QJ1556A1998電子元器件質量與可靠性信息采集卡填寫規(guī)定1蓮國中國航天工業(yè)總公司航天工業(yè)行業(yè)標準電子元器件康量與可靠性信患采集卡填寫規(guī)定11主題內容QJ1556A98代替QJ155688本標準規(guī)定了航天用電子元器件以下簡稱元器件貫量與可靠性信患采集卡的統(tǒng)一格式和填寫要求。12適用范噩本標準適用于無器件從入庫驗枚開始至元器件所在整機退役為止的質量與可靠性信患采集。2引用文件GB/T740894數(shù)據(jù)元租交換格式信息交換自期和時間表示法GJB45190可靠性維修性術語GJB/Z299A91電子設備可靠性預計手冊QJ1193193人事系統(tǒng)數(shù)據(jù)元航天工盤單位代碼QJ131787電子元器件失效分類及代碼3定義本標準術語的定義接GJB451、QJ1317規(guī)定。4一最要求41信息采集卡的分類411電子元器件補充篩選或超期復驗失鼓信患采集卡ZY01在元器件補充篩選或超期復驗過程發(fā)生元器件失效或超過了規(guī)定的先許不合格品率PDA，應做失效分析，并由負責締選或復驗的單位填寫本采集卡。當發(fā)生元器件失效，即應填寫本采集卡并按規(guī)定上報。本采集卡的格式見附錄A補充件，數(shù)據(jù)庫文件結梅克附錄F補充件0412電子元器件現(xiàn)場失鼓信患采集卡ZY02元器件廚屬整撓的負責單位應將各階段失效的元器件，委芫經總公司認可的單位進行中雪航天工業(yè)總公司19980206批準19980510實施1BZFXW4QJ1556A98分斬，并出元器件所屬整機的負責單垃填寫本采集卡。當發(fā)生元器件失效，即應填寫本采集卡并按規(guī)定上報。本采集卡拉格式見附錄B補充件數(shù)據(jù)庫文件結掏克附錄G補充件0413半導體器件磕坪性物理分析DPA信息果集卡ZY03經單公奇授權具有半導體器件磁壞性物理分析DPA資格的元器件失效分析中心或元器件可靠性分中心，在完成DPA工作后，應填寫本采集卡并按規(guī)定上報。本來集卡的格式晃陪錄C補充件，數(shù)據(jù)庫文件結梅克甜錄H補充件。414電子元器件裝事L信息采集卡ZY04整機單位應按型號的不同研制酣段分黯填寫電子無器件裝機信患采集卡并按規(guī)定上報。裝機信息采集卡的格式見附錄D補充件，數(shù)據(jù)庫文件結梅克黠錄1補充件。415電子元器件失效信息采集卡ZY05整機單位應將裝機失效的元器件，委捂經總公司認可的單位進行分斬，并由元器件所羈整乳的負責單位填寫電子元器件失效信息采集卡并按理定上報。失效信息采集卡的格式晃附錄E替充件，數(shù)據(jù)庫文件結椅見費錄J補充件042填寫信息采集告時元器件的分類填寫信患采集卡時，無器件按GJB/Z299A的規(guī)定分為元件和器件兩類，主要包捂集成電路、分立器件、電子管、電醫(yī)器、電位器、電容器、惑性元件、繼電器、開關、連接器、旋轉電輯、印刷電路極在焊接點、磁性器件、石英諧振器和其它元器件。43填寫信息果集卡的囊量要求填寫必須認真負責，內容應完整、準確、提范，字跡應工整、清斷。5詳搖要求51電子元器件補充篝選或超黯復撞失效信患采集卡填寫規(guī)定511填報單位代碼按QJ11931的艇定填寫。如一院200廠的代碼為010200。如果QJ11931沒有本單位的代碼，則在填報單位代碼欄內填寫隸屬上級單位的代碼。512人檔編號入檔編號以六位阿拉伯數(shù)字表示，前兩位表示年度，后四位表示順序掩水號，不足四位的高位填00513元器件名草草按元器件生產單位產品目錄規(guī)定的名稱填寫。514型號規(guī)格按完器件生產單位產品呂錄規(guī)定的型號規(guī)格填寫。515生產單位指元器件生產單位的全稱或代號。對有代號的生產單位應填寫代號，無1T號的生產單位應填寫廠所的全稱。2QJ1556A98進口元器件生產單位除填寫制造公司的名稱外，若非本土生產或封裝的無器件還應注明生產或封裝邊的匿名。