材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)期末試卷(A)材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)期末試卷(A)材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)期末試卷(A)V:1.0精細(xì)整理，僅供參考材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)期末試卷(A)日期：20xx年X月試卷編號(hào)：(A)卷課程編號(hào)：H課程名稱：材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)考試形式：閉卷適用班級(jí)：姓名：學(xué)號(hào)：班級(jí)：學(xué)院：專業(yè)：考試日期：題號(hào)一二三四五六七八九十總分累分人簽名題分100得分考生注意事項(xiàng)：1、本試卷共頁(yè)，請(qǐng)查看試卷中是否有缺頁(yè)或破損。如有立即舉手報(bào)告以便更換。2、考試結(jié)束后，考生不得將試卷、答題紙和草稿紙帶出考場(chǎng)。填空題(每空1分，共20分)得分評(píng)閱人1、當(dāng)波長(zhǎng)為λ的X射線照射到晶體并出現(xiàn)衍射線時(shí)，相鄰兩個(gè)（hkl）反射線的波程差為，相鄰兩個(gè)（HKL）反射線的波程差為。2、X射線管靶材的選擇原則為，濾波片的選擇原則為。3、在利用X射線衍射儀進(jìn)行衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，時(shí)間常數(shù)的選擇對(duì)實(shí)驗(yàn)的影響較大，時(shí)間常數(shù)的增大導(dǎo)致衍射線的，，。這些變化給測(cè)量結(jié)果帶來(lái)不利的影響。因此，為了提離測(cè)量的精確度，一般希望選用盡可能小的時(shí)間常數(shù)。4、透射電鏡的物鏡光欄裝在物鏡背焦面，直徑20—120um，由無(wú)磁金屬制成。其作用是：；；。5、透射電鏡的主要特點(diǎn)是可對(duì)試樣進(jìn)行與同位分析.使中間鏡物平面與物鏡重合時(shí)，在觀察屏上得到的是反映試樣的圖像；當(dāng)中間鏡物平面與物鏡重合時(shí),在觀察屏上得到的是反映試樣花樣。6、掃描電子顯微鏡通過(guò)接收試樣表面發(fā)出的二次電子成像.試樣表面凸出的尖棱或小顆粒、陡斜面處,二次電子產(chǎn)額,在熒光屏上這些部位的亮度而平面、凹槽底部處二次電子的產(chǎn)額,熒光屏上相應(yīng)部位的亮度。辨析并解釋下列概念(每題5分，共20分)得分評(píng)閱人光電效應(yīng)、俄歇效應(yīng)相干散射、非相干散射3、質(zhì)厚襯度、衍射襯度4、二次電子、背散射電子三、問(wèn)答題(共40分)得分評(píng)閱人1、物相定性分析的原理是什么？簡(jiǎn)述利用X射線衍射儀法進(jìn)行兩相混合物物相分析的過(guò)程。（10分）2、分析電子衍射和X射線衍射有何異同（10分）說(shuō)明透射電鏡薄膜試樣制造過(guò)程，以明場(chǎng)或中心暗場(chǎng)為例說(shuō)明電鏡薄膜晶體的成像原理。（10分）4、計(jì)算下列點(diǎn)陣的結(jié)構(gòu)因子FHKL，并推導(dǎo)點(diǎn)陣的系統(tǒng)消光規(guī)則。（10分）簡(jiǎn)單點(diǎn)陣，單胞中原子的位置只有1種，其坐標(biāo)為（0，0，0）②體心點(diǎn)陣，單胞中原子的位置有2種，其坐標(biāo)為（0，0，0），（1/2，1/2，1/2）四、應(yīng)用題（20分