化系統(tǒng)在產(chǎn)品和過程資格中最常見的研究。 與正在研究的假設(shè)相反,設(shè)備修訂或方法缺乏穩(wěn)健性操作者的訓(xùn)練效果,零件尺寸、位置、觀察誤差(易讀性、視差)、3.1可能重現(xiàn)性差的潛在原因、應(yīng)用基準(zhǔn)值的偏差、線性(變化的線性偏差)、 校正器正常操作范圍內(nèi)多個獨立偏置誤差在校正器操作范圍內(nèi)的關(guān)系是校正預(yù)測系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差配置,如4、線性、校正器需要校正并且需要減少校正時間間隔的裝置、設(shè)備或鉗制裝置磨損的維護通風(fēng)、動力、液壓清掃不足的標(biāo)準(zhǔn)磨損或破損的校正不適當(dāng)、調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)不適當(dāng)使用的機器的質(zhì)量差的設(shè)計或一致性差的機器的設(shè)定或方法應(yīng)用了缺乏穩(wěn)定性的錯誤的測定器不同的測定方法的設(shè)定、安裝、夾緊、 技術(shù)部件
11、尺寸不同,測量儀器或部件變化、變形的環(huán)境影響溫度、濕度、振動、清潔度等部件尺寸、位置、作業(yè)人員技能、疲勞、讀錯。 4.1線性誤差的可能的原因、穩(wěn)定性、時間1、時間2是當(dāng)測量系統(tǒng)在一個持續(xù)時間內(nèi)測量相同的標(biāo)準(zhǔn)或部件的單個特性時所獲得的測量值非常差。 5、穩(wěn)定性、設(shè)備必須校準(zhǔn),減少校準(zhǔn)時間間隔的設(shè)備、設(shè)備或夾緊裝置磨損的正常劣化或劣化,缺乏維護通風(fēng)、動力、液壓、過濾器、腐蝕、生銹、清潔磨損或損壞的標(biāo)準(zhǔn)。 基準(zhǔn)誤差校正錯誤或調(diào)整基準(zhǔn)的使用錯誤儀器質(zhì)量差設(shè)定校正或整合性不良儀器設(shè)定校正或方法魯棒性不同的測定方法裝置、安裝、夾具、技術(shù)測定器或零件變形環(huán)境變化溫度、濕度、振動、違反清潔度假設(shè)、應(yīng)用常數(shù)中錯
12、誤地應(yīng)用零件尺寸、位置、作業(yè)人員技能、疲勞、觀察錯誤,5.1 能夠生成理想測量結(jié)果的測量系統(tǒng),應(yīng)具有零劣化、零偏差、測量產(chǎn)品誤分類為零概率的統(tǒng)一修正特性。 6 .理想的測量系統(tǒng),充分的分辨率和靈敏度。 為了測量的目的,相對于工藝的劣化和規(guī)范控制界限,測量的增量應(yīng)該很小。 通常,所有十進制或十/一定律表示設(shè)備的分辨率應(yīng)該將公差(過程劣化)分成十份以上。 本規(guī)則是選擇測量儀器所期望的實際最低起點。 測量系統(tǒng)應(yīng)該是被統(tǒng)一控制的。 這意味著在可重復(fù)的條件下,測量系統(tǒng)的退化不是由于特殊原因而是由于普通原因。這可以說是統(tǒng)一的穩(wěn)定性,最好用圖形法進行評價。 7、測量系統(tǒng)所需的特性、產(chǎn)品控制、測量系統(tǒng)的變異性
13、應(yīng)小于基于特性的公差評估測量系統(tǒng)。 在過程控制中,測量系統(tǒng)的偏差表現(xiàn)出有效的分辨率,應(yīng)該比過程的劣化小。 6根據(jù)劣化和來自MSA研究的總劣化評價測量系統(tǒng)。 偏差、重復(fù)性、重復(fù)性、線性容許、7 .測量系統(tǒng)特性、第三章測量系統(tǒng)偏差的影響測量部件規(guī)定的分類產(chǎn)品控制原理:部件并進行分類活動。 過程控制原理:的部件的退化是由于在過程中的一般原因或特殊原因。 2 .對產(chǎn)品決策的影響,I型錯誤:生產(chǎn)者風(fēng)險誤報警良好部件為“壞”,II型錯誤:消費者風(fēng)險或泄漏報警良好部件為“好”,I型錯誤:II型錯誤、Bad is bad產(chǎn)品狀況判定3360的目標(biāo)是最大限度地確定正確的決策改善測量系統(tǒng):減少測量系統(tǒng)的誤差,減少II區(qū)域的面積,將做出錯誤決定的風(fēng)險降到最低。 3、對過程決策的影響、對過程決策的影響如下: 1 )普通原因報告是特殊原因2 )特殊原因報告是普通原因測定系統(tǒng)的變異性可能影響過程的穩(wěn)定性、目標(biāo)以及惡化的決定。 4 .接受新工藝新工藝:在采購機械加工、制造、沖壓、材料處理、熱新工藝接受處理或組件時,作為采購活動的一部分,始終完成一系列步驟。 供應(yīng)商的設(shè)備研究和后續(xù)顧客的設(shè)備研究。 如果生產(chǎn)用測定器沒有資格的話會被使用。 不知道是機器的問題,一找工序的問題,就會徒勞。 第四章測量系統(tǒng)分析、MSA分析方法的分類、重復(fù)分析、重復(fù)性分析、穩(wěn)
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