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主講人：蔡鵬X射線Rietveld法測定納米鋁粉中單質(zhì)鋁的含量報告提綱課題介紹及研究意義X衍射定量分析方法介紹實驗步驟實驗結(jié)果分析總結(jié)報告來源華中科技大學周玉華碩士畢業(yè)論文X射線Rietveld法測定納米鋁粉中單質(zhì)鋁的含量及微觀應力的研究課題介紹鋁粉作用金屬鋁粉作為能量添加劑加入到推進劑和炸藥等含能材料中，可以提高推進劑能量和燃燒穩(wěn)定性，增強彈藥威力和射程。納米鋁粉的優(yōu)勢及問題優(yōu)勢鋁粉納米化后，其化學反應活性大幅提高，可以進一步提高推進劑燃速以及炸藥的爆炸威力等。課題意義問題由于納米鋁粉具有高反應活性，極易氧化形成包覆層，使其成為非活性鋁，從而降低材料的應用性能。研究意義本文利用XRD全譜擬合法（Rietveld法）定量分析兩種方法制備的納米鋁粉中活性鋁的含量，為納米鋁粉的進一步應用打下基礎(chǔ)。X衍射定量分析常用方法及優(yōu)缺點內(nèi)標法外標法K值法Rietveld法Rietveld法全稱最小二乘全譜擬合粉末衍射晶體結(jié)構(gòu)分析方法于1969年提出最初是針對中子衍射晶體結(jié)構(gòu)分析后發(fā)展到X衍射分析要點以一個初始晶體結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)，利用晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)與峰形函數(shù)、峰寬函數(shù)等計算一張理論衍射圖譜，將理論譜與實際譜相比較修正初始晶體結(jié)構(gòu)。初始結(jié)構(gòu)模型開始理論圖譜判定因子修正修正模型否是Rietveld法基礎(chǔ)理論Rietveld法基礎(chǔ)理論Rietveld法定量分析基本原理實驗步驟實驗步

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