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文檔簡介

1、SY3122系列低功耗電壓檢測器描述:SY3122系列是高精度低功耗電壓檢測器,采用CMOS工藝技術(shù)制造,檢測電壓精確度高,且溫度漂移小,輸出方式:NMOS輸出。選型指南:環(huán)保標識封裝形式如:P-SOT-89M-SOT-23T-TO-92檢測電壓如:22-2.2V25-2.5V30-3.0V版本或功能產(chǎn)品品種號產(chǎn)品類別號公司標志特點:高精度:1%低功耗電流:TYP0.7uA(Vm=1.5V)檢測電壓范圍:2-1V7.4V步長01V工作電壓范圍:0.7V-7V檢測電壓溫度特性:TYP100ppniC輸出形式:NMOS封裝形式:SOT-23-3,SOT-89-3,TO-92應(yīng)用:微處理器復(fù)位電路存

2、貯器電池后備電路上電復(fù)位電路掉電檢測系統(tǒng)電池壽命和充電電壓監(jiān)視型號后綴封裝輸出類型SY3122AXXM3SOT-23-3NMOSPSOT-89-3TTO-92SANY 1SEMISY3122引腳排列圖:SO1-23-3123In引腳分配:SY3122Axx引腳號符號定義SOT-23SOT-89TO-92(T)TO-92(T1)2332rss接地引腳1113Vout輸出引腳3221Vin輸入引腳功能塊框圖VlNSANYS1SEMISY3122極限參數(shù):參數(shù)符號極限值單位輸入電壓Vin8V輸出電流IOUT50mA輸出電壓OUTssO3Vin+0.3V充許最大功耗SOT-23Pd150mWSOT-8

3、9500mWTO-92300mW工作溫度Topr40S85C存貯溫度Tstg40+125C焊接溫度和時間TsOLDERt260C,10s主要參數(shù)及工作特性:(Vdf(T)=2.1Vto3.0Vl%Ta=25C)符號含義測試條件數(shù)值單位最小典型最大Vdf檢測電壓Vdf*0.99VdfVdf*1-01VHYS遲滯范闈Vdf*0.02Vdf*0.05Vd.08VIss工作電流5=1.5V=2.0V=3.0V=4.0V=5.0V0.72.3uA0.82.70.93.01.03.21.13.6Vin工作電壓rDF(T)=1.6Vto6.0r0.77VIOUT輸出電流N-chVDS=0.5VVm=1.0V

4、=2.0V=3.0V=4.0V=5.0V1.03.05.06.07.02.27.710.111.513.0mAAVDF/(Atopr*VDF)溫度特性-40CTopi85C100ppm/C注意:1、VDF(T):額定檢測電壓值2.釋放電壓:Vdr=Vdf+hysSANY9lSEMISY3122OUTPUTVOLTAGE(Vout)GROUNDVOLTAGE(Vss)+_功能描述:當(dāng)輸入電壓(Tin)上升到人檢測電壓(Vdf)時,輸出電壓Gout)將等JMn。當(dāng)輸入電壓(Tin)卜降到低J:檢測電壓(Vdf)時,輸出電壓(out)將等J哋電平(ss)。當(dāng)輸入電壓0云)卜降到低于最小工作電壓(沁)

5、時,輸出將變得不穩(wěn)定。在這種情況卜,將等丁上拉輸出(輸出上拉)。當(dāng)輸入電壓(Mn)上升到大J哋電平(ss)時,如云小丁最小工作電壓(廠皿),輸出將變得不穩(wěn)定;如云大J:最小工作電壓,又小J-檢測釋放電壓(Vdr),輸出將穩(wěn)定在地電平(ss)。當(dāng)輸入電壓(Vin)上升到人J:檢測釋放電壓(dr)時,輸出電壓Gout)將等八云。Vdr和VDF之差就是遲滯范圍。時序圖:-INPUTVOLTAGE(Vin)DETECTRELEASEVOLTAGE(Von)9DETECTVOLTAGE(Vdf)MIN.OPERATINGVOLTAGE(Vmin)GROUNDVOLTAGE(Vss)SANY9lSEMIS

6、Y3122使用注意事項:使用SY3122系列IC時,必需符合極限參數(shù)的要求,否則將引起器件老化或永久損壞。對CMOS輸出型產(chǎn)品,在Vin腳和輸入間接一個電阻,由丁負載電流(IgT)的存在,Rin上產(chǎn)生壓降,最終導(dǎo)致振蕩的發(fā)生。(參見下面的振蕩描述1)在云腳和輸入間接一個電阻,即使沒有負載電流(lour)的存在,電壓釋放時的電流,同樣會引起振蕩的發(fā)生。(參見下而的振蕩描述2)在ViN腳和輸入間接一個電阻,由丁-IC的工作電流流過Vin腳,會導(dǎo)致檢測和釋放電壓升高。為使用SY3122A系列IC穩(wěn)定工作,應(yīng)確保Vin腳輸入頻率的上升和卜降時間大幾個USec/V。振蕩描述:1、輸出電流(Iout)引起

7、的振蕩當(dāng)IN上的工作電壓上升時,釋放操作開始,檢測器輸出電壓上升。負載電流(Iqut)將流過Rl,在輸入IN和云腳間產(chǎn)生壓降(Rin可out),負載電流經(jīng)過IC的管腳。這個壓降也會導(dǎo)致云腳上的電壓卜降。當(dāng)云腳上的電壓卜降到檢測電平時,檢測操作開始。伴隨著檢測操作的發(fā)生,負載電流消失,Rin上的壓降也消失,Vin上的電壓將上升,釋放操作將重新開始。隨著“釋放-檢測-釋放”的重復(fù),振蕩將發(fā)生。另外,按同樣的機制,在檢測過程中也會發(fā)生振蕩。2、工作電流(Iss)引起的振蕩因為SY3122A系列產(chǎn)品是CMOSIC,當(dāng)IC內(nèi)部開關(guān)工作(釋放和檢測操作)時,有電流流過。因此,在釋放操作期間,此電流通過(R

8、in)引起輸入端電壓下降,將導(dǎo)致振蕩的發(fā)生。因為遲滯現(xiàn)象的存在,在檢測期間,振蕩不太可能發(fā)生。典型應(yīng)用:lOOknVouiVssSANY9lSEMISY3122工作特性曲線:(l)工作電流VS.輸入電壓SANY9lSEMISY3122SANY9lSEMISY312218(1.8V)246810InputVoltaoeV:nV)27(2.7V)36(3.6V)2438tOi叩SVoflaae:VtwVJ.5J033InputVoltage:vin(V)45(45V)RJL3?&呂02s-nQ151Ia-2I59/1intMlVNfVITa-25z/XZ36(3.6V)123叩utVcltage;Vi%(V)45(4.5V)slno/ve6E=0A一nsno27(2.7V)InputVoltage:Vin(V)38(38V)Tn-25(

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