516生產E期填寫元器件上印的日期，若無器件上未竅E期，則填寫元器件合格證或包裝上的呂期。填寫方法接GB/T7408的規(guī)定。517批次號填寫元器件上邱的批改號，若無器件上無數(shù)次號，那填寫元器件合格逗或包裝上的批吹號。518篝選或復驗E期指該批無器件投入篩選或復驗的司期。填寫方法接GB/T7408的規(guī)定。519篩選或復驗總數(shù)投入篩選或復驗的相同批次、相同型號規(guī)格的元器件總數(shù)。5110失效總數(shù)指這種無器件在篩選或復驗過程中，發(fā)生失效數(shù)量的總和。其數(shù)量應等于本采集卡失效分析欄元器件失效數(shù)量的累如。5111J量等級國產無器件分為囂軍標、行軍揮、七專加嚴、七專、軍品、黑品及其他七個質量等級。進口元器件分為美軍標S級、美軍標B級、美軍標883、工業(yè)品、民品及其他六個貢量等級。如元器件的質量等級已列入本欄，則在相應貫量等級后的括號內噩飛/氣對于未列入本欄的貫量等級，則應在醫(yī)產或進口元器件其它貢量等級后的方括號內填寫具體的屢量等級。5112第選或超期復驗項E及失效數(shù)量本欄列出了常用的篩選或超期復驗項目，如在某項目發(fā)現(xiàn)元器件失效，即在該項國下填寫失效的數(shù)量。幾本欄未殼的篩選或超期復驗項目，需要時可在所到項目后的空格內填寫，并在其項目下填寫失效數(shù)量。5113失效環(huán)境51131溫度無器件發(fā)生失效對的環(huán)境溫度。按攝氏整數(shù)鍾填寫，零下溫度在溫度數(shù)古董前以一號表示。51132溫度元器件發(fā)生失效時的環(huán)境溫度。接相對濕度取整數(shù)填寫，如相對渥度85，填寫時寫85即可。51133環(huán)輯類別環(huán)境類別是無器件發(fā)生失效時所在整機的工作環(huán)境分類。環(huán)境類別應按GJB/Z299A規(guī)定的環(huán)境類到填寫。51134失效地點填寫無器件失效時所在地區(qū)或單位名稱。3BZFXWQJ1556A985114失鼓分括及結論51141失效分擠報告號、分析單位、分析人和分析E期填寫本采集卡的失效完器件失效分析報告部編號承擔分析單位的名稱或代號分析人姓名和失效分析前呂期。這四項內容應根據(jù)失效分析報告填寫。分析司期的填寫方法接GB/T7408的理定。51142失效原E、失效程度及失鼓攘式失效原因、失效程度可參照QJ1317規(guī)定填寫，在梧應欄下分別填寫數(shù)量。失效模式應按失效分析的結果，在欄內填寫梧應的失效模式，并在相應攔下填寫數(shù)量。51143失效結論失效結論分為批次性失效、個別失效及待確定三類，根據(jù)失效分新結果，在梧應欄內畫F。5115填報單位填寫填報本采集卡的單位名稱或代號，并如蓋公章。5116信患員填寫填報本采集卡拉信息員的姓名并簽字。凡未確定信息員的單位，應填寫填報本來集卡人員的主管部門負責人的姓名并簽字。5117填卡人填寫本采集卡填寫人員的姓名并簽字。5118填卡E黯填寫本采集卡的填寫呂期。填寫方法接GB/T7408的規(guī)定。52電子元器件現(xiàn)場失敢信患采集卡填寫規(guī)定521失效B期指元器件發(fā)生失效的B期。填寫方法按GB/T7408的麓定。522失鼓總數(shù)撞這種元器件或場失效數(shù)量的總和。其數(shù)量道等于本采集卡失效分析欄元器件失效數(shù)量的累刻。523累計工作時閏無器件電裝后通電工作時間的累計。以小時為單位。524失鼓時所屬酷段失效時所屬撈攝具體如I分如下A電裝前包括元器件入庫后的復驗和電裝前的預處理B電裝C單攝調試包括單板、組件和分錢調試D單板應力篩選包括單板、組件和分就應力策選E整祝詞試F整機應力第選4QJ1556A98G整機老煉H環(huán)境試驗L內部驗牧出廠前本廠自己進行的驗牧J交牧試驗供需XL方共同進行的交技試驗K單元捷試凡出廠后單個整機擁試都屬于單元捕試1分系統(tǒng)測試M系統(tǒng)測試包搖整星、整彈或整箭的聯(lián)謂D模報費真包括整星環(huán)模試驗。