半導(dǎo)體復(fù)習(xí)總結(jié)_第1頁
半導(dǎo)體復(fù)習(xí)總結(jié)_第2頁
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文檔簡介

1、第二章例題 1使用共價鍵模型,形象而簡單地說明半導(dǎo)體的(1)失去原子;(2)電子(3)空穴;(4)施主;(5)受主例題2使用能帶模型,形象而簡單地說明半導(dǎo)體的:(1)電子;(2)空穴;(3)施主;(4)受主;(5)溫度趨于0K時,施主對多數(shù)載流子電子的凍結(jié);(6)溫度趨于0K時,受主對多數(shù)載流子空穴的凍結(jié);(7)在不同能帶上載流子的能量分布(8)本征半導(dǎo)體;(9)n型半導(dǎo)體;(10)P型半導(dǎo)體;(11)非間并半導(dǎo)體;(12)間并半導(dǎo)體 (13)直接帶隙半導(dǎo)體;(14)間接帶隙半導(dǎo)體;例題3GaA的共價鍵模型如圖,(1)圖中描述了GaAs中Ga和As原子移動的價鍵模型, 圖中陰影處的Ga和As表

2、示是要移動的原子。提示:當(dāng)把Ga和As 原子移走時,它們將帶走其成鍵電子(2)重新畫出GaA的共價鍵模型圖,在圖中有Si原子代替Ga和As原 子的空位(3)當(dāng)Si原子代替Ga原子時,GaAs的摻雜是P型還是n 型,為什么?(4)當(dāng)Si原子代替As原子時,GaAs的摻雜是P型還是n 型,為什么? (5) 畫出摻雜GaA的能帶圖,(a)Ga原子的位置由Si原子取代;(b)As原子的位置由Si原子取代第三章例題31有一n型半導(dǎo)體,除施主雜質(zhì)濃度ND外,還含有少量的受主,其濃度為NA,求弱電離情況下電子濃度的表達(dá)式例題4 兩塊半導(dǎo)體材料A與B除了禁帶寬度不同,其他參數(shù)完全相同。A的禁帶寬度為1.0eV

3、,B的禁帶寬度為1.2eV。求T300K時兩種材料的n的比值。 例5 制造晶體管一般是在高雜質(zhì)濃度的n型襯底上外延一層n型外延層,再在外延層中擴(kuò)散硼、磷而成的。 (1)設(shè)n型硅單晶襯底是摻銻的,銻的電離能為0.039eV,300K時的EF位于導(dǎo)帶下面0.026eV處,計算銻的濃度和導(dǎo)帶中電子濃度。 (2)設(shè)n型外延層雜質(zhì)均勻分布,雜質(zhì)濃度為4.61015cm-3,計算300K時EF的位置及電子和空穴濃度。 (3)在外延層中擴(kuò)散硼后,硼的濃度分布隨樣品深度變化。設(shè)擴(kuò)散層某一深度處硼濃度為5.21015cm-3,計算300K時EF的位置及電子和空穴濃度。 (4)如溫度升到500K,計算中電子和空穴的濃度(500K本征載流子濃度ni=4 1014cm-3 )。第四章例題1 一塊雜質(zhì)補(bǔ)償半導(dǎo)體中,受主雜質(zhì)和施主雜質(zhì)的濃度恰好相等。設(shè)雜質(zhì)全部電離。求T300K時硅的電導(dǎo)率,雜質(zhì)濃度分別為(a)(b)例2 特定半導(dǎo)體內(nèi)存在三種散射機(jī)制。只存在一種散射機(jī)制時的遷移率為 ,只存在第二種散射機(jī)制時的遷移為 ,只存在第三種散射機(jī)制時的遷移率為 . 求總遷移率?;魻栃?yīng)T300K時,

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