飛行試驗非整星試驗Q軌道飛行R用戶使黯S貯存包括元器件、整機、星彈在倉庫內和倉庫外的貯存L其它。當元器件在某階段失效，就將失效數(shù)量填入該階段下的欄內。525工程代號指失效元器件貴在的部件、整撓、設備所屬型號的工程代號。如長三甲為CZ3A、東方紅三號為DFH3等。526整祖代號指失效元器件所在的整機代號。按各型號產品總技術條件的規(guī)定填寫。如東五彈上帝J導計算機的代號為LK455A等。527研制階段指失效無器件所在整機的研制階段。一般分為方案或模樣階段、初樣盼段、試樣或正祥階墨等。528設計單位結失效元器件所在的部件、整機、設備的設計單位的名稱或代號。529黯造單位指失效元器件所在的部件、整機、設備的部造單位的名稱或代號。5210失效原國、失效程度失效原理、失效程度應接QJ1317規(guī)定，在相應欄下分到填寫數(shù)量。其它條款的填寫要求同51條的有關規(guī)定。53半導體器件磁壞量物理分析DPA信息某集卡填寫規(guī)定531DPA報告號、分析單位、分析人和委托單位DPA報告的編號承擔分析單位的名稱或代號分析人姓名和委托單位的名都或代號。這理項內容應根據(jù)DPA攝告填寫。532器件類割根據(jù)委托單位提供傲DPA的半導體器件，在相應鴣半導體器件種類后的擅均噩BZFXWQJ1556A98。533規(guī)定揮本數(shù)、免許追加抽樣數(shù)在本欄內模寫根據(jù)有關管理辦法或標準規(guī)定的應交樣本數(shù)及克許追如抽樣數(shù)。當?shù)谝淮蚊柘樯PA合格，就無需填寫允許追加抽樣數(shù)。534實交樣本數(shù)實際提交給分析單位進行DPA的樣本數(shù)。535DPA項目及結果對合蓓的DPA項目應寫合格并寫曉合格數(shù)量對不合格的項目JI簡單寫明缺娼的模式及具有這種缺陷模式的樣品數(shù)量對于未做的DPA項目應在柜應的欄內劃一536缺陷類到根據(jù)DPA的結果在相應的欄下填寫數(shù)量。缺陷類別無法確定時注填寫待確定欄，需敢進一步分析的器件，應將器件的數(shù)量填入分析欄，不需要或不可能分析的器件，應將器件的數(shù)量填入不分析欄。537結論提據(jù)DPA的結果在相應的攔下填寫數(shù)量。其中樣品通過欄系指實交捧本數(shù)少于規(guī)定樣本數(shù)，雖然實交樣本的DPA己合格，但仍不能作出合格的結詮。538備注器件鍵合強度、芯片剪鋁合格判據(jù)的變更器件的失效模式等有關情況應在備注欄說明。其它條款的填寫要求同51條的有關規(guī)定。54電子元器件晏扭信息采集卡填寫規(guī)定541所屬階段插填寫本采集卡時，元器件所在整機所處的躋段。拚段的劃分按524條規(guī)定。542序號指元器件在裝機，信患采集中的照序號。543批次號插在無器件上的批次號，一般由無器件承制方編癢。544編號撞在元器件上的編號，一般由無器件使用方編序。545篩選情況根據(jù)無器件是否已教補充篩選填寫本欄對于進行補充第選的元器件填寫己做補篩對于未進行補充篩選的無器件填寫未散補篩。546111號擂元器件所在線路能電裝圖的編號。547位號指元器件在線路電裝圖中位置的編號。6QJ1556A98548應力比指元器件實際承受的應力與無器件的額定應力之比，用百分率表示。549備注對元器件需要說疇的其它問題，可填寫在備注欄內。除票計工作時間同523條外，其它條款提填寫要求同51條的有關規(guī)定。55電子元器件失效信患采集卡填寫規(guī)定551序號指失效元器件在失效信患采集卡上的順序號。552莓視菜集卡上序號指失效元器件在裝板信息采集卡上的序號。553處理措拖指裝在整機上的元器件失效后，對梧同型號規(guī)格、相同撓次元器件采取的處理措施。一般可采取個挺更換和整掛更換兩種撞施，應根據(jù)失效分析的結論商定。554備注對失效元器件需要說明的其它問題，可填寫在備注欄內。黯累計工作時間同523條、廚屬黯段同541條外，其它條款的填寫要求同51條的有關巍定。7BZFXW采集卡號ZYOL失效元器件篩選項目失效數(shù)量超期復撞項目失效數(shù)量失效環(huán)境失效分析及結論填報單位蓋章元器件名稱批次號國產質量等級進口QJ1556A98附錄A電子元器件替充錨選或超期復驗失效信補充件填報單位代碼型號規(guī)格篩選或復驗日期雷軍標行軍標七專加嚴美軍標S級美軍標B級常溫測試溫度循環(huán)恒定加速度老練章可測試老練老練后測試離溫常溫測試高溫測試低溫測試外觀檢查外引線拉力外引線彎曲溫度濕度失效分析報告號分析單位失效原因固有缺陷失效篩選失話原因不明及數(shù)量設計生產工藝原材料過應力誤操作失效程度程度不明性能合格輕微失效部分失效及數(shù)量批次性失效個別失效信息員填卡人QJ1556A98附錄A離5鍾選或超期復驗失效信患采集卡格式補充件庭報單位代碼生產單位篩選或復驗總數(shù)行軍標七專加嚴七專美軍標B級美軍標883級陳老練后測試離溫測試低溫測試外尋I線拉力外引線彎曲可得性細檢漏環(huán)境類別分析單娃分析人篩選失誤失效入檔編號生產臼期失效總數(shù)軍品民品其它工業(yè)品民品其它細栓漏粗栓漏外觀檢查樞檢漏DPA失效地點重測合格略過應力誤操作設備放黯去除應力后佳能恢復誤判原因不明效部分失效完全失效失效模式及數(shù)量個別失效待確定填卡人填表B期其它原因9BZFXW采集卡號ZY02元器件名稱失效批次號無器件質量等級電裝前電裝單扳失效時調試所屬階段失效元器件所屬整杭工程代號失效環(huán)繞溫度失效分析報告號原理失效不明原因設計失效分析及數(shù)量及結論失效程度程度不明及數(shù)量國產進口單板應力整機篩選調試商有缺陷失效QJ1556A98附錄B電子元器件現(xiàn)場失效信患采集補充件填攝單位代碼型號規(guī)格失效日期國軍標行軍標七專加F美軍標S級美軍標B級整機在力整機環(huán)境內部交收篩選老煉試5金事金收試驗研制階段濕度分析單位使用失效從屬失效生產工藝原材料整機設計誤操作性能合格輕微失效部分失效結論批次性失效個JJLJ失效填報單位蓋章信息員填卡人10QJ1556A98酣錄BE器件現(xiàn)場失敢信患采集卡格式補充件翼援單位代碼生產單位失效總數(shù)行軍標七專加嚴七專美軍標B級美軍標883級環(huán)槐內部交收單元分系統(tǒng)系統(tǒng)試驗驗收試撞測試測試測試環(huán)堤類到分析單位分析人E效從屬失效人擋編號生產呂期累計工作時離軍品民品其它工業(yè)品良品其它模擬飛行整星軌道用戶仿真試撞試驗飛行使用失效地點分析司第2重測合格誤操作原因不明誤9日J佳能不符合整機要求部分失效完全失效民敗模式及數(shù)量個別失效待確定填卡人填表日黯貯存其它其它原因BZFXWQJ1556A98酣錄C半導體器件破壞性物理分析DPA苦息采集卡格式補充件采集卡號ZY03填報單位代碼入檔編號DPA報告號分析單位分析人委托單位工程代號整機代號小功率遐思分立器件模擬集成電路器小功率微波分立器件大規(guī)模集成電路件大功率通用分立器件超大規(guī)模集成電路類別大功率微波分立器件小功率混合集成電路中、小規(guī)模數(shù)字集成電路大功率混合集成電路器件名稱型號規(guī)格質量等級生產單位生產日期批次號抽樣性質第一次抽樣允許追加抽樣規(guī)定祥本數(shù)實交樣本數(shù)DPA項目及結果DPA項目DPA結果DPA項旨DPA結果外部自檢X射線照相PIND密封內部水汽含量內部自檢掃播電鏡檢驗鍵合強度芯片剪切其它不合格樣品數(shù)不合格DPA項目數(shù)批次性缺陷可篩選缺陷待確定缺陷類JJLJ分析I不分叫合格不合格祥品通過可疑無法做DPA結論備注信息員簽字填卡人填報單位蓋章填卡日期11采集卡號ZY04I整機代號I序號無器件名稱型號規(guī)格生產單位填報單位蓋章L所屬叫生產日期批次號F言患員QJ1556A98附錄D電子元器件裝棍信患果集卡1補充件填報單位代碼編號質量等級填表人BZFXWQJ1556A98酣錄D元器件裝機信息果集卡格式補充件呈報單位代碼編號質量等級篩選情況填表人|制造單位|回號位號入檔編號|使用單位|應力比累計時間H工作|貯存?zhèn)渥⑻畋砣掌?3采集卡號ZY05|整機代號|裝機采集序號元器件名稱卡上序號失效日期填攝單位蓋章信患員14|所屬階段|累計時離H工作|貯存QJ1556A98酣錄E電子元囂件失效信息菜集卡4補充件填報單位代碼|設計單位|失效環(huán)境環(huán)境類別|環(huán)境溫度失1填表人BZFXWQJ1556A98院錄E無器件失效瑩患采集卡格式補充件E報單位代碼|設計單位|失效環(huán)境失效模式F堤類別環(huán)境溫度填表人入擋編號|創(chuàng)造單位|失效分析失效原因處理措施報告號備注填表日期序號2345678910111213252岳38395152646566676869707172QJ1556A98前景F電子元器件替充菇選或超黯復驗失效信患采集卡數(shù)握庫文件結構補充件數(shù)據(jù)項名字段名數(shù)據(jù)類型采集卡號C填報單佳代碼C入檔編號C元器件名稱C型號規(guī)格C生產單位C生產日期D批次號C篩選或復驗日期D篩選或復驗總數(shù)N失效總數(shù)N質量等級C篩選項目113C失效數(shù)量113N復驗項目。13C失效數(shù)量113N溫度N濕度N環(huán)境類別C失效地點C失效分析報告號C分析單位C分析人C分析日期D字節(jié)長度4岳624253081684412LOX133X13LOX133X1343122010308815BZFXWQJ1556A98序號數(shù)據(jù)項名字段名數(shù)據(jù)類型字節(jié)長度7383失效原因111C20X118494失效數(shù)量。11N3X119599失效程度性5C8X5100104失效數(shù)量15N3X5105107失效模式13C40X3108110失效數(shù)量13N3X3111結論C10112填報單位C30113填卡人C8114信息員C8115填卡日期D8附錄G電子元器件現(xiàn)場失效信息采集卡數(shù)據(jù)庫文件結構補充件序號數(shù)據(jù)項名字凌名數(shù)據(jù)類型字節(jié)長度1采集卡號C42填報單位代碼C63入襠編號C岳4元器件名稱C245型號規(guī)格C256生產單位C307生產日期DS8批次號C169失效日期D810失效總數(shù)N411累計工作時間N516QJ1556A98序號數(shù)據(jù)項名字段名數(shù)據(jù)類型字節(jié)長度12質量等級C121332失效時所屬階段120C12X203352失效數(shù)量120N3X2053工程代號C1054整機代號C1255研制階段C145岳設計單位C3057制造單位C3058溫度N459濕度N360環(huán)填類別C1261失效地點C2062失效分析報告號C1063分析單位C3064分析入C865分析日期D86岳76失效原因111C20XLL7787失效數(shù)量11日N3X118892失效程度15C3X59397失效數(shù)量15N8X598100失效模式13C40X3101103失效數(shù)量13N3X3104結論C10105填報單位C30106填卡人C8107信患員C8108填卡臼期D817BZFXWQJ1556A98附錄H半導體器件破壞注物理分析DPA信息采集卡數(shù)捏庫文件結構補充件序號數(shù)據(jù)項名字段名數(shù)據(jù)類型字節(jié)長度采集卡號C42填報單位代碼C63入襠編號C64DPA報告號C105分析單位C306分析入C87委托單位C308工程FT號C109整機FT號C1210器件類別C2211器件名稱C2412型號規(guī)格C2513質量等級C1214生產單位C3015生產日期D816批次號C1617第一次抽樣規(guī)定樣本數(shù)N218第一次抽樣實交樣本數(shù)N219允許追加搖樣規(guī)定樣本數(shù)N220允許追加抽樣實交樣本數(shù)N22130DPA